JPH01438A - 波長分散特性測定システム及びその光信号送信ユニット及び光信号受信ユニット - Google Patents
波長分散特性測定システム及びその光信号送信ユニット及び光信号受信ユニットInfo
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- JPH01438A JPH01438A JP63-43656A JP4365688A JPH01438A JP H01438 A JPH01438 A JP H01438A JP 4365688 A JP4365688 A JP 4365688A JP H01438 A JPH01438 A JP H01438A
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- optical signal
- signal
- light source
- optical
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
この発明は元ファイバの波長分散特性を測定するシステ
ム及びその光信号送信ユニット及びその光信号受信ユニ
ットに関しこの詳細には、ベースバンド位相比較法によ
って光ファイバの波長分散を測定するシステム及びその
光信号送信ユニット及びその光信号受信ユニットに関す
る。
ム及びその光信号送信ユニット及びその光信号受信ユニ
ットに関しこの詳細には、ベースバンド位相比較法によ
って光ファイバの波長分散を測定するシステム及びその
光信号送信ユニット及びその光信号受信ユニットに関す
る。
[従来の技術]
光ファイバの波長分散特性は、光フアイバ通信路の情報
伝送速度を決定する上で非常にJi要である。現在、単
一モード光ファイバの波長分散を測定する方法として、
主に次のものがめる。
伝送速度を決定する上で非常にJi要である。現在、単
一モード光ファイバの波長分散を測定する方法として、
主に次のものがめる。
(1) ファイバラマンレーデと分光4を組合せたノ9
ルス遅延時間差測定法 +21 LEDと分光器を組合せたベースバンド位相
比較法 (3)波長の異なる複数個のレーデダイオードLDヲ用
いたベースバンド位相比較法 (4) 光の可干渉性を応用した干渉法このうち、(
3)のベースバンド位相比較法について述べる。一般に
波長の異なる光信号はファイバの材料分散、構造分散に
より前記光源の群速度が異なり前記伝搬後の前記光信号
の位相に相違が生じる。前記ベースバンド位相比較法は
この事実を利用したものである。まず、光信号送信部に
、波長の異なるレーデダイオードなどの光信号発生器を
配置し、正弦波f調信号で強度変調された2種類の光信
号、すなわち基準光信号及び測定光信号を発生させる。
ルス遅延時間差測定法 +21 LEDと分光器を組合せたベースバンド位相
比較法 (3)波長の異なる複数個のレーデダイオードLDヲ用
いたベースバンド位相比較法 (4) 光の可干渉性を応用した干渉法このうち、(
3)のベースバンド位相比較法について述べる。一般に
波長の異なる光信号はファイバの材料分散、構造分散に
より前記光源の群速度が異なり前記伝搬後の前記光信号
の位相に相違が生じる。前記ベースバンド位相比較法は
この事実を利用したものである。まず、光信号送信部に
、波長の異なるレーデダイオードなどの光信号発生器を
配置し、正弦波f調信号で強度変調された2種類の光信
号、すなわち基準光信号及び測定光信号を発生させる。
上記2櫨類の光信号は、それぞれ、基準となるファイバ
及び測定される光ファイバに入射される。次に、光信号
受信部において、前記基準光ファイバから出射される前
記基準光信号を基にして前記被測定光ファイバから出射
される前記測定光信号のそれぞれの波長の41A信号間
の位 ・相澄から群遅延時間Mを求める。さらに、その
測定結果を適当な関数τ(λ)で近似すればその関数を
解析微分することにより目的の波長分散D(λ)=dτ
(λ)/dλが求まる。前記群遅延時間差と前記波長と
の関係をグラフに表わすと第2図のようになる。
及び測定される光ファイバに入射される。次に、光信号
受信部において、前記基準光ファイバから出射される前
記基準光信号を基にして前記被測定光ファイバから出射
される前記測定光信号のそれぞれの波長の41A信号間
の位 ・相澄から群遅延時間Mを求める。さらに、その
測定結果を適当な関数τ(λ)で近似すればその関数を
解析微分することにより目的の波長分散D(λ)=dτ
(λ)/dλが求まる。前記群遅延時間差と前記波長と
の関係をグラフに表わすと第2図のようになる。
ところで、従来のベースバンド位相比較法を用いた測定
器は、第10図に示すように光信号送信部1と光信号受
信部10が配置され、これら光信号送受信部1,10間
には基準ファイバ1ノおよび被測定ファイバ12が接続
されている。そして、光信号送信部1は、所定のタイミ
ングで必要な指令を発するCpTJ 2 、このCPU
2からの信号選択指令を受けて正弦波周波数の変調信
号’1 * ’2 +f3 、f4を発生する変
調信号発生部3、この変調信号発生部3から分岐回路4
を通って入力された変調信号fl yf! +f3
+f4で強度変調されて得られた基準光信号を基準
ファイバ1ノへ入射する所定波長のレーデ光を発するレ
ーデダイオM、前記CPU 2からの切換指令で出力端
側チャンネルを順次選択するチャンネル選択部6、前記
変調信号発生部3から分岐回路4を通って入力される変
調信号例えばf、で順次強度変調されて得られる測定光
信号を出力する異なる波長のレーデ光を発するレーデダ
イオードLDI−LD4、とのレーデダイオードLDI
−LD4からの強度変調された測定光信号のみを反射し
、それ以外の場曾の入射光を通す機能を持った光スイッ
チ81 。
器は、第10図に示すように光信号送信部1と光信号受
信部10が配置され、これら光信号送受信部1,10間
には基準ファイバ1ノおよび被測定ファイバ12が接続
されている。そして、光信号送信部1は、所定のタイミ
ングで必要な指令を発するCpTJ 2 、このCPU
2からの信号選択指令を受けて正弦波周波数の変調信
号’1 * ’2 +f3 、f4を発生する変
調信号発生部3、この変調信号発生部3から分岐回路4
を通って入力された変調信号fl yf! +f3
+f4で強度変調されて得られた基準光信号を基準
ファイバ1ノへ入射する所定波長のレーデ光を発するレ
ーデダイオM、前記CPU 2からの切換指令で出力端
側チャンネルを順次選択するチャンネル選択部6、前記
変調信号発生部3から分岐回路4を通って入力される変
調信号例えばf、で順次強度変調されて得られる測定光
信号を出力する異なる波長のレーデ光を発するレーデダ
イオードLDI−LD4、とのレーデダイオードLDI
−LD4からの強度変調された測定光信号のみを反射し
、それ以外の場曾の入射光を通す機能を持った光スイッ
チ81 。
82 r83 m84等によって構成されている。
9は!リズムである。
一方、信号受信部10は、基準ファイバ11と被測定フ
ァイバ12からそれぞれ出射された基準光信号および測
定光信号を電気信号に変換し4i調する。しかる後、4
1調された両信号の位相差を求めることにより波長分散
特性を得るようにしている。
ァイバ12からそれぞれ出射された基準光信号および測
定光信号を電気信号に変換し4i調する。しかる後、4
1調された両信号の位相差を求めることにより波長分散
特性を得るようにしている。
さらに従来のベースバンド位相比較法を用いた測定器は
、@11図に示すように光信号送信部210と光信号受
信部220が配置され、これら光信号送受信部210,
220間には基準ファイバ23ノおよび被測定ファイバ
232が接続されている。この光信号送信部210は、
少なくともl種類の所定周波数の変調信号でレーデダイ
オード等の基準光源から発する光を強度変調し得られた
基準光信号を基準ファイバ231へ入射し、また同様に
少なくとも1!fji類の所定周波数の変調信号でレー
ザダイオード等の測定光源から発する光を強度変調し得
られた測定光信号を前記被測定ファイバ232へ入射す
る様になっている。
、@11図に示すように光信号送信部210と光信号受
信部220が配置され、これら光信号送受信部210,
220間には基準ファイバ23ノおよび被測定ファイバ
232が接続されている。この光信号送信部210は、
少なくともl種類の所定周波数の変調信号でレーデダイ
オード等の基準光源から発する光を強度変調し得られた
基準光信号を基準ファイバ231へ入射し、また同様に
少なくとも1!fji類の所定周波数の変調信号でレー
ザダイオード等の測定光源から発する光を強度変調し得
られた測定光信号を前記被測定ファイバ232へ入射す
る様になっている。
一方、光信号受信部220側は、基準ファイバ231お
よび被測定ファイバ232の出力側にそれぞれ光電変換
部221r、221tが接続され、ここで各7アイパ2
3、232からの出射された光信号を電気信号に変換し
た後項@器222r。
よび被測定ファイバ232の出力側にそれぞれ光電変換
部221r、221tが接続され、ここで各7アイパ2
3、232からの出射された光信号を電気信号に変換し
た後項@器222r。
222tに導いて適宜なレベルの信号に増幅し、更に後
続の復調用ミキサー223r、223tで局部発振器2
24から出力される所定周波数の局部発撮信号を用いて
復調する。そして、これら復調後の信号はフィルタ22
5r、225tで所要とする周波数の信号を通した後、
位相測定部226へ供給する。この位相測定部226で
は両フィルタ225r。
続の復調用ミキサー223r、223tで局部発振器2
24から出力される所定周波数の局部発撮信号を用いて
復調する。そして、これら復調後の信号はフィルタ22
5r、225tで所要とする周波数の信号を通した後、
位相測定部226へ供給する。この位相測定部226で
は両フィルタ225r。
225tの出力から位相を測定し、これら両位相から位
相差を求めた後、この位相差を電圧信号に変換し、更に
ディジタル信号に変換し後処理装置(図示せず)へ送出
する。
相差を求めた後、この位相差を電圧信号に変換し、更に
ディジタル信号に変換し後処理装置(図示せず)へ送出
する。
ところで、以上のような波長分散測定器において光信号
受信部220の受信入力端側に配置される光電変換部2
21r、221tはある光入力レベル範囲に対しリニア
リティよく電気信号KK換する機距を持っている。従っ
て、ファイバ231゜232から上記範囲を越えるレベ
ルの光信号が出射された場合にはりニアティよく電気信
号に変換できない。
受信部220の受信入力端側に配置される光電変換部2
21r、221tはある光入力レベル範囲に対しリニア
リティよく電気信号KK換する機距を持っている。従っ
て、ファイバ231゜232から上記範囲を越えるレベ
ルの光信号が出射された場合にはりニアティよく電気信
号に変換できない。
そこで、従来、ファイバ231,232から出射される
光信号レベルが実際上または経験的な観点から大@に変
化すると予想される場合、光電変換部221r、221
tの入力側に光アッテネータ等を設け、このアッテネー
タを手動で調整しながら光信号レベルを光電変換部22
1r、221tのりニアリティ変換できる光入力レベル
範囲に入るようにしている。
光信号レベルが実際上または経験的な観点から大@に変
化すると予想される場合、光電変換部221r、221
tの入力側に光アッテネータ等を設け、このアッテネー
タを手動で調整しながら光信号レベルを光電変換部22
1r、221tのりニアリティ変換できる光入力レベル
範囲に入るようにしている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、このようなベースバンド位相比較方法を
使用する従来の波長分散特性測定システムの光信号送信
ユニットは、測定光信号発生器の他に、基準光信号を得
るためだけにレーデダイオード等の専用光源を別個に備
えている。このことは測定機器の小形化に不利であるば
かりでなく、非常に高価なレーデダイオード及び他の関
連素子を余分に使用するのでコストの低減に対する障害
となっていた。
使用する従来の波長分散特性測定システムの光信号送信
ユニットは、測定光信号発生器の他に、基準光信号を得
るためだけにレーデダイオード等の専用光源を別個に備
えている。このことは測定機器の小形化に不利であるば
かりでなく、非常に高価なレーデダイオード及び他の関
連素子を余分に使用するのでコストの低減に対する障害
となっていた。
さらに、従来の波長分散特性測定システムの光信号受信
ユニットは、被測定ファイバ及び基準ファイバから出射
される光信号を電気信号に変換すべく光電変換部を有し
ている。しかるに、あるレベルの範囲の光信号に対して
はりニアリティよく電気信号に変換する機能をもつが、
前記レベルの範囲を越える場合は+7 ニアリティよく
電気信号に変換できないという問題点を有していた。こ
のため、光信号レベルが大幅に変化すると予想される場
合、前記光電変換部の入力[K光アッテネータ等を設け
、このアッテネータを手動で調整しながら光信号のレベ
ルを制限していた。
ユニットは、被測定ファイバ及び基準ファイバから出射
される光信号を電気信号に変換すべく光電変換部を有し
ている。しかるに、あるレベルの範囲の光信号に対して
はりニアリティよく電気信号に変換する機能をもつが、
前記レベルの範囲を越える場合は+7 ニアリティよく
電気信号に変換できないという問題点を有していた。こ
のため、光信号レベルが大幅に変化すると予想される場
合、前記光電変換部の入力[K光アッテネータ等を設け
、このアッテネータを手動で調整しながら光信号のレベ
ルを制限していた。
このような手動による減衰値の調整方法は、測定時間の
速さの点で満足すべきものではなかった。
速さの点で満足すべきものではなかった。
また、被測定ファイバの長さの違いや接続具合によって
生じる損失がその都度異なるので予測しえない光信号の
レベル変化が合った場合は、光信号レベルを適切に調整
することが雌しく、又、受光素子を劣化させる原因にも
なる。
生じる損失がその都度異なるので予測しえない光信号の
レベル変化が合った場合は、光信号レベルを適切に調整
することが雌しく、又、受光素子を劣化させる原因にも
なる。
よって、本発明の生な目的は、光信号送信ユニット内で
必要となる光信号発生器の数を減らして結果的にコスト
低減されかつ小形化された波長分散特性測定システム及
びその光信号送信ユニットを提供することにある。
必要となる光信号発生器の数を減らして結果的にコスト
低減されかつ小形化された波長分散特性測定システム及
びその光信号送信ユニットを提供することにある。
本発明の他の目的は、上記に加えて、光ファイバから出
射される元IM号のレベルを自動的に調整することがで
き、常にリニアリティよく光信号を電気イざ号に変換す
ることが可能な波長分散特性測定システム及びその光信
号受信ユニットを提供することにある。
射される元IM号のレベルを自動的に調整することがで
き、常にリニアリティよく光信号を電気イざ号に変換す
ることが可能な波長分散特性測定システム及びその光信
号受信ユニットを提供することにある。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するために本発明の波長分散特性システ
ムの光信号送信ユニットは、それぞれ測定すべきn個の
波長点に対応した波長を有する光信号を測定光信号とし
て選択的に発生するために提供されその1つは基準光信
号の発生を兼用するために提供されるn個の光源手段と
、 少なくとも1つの所定の周波数を有する変調信号を発生
する変調信号発生手段と、 上記測定信号及び上記基準光信号を発生するために、上
記n個の光源手段を所定の順序で指定する第1制御信号
発生手段と、 上記第1制御信号発生手段、変調信号発生手段及びn個
の光源手段間に結合され、上記第1の制御信号で上記測
定光信号の発生に指定される上記n個の光源手段のうち
の特定の光源手段、及び上記基準光信号の発生に兼用さ
れる光源手段に上記変調信号を選択的に供給するか又は
上記測定光信号と上記基準光信号とを発生する光源手段
のみに上記変調信号を供給する光源切換え手段と、上記
第1の制御信号と所定の同期関係を有する第2の制御信
号を発生する第2制御信号発生手段と、 上記それぞれn個の光源手段に対応して配設されるn個
の光信号入力端と、6単一の測定光信号出力端及び基準
光信号端とを有し、上記1g2制御信号発生手段からの
第2制御信号を受けて、上記n個の光信号入力端に選択
的に入射される上記n個の光源手段のうち上記指定され
た光源手段からの上記測定光信号を上記測定光信号出力
端に共通に導出し、かつ上記n個の光源手段のうちの1
つが発生する基準光1ざ号を上記基準光信号出力端に導
出する光スイッチ手段とを具備したことを特徴とする。
ムの光信号送信ユニットは、それぞれ測定すべきn個の
波長点に対応した波長を有する光信号を測定光信号とし
て選択的に発生するために提供されその1つは基準光信
号の発生を兼用するために提供されるn個の光源手段と
、 少なくとも1つの所定の周波数を有する変調信号を発生
する変調信号発生手段と、 上記測定信号及び上記基準光信号を発生するために、上
記n個の光源手段を所定の順序で指定する第1制御信号
発生手段と、 上記第1制御信号発生手段、変調信号発生手段及びn個
の光源手段間に結合され、上記第1の制御信号で上記測
定光信号の発生に指定される上記n個の光源手段のうち
の特定の光源手段、及び上記基準光信号の発生に兼用さ
れる光源手段に上記変調信号を選択的に供給するか又は
上記測定光信号と上記基準光信号とを発生する光源手段
のみに上記変調信号を供給する光源切換え手段と、上記
第1の制御信号と所定の同期関係を有する第2の制御信
号を発生する第2制御信号発生手段と、 上記それぞれn個の光源手段に対応して配設されるn個
の光信号入力端と、6単一の測定光信号出力端及び基準
光信号端とを有し、上記1g2制御信号発生手段からの
第2制御信号を受けて、上記n個の光信号入力端に選択
的に入射される上記n個の光源手段のうち上記指定され
た光源手段からの上記測定光信号を上記測定光信号出力
端に共通に導出し、かつ上記n個の光源手段のうちの1
つが発生する基準光1ざ号を上記基準光信号出力端に導
出する光スイッチ手段とを具備したことを特徴とする。
さらに、本発明の波長分散特性システムの光信号受信二
二、トは、基準光信号と測定光1B号とをそれぞれ電気
イざ号に変換する光電変換器と前記光電変換器に結合さ
れ、前記光電変換器からの電気信号のレベルを検知して
検知された電気信号のレベルに相応する制御信号を発生
する電流モニタ手段と、前記光電変換器lCM合され前
記光電変換器に入力する前記基準光信号と前記測定光信
号のレベルを自動的に調整するプログラマブル光アッテ
ネータとを具備したことを特徴とする。
二、トは、基準光信号と測定光1B号とをそれぞれ電気
イざ号に変換する光電変換器と前記光電変換器に結合さ
れ、前記光電変換器からの電気信号のレベルを検知して
検知された電気信号のレベルに相応する制御信号を発生
する電流モニタ手段と、前記光電変換器lCM合され前
記光電変換器に入力する前記基準光信号と前記測定光信
号のレベルを自動的に調整するプログラマブル光アッテ
ネータとを具備したことを特徴とする。
さらに、本発明の波長分散特性システムは、それぞれ判
定すべきn個の波長点に対応した波長を有する光信号を
測定光信号として選択的に発生するために提供され、そ
の1つは基準光信号の発生を兼用するために提供される
n個の光源手段と、少なくとも1つの所定の周波数を有
する変調信号を発生する変調信号発生手段と、 上記測定信号及び上記基準光信号を発生するために1上
記n個の光源手段を所定の順序で指定する第1制御信号
発生手段と、 上記第1制御信号発生手段、変調信号発生手段及びn個
の光源手段間に結合され、上記5glの制#信号で上記
測定光信号の発生に指定される上記n個の光源手段のう
ちの特定の光源手段、及び上記基準光信号の発生に兼用
される光源手段に上記変調信号を選択的に供給するか又
は上記測定光信号と上記基準光信号とを発生する光源手
段のみに上記変調信号を供給する光源切換え手段と、上
記第1の?ff1J#信号と所定の同期関係を有する第
2の制御信号を発生する第2制御信号発生手段と、 上記それぞれn個の光源手段に対応して配設されるn個
の光信号入力端と、6単一の測定光信号出力端及び基準
光信号端とを有し、上記第2制御信号発生手段からの第
2制御信号を受けて、上記n個の光信号入力端に選択的
に入射される上記n個の光源手段のうち上記指足された
光源手段からの上記測定光信号を上記測定光信号出力端
に共通に導出し、かつ上記n個の光源手段のうちの1つ
が発生する基準光信号を上記基準光信号出力端に導出す
る元スイッチ手段とを具備する光信号送信ユニットと、 一端と他端とを有し、前記基準光ファイバの一端が前記
基準光信号を入射すべく前記元スイッチ手段の基準光信
号出力端に(ddされる基準光ファイバと、 一端と他端を有し、前記被測定光ファイバの前記一端が
前記測定光信号を入射すべく前記光スイ、チ手段の前記
測定光信号出力端に接続される被測定光ファイバと、前
記基準光信号と前記測定光信号とをそれぞれ電気信号に
変換する光電変換器と前記光電変換器に結合され、前記
″/l、itc変換器からの電気信号のレベルを検知し
て検知された電気信号のレベルに相応する制御信号を発
生する電流モニタ手段と、前記光電変換器に結合され前
記光電変換器に入力する前記基準光信号と前記測定光信
号のレベルを自動的にvI41!Ilするプログラマブ
ル光アッテネータとを具備する光信号受信ユニットとを
具備したことを特徴とする。
定すべきn個の波長点に対応した波長を有する光信号を
測定光信号として選択的に発生するために提供され、そ
の1つは基準光信号の発生を兼用するために提供される
n個の光源手段と、少なくとも1つの所定の周波数を有
する変調信号を発生する変調信号発生手段と、 上記測定信号及び上記基準光信号を発生するために1上
記n個の光源手段を所定の順序で指定する第1制御信号
発生手段と、 上記第1制御信号発生手段、変調信号発生手段及びn個
の光源手段間に結合され、上記5glの制#信号で上記
測定光信号の発生に指定される上記n個の光源手段のう
ちの特定の光源手段、及び上記基準光信号の発生に兼用
される光源手段に上記変調信号を選択的に供給するか又
は上記測定光信号と上記基準光信号とを発生する光源手
段のみに上記変調信号を供給する光源切換え手段と、上
記第1の?ff1J#信号と所定の同期関係を有する第
2の制御信号を発生する第2制御信号発生手段と、 上記それぞれn個の光源手段に対応して配設されるn個
の光信号入力端と、6単一の測定光信号出力端及び基準
光信号端とを有し、上記第2制御信号発生手段からの第
2制御信号を受けて、上記n個の光信号入力端に選択的
に入射される上記n個の光源手段のうち上記指足された
光源手段からの上記測定光信号を上記測定光信号出力端
に共通に導出し、かつ上記n個の光源手段のうちの1つ
が発生する基準光信号を上記基準光信号出力端に導出す
る元スイッチ手段とを具備する光信号送信ユニットと、 一端と他端とを有し、前記基準光ファイバの一端が前記
基準光信号を入射すべく前記元スイッチ手段の基準光信
号出力端に(ddされる基準光ファイバと、 一端と他端を有し、前記被測定光ファイバの前記一端が
前記測定光信号を入射すべく前記光スイ、チ手段の前記
測定光信号出力端に接続される被測定光ファイバと、前
記基準光信号と前記測定光信号とをそれぞれ電気信号に
変換する光電変換器と前記光電変換器に結合され、前記
″/l、itc変換器からの電気信号のレベルを検知し
て検知された電気信号のレベルに相応する制御信号を発
生する電流モニタ手段と、前記光電変換器に結合され前
記光電変換器に入力する前記基準光信号と前記測定光信
号のレベルを自動的にvI41!Ilするプログラマブ
ル光アッテネータとを具備する光信号受信ユニットとを
具備したことを特徴とする。
[作用]
本発明の手段の作用は次の通りである。
本発明の波長分散特性測定システムの光信号送信二二、
トはn個の光信号入力端と、6単一の測定光信号出力端
及び基準光信号端とを有し、上記n個の光信号入力端に
選択的に入射される上記n個の光源手段のうち上記指足
された光源手段からの上記測定光信号を上記測定光信号
出力端に共通に導出し、かつ上記n個の光源手段のうち
の1つが発生する基準光信号を上記基準光信号出力端に
導出する光スイッチ手段を具備するので上記n個の光源
手段の1つを基準光信号の発生に兼用することがoT能
になシ基準光信号用専用光源が不要になる。
トはn個の光信号入力端と、6単一の測定光信号出力端
及び基準光信号端とを有し、上記n個の光信号入力端に
選択的に入射される上記n個の光源手段のうち上記指足
された光源手段からの上記測定光信号を上記測定光信号
出力端に共通に導出し、かつ上記n個の光源手段のうち
の1つが発生する基準光信号を上記基準光信号出力端に
導出する光スイッチ手段を具備するので上記n個の光源
手段の1つを基準光信号の発生に兼用することがoT能
になシ基準光信号用専用光源が不要になる。
さらに本発明の波長分数特性測定システムの光信号受信
ユニットは、光電変換器に結合され、前記光if換器か
らの電気信号のレベルを検知して検・Flされた電気信
号のレベルに相応する制御信号全発生する電流モニタ手
段と、前記光電変換器に結合され前記光電変換器に入力
する前記基準光信号と前記測定光信号のレベルを自動的
に調整するプログラマブル光アッテネータとを具備する
ので前記光電変換器は前記基準光信号と前記測定光信号
のレベルを自動的KgI4整町DiCなる。
ユニットは、光電変換器に結合され、前記光if換器か
らの電気信号のレベルを検知して検・Flされた電気信
号のレベルに相応する制御信号全発生する電流モニタ手
段と、前記光電変換器に結合され前記光電変換器に入力
する前記基準光信号と前記測定光信号のレベルを自動的
に調整するプログラマブル光アッテネータとを具備する
ので前記光電変換器は前記基準光信号と前記測定光信号
のレベルを自動的KgI4整町DiCなる。
さらに本発明の波長分散特性測定システムは、その光信
号送信ユニットにn個の光信号入力端と、6単一の測定
光信号出力端及び基準光信号端とを有し、上記n個の光
信号入力端に選択的に入射される上記n個の光源手段の
うち上記指定された光源手段からの上記測定光信号を上
記測定光信号出力端に共通に導出し、かつ上記n個の光
源手段のうちの1つが発生する基準光信号を上記基準光
信号出力端に導出する光スイッチ手段を設けたので上記
n個の光源手段の1つを基準光信号の発生に兼用するこ
とが可能になシ基準光信号用専用元源が不要になるとと
もにその光信号受信ユニットに光電変換器にM会され、
前記光電変換器からの電気信号のレベルを横辺して検知
された電気信号のレベルに相応する制御信号を発生する
電流モニタ手段と、前記光電変換器に結合され前記光電
変換器に入力する前記基準光信号と前記測定光信号のレ
ベルを自動的にfAglするプログラマブル光アッテネ
ータとを設けたので前記光電変換器は前記基準光信号と
前記測定光信号のレベルを自動的に調整可能になる。
号送信ユニットにn個の光信号入力端と、6単一の測定
光信号出力端及び基準光信号端とを有し、上記n個の光
信号入力端に選択的に入射される上記n個の光源手段の
うち上記指定された光源手段からの上記測定光信号を上
記測定光信号出力端に共通に導出し、かつ上記n個の光
源手段のうちの1つが発生する基準光信号を上記基準光
信号出力端に導出する光スイッチ手段を設けたので上記
n個の光源手段の1つを基準光信号の発生に兼用するこ
とが可能になシ基準光信号用専用元源が不要になるとと
もにその光信号受信ユニットに光電変換器にM会され、
前記光電変換器からの電気信号のレベルを横辺して検知
された電気信号のレベルに相応する制御信号を発生する
電流モニタ手段と、前記光電変換器に結合され前記光電
変換器に入力する前記基準光信号と前記測定光信号のレ
ベルを自動的にfAglするプログラマブル光アッテネ
ータとを設けたので前記光電変換器は前記基準光信号と
前記測定光信号のレベルを自動的に調整可能になる。
[実施例]
以下に、本発明の一実施例を第1図を参照して詳細に説
明する。第1図において、基準ファイバ6ノの一端が本
発明の波長分散特性測定システムの光信号送信部20の
基準光信号出力@ REF OtJ’rに、かつ被測定
ファイバ62の一端が前記送信部20の測定光信号出力
端TEST 0UTK!続される。
明する。第1図において、基準ファイバ6ノの一端が本
発明の波長分散特性測定システムの光信号送信部20の
基準光信号出力@ REF OtJ’rに、かつ被測定
ファイバ62の一端が前記送信部20の測定光信号出力
端TEST 0UTK!続される。
さらに前記基準ファイバ61の他端が本発明のシステム
の光信号受信部400基準光信号入力端ftfEF I
Nに、かつ前記被測定ファイバ62の他端が前記受信部
40の測定光信号入力端TEST INに接続される。
の光信号受信部400基準光信号入力端ftfEF I
Nに、かつ前記被測定ファイバ62の他端が前記受信部
40の測定光信号入力端TEST INに接続される。
まず、本発明の波長分散特性測定システムの前記送信部
20について説明する。変調信号発生回路22は、4つ
の異なる発撮周波数1l−f4を持つ4個の水晶発憑器
から構成される。この変調信号発生回路22は抵抗から
なる分岐回路23に接続される。前記分岐回路23の出
力の一方は高周波リレーマトリクスから構成されるチャ
ンネル切替え回u ;t 4 lCsかつ、前記分岐回
路23の出力の他方は4りのレーデダイオードLDI−
LD4からなる光源群25の1つのレーデダイオード9
LD4に接続される。前記4つの水晶発振器の駆動選択
は、CPU 21からの選択信号に応答して行われる。
20について説明する。変調信号発生回路22は、4つ
の異なる発撮周波数1l−f4を持つ4個の水晶発憑器
から構成される。この変調信号発生回路22は抵抗から
なる分岐回路23に接続される。前記分岐回路23の出
力の一方は高周波リレーマトリクスから構成されるチャ
ンネル切替え回u ;t 4 lCsかつ、前記分岐回
路23の出力の他方は4りのレーデダイオードLDI−
LD4からなる光源群25の1つのレーデダイオード9
LD4に接続される。前記4つの水晶発振器の駆動選択
は、CPU 21からの選択信号に応答して行われる。
父、前記チャンネル切替え回路24による切替え動作も
、前記CPU 21からの切替え命令によって制御され
る。前記4つの周波数fl−f4として本システムでは
、5.50.Zoo、800 MHzが使用されるが、
この周波数に限定されず他の適当な周波数であってもよ
い。前記したように、前記分岐回路2311Cは抵抗が
使用され、前記チャンネル切替え回路24には高周波リ
レーマトリクスが使用されているが他の適当な素子であ
りてもよい。前記光源#25のうちレーデダイオードL
DI −LD 3は、前記チャンネル切替え回N124
の出力側に配置される。さらに、前記レーデダイオード
LDI−LD3の出力側には、前記レーデダイオードL
DI−LD3のそれぞれに相応して光スィッチ#26を
構成する3つの光スイッチ261−263が配置される
。前記レーデダイオードLD4の出力には前記3つの光
スイ。
、前記CPU 21からの切替え命令によって制御され
る。前記4つの周波数fl−f4として本システムでは
、5.50.Zoo、800 MHzが使用されるが、
この周波数に限定されず他の適当な周波数であってもよ
い。前記したように、前記分岐回路2311Cは抵抗が
使用され、前記チャンネル切替え回路24には高周波リ
レーマトリクスが使用されているが他の適当な素子であ
りてもよい。前記光源#25のうちレーデダイオードL
DI −LD 3は、前記チャンネル切替え回N124
の出力側に配置される。さらに、前記レーデダイオード
LDI−LD3の出力側には、前記レーデダイオードL
DI−LD3のそれぞれに相応して光スィッチ#26を
構成する3つの光スイッチ261−263が配置される
。前記レーデダイオードLD4の出力には前記3つの光
スイ。
チ261−263に関連してハーフミラ−27が配置さ
れる。さらに、プリズム28が前記光スイッチ261−
26311C関連して配置される。前記光源群25には
レーデダイオードLDI−LD4が用いられるが他の適
当な光源でもよい。
れる。さらに、プリズム28が前記光スイッチ261−
26311C関連して配置される。前記光源群25には
レーデダイオードLDI−LD4が用いられるが他の適
当な光源でもよい。
本発明の波長分散特性測定システムに使用されるレーデ
ダイオードの数は4個に限定されない。
ダイオードの数は4個に限定されない。
前記レーデダイオードLDI−LD4の波長は、、3μ
m帝の零分散波長を持つ光7アイパにおいては、それぞ
れ、26.、30.、34.、53μmの波長が使用さ
れ、、55μmの零分散波長を持つ$7アイバにおいて
は、それぞれ、50.、53.、56.、59μmの波
長が使用されるが、他の適当な波長であってもよい。
m帝の零分散波長を持つ光7アイパにおいては、それぞ
れ、26.、30.、34.、53μmの波長が使用さ
れ、、55μmの零分散波長を持つ$7アイバにおいて
は、それぞれ、50.、53.、56.、59μmの波
長が使用されるが、他の適当な波長であってもよい。
あってもよい。
ig4図(m)及び第4図(b)に示すように、前記光
源群25のそれぞれは、前記レーデダイオードLDI−
LD4の他に、前記レーデダイオードLDI−LD4か
らの反射光の影響によって発生する雑音を除去するため
の光アイソレータ351や、球レンズ356、ミラー3
52、ペルチェ素子353、−ミスタ357、放熱用フ
ィン359、変調回路358を含んでいる。前記レーデ
ダイオードLDI−LD4を初めとして、これらの素子
は非常に高゛。
源群25のそれぞれは、前記レーデダイオードLDI−
LD4の他に、前記レーデダイオードLDI−LD4か
らの反射光の影響によって発生する雑音を除去するため
の光アイソレータ351や、球レンズ356、ミラー3
52、ペルチェ素子353、−ミスタ357、放熱用フ
ィン359、変調回路358を含んでいる。前記レーデ
ダイオードLDI−LD4を初めとして、これらの素子
は非常に高゛。
価なものであり、したがって、高価な光源部を1つでも
減らすことは全体のコストノ?フォーマンスに大きく影
響することが容易にわかる。
減らすことは全体のコストノ?フォーマンスに大きく影
響することが容易にわかる。
第5図に示されるように、前記光スイッチ261−26
3のそれぞれは、前記ハーフミラ−27と集光レンズ2
67の光路を遮るように配置された平行四辺形プリズム
264と前記平行四辺形プリズム264から多少ずらし
て配置された三角プリズム265とを具備する。この2
つのプリズムは、前記レーデダイオードLDI−LD3
からの出射光が前記三角プリズム265及び前記平行四
辺形プリズム264を通って集光レンズ267に向かう
ような位置に配置される。前記平行四辺形プリズム26
4は、前記出射光が前記ハーフミラ−27によって反射
されて前記光ファイバに向かう時、スライド運動くよっ
てその位置を変え、遮っていた前記光路を解放状態にし
て前記出射光が前記ハーフミラ−27から前記光ファイ
バへと直進は球レンズである。さらに参照符号267及
び268は集光レンズである。
3のそれぞれは、前記ハーフミラ−27と集光レンズ2
67の光路を遮るように配置された平行四辺形プリズム
264と前記平行四辺形プリズム264から多少ずらし
て配置された三角プリズム265とを具備する。この2
つのプリズムは、前記レーデダイオードLDI−LD3
からの出射光が前記三角プリズム265及び前記平行四
辺形プリズム264を通って集光レンズ267に向かう
ような位置に配置される。前記平行四辺形プリズム26
4は、前記出射光が前記ハーフミラ−27によって反射
されて前記光ファイバに向かう時、スライド運動くよっ
てその位置を変え、遮っていた前記光路を解放状態にし
て前記出射光が前記ハーフミラ−27から前記光ファイ
バへと直進は球レンズである。さらに参照符号267及
び268は集光レンズである。
一方、第1図の前記光信号受信部40においては、前記
基準7アイパ61及び前記被測定ファイバ62の光出射
熾側にそれぞれプログラマブル光アッテネータ4、42
及びアバランシェ・フォトダイオードAPD 4 J
、 44が今述べた順序で配置されている。第3図が示
すように、前記!ログラマプル光ア、テネータ4、42
のそれぞれは、直列に配置され7’j3つの光減衰素子
411,412゜413を有しかつ例えば前記アバラン
シェ・フォトダイオードAPD 441c一体的に接続
されている。
基準7アイパ61及び前記被測定ファイバ62の光出射
熾側にそれぞれプログラマブル光アッテネータ4、42
及びアバランシェ・フォトダイオードAPD 4 J
、 44が今述べた順序で配置されている。第3図が示
すように、前記!ログラマプル光ア、テネータ4、42
のそれぞれは、直列に配置され7’j3つの光減衰素子
411,412゜413を有しかつ例えば前記アバラン
シェ・フォトダイオードAPD 441c一体的に接続
されている。
同図の参照符号414は光レセグタクルである。
前記光減衰素子411,412,413の直径はどれも
が8mmでアシ、前記3つの減衰素子411゜412.
413の減Ntはそれぞれ4dB、8dB。
が8mmでアシ、前記3つの減衰素子411゜412.
413の減Ntはそれぞれ4dB、8dB。
16 dBであるが前記直径、前記減衰量とも他の適当
な値でもよい。これらの前記各減衰素子411゜412
.413をそれぞれプログラマブルにON又はOFFさ
せることにより、最大28 dBまで8種類の減衰量を
設定できる。
な値でもよい。これらの前記各減衰素子411゜412
.413をそれぞれプログラマブルにON又はOFFさ
せることにより、最大28 dBまで8種類の減衰量を
設定できる。
第1図において、前記APD 4 J 、 44は、前
記!ログシマ1ル光ア、テネータ4、42から出力され
た光信号を電気信号に変換する機能を有する。前記AP
D 43 、44に接続されているのが電流モニタ45
及び46である。これは、前記APD43.44からの
出力電流を検出し、その検出電流の大きさに応じて前記
プログラマブル光アッテネータ4、42の減衰[を制御
し、前記APD43.44へ所定のレベルの光信号を入
力させる機能を持っている。前記APD 43 、44
で光電変換された復調信号は、ミキサ47,4Bに入力
される。局部信号発生回路49は4つの異なる発成周波
数1l−f4をもつ4つの水晶発5器からなる。
記!ログシマ1ル光ア、テネータ4、42から出力され
た光信号を電気信号に変換する機能を有する。前記AP
D 43 、44に接続されているのが電流モニタ45
及び46である。これは、前記APD43.44からの
出力電流を検出し、その検出電流の大きさに応じて前記
プログラマブル光アッテネータ4、42の減衰[を制御
し、前記APD43.44へ所定のレベルの光信号を入
力させる機能を持っている。前記APD 43 、44
で光電変換された復調信号は、ミキサ47,4Bに入力
される。局部信号発生回路49は4つの異なる発成周波
数1l−f4をもつ4つの水晶発5器からなる。
前記4つの水晶発振器の駆動選択は、CPU53からの
選択信号によってなされる。前記ミキサ47,411は
、選択された周波数の局部信号を使用して周波数変換を
行う。周波数変換された電気信号は各波長間の位相差を
測定すべ〈位相測定・部52に送られる。
選択信号によってなされる。前記ミキサ47,411は
、選択された周波数の局部信号を使用して周波数変換を
行う。周波数変換された電気信号は各波長間の位相差を
測定すべ〈位相測定・部52に送られる。
本発明の波長分散測定システムの動作をよシよく理解す
るために、第1図を参照にして、全体の動作順序を説明
する。先ず、前記CPU 21は、所定のタイミングに
もとすいて前記変調信号発生回路22へ信号選択指令を
与えて例えばf = 5 MHzの変調信号f1を発生
させる。この変調信号f1は、前記分岐回路23で2分
岐されその出力の一方は前記チャンネル切換え回路24
に送られる。前記CPU 21からの切替え命令によっ
て前記チャンネル切換え回路24が切習え動作を行ない
1つの出力が選択される。前記選択された出力を受けて
前記選択された出力に相応する前記レーデダイオードL
DI−LD3の1つ、例えばレーデダイオードLDIが
駆動される。これによって、前記LDIの出力には前記
変調周波数f1によって強度変調された光信号が発生す
る。この光信号は前記レーデダイオードLDIに相応す
る前記光スィッチ261に当る。前述したように、前記
光スイッチ261の選択は前記CPUからの切替え指令
圧よって行われる。その後、前記光信号は前記プリズム
28に反射され、測定光信号として前記光信号送信部2
0の測定光信号出力端TEST OUTを介して前記被
測定ファイバ62の一端に入射する。他方、前記分岐回
路23の出力の他方は、前記レーデダイオードLD4に
直接人力される。したがって、前記レーデダイオードL
D4の出力には前記変調周波数f1によって強度変調さ
れた光信号が発生する。発生した該光信号は前記ハーフ
ミラ−27によって2分岐される。その一方は基準光信
号として前記光信号送信部200基準光信号出力端RE
F OUTを介して前記基準ファイバ61の一端に入射
され他方は前記光スイッチ群261−263を介して前
記プリズム28に反射され、測定光信号として前記光信
号送信部20の測定光信号出カ@ TgNT OUTを
介して前記被測定ファイバ62の一端に入射される。
るために、第1図を参照にして、全体の動作順序を説明
する。先ず、前記CPU 21は、所定のタイミングに
もとすいて前記変調信号発生回路22へ信号選択指令を
与えて例えばf = 5 MHzの変調信号f1を発生
させる。この変調信号f1は、前記分岐回路23で2分
岐されその出力の一方は前記チャンネル切換え回路24
に送られる。前記CPU 21からの切替え命令によっ
て前記チャンネル切換え回路24が切習え動作を行ない
1つの出力が選択される。前記選択された出力を受けて
前記選択された出力に相応する前記レーデダイオードL
DI−LD3の1つ、例えばレーデダイオードLDIが
駆動される。これによって、前記LDIの出力には前記
変調周波数f1によって強度変調された光信号が発生す
る。この光信号は前記レーデダイオードLDIに相応す
る前記光スィッチ261に当る。前述したように、前記
光スイッチ261の選択は前記CPUからの切替え指令
圧よって行われる。その後、前記光信号は前記プリズム
28に反射され、測定光信号として前記光信号送信部2
0の測定光信号出力端TEST OUTを介して前記被
測定ファイバ62の一端に入射する。他方、前記分岐回
路23の出力の他方は、前記レーデダイオードLD4に
直接人力される。したがって、前記レーデダイオードL
D4の出力には前記変調周波数f1によって強度変調さ
れた光信号が発生する。発生した該光信号は前記ハーフ
ミラ−27によって2分岐される。その一方は基準光信
号として前記光信号送信部200基準光信号出力端RE
F OUTを介して前記基準ファイバ61の一端に入射
され他方は前記光スイッチ群261−263を介して前
記プリズム28に反射され、測定光信号として前記光信
号送信部20の測定光信号出カ@ TgNT OUTを
介して前記被測定ファイバ62の一端に入射される。
次に、前記CPU Z Iは再び、前記チャンネル切替
え部24及び前記光スイッチ26にチャンネル切替え指
令を与える。これによシ前記チャンネル切替え部24の
出力端が新たに選択され、前記変調信号f1の入力によ
って前記レーデダイオードLD7とは異なる前記レーデ
ダイオードLD2−LDJの1つ、例えばLD、?を駆
動する。この駆動によって発生した光信号は、対応する
前記光スイッチ262によって反射されて前記プリズム
28へと向かう。このプリズム211tlCよって反射
された前記光信号は前記測定光信号出力端TENTOU
Tを介して前記被測定7アイパ62へ入射される。
え部24及び前記光スイッチ26にチャンネル切替え指
令を与える。これによシ前記チャンネル切替え部24の
出力端が新たに選択され、前記変調信号f1の入力によ
って前記レーデダイオードLD7とは異なる前記レーデ
ダイオードLD2−LDJの1つ、例えばLD、?を駆
動する。この駆動によって発生した光信号は、対応する
前記光スイッチ262によって反射されて前記プリズム
28へと向かう。このプリズム211tlCよって反射
された前記光信号は前記測定光信号出力端TENTOU
Tを介して前記被測定7アイパ62へ入射される。
前記CPU21tt−1、前記レーデダイオードLDI
−LD4の全てが選択されるまで、前記チャンネル切替
え部24及び前記光スィッチ26に切替え命令を出す。
−LD4の全てが選択されるまで、前記チャンネル切替
え部24及び前記光スィッチ26に切替え命令を出す。
これによって、前記基準光信号及び前記測定光信号がそ
れぞれ前記基準光ファイバ6I及び前記被測定光7アイ
パ62iC人射される動作が反復される。
れぞれ前記基準光ファイバ6I及び前記被測定光7アイ
パ62iC人射される動作が反復される。
前記CPU j Iは、前記反復動作の終了後、前記変
調信号発生回路22に新たに選択指令を出す。
調信号発生回路22に新たに選択指令を出す。
これによって前記変調周波数f1とは異なる周波数、例
えばf 2 = 50 MHzの水晶発振器が駆動され
て前記f2の周波数についても前記反復動作が実行され
る。同様に、前記反復動作は、前記周波数f 3 =
200 MHzさらに前記周波数t4=80(MHzに
ついても実行される。
えばf 2 = 50 MHzの水晶発振器が駆動され
て前記f2の周波数についても前記反復動作が実行され
る。同様に、前記反復動作は、前記周波数f 3 =
200 MHzさらに前記周波数t4=80(MHzに
ついても実行される。
第6図は、前記反復動作に関連して、上記変調信号1l
−f4が順次送信される状態をタイミングチャートで示
したものである。第6囚の(、)は、3μm帝に零分散
波長があるf7フイパについてであり、第6図の(b)
は、、55μrn帯に零分散波長がおる光ファイバにつ
いてである。
−f4が順次送信される状態をタイミングチャートで示
したものである。第6囚の(、)は、3μm帝に零分散
波長があるf7フイパについてであり、第6図の(b)
は、、55μrn帯に零分散波長がおる光ファイバにつ
いてである。
前記受信部について述べる。前記基進光ファイバ6ノ及
び前記被測定光ファイバ62からそれぞれ出射された前
記基準光信号及び前記測定光信号を前記プログラマブル
光ア、テ$−fi4、42によって信号レベルをIJd
l(、っり前記APD (3。
び前記被測定光ファイバ62からそれぞれ出射された前
記基準光信号及び前記測定光信号を前記プログラマブル
光ア、テ$−fi4、42によって信号レベルをIJd
l(、っり前記APD (3。
44で受ける。前記APD 43 、44がらの出方信
号は、前記ミキサ47,48t/C入力される。前記ミ
キサ47,411は、前記局部信号発生回路49によっ
て発生された周波数の局部信号を使用して前記入力され
た信号を周波数変換する。前記周波数変換後、前記信号
は、前記フィルタ50.51を介して前記位相測定部5
2へ送出される。
号は、前記ミキサ47,48t/C入力される。前記ミ
キサ47,411は、前記局部信号発生回路49によっ
て発生された周波数の局部信号を使用して前記入力され
た信号を周波数変換する。前記周波数変換後、前記信号
は、前記フィルタ50.51を介して前記位相測定部5
2へ送出される。
第2図のグラフを参照にして、本発明の波長分散特性測
定システムの前記ベースバンド位相比較法についてさら
に述べる。不発明のシステムにおいては4つの波長λ1
−λ4が使用されるが、ここではm 1vAの異なる波
長λ1−λ□を持つ複数の光源を想定する。隣接する2
波長間の測定器内部の位相差(内部位相差)をθ’(n
l)nとし、被測定光ファイバ伝搬後の受信側での2波
長間の位相差をθイーリ。とする、さらに変調周波数を
fとし、遅延時間差をτ(n−1)nとする。したがっ
て、θ(n−リn:θI<n−りれ+2πfτ(n−1
)n (n”2e 3°−m)が成立する。ここで、被
測定光ファイバの長さをt、2波長間の位相差をφ(n
−1)nとすると、φい一す。=θ(n−1)n−θ’
(n−1)nであるから、単位長(n==2.J・・・
m)と表わせる。
定システムの前記ベースバンド位相比較法についてさら
に述べる。不発明のシステムにおいては4つの波長λ1
−λ4が使用されるが、ここではm 1vAの異なる波
長λ1−λ□を持つ複数の光源を想定する。隣接する2
波長間の測定器内部の位相差(内部位相差)をθ’(n
l)nとし、被測定光ファイバ伝搬後の受信側での2波
長間の位相差をθイーリ。とする、さらに変調周波数を
fとし、遅延時間差をτ(n−1)nとする。したがっ
て、θ(n−リn:θI<n−りれ+2πfτ(n−1
)n (n”2e 3°−m)が成立する。ここで、被
測定光ファイバの長さをt、2波長間の位相差をφ(n
−1)nとすると、φい一す。=θ(n−1)n−θ’
(n−1)nであるから、単位長(n==2.J・・・
m)と表わせる。
この群遅延時間差Δτ(n−1)。と波長λ1−λ□と
の関係をグラフで表わすと第2図のようになる。第2図
の曲線は、いくつかの近似式によって表わされるが、本
発明の波長分散特性測定システムでは4つの光源を用い
るので2次式τ(λ)=aλ2−1−b−1−cλ−2
を用いる。
の関係をグラフで表わすと第2図のようになる。第2図
の曲線は、いくつかの近似式によって表わされるが、本
発明の波長分散特性測定システムでは4つの光源を用い
るので2次式τ(λ)=aλ2−1−b−1−cλ−2
を用いる。
本発明の波長分散特性測定システムにおける位相測定は
、前記反復動作に関連して、前記4波長λ1−λ4と前
記4つの変調周波数1l−f4の各組合せごとに行う。
、前記反復動作に関連して、前記4波長λ1−λ4と前
記4つの変調周波数1l−f4の各組合せごとに行う。
このうち位相回転の生じていない、かつ前記変調周波数
fl−f4の最も大きいデータを選択し、前記各波長間
の前記群遅延時間差を求める。この測定結果から、最小
自乗法を用いて、前記CPU 5Jにより、前記2次式
τ(λ)=1λ2+b−1−cλ−2を算出する。さら
に、求められた前記2次式を波長λで微分すれば波長分
数特性D(λ)−dτ(λ)/dλが求まる。測定結果
は、グラフ及び数値として内蔵のCRT 54 、及び
グリンタ55に出力される他に、 GPIB s sを
経由して、図示しない外部のプリンタ/プロッタにも出
力可能である。
fl−f4の最も大きいデータを選択し、前記各波長間
の前記群遅延時間差を求める。この測定結果から、最小
自乗法を用いて、前記CPU 5Jにより、前記2次式
τ(λ)=1λ2+b−1−cλ−2を算出する。さら
に、求められた前記2次式を波長λで微分すれば波長分
数特性D(λ)−dτ(λ)/dλが求まる。測定結果
は、グラフ及び数値として内蔵のCRT 54 、及び
グリンタ55に出力される他に、 GPIB s sを
経由して、図示しない外部のプリンタ/プロッタにも出
力可能である。
次に、本発明の他の実施例を第7図を参照して詳細に説
明する。第7図において、本発明の波長分散測定器は光
信号送信部20と光信号受信部130が基準ファイバ1
41および被測定ファイバ142を介して接続されてい
る。
明する。第7図において、本発明の波長分散測定器は光
信号送信部20と光信号受信部130が基準ファイバ1
41および被測定ファイバ142を介して接続されてい
る。
前記光信号受信部20は、CPU2、変調信号発生回路
22、分岐回路23、チャンネル切換回路24等を備え
ている点で従来と似ているが、特に異なるところは前記
チャンネル切換回路24の出力側に波長の異なるレーデ
光を発するn個のレーデダイオードLD1 −LDnよ
りも1個少ないレーデダイオードLD、−LDn−,が
接続され、かつ、チャンネル切換回路24の出力側から
減じた1個のレーデダイオード例えばLDnを前記分岐
回路23のチャンネル切換回路24側とは反対側の分岐
端に接続するものである。
22、分岐回路23、チャンネル切換回路24等を備え
ている点で従来と似ているが、特に異なるところは前記
チャンネル切換回路24の出力側に波長の異なるレーデ
光を発するn個のレーデダイオードLD1 −LDnよ
りも1個少ないレーデダイオードLD、−LDn−,が
接続され、かつ、チャンネル切換回路24の出力側から
減じた1個のレーデダイオード例えばLDnを前記分岐
回路23のチャンネル切換回路24側とは反対側の分岐
端に接続するものである。
前記レーデダイオードLD1−Ll)n−1の出力側に
は対応する該レーデダイオードLD1−LDn−、から
測定光信号が入射された時のみその測定光信号を反射し
、それ以外の他の測定光信号の時にはその一!ま。通過
させる光スイッチ261〜26n−1が設けられ、さら
に1残シの1個のレーデダイオードLDnの出力側には
光信号を2分岐する光分岐回路としてのハーフミラ−2
7が配置されている。このハーフミラ−27はレーデダ
イオードLDnからの強度変調された光信号を2分岐し
、その一方つまり直進光は基準光信号として前記基準フ
ァイバ14ノへ入射し、他方つまシ反射光は測定−/l
、信号として前記光スイッチ261〜26.jおよびグ
リズム28を通して被測定ファイバ142へ入射する様
になっている。
は対応する該レーデダイオードLD1−LDn−、から
測定光信号が入射された時のみその測定光信号を反射し
、それ以外の他の測定光信号の時にはその一!ま。通過
させる光スイッチ261〜26n−1が設けられ、さら
に1残シの1個のレーデダイオードLDnの出力側には
光信号を2分岐する光分岐回路としてのハーフミラ−2
7が配置されている。このハーフミラ−27はレーデダ
イオードLDnからの強度変調された光信号を2分岐し
、その一方つまり直進光は基準光信号として前記基準フ
ァイバ14ノへ入射し、他方つまシ反射光は測定−/l
、信号として前記光スイッチ261〜26.jおよびグ
リズム28を通して被測定ファイバ142へ入射する様
になっている。
一方、信号受信部130gJJJは、各ファイバ14I
。
。
142の光出射端側にそれぞれか電気信号変換部13、
132が配置され、ここで変換された電気信号は増幅器
133,134で増幅されて位相測定回路135に送ら
れる。この位相測定回路135は、CPU136の指令
に基づいて増幅器133.134の出力を復調し、この
復調後の両43号の位相差を求めた後、この位相差を電
圧信号に変換し、かつ、ディジメル信号に変換し図示し
ていない後処坤部へ送出する機能を持っている。
132が配置され、ここで変換された電気信号は増幅器
133,134で増幅されて位相測定回路135に送ら
れる。この位相測定回路135は、CPU136の指令
に基づいて増幅器133.134の出力を復調し、この
復調後の両43号の位相差を求めた後、この位相差を電
圧信号に変換し、かつ、ディジメル信号に変換し図示し
ていない後処坤部へ送出する機能を持っている。
次に、以上のように構成された機器の動作について説明
する。先ず、CPU21は所定のタイミングに基づいて
変調信号発生回路22へ信号選択指令を与えて例えば変
調信号fl を発生させる。その結果、たとえば前記レ
ーデダイオードLDnから発生するレーデ光は変調信号
発生回路22の変調信号f!で強度変調されて7%
7 ミラー27へ送られ、ここで2分岐されてその一方
は基準光信号として基準ファイバ141に入射され、他
方の光は測定光信号として各党スイッチ26fl−1+
・・・、26Iを通りプリズム28で反射されて被測定
ファイバ142へ入射される。引き続き、CPU 21
はチャ/ネル切換回路24および光スイッチ群26ヘチ
ヤンネル切換指令を与えると、チャンネル切換回路24
の出力端が順次選択され、かつ、この出力端の選択に同
期して対応する光スイッチ261 。
する。先ず、CPU21は所定のタイミングに基づいて
変調信号発生回路22へ信号選択指令を与えて例えば変
調信号fl を発生させる。その結果、たとえば前記レ
ーデダイオードLDnから発生するレーデ光は変調信号
発生回路22の変調信号f!で強度変調されて7%
7 ミラー27へ送られ、ここで2分岐されてその一方
は基準光信号として基準ファイバ141に入射され、他
方の光は測定光信号として各党スイッチ26fl−1+
・・・、26Iを通りプリズム28で反射されて被測定
ファイバ142へ入射される。引き続き、CPU 21
はチャ/ネル切換回路24および光スイッチ群26ヘチ
ヤンネル切換指令を与えると、チャンネル切換回路24
の出力端が順次選択され、かつ、この出力端の選択に同
期して対応する光スイッチ261 。
26!・・・が順次オンし、前記変調信号’fl で各
し一デダイオードLDI、LD、・・・のレーデ光を強
度変調して得られた測定光信号が、対応する光スイッチ
261,262・・・およびプリズム28を通って被測
定ファイバ142へ入射される。
し一デダイオードLDI、LD、・・・のレーデ光を強
度変調して得られた測定光信号が、対応する光スイッチ
261,262・・・およびプリズム28を通って被測
定ファイバ142へ入射される。
このとき、光信号受信部130側では両ファイバ141
,142から出射された基準光信号および各測定光信号
を順次に″に一電気信号変換部131゜132で受け、
ここで電気信号Kf換した後、位相測定回路135へ送
出する。この位相測定回路135では、復調処理を行い
、かつ、復調処理後の信号から第9図に示すように特定
の波長λ1をもつ基準光信号の位相θrefおよび波長
λ1〜λ。の異なる各チャンネルに係わる測定光信号の
位相θ1−2 。
,142から出射された基準光信号および各測定光信号
を順次に″に一電気信号変換部131゜132で受け、
ここで電気信号Kf換した後、位相測定回路135へ送
出する。この位相測定回路135では、復調処理を行い
、かつ、復調処理後の信号から第9図に示すように特定
の波長λ1をもつ基準光信号の位相θrefおよび波長
λ1〜λ。の異なる各チャンネルに係わる測定光信号の
位相θ1−2 。
と位相差を求めるとともに、これらの位相差を電圧信号
に変換し、更にディノタル信号に変換して出力する。
に変換し、更にディノタル信号に変換して出力する。
なお、上記説明は変調信号flについて述べたが、その
他に変調信号’2r’3+f4があればそれぞれの変調
信号ごとに前述した動作を繰り返すものである。
他に変調信号’2r’3+f4があればそれぞれの変調
信号ごとに前述した動作を繰り返すものである。
従って、以上のような実施例の構成によれば、光信号送
信部20において波長の異なる複数の測定用光源のうち
1個を分岐回路23に直接接続するとともに、かかる1
個の光源から出力される変調信号で強度変調された光信
号を7% 7 ミラー27で2分岐し、その一方の光
を基準光信号として基準ファイバ141へ入射し、他方
の光は測定、f、信号として被測定ファイバ141へ入
射するようにしたので、基準用の専用光源を持つことな
く測定用光源を用いて基準光信号を送出することかでき
、しかもモノニール化された高価なレーデダイオードを
11d減少させることによシ機器の小形化およびコスト
ダウンを図ることができ、かつ、七れに伴って故障率を
少なくすることができる。
信部20において波長の異なる複数の測定用光源のうち
1個を分岐回路23に直接接続するとともに、かかる1
個の光源から出力される変調信号で強度変調された光信
号を7% 7 ミラー27で2分岐し、その一方の光
を基準光信号として基準ファイバ141へ入射し、他方
の光は測定、f、信号として被測定ファイバ141へ入
射するようにしたので、基準用の専用光源を持つことな
く測定用光源を用いて基準光信号を送出することかでき
、しかもモノニール化された高価なレーデダイオードを
11d減少させることによシ機器の小形化およびコスト
ダウンを図ることができ、かつ、七れに伴って故障率を
少なくすることができる。
なお、上記実施例では光源としてレーデダイオードを用
いたが、他の光発光素子であってもよい。
いたが、他の光発光素子であってもよい。
また、光スイッチ26.,26.・・・は例えば回転ミ
ラーやプリズム等を使用するが、同等の機能を有するも
のであれば他のスイッチを用いてもよい。
ラーやプリズム等を使用するが、同等の機能を有するも
のであれば他のスイッチを用いてもよい。
さらに不発明の他の実施例を第8図を参照して詳細に説
明する。第8図において、本発明の波長分散測定器は、
光信号送信部240と光信号受信@250とが所定の距
離を有して配置され、かつ、いる。
明する。第8図において、本発明の波長分散測定器は、
光信号送信部240と光信号受信@250とが所定の距
離を有して配置され、かつ、いる。
前記光信号送信部240は、例えば周波数の異なる変調
イざ号fl 、r、+fN *f4で基準光源およ
び測定光源からそれぞれ発する光管順次強度変調しなが
ら基準1δ号および測定光信号を得、ここで得られ九基
準光信号および6111足元信足元上れ久に1光信号受
信部250においては、基準722/
λフ2アイパーΦ→および被測定ファイバナ拳
寸の出力端側にそれぞれグログラマグル光アッテネータ
251 r 、 ;!51 tおよび光電変換1fls
252r、252tの順序で配置されている。これらグ
ログラマプル光ア、テネータ251r、251*は非測
定時に最大のア、テネーシ臀ン値に設足され、測定開始
時に外部からの制御信号で適正なアッテネーシ璽ン値に
x7/x71 自動的に設定され、ファイバトナ吋、J−IP−Ikか
ら出力される光信号を適正なレベルに制御するものであ
る。前記y[変換部252r、252tはグログラマプ
ル元アッテネータ251r、2:51tから出力された
光信号を電気16号に変換する機能を有し、かつ、所定
の光信号レベル範囲においてリニアリティに変換特性を
もって信号変換するものである。
イざ号fl 、r、+fN *f4で基準光源およ
び測定光源からそれぞれ発する光管順次強度変調しなが
ら基準1δ号および測定光信号を得、ここで得られ九基
準光信号および6111足元信足元上れ久に1光信号受
信部250においては、基準722/
λフ2アイパーΦ→および被測定ファイバナ拳
寸の出力端側にそれぞれグログラマグル光アッテネータ
251 r 、 ;!51 tおよび光電変換1fls
252r、252tの順序で配置されている。これらグ
ログラマプル光ア、テネータ251r、251*は非測
定時に最大のア、テネーシ臀ン値に設足され、測定開始
時に外部からの制御信号で適正なアッテネーシ璽ン値に
x7/x71 自動的に設定され、ファイバトナ吋、J−IP−Ikか
ら出力される光信号を適正なレベルに制御するものであ
る。前記y[変換部252r、252tはグログラマプ
ル元アッテネータ251r、2:51tから出力された
光信号を電気16号に変換する機能を有し、かつ、所定
の光信号レベル範囲においてリニアリティに変換特性を
もって信号変換するものである。
253r、253tは電流モニタであって、これは光電
変換部252r、252tの出力電流を検出し、その検
出電流の大きさに工6じて前記グログラマプル光アッテ
ネータ251r、251tのア、テネーシ璽ン値7&:
制御し、光電変換部252r、21r2tへ所定レベル
の光信号を入力する1能を持っている。さらに、前記光
電変換部252r、252tの出力側には自動利得制御
回路254r、254tが接続されている。これらの自
動利得制御回路254r、254tは光電気変換され光
信号に含む歪み波信号を後続の復調用ミキサ255r、
255を等でバランスよく除去させるために破過なレベ
ルとなる様に制御する機能を持っている。この復調用ミ
キサ255r。
変換部252r、252tの出力電流を検出し、その検
出電流の大きさに工6じて前記グログラマプル光アッテ
ネータ251r、251tのア、テネーシ璽ン値7&:
制御し、光電変換部252r、21r2tへ所定レベル
の光信号を入力する1能を持っている。さらに、前記光
電変換部252r、252tの出力側には自動利得制御
回路254r、254tが接続されている。これらの自
動利得制御回路254r、254tは光電気変換され光
信号に含む歪み波信号を後続の復調用ミキサ255r、
255を等でバランスよく除去させるために破過なレベ
ルとなる様に制御する機能を持っている。この復調用ミ
キサ255r。
255tは局部@振回路256から発生される前記変調
信号の周波数に応じて異なる周波数の局部信号を受けて
復調処理動作を行う。257r、257tはフィルタ、
258は位相測定回路である。
信号の周波数に応じて異なる周波数の局部信号を受けて
復調処理動作を行う。257r、257tはフィルタ、
258は位相測定回路である。
次に1以上のようIC構成された機器の動作について説
明する。基準光源および測定光源の元fi特定周肢数の
変調信号で強度変調され、これによって得られた基準光
信号および測定光信号は基準)よシ出射された基準光信
号および副廻元(i号が!o r ラマプル元アッテネ
ータ25)r、251tへ入射され、かつ、光電変換部
252r、252tでそれぞれ電気信号に変換されるが
、このとき電流モ;り253r、253tで光電変換部
252r、252tの出力電流をモニタしそのモニタを
流の大きさに応じてア、テネーシ璽ンIIIを制御する
信号をプログラマグル光アッテネータ251r、251
tへ与えることKよシ、例えば光信号のレベルが大きい
時にはその光信号を抑制する方向にアッテネーシ冒ン値
を設定し、逆に光信号のレベルが小さい時には光信号の
レベルを高める方向にアッテネーシ冒ン値を設定する。
明する。基準光源および測定光源の元fi特定周肢数の
変調信号で強度変調され、これによって得られた基準光
信号および測定光信号は基準)よシ出射された基準光信
号および副廻元(i号が!o r ラマプル元アッテネ
ータ25)r、251tへ入射され、かつ、光電変換部
252r、252tでそれぞれ電気信号に変換されるが
、このとき電流モ;り253r、253tで光電変換部
252r、252tの出力電流をモニタしそのモニタを
流の大きさに応じてア、テネーシ璽ンIIIを制御する
信号をプログラマグル光アッテネータ251r、251
tへ与えることKよシ、例えば光信号のレベルが大きい
時にはその光信号を抑制する方向にアッテネーシ冒ン値
を設定し、逆に光信号のレベルが小さい時には光信号の
レベルを高める方向にアッテネーシ冒ン値を設定する。
その結果、プログラマブル光ア。
テネータ251r、251tから出力される光信号のレ
ベルは常に所定のレベル範囲に入れることが可能となり
、よって、光電変換部252r、252tはリニアリテ
ィよく信号変換動作を行うことができる。しかも、光電
変換部252r、252tの出力側に自動利得制御回路
254r、254tを設け、所望とするレベルに利得制
御することによシ、例えば復調処理時に歪み波形をバラ
ンスよく除去することができる。
ベルは常に所定のレベル範囲に入れることが可能となり
、よって、光電変換部252r、252tはリニアリテ
ィよく信号変換動作を行うことができる。しかも、光電
変換部252r、252tの出力側に自動利得制御回路
254r、254tを設け、所望とするレベルに利得制
御することによシ、例えば復調処理時に歪み波形をバラ
ンスよく除去することができる。
そして、以上のように所望レベルとされた信号は復調用
ミキサ255r、255tで復調され、この復調後の両
信号は位相測定回路258において位相差が求められる
。
ミキサ255r、255tで復調され、この復調後の両
信号は位相測定回路258において位相差が求められる
。
従って、以上のような実施例の構成によれば、光電変換
部252r、252tの出力電流をモニタしそのモニタ
電流の大きさに応じてプログラマブル光アッテネータ2
51r、251tのア、テネー7テン値を制御するので
、瞬時に変化する光信号のレベルのみに依存させて光信
号のレベルを逐次自動的に可変することができ、かつ、
光電変換部252r、252tのリニアリティの良好な
信号変換範囲で常に信号変換して波長分散測定を行うこ
とができ、よって精度の高い測定を実現できる。また、
光信号レベルの大きさく応じて自動的にレベルを制御す
るので、測定作業の能率化に大きく貢献し、かつ、種々
の原因によって生じる光信号の損失に対しても測定精度
を低下させることなく迅速に測定可能である。
部252r、252tの出力電流をモニタしそのモニタ
電流の大きさに応じてプログラマブル光アッテネータ2
51r、251tのア、テネー7テン値を制御するので
、瞬時に変化する光信号のレベルのみに依存させて光信
号のレベルを逐次自動的に可変することができ、かつ、
光電変換部252r、252tのリニアリティの良好な
信号変換範囲で常に信号変換して波長分散測定を行うこ
とができ、よって精度の高い測定を実現できる。また、
光信号レベルの大きさく応じて自動的にレベルを制御す
るので、測定作業の能率化に大きく貢献し、かつ、種々
の原因によって生じる光信号の損失に対しても測定精度
を低下させることなく迅速に測定可能である。
[発明の効果]
以上のように、本発明の波長分散特性測定システムの光
信号送信ユニットに前記光線群を構成する前記レーデダ
イオードの1つの出力に前記ハーフミラ−を配設したの
で、前記レーデダイオードの1つからの光信号を2分岐
して、一方を前記基準光信号、他方を前記測定光信号に
使用できる。
信号送信ユニットに前記光線群を構成する前記レーデダ
イオードの1つの出力に前記ハーフミラ−を配設したの
で、前記レーデダイオードの1つからの光信号を2分岐
して、一方を前記基準光信号、他方を前記測定光信号に
使用できる。
したがって、前記基準光信号発生用の専用光源が不要に
なるので、前記光源の数を減らすことが可能になる。
なるので、前記光源の数を減らすことが可能になる。
これKよって、コスト低減されかつ小形化された波長分
散特性測定システムを提供することが出来る。
散特性測定システムを提供することが出来る。
又、不発明の波長分数特性測定システムの光信号受信ユ
ニットに前記プログラマブル光アッテネータと電流モニ
タを設けたので、前記基準光ファイバ及び前記被測定光
ファイバから出射される光信号のレベルを自動的に調整
することが可能である。
ニットに前記プログラマブル光アッテネータと電流モニ
タを設けたので、前記基準光ファイバ及び前記被測定光
ファイバから出射される光信号のレベルを自動的に調整
することが可能である。
したがって、リニアリティの良い光電変換が提供9症と
なる。
なる。
本発明は、3つの待足された実施例に対して示され、か
つ説明されたが、その他の様々な変更態様が熟練者にと
ってoT能である。
つ説明されたが、その他の様々な変更態様が熟練者にと
ってoT能である。
第1図は、不発明による波長分散特性測定システムの一
実施例を示す構成図、 第2図は、本発明の原理に従って波長分散特性を測定し
た場合の群遅延時間差と波長との関係を表わしたグラフ
、 第3図は、本発明によるアッテネータを示す構成図、 第4図(&)及び第4図(b)は、本発明の波長分散特
性測定システムにおいて使用されている光源の構成図、 @5図は、本発明の波長分散特性測定システムにおいて
使用されている光スイッチの構成図、第6図(息)及び
第6図(b)は、変調18号が伝送されるタイミングを
示す図であり、(a)は、3μm帝に零分散波長がある
#IJ会であり(b)r′i、55μm帝に零分散波長
がある場合を示す図、 第7図は本発明による波長分散特性測定システム及びそ
の光信号送信ユニット及びその光信号受信ユニットの他
の実施例を示す構成図、第8図は本発明による波長分散
特性測定システムの光信号受信ユニットの他の実施例を
示す構成図、 s9図#′i第7図の実施例において波長分散特性測定
結果を示す位相特性図である。 第10図は第7図の実施例においてその従来例・を示す
ための波長分散特性測定システムの光信号送信ユニット
を示す構成図である。 5g11図は嬉8図の実施例においてその従来例を示す
ための波長分散特性測定システムの光信号受信ユニット
を示す構成図である。 20・・・光信号送信部、2ノ・・・CPU、22・・
・変調信号発生回路、24・・・チャンネル切換回路、
25・・・光源群、26 (261−263ン・・・°
光スイッチ、2フル光アツテネータ、4、42・・・ア
ッテネータ、43.44・・・アパラ/シェ・フォトダ
イオード1’;4r
7今2五ヨ#・・・自動利得制御回路、+4,61・・
・被測定#J Hll− ファイバ、→吋、ナネ・・・Nflaa、4xz−4x
y・・・光域N素子、414・・・元レセプタクル、3
51・・・元アインレータ、352・・・ミラー、35
3・・・ベルチェ索子5ss4・・・セルフォックレン
ズ、355・・・受光索子、356・・・球レンズ、3
57・・・サーミスタ、358・・・変調回路、359
・・・放熱フィン、264・・・平行四辺形!リズム、
265・・・三角グリズム、261,268・・・果九
レンズ。 出−人代塊入 ブe埋士 鈴 江 武 彦λ1λ2
λ3−−−−−−Jm−+λm涙k λ 第2図 第3図 第4図(a) 第4図(b)
実施例を示す構成図、 第2図は、本発明の原理に従って波長分散特性を測定し
た場合の群遅延時間差と波長との関係を表わしたグラフ
、 第3図は、本発明によるアッテネータを示す構成図、 第4図(&)及び第4図(b)は、本発明の波長分散特
性測定システムにおいて使用されている光源の構成図、 @5図は、本発明の波長分散特性測定システムにおいて
使用されている光スイッチの構成図、第6図(息)及び
第6図(b)は、変調18号が伝送されるタイミングを
示す図であり、(a)は、3μm帝に零分散波長がある
#IJ会であり(b)r′i、55μm帝に零分散波長
がある場合を示す図、 第7図は本発明による波長分散特性測定システム及びそ
の光信号送信ユニット及びその光信号受信ユニットの他
の実施例を示す構成図、第8図は本発明による波長分散
特性測定システムの光信号受信ユニットの他の実施例を
示す構成図、 s9図#′i第7図の実施例において波長分散特性測定
結果を示す位相特性図である。 第10図は第7図の実施例においてその従来例・を示す
ための波長分散特性測定システムの光信号送信ユニット
を示す構成図である。 5g11図は嬉8図の実施例においてその従来例を示す
ための波長分散特性測定システムの光信号受信ユニット
を示す構成図である。 20・・・光信号送信部、2ノ・・・CPU、22・・
・変調信号発生回路、24・・・チャンネル切換回路、
25・・・光源群、26 (261−263ン・・・°
光スイッチ、2フル光アツテネータ、4、42・・・ア
ッテネータ、43.44・・・アパラ/シェ・フォトダ
イオード1’;4r
7今2五ヨ#・・・自動利得制御回路、+4,61・・
・被測定#J Hll− ファイバ、→吋、ナネ・・・Nflaa、4xz−4x
y・・・光域N素子、414・・・元レセプタクル、3
51・・・元アインレータ、352・・・ミラー、35
3・・・ベルチェ索子5ss4・・・セルフォックレン
ズ、355・・・受光索子、356・・・球レンズ、3
57・・・サーミスタ、358・・・変調回路、359
・・・放熱フィン、264・・・平行四辺形!リズム、
265・・・三角グリズム、261,268・・・果九
レンズ。 出−人代塊入 ブe埋士 鈴 江 武 彦λ1λ2
λ3−−−−−−Jm−+λm涙k λ 第2図 第3図 第4図(a) 第4図(b)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光信号送信ユニットと光信号受信ユニットとからな
り、ベースバンド位相比較法を基にして光ファイバの波
長分散特性を測定するシステムにおいて、前記光信号送
信ユニットがそれぞれ測定すべきn個の波長点に対応し
た波長を有する光信号を測定光信号として選択的に発生
するために提供されその1つは基準光信号の発生を兼用
するために提供されるn個の光源手段と、 少なくとも1つの所定の周波数を有する変調信号を発生
する変調信号発生手段と、 上記測定信号及び上記基準光信号を発生するために、上
記n個の光源手段を所定の順序で指定する第1制御信号
発生手段と、 上記第1制御信号発生手段、変調信号発生手段及びn個
の光源手段間に結合され、上記第1の制御信号で上記測
定光信号の発生に指定される上記n個の光源手段のうち
の特定の光源手段、及び上記基準光信号の発生に兼用さ
れる光源手段に上記変調信号を選択的に供給するか又は
上記測定光信号と上記基準光信号とを発生する光源手段
のみに上記変調信号を供給する光源切換え手段と、上記
第1の制御信号と所定の同期関係を有する第2の制御信
号を発生する第2制御信号発生手段と、 上記それぞれn個の光源手段に対応して配設されるn個
の光信号入力端と、各単一の測定光信号出力端及び基準
光信号端とを有し、上記第2制御信号発生手段からの第
2制御信号を受けて、上記n個の光信号入力端に選択的
に入射される上記n個の光源手段のうち上記指定された
光源手段からの上記測定光信号を上記測定光信号出力端
に共通に導出し、かつ上記n個の光源手段のうちの1つ
が発生する基準光信号を上記基準光信号出力端に導出す
る光スイッチ手段とを具備したことを特徴とする光信号
送信ユニット。 2、光信号送信ユニットと光信号受信ユニットとからな
り、ベースバンド位相比較法を基にして光ファイバの波
長分散特性を測定するシステムにおいて、前記光信号受
信ユニットが基準光信号と測定光信号とをそれぞれ電気
信号に変換する光電変換器と前記光電変換器に結合され
、前記光電変換器からの電気信号のレベルを検知して検
知された電気信号のレベルに相応する制御信号を発生す
る電流モニタ手段と、前記光電変換器に結合され前記光
電変換器に入力する前記基準光信号と前記測定光信号の
レベルを自動的に調整するプログラマブル光アッテネー
タとを具備したことを特徴とする光信号受信ユニット。 3、ベースバンド位相比較法を基にして光ファイバの波
長分散を測定するシステムにおいて、それぞれ測定すべ
きn個の波長点に対応した波長を有する光信号を測定光
信号として選択的に発生するために提供され、その1つ
は基準光信号の発生を兼用するために提供されるn個の
光源手段と、少なくとも1つの所定の周波数を有する変
調信号を発生する変調信号発生手段と、 上記測定信号及び上記基準光信号を発生するために、上
記n個の光源手段を所定の順序で指定する第1制御信号
発生手段と、 上記第1制御信号発生手段、変調信号発生手段及びn個
の光源手段間に結合され、上記第1の制御信号で上記測
定光信号の発生に指定される上記n個の光源手段のうち
の特定の光源手段、及び上記基準光信号の発生に兼用さ
れる光源手段に上記変調信号を選択的に供給するか又は
上記測定光信号と上記基準光信号とを発生する光源手段
のみに上記変調信号を供給する光源切換え手段と、上記
第1の制御信号と所定の同期関係を有する第2の制御信
号を発生する第2制御信号発生手段と、 上記それぞれn個の光源手段に対応して配設されるn個
の光信号入力端と、各単一の測定光信号出力端及び基準
光信号端とを有し、上記第2制御信号発生手段からの第
2制御信号を受けて、上記n個の光信号入力端に選択的
に入射される上記n個の光源手段のうち上記指定された
光源手段からの上記測定光信号を上記測定光信号出力端
に共通に導出し、かつ上記n個の光源手段のうちの1つ
が発生する基準光信号を上記基準光信号出力端に導出す
る光スイッチ手段とを具備する光信号送信部と、 一端と他端とを有し、前記基準光ファイバの一端が前記
基準光信号を入射すべく前記光スイッチ手段の基準光信
号出力端に接続される基準光ファイバと、 一端と他端を有し、前記被測定光ファイバの前記一端が
前記測定光信号を入射すべく前記光スイッチ手段の前記
測定光信号出力端に接続される被測定光ファイバと、前
記基準光信号と前記測定光信号とをそれぞれ電気信号に
変換する光電変換器と前記光電変換器に結合され、前記
光電変換器からの電気信号のレベルを検知して検知され
た電気信号のレベルに相応する制御信号を発生する電流
モニタ手段と、前記光電変換器に結合され前記光電変換
器に入力する前記基準光信号と前記測定光信号のレベル
を自動的に調整するプログラマブル光アッテネータとを
具備する光信号受信部とを具備したことを特徴とする波
長分散特性測定システム。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2743687 | 1987-02-27 | ||
| JP62-27436 | 1987-02-27 | ||
| JP62-52130 | 1987-03-09 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01438A true JPH01438A (ja) | 1989-01-05 |
| JPS64438A JPS64438A (en) | 1989-01-05 |
Family
ID=12221058
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4365688A Pending JPS64438A (en) | 1987-02-27 | 1988-02-26 | System for measuring wavelength dispersion characteristic and light signal transmitting unit and light signal receiving unit thereof |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS64438A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12372458B2 (en) | 2022-03-23 | 2025-07-29 | Hamamatsu Photonics K.K. | Optical property measurement apparatus and optical property measurement method |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5066698A (en) * | 1990-05-10 | 1991-11-19 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Coating composition of an acrylic polymer, a crosslinking agent and a silane oligomer |
| JP4938586B2 (ja) * | 2007-08-08 | 2012-05-23 | 株式会社クボタ | コンバイン |
-
1988
- 1988-02-26 JP JP4365688A patent/JPS64438A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12372458B2 (en) | 2022-03-23 | 2025-07-29 | Hamamatsu Photonics K.K. | Optical property measurement apparatus and optical property measurement method |
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