JPH0141932B2 - - Google Patents
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- JPH0141932B2 JPH0141932B2 JP1139884A JP1139884A JPH0141932B2 JP H0141932 B2 JPH0141932 B2 JP H0141932B2 JP 1139884 A JP1139884 A JP 1139884A JP 1139884 A JP1139884 A JP 1139884A JP H0141932 B2 JPH0141932 B2 JP H0141932B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/08—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress by applying steady tensile or compressive forces
- G01N3/18—Performing tests at high or low temperatures
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- Pathology (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
この発明は、極低温材料試験装置に関し、詳し
くは、極低温における材料の引張り強さ、耐力、
伸び等を測定する試験装置の材料つかみ具（チヤ
ツク）に関するものである。
くは、極低温における材料の引張り強さ、耐力、
伸び等を測定する試験装置の材料つかみ具（チヤ
ツク）に関するものである。
(ロ) 従来技術
第１図は従来から使用されている極低温引張り
試験装置の一例である。この装置はクライオスタ
ツト１内に液体ヘリウム等の極低温冷媒槽２を収
容し、その冷媒槽２内部において上下に対向して
支持板３，４を設け、両支持板３，４は複数本の
支柱５によつて連結している。上部支持板３は連
結部材６を介してクライオスタツト１の本体部分
に連結されている。
試験装置の一例である。この装置はクライオスタ
ツト１内に液体ヘリウム等の極低温冷媒槽２を収
容し、その冷媒槽２内部において上下に対向して
支持板３，４を設け、両支持板３，４は複数本の
支柱５によつて連結している。上部支持板３は連
結部材６を介してクライオスタツト１の本体部分
に連結されている。
クライオスタツト１は遮弊層７によつて閉塞さ
れ、その遮弊層７と上部支持板３を複数のプルロ
ツト８がスライド可能に貫通している。各プルロ
ツト８および下部支持板４にはそれぞれ上下に対
向したチヤツク９，１０が連結ピン１１，１２を
介して取付けられ、試料１３は上下のチヤツク
９，１０により支持される。
れ、その遮弊層７と上部支持板３を複数のプルロ
ツト８がスライド可能に貫通している。各プルロ
ツト８および下部支持板４にはそれぞれ上下に対
向したチヤツク９，１０が連結ピン１１，１２を
介して取付けられ、試料１３は上下のチヤツク
９，１０により支持される。
なお、図中１４は液体窒素槽、１５は液体窒素
の注入口、１６は液体ヘリウム等の冷媒の注入
口、１７は電気ヒータ、１８は冷媒である。
の注入口、１６は液体ヘリウム等の冷媒の注入
口、１７は電気ヒータ、１８は冷媒である。
上記の装置によつて引張り試験を行なう場合、
試料１３のチヤツク９，１０に対するセツテイン
グは常温下で行なわれ、セツテイング完了後クラ
イオスタツト中１に挿入され、冷媒１８を注入し
て冷却される。
試料１３のチヤツク９，１０に対するセツテイン
グは常温下で行なわれ、セツテイング完了後クラ
イオスタツト中１に挿入され、冷媒１８を注入し
て冷却される。
(ハ) 発明のよつて解決しようとする問題点
上記のチヤツク９，１０は、試験中に試料１３
の保持力が熱収縮によつてゆるまない構造とする
必要があるため、相当複雑かつ寸法の大きい構造
とならざるをえない。
の保持力が熱収縮によつてゆるまない構造とする
必要があるため、相当複雑かつ寸法の大きい構造
とならざるをえない。
このためチヤツク９，１０部分の熱容量が大に
なり、冷媒１８に近い下部チヤツク１０に比べ上
部チヤツク９が冷却され難く、両者の間に大きな
温度差を生ずる。その結果、試料１３内部の温度
分布が不均一になり、このような状態で試験をし
ても再現性のある正確なデータを得ることができ
ない。
なり、冷媒１８に近い下部チヤツク１０に比べ上
部チヤツク９が冷却され難く、両者の間に大きな
温度差を生ずる。その結果、試料１３内部の温度
分布が不均一になり、このような状態で試験をし
ても再現性のある正確なデータを得ることができ
ない。
そこで、この発明は上記の問題を解決し、上下
チヤツクの温度差を無くすることを目的とするも
のである。
チヤツクの温度差を無くすることを目的とするも
のである。
(ニ) 問題点を解決するための手段
上記の問題点を解決するために、この発明は上
下のチヤツク外周面に放熱フイン、冷媒との熱接
触を図る冷却治具等の放熱手段を付設した構成と
したものである。
下のチヤツク外周面に放熱フイン、冷媒との熱接
触を図る冷却治具等の放熱手段を付設した構成と
したものである。
(ホ) 実施例
第２図はこの発明の実施例であり、この場合は
上下のチヤツク９，１０の外周に放熱フイン１９
を設け、各チヤツク９，１０の熱交換を容易に
し、両者の温度差を無くするようにしたものであ
る。
上下のチヤツク９，１０の外周に放熱フイン１９
を設け、各チヤツク９，１０の熱交換を容易に
し、両者の温度差を無くするようにしたものであ
る。
また、チヤツク９，１０の熱交換を促進するた
めに、一点鎖線で示すように、放熱フイン１９と
は別に、また放熱フイン１９とともに、冷却治具
２０，２１を付設することもできる。この冷却治
具２０，２１は銅、アルミニウム等の熱伝導良好
な金属棒により形成され、その一端を冷媒１８に
浸し、他端をチヤツク９，１０に接触させること
により、その放熱を促進するものである。
めに、一点鎖線で示すように、放熱フイン１９と
は別に、また放熱フイン１９とともに、冷却治具
２０，２１を付設することもできる。この冷却治
具２０，２１は銅、アルミニウム等の熱伝導良好
な金属棒により形成され、その一端を冷媒１８に
浸し、他端をチヤツク９，１０に接触させること
により、その放熱を促進するものである。
その他、チヤツク９，１０の放熱手段として、
極低温で使用できるヒートパイプを付設するこ
と、専用の冷凍機からの冷却ガスを供給すること
等の方法がある。
極低温で使用できるヒートパイプを付設するこ
と、専用の冷凍機からの冷却ガスを供給すること
等の方法がある。
なお、専用の冷却ガスを使用する場合は、液体
ヘリウムの常圧での沸点4.2〓から液体窒素の沸
点77〓あたりの温度範囲が望ましい。この温度範
囲は固体の比熱が小さく、ヘリウムガスの比熱が
大きく、ガス冷却に適している。これより高温に
なると、ガス冷却が困難になる。
ヘリウムの常圧での沸点4.2〓から液体窒素の沸
点77〓あたりの温度範囲が望ましい。この温度範
囲は固体の比熱が小さく、ヘリウムガスの比熱が
大きく、ガス冷却に適している。これより高温に
なると、ガス冷却が困難になる。
上記以外の装置の構成は従来どおりである。
また、この発明は、材料の引張り、耐力、伸び
等の試験機のみならず、試料に比べて大きな質量
を有するチヤツクをもつ疲労試験機、ねじり試験
機、曲げ試験機等にも適用することができる。
等の試験機のみならず、試料に比べて大きな質量
を有するチヤツクをもつ疲労試験機、ねじり試験
機、曲げ試験機等にも適用することができる。
(ヘ) 効果
以上述べたように、この発明は上下のチヤツク
の温度差が無くなり、試料の温度分布が均一にな
る結果、正確なデータが得られ試験の信頼性が上
がる効果がある。
の温度差が無くなり、試料の温度分布が均一にな
る結果、正確なデータが得られ試験の信頼性が上
がる効果がある。
第１図は従来例の断面図、第２図は実施例の一
部を示す断面図である。 １……クライオスタツト、３，４……支持板、
５……支柱、７……遮蔽層、８……プルロツド、
９，１０……チヤツク、１３……試料。
部を示す断面図である。 １……クライオスタツト、３，４……支持板、
５……支柱、７……遮蔽層、８……プルロツド、
９，１０……チヤツク、１３……試料。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 極低温容器中に上下に対向したチヤツクを設
け、下部チヤツクを支柱によつて支持するととも
に上部チヤツクをプルロツドに結合し、上下チヤ
ツク間に試料を保持するようにした極低温材料試
験装置において、上記チヤツクに放熱手段を付設
したことを特徴とする極低温材料試験装置。 ２ 上記の放熱手段が放熱フインであることを特
徴とする特許請求の範囲第１項に記載の極低温材
料試験装置。 ３ 上記の放熱手段が冷媒とチヤツクとの熱接触
を図る冷却治具であることを特徴とする特許請求
の範囲第１項に記載の極低温材料試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1139884A JPS60154138A (ja) | 1984-01-24 | 1984-01-24 | 極低温材料試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1139884A JPS60154138A (ja) | 1984-01-24 | 1984-01-24 | 極低温材料試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60154138A JPS60154138A (ja) | 1985-08-13 |
| JPH0141932B2 true JPH0141932B2 (ja) | 1989-09-08 |
Family
ID=11776904
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1139884A Granted JPS60154138A (ja) | 1984-01-24 | 1984-01-24 | 極低温材料試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60154138A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0797074B2 (ja) * | 1990-07-31 | 1995-10-18 | 株式会社島津製作所 | 微小材料試験機 |
| JP5865206B2 (ja) * | 2012-08-03 | 2016-02-17 | 株式会社日立製作所 | 荷重印加装置 |
| US9696218B2 (en) | 2012-08-08 | 2017-07-04 | Mts Systems Corporation | Test specimen holder for high temperature environments |
| CN103884600A (zh) * | 2012-12-20 | 2014-06-25 | 核工业西南物理研究院 | 一种大型螺栓低温疲劳实验装置 |
| US10180379B2 (en) | 2014-06-06 | 2019-01-15 | Mts Systems Corporation | Airflow diverter for reduced specimen temperature gradient |
| CN104634668A (zh) * | 2015-02-27 | 2015-05-20 | 马钢(集团)控股有限公司 | 一种车轮钢系列温度断裂韧性试验装置及其试验方法 |
| KR102454208B1 (ko) * | 2021-11-24 | 2022-10-14 | 한국화학연구원 | 극저온 기계적 물성 시험 장치 및 이를 포함하는 재료시험기 |
-
1984
- 1984-01-24 JP JP1139884A patent/JPS60154138A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60154138A (ja) | 1985-08-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |