JPH0142033Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0142033Y2 JPH0142033Y2 JP1981190761U JP19076181U JPH0142033Y2 JP H0142033 Y2 JPH0142033 Y2 JP H0142033Y2 JP 1981190761 U JP1981190761 U JP 1981190761U JP 19076181 U JP19076181 U JP 19076181U JP H0142033 Y2 JPH0142033 Y2 JP H0142033Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flow path
- probe
- probe body
- holder
- flaw detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Transducers For Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、材料内部の欠陥を検出するための非
破壊検査に用いられる超音波探傷用探触子に関す
る。
破壊検査に用いられる超音波探傷用探触子に関す
る。
従来の直接接触法による超音波探傷において
は、探触子本体を試験面に直接接触させた状態
か、または探触子本体にとりつけたガイドシユー
等を試験面に接触させて探触子本体の底面と試験
面との間に一定のギヤツプをもたせた状態で走査
を行なつていた。
は、探触子本体を試験面に直接接触させた状態
か、または探触子本体にとりつけたガイドシユー
等を試験面に接触させて探触子本体の底面と試験
面との間に一定のギヤツプをもたせた状態で走査
を行なつていた。
ところが、このような状態で探触子の走査を行
なうと、試験面と直接接触している探触子本体の
底面またはガイドシユー等の摩耗は避けられな
い。さらに、試験面にうねりや局部的な突起部
（例えば溶接スパツタやスケールによつて形成さ
れている場合もある。）があれば、探触子の走査
において、円滑さを欠き、したがつて信頼性のあ
る探傷検査を行なうことができない。
なうと、試験面と直接接触している探触子本体の
底面またはガイドシユー等の摩耗は避けられな
い。さらに、試験面にうねりや局部的な突起部
（例えば溶接スパツタやスケールによつて形成さ
れている場合もある。）があれば、探触子の走査
において、円滑さを欠き、したがつて信頼性のあ
る探傷検査を行なうことができない。
この問題を解決するために、探触子を内蔵する
収容体に複数個の高圧水吐出口を設け、この吐出
口から水を噴出して探触子を試験面から浮上させ
るようにした非接触式の超音波探傷用探触子も考
案されてはいるが、従来の非接触式の超音波探傷
用探触子にあつては、吐出口から噴出される水の
外部への流出により作業環境の悪化を招くという
欠点と、給水配管系への空気の混入等に起因して
探触子の送信・受信面に気泡が付着した場合に探
傷感度が低下してしまうという欠点を有してい
た。
収容体に複数個の高圧水吐出口を設け、この吐出
口から水を噴出して探触子を試験面から浮上させ
るようにした非接触式の超音波探傷用探触子も考
案されてはいるが、従来の非接触式の超音波探傷
用探触子にあつては、吐出口から噴出される水の
外部への流出により作業環境の悪化を招くという
欠点と、給水配管系への空気の混入等に起因して
探触子の送信・受信面に気泡が付着した場合に探
傷感度が低下してしまうという欠点を有してい
た。
そこで本考案の目的は、上述した従来の欠点を
除去し、探触子本体およびその付属物を摩耗させ
ることなく、また、作業環境の悪化を招くことな
く、円滑な走査により精度の高い探傷検査を行う
ことができ、しかも探傷感度が低下することのな
い超音波探傷用探触子を提供することにある。
除去し、探触子本体およびその付属物を摩耗させ
ることなく、また、作業環境の悪化を招くことな
く、円滑な走査により精度の高い探傷検査を行う
ことができ、しかも探傷感度が低下することのな
い超音波探傷用探触子を提供することにある。
本考案による超音波探傷用探触子は、探触子本
体と、該探触子本体の側面周囲をとりかこんでこ
れを保持している保持具とからなり、保持具は、
その内部に流路を有していて、その流路には、探
触子本体と被検査材の試験面との間に介在させる
媒質として用いることのできる液体、例えば水ま
たは油を外部の液体源から保持具内部へととりい
れるための入口開口を有している。その入口開口
は外部液体源とホースにより連通している。前記
流路はさらに保持具底部に開口する噴射口に連通
する噴射流路と連通している。従つて外部から供
給される液体を底部の噴射口から試験面に向けて
噴射させることにより探触子本体は保持具ととも
に試験面から浮いた状態を形成する。したがつて
探触子本体の底面は試験面から一定間隔をおいた
状態を保持することができる。
体と、該探触子本体の側面周囲をとりかこんでこ
れを保持している保持具とからなり、保持具は、
その内部に流路を有していて、その流路には、探
触子本体と被検査材の試験面との間に介在させる
媒質として用いることのできる液体、例えば水ま
たは油を外部の液体源から保持具内部へととりい
れるための入口開口を有している。その入口開口
は外部液体源とホースにより連通している。前記
流路はさらに保持具底部に開口する噴射口に連通
する噴射流路と連通している。従つて外部から供
給される液体を底部の噴射口から試験面に向けて
噴射させることにより探触子本体は保持具ととも
に試験面から浮いた状態を形成する。したがつて
探触子本体の底面は試験面から一定間隔をおいた
状態を保持することができる。
噴射流路部は、複数個配設され一部が鉛直下向
きに延び、他の一部が探触子本体の底部に対して
斜め下向きに延びていてそれぞれ噴射口に連通し
ている。鉛直下向きに延びた部分からの噴射流は
主として探触子を浮かせる作用をし、斜め下向き
に延びた部分からの噴射流は主として探触子本体
と試験面との間に液体媒質を積極的に供給する作
用をする。
きに延び、他の一部が探触子本体の底部に対して
斜め下向きに延びていてそれぞれ噴射口に連通し
ている。鉛直下向きに延びた部分からの噴射流は
主として探触子を浮かせる作用をし、斜め下向き
に延びた部分からの噴射流は主として探触子本体
と試験面との間に液体媒質を積極的に供給する作
用をする。
保持具は、該保持具の底面の外周縁近傍におい
て、噴射口の外方をとりかこんでいるスカート部
を備えている。このスカート部のために噴射圧力
が有効に作用することができるとともに媒質とし
て用いる液体の外部への流出を抑えることができ
る。
て、噴射口の外方をとりかこんでいるスカート部
を備えている。このスカート部のために噴射圧力
が有効に作用することができるとともに媒質とし
て用いる液体の外部への流出を抑えることができ
る。
本考案は以上の様に構成されることにより、上
記目的を達成することができるのである。また本
考案による超音波探傷用探触子は、反射法または
透過法のいづれにおける探傷用探触子としても使
用することができる。また、噴射した液体を回収
して繰返し使用するようにすることもできる。
記目的を達成することができるのである。また本
考案による超音波探傷用探触子は、反射法または
透過法のいづれにおける探傷用探触子としても使
用することができる。また、噴射した液体を回収
して繰返し使用するようにすることもできる。
次に、添付図面に示した考案の望ましい一実施
例について説明する。
例について説明する。
第１図および第２図に示すように、本考案によ
る超音波探傷用探触子は、探触子本体１と該探触
子本体１の側面周囲をとりかこむ保持具２とから
なる。探触子本体１はジンバル機構（図示しな
い）によつて保持具２に取付けられている。保持
具２の上面には４つの供給管部３が設けられ、そ
れぞれ入口開口４を有している。第１図に示すよ
うに、供給管部３にはホース５が取付けられ、該
ホース５を介して液体源（図示しない）から入口
開口４を介し後述する液路へと液体が圧送され
る。このときの液体源は循環流路系統の一部に設
けられていてもよい。そして入口開口４は保持具
２内に設けられた流路６と連通している。流路６
は保持具２の形状に沿つて環状に延びており、探
触子本体１の周囲をとりかこむように保持具２の
内部に設けられていて、下方に延びる複数の噴射
流路部７とそれぞれ連通している。
る超音波探傷用探触子は、探触子本体１と該探触
子本体１の側面周囲をとりかこむ保持具２とから
なる。探触子本体１はジンバル機構（図示しな
い）によつて保持具２に取付けられている。保持
具２の上面には４つの供給管部３が設けられ、そ
れぞれ入口開口４を有している。第１図に示すよ
うに、供給管部３にはホース５が取付けられ、該
ホース５を介して液体源（図示しない）から入口
開口４を介し後述する液路へと液体が圧送され
る。このときの液体源は循環流路系統の一部に設
けられていてもよい。そして入口開口４は保持具
２内に設けられた流路６と連通している。流路６
は保持具２の形状に沿つて環状に延びており、探
触子本体１の周囲をとりかこむように保持具２の
内部に設けられていて、下方に延びる複数の噴射
流路部７とそれぞれ連通している。
第３図に詳細に示すように、噴射流路部７は鉛
直流路部７ａと斜め流路部７ｂとからなり、それ
ぞれが保持具２の底部において開口する噴射口８
を有している。各噴射流路部７の斜め流路部７ｂ
は探触子本体１の底部に向つて延びている。
直流路部７ａと斜め流路部７ｂとからなり、それ
ぞれが保持具２の底部において開口する噴射口８
を有している。各噴射流路部７の斜め流路部７ｂ
は探触子本体１の底部に向つて延びている。
保持具２の底面の外周縁近傍には噴射口８の外
方をとりかこむようにしてスカート部９が設けら
れている。
方をとりかこむようにしてスカート部９が設けら
れている。
本考案による超音波探傷用探触子を用いて探傷
検査を行なう場合は、まず被検査材（図示しな
い）の試験面上に探触子を置き、液体源から圧送
される液体媒質をホース５を介して保持具２内へ
送りこむ。送り込まれた液体媒質は入口開口４、
流路６および噴射流路部７を経て噴射口８から試
験面に向つて噴射される。従つて、この噴射圧力
により探触子本体１および保持具２は試験面から
離れて浮き上がる。圧送される液体媒質の圧力を
調整することにより探触子１及び保持具２の底面
と試験面との間に任意の間隔をおいた状態に保持
することができる。このとき、スカート部９は噴
射圧力が有効に利用できるような作用を果すが、
スカート部９の底部も試験面から離れて浮いた状
態にされている。さらに、このスカート部９は液
体媒質の外部への流出を抑えるような作用を果た
し、これにより、作業環境を良好な状態に保つこ
とができる。
検査を行なう場合は、まず被検査材（図示しな
い）の試験面上に探触子を置き、液体源から圧送
される液体媒質をホース５を介して保持具２内へ
送りこむ。送り込まれた液体媒質は入口開口４、
流路６および噴射流路部７を経て噴射口８から試
験面に向つて噴射される。従つて、この噴射圧力
により探触子本体１および保持具２は試験面から
離れて浮き上がる。圧送される液体媒質の圧力を
調整することにより探触子１及び保持具２の底面
と試験面との間に任意の間隔をおいた状態に保持
することができる。このとき、スカート部９は噴
射圧力が有効に利用できるような作用を果すが、
スカート部９の底部も試験面から離れて浮いた状
態にされている。さらに、このスカート部９は液
体媒質の外部への流出を抑えるような作用を果た
し、これにより、作業環境を良好な状態に保つこ
とができる。
超音波探傷用探触子を浮かせる力は主として鉛
直流路部７ａの噴射口８からの噴射圧力により与
えられる。一方、斜め流路部７ｂの噴射口８から
の噴射圧力は探触子を浮かせるための助力を与え
るが、主な役割は探触子本体１の底面と試験面と
の間に液体媒質を積極的に供給することにあり、
これにより、探触子本体１の底面と試験面との間
に十分に液体媒質が行き渡り、例えば、該探触子
本体１の底面、すなわち、送信・受信面に気泡が
付着した場合でもこれを迅速に除去することがで
きるので、探傷感度が低下してしまうようなこと
はない。
直流路部７ａの噴射口８からの噴射圧力により与
えられる。一方、斜め流路部７ｂの噴射口８から
の噴射圧力は探触子を浮かせるための助力を与え
るが、主な役割は探触子本体１の底面と試験面と
の間に液体媒質を積極的に供給することにあり、
これにより、探触子本体１の底面と試験面との間
に十分に液体媒質が行き渡り、例えば、該探触子
本体１の底面、すなわち、送信・受信面に気泡が
付着した場合でもこれを迅速に除去することがで
きるので、探傷感度が低下してしまうようなこと
はない。
以上説明してきたように本考案による超音波探
傷用探触子は、探触子及び保持具を試験面から浮
かせた状態で走査できるので、超音波探傷用探触
子のどの部分も試験面と接触することがないの
で、摩耗する必配がない。
傷用探触子は、探触子及び保持具を試験面から浮
かせた状態で走査できるので、超音波探傷用探触
子のどの部分も試験面と接触することがないの
で、摩耗する必配がない。
また、試験面上にうねりや局部的な突起部があ
つても、これらが探触子の底面と試験面との間隔
寸法以下のものであれば、探触子はこれらを乗り
こえて走査することができる。したがつて、試験
面上のうねりや局部的な突起部に影響されること
のない円滑な走査を可能とし、精度の高い探傷検
査を行なうことができる。
つても、これらが探触子の底面と試験面との間隔
寸法以下のものであれば、探触子はこれらを乗り
こえて走査することができる。したがつて、試験
面上のうねりや局部的な突起部に影響されること
のない円滑な走査を可能とし、精度の高い探傷検
査を行なうことができる。
そして、保持具の外周縁近傍にスカート部を備
えているために、噴射圧力が有効に作用すること
ができるとともに、媒質として用いる液体の外部
への流出を抑え、作業環境を良好な状態に保つこ
とができる。
えているために、噴射圧力が有効に作用すること
ができるとともに、媒質として用いる液体の外部
への流出を抑え、作業環境を良好な状態に保つこ
とができる。
しかも、保持具には、探触子本体の底部に向つ
て斜め下向きに延びる斜め流路部が形成されてお
り、探触子の送信・受信面と試験面との間に積極
的に液体媒質を供給できるので、探傷感度が低下
してしまうようなことがない。
て斜め下向きに延びる斜め流路部が形成されてお
り、探触子の送信・受信面と試験面との間に積極
的に液体媒質を供給できるので、探傷感度が低下
してしまうようなことがない。
さらに、探触子が浮いているため、走査に必要
な駆動力はわずかですむという効果をも期待され
る。
な駆動力はわずかですむという効果をも期待され
る。
第１図は本考案による超音波探傷用探触子の一
実施例の平面図である。第２図は第１図の−
断面図である。第３図は第１図の−断面図で
ある。 １：探触子本体、２：保持具、３：供給管部、
４：入口開口、６：流路、７：噴射流路部、８：
噴射口、９：スカート部。
実施例の平面図である。第２図は第１図の−
断面図である。第３図は第１図の−断面図で
ある。 １：探触子本体、２：保持具、３：供給管部、
４：入口開口、６：流路、７：噴射流路部、８：
噴射口、９：スカート部。
Claims (1)
- 探触子本体と、該探触子本体の側面周囲をとり
かこみ該探触子本体を保持している保持具とから
なる超音波探傷用探触子であつて、前記保持具
が、その内部に前記探触子本体をめぐる流路と、
その流路へ流体源から流体をとり入れるための入
口開口と、前記入口開口と前記流路とを連通させ
る供給管部と前記保持具の底面に開口している複
数個の噴射口と、それぞれが前記流路と前記噴射
口とを連通させるよう形成された鉛直下向きに延
びる鉛直流路部および前記探触子本体の底部に向
つて斜め下向きに延びる斜め流路部を有する噴射
流路と、保持具の底面の外周縁近傍にて前記噴射
口の外方をとりかこむスカート部とを備えている
ことを特徴とする超音波探傷用探触子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19076181U JPS5893866U (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 超音波探傷用探触子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19076181U JPS5893866U (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 超音波探傷用探触子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5893866U JPS5893866U (ja) | 1983-06-25 |
| JPH0142033Y2 true JPH0142033Y2 (ja) | 1989-12-11 |
Family
ID=29995188
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19076181U Granted JPS5893866U (ja) | 1981-12-21 | 1981-12-21 | 超音波探傷用探触子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5893866U (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4370857B2 (ja) * | 2003-08-29 | 2009-11-25 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 超音波式測定装置 |
| DE102008037516A1 (de) * | 2008-11-03 | 2010-05-27 | Ge Sensing & Inspection Technologies Gmbh | Ultraschall-Prüfkopfanordnung sowie Vorrichtung zur Ultraschallprüfung eines Bauteils |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4914485U (ja) * | 1972-05-11 | 1974-02-06 | ||
| JPS5313143B2 (ja) * | 1973-02-13 | 1978-05-08 |
-
1981
- 1981-12-21 JP JP19076181U patent/JPS5893866U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5893866U (ja) | 1983-06-25 |
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