JPH0147721B2 - - Google Patents
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- JPH0147721B2 JPH0147721B2 JP55189411A JP18941180A JPH0147721B2 JP H0147721 B2 JPH0147721 B2 JP H0147721B2 JP 55189411 A JP55189411 A JP 55189411A JP 18941180 A JP18941180 A JP 18941180A JP H0147721 B2 JPH0147721 B2 JP H0147721B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- workpiece
- subset
- parameters
- learned
- operable
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/04—Sorting according to size
- B07C5/10—Sorting according to size measured by light-responsive means
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F18/00—Pattern recognition
- G06F18/20—Analysing
- G06F18/21—Design or setup of recognition systems or techniques; Extraction of features in feature space; Blind source separation
- G06F18/211—Selection of the most significant subset of features
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Evolutionary Biology (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Discharge Of Articles From Conveyors (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、加工物が前もつて習得した多数の
型のどれに属するかを識別するときに使用される
加工物識別装置に関するものである。装置は加工
物の型の習得または前もつて習得した加工物との
比較による加工物の識別のいずれかで使用され
る。
型のどれに属するかを識別するときに使用される
加工物識別装置に関するものである。装置は加工
物の型の習得または前もつて習得した加工物との
比較による加工物の識別のいずれかで使用され
る。
装置は、光源、光源と検出器間の光学路上に加
工物が存在するかどうかを各々が検出する光検出
器列、光源と検出器間の光学路を横切つて加工物
を移動させる移動手段、加工物が単位距離移動す
るごとに検出器からの信号を記録する記録手段、
および記録手段が記録したデータからその加工物
の所定のパラメータの集合を計算する計算手段、
を備えている。
工物が存在するかどうかを各々が検出する光検出
器列、光源と検出器間の光学路を横切つて加工物
を移動させる移動手段、加工物が単位距離移動す
るごとに検出器からの信号を記録する記録手段、
および記録手段が記録したデータからその加工物
の所定のパラメータの集合を計算する計算手段、
を備えている。
以上説明したように、自動識別を行なうために
使用される諸装置は、一般に加工物で光源と光検
出器間の光学路が遮ぎられるように置いてその加
工物のシルエツトに“着目する”。何個の検出器
がまたどの検出器が加工物を検出したかにより加
工物を識別する基準が確立されている。この種の
装置は加工物間の差異が十分大きければ加工物を
識別することができるが、かなり似かよつた型の
加工物間ではこの種の装置が有する検出誤差をな
くする方法が不適当であるため、判別することが
できない。たとえば、この種の装置は近いサイズ
の靴製甲の構成品間や、左右の靴の構成品間を判
別することができない。靴製甲の構成品は近いサ
イズ間では、一般に長さまたは幅が約２％、面積
が約４％相違している。
使用される諸装置は、一般に加工物で光源と光検
出器間の光学路が遮ぎられるように置いてその加
工物のシルエツトに“着目する”。何個の検出器
がまたどの検出器が加工物を検出したかにより加
工物を識別する基準が確立されている。この種の
装置は加工物間の差異が十分大きければ加工物を
識別することができるが、かなり似かよつた型の
加工物間ではこの種の装置が有する検出誤差をな
くする方法が不適当であるため、判別することが
できない。たとえば、この種の装置は近いサイズ
の靴製甲の構成品間や、左右の靴の構成品間を判
別することができない。靴製甲の構成品は近いサ
イズ間では、一般に長さまたは幅が約２％、面積
が約４％相違している。
この発明の目的は、加工物が前もつて習得した
多くの型のどれに属するかを識別するときに使用
することができ、かつかなり似かよつている加工
物間を判別することができる装置を提供すること
である。
多くの型のどれに属するかを識別するときに使用
することができ、かつかなり似かよつている加工
物間を判別することができる装置を提供すること
である。
この発明の目的は、前記装置が、さらに習得し
た各加工物のサブセツトが少なくとも所定の数だ
け相互に異なるように、計算手段が計算したパラ
メータよりサブセツトを選択する選択手段（ここ
で、所定の数とは所定の許容誤差の２倍に１を加
えたものに等しい数をいい、所定の許容誤差とは
装置の結果に影響を及ぼすことなく誤つて決定す
ることが許されるパラメータの数をいう）と、習
得する加工物のサブセツトと識別する加工物の同
等なサブセツトとを比較し、許容誤差以下の数の
相違点を除き一致していることを発見した場合に
はそれによつてその加工物を識別する比較手段と
を備えることによつて達成されている。
た各加工物のサブセツトが少なくとも所定の数だ
け相互に異なるように、計算手段が計算したパラ
メータよりサブセツトを選択する選択手段（ここ
で、所定の数とは所定の許容誤差の２倍に１を加
えたものに等しい数をいい、所定の許容誤差とは
装置の結果に影響を及ぼすことなく誤つて決定す
ることが許されるパラメータの数をいう）と、習
得する加工物のサブセツトと識別する加工物の同
等なサブセツトとを比較し、許容誤差以下の数の
相違点を除き一致していることを発見した場合に
はそれによつてその加工物を識別する比較手段と
を備えることによつて達成されている。
検出器を二次元に配置することを避けるため
に、検出器列は検出器を等間隔に一直線に並べた
例であり、かつ移動手段は単位距離に等しいステ
ツプ長さで段階的に加工物を移動させることがで
きるようになつている。
に、検出器列は検出器を等間隔に一直線に並べた
例であり、かつ移動手段は単位距離に等しいステ
ツプ長さで段階的に加工物を移動させることがで
きるようになつている。
装置の精度をより向上させるために、計算手段
は測定した各数量をあらかじめ選定した公差で割
ることによりパラメータを公差単位に換算してい
る。
は測定した各数量をあらかじめ選定した公差で割
ることによりパラメータを公差単位に換算してい
る。
以下、添付図面を参照してこの発明に係る装置
を説明する。
を説明する。
図示の装置は、加工物が前もつて習得した多く
の型のどれに属するかを識別するときに使用され
るものである。この装置は、加工物とくにシート
状の皮革または合成皮革を裁断した状態の製甲の
構成品用に設計されているが、シルエツトを走査
することにより三次元の対象物についても使用す
ることができる。装置は習得モードで使用するこ
とができ、この場合習得すべき各型の加工物が提
供される。製甲の構成品の場合、対比すべき各サ
イズおよび種類の構成品が装置に提供され、場合
によつては、各々の構成品の左右の見本が提供さ
れる。その後装置は識別モードで使用され、この
場合提供された加工物を習得した加工物を比較す
ることによつて識別される。
の型のどれに属するかを識別するときに使用され
るものである。この装置は、加工物とくにシート
状の皮革または合成皮革を裁断した状態の製甲の
構成品用に設計されているが、シルエツトを走査
することにより三次元の対象物についても使用す
ることができる。装置は習得モードで使用するこ
とができ、この場合習得すべき各型の加工物が提
供される。製甲の構成品の場合、対比すべき各サ
イズおよび種類の構成品が装置に提供され、場合
によつては、各々の構成品の左右の見本が提供さ
れる。その後装置は識別モードで使用され、この
場合提供された加工物を習得した加工物を比較す
ることによつて識別される。
装置は、棒１２の上に支持された１列のフイラ
メント電球１０で構成された光源を備えている
（第１図参照）。ここでは「光源」および「光検出
器」の用語を使用しているが、求められれば、光
を他の適当な放射線で置きかえることができる。
装置は、さらに光検出器列１４を備えており、光
検出器１４は電球１０から出て高分解能レンズ１
６により検出器上に合焦された光を受けるように
配置されている。光検出器列１４は、0.3ミリの
中心間隔で一直線上に並べた770個の光検出器で
構成されている。各検出器は光源とその検出器間
の光学路に加工物が存在するかどうかを検出する
ために使用される。検出器は17×13ミクロンの受
感面積を有するCCDセンサである。
メント電球１０で構成された光源を備えている
（第１図参照）。ここでは「光源」および「光検出
器」の用語を使用しているが、求められれば、光
を他の適当な放射線で置きかえることができる。
装置は、さらに光検出器列１４を備えており、光
検出器１４は電球１０から出て高分解能レンズ１
６により検出器上に合焦された光を受けるように
配置されている。光検出器列１４は、0.3ミリの
中心間隔で一直線上に並べた770個の光検出器で
構成されている。各検出器は光源とその検出器間
の光学路に加工物が存在するかどうかを検出する
ために使用される。検出器は17×13ミクロンの受
感面積を有するCCDセンサである。
装置は、さらにテーブル１８を備えており、そ
の上に、電球１０の上方であつて検出器列１４の
下方にある透明カバー２０が配置されている。こ
の構成により、電球１０から出た光はカバー２０
を通過してレンズ１６に達し、そのあと光がカバ
ー２０の上の加工物Ｗで遮ぎられなければ、検出
器の上に合焦される。
の上に、電球１０の上方であつて検出器列１４の
下方にある透明カバー２０が配置されている。こ
の構成により、電球１０から出た光はカバー２０
を通過してレンズ１６に達し、そのあと光がカバ
ー２０の上の加工物Ｗで遮ぎられなければ、検出
器の上に合焦される。
装置は、さらにカバー２０の上に置かれた加工
物を移動させ、電球１０と検出器列１４間の光学
路を通過させるために使用される移動手段を備え
ている。移動手段は、テーブル１８したがつてカ
バー２０と加工物を、検出器の下方に配置された
フレーム２６の２本のレール２４に沿つて段階的
に移動させるステツピングモータ２２を備えてい
る。
物を移動させ、電球１０と検出器列１４間の光学
路を通過させるために使用される移動手段を備え
ている。移動手段は、テーブル１８したがつてカ
バー２０と加工物を、検出器の下方に配置された
フレーム２６の２本のレール２４に沿つて段階的
に移動させるステツピングモータ２２を備えてい
る。
ステツピングモータ２２は、モータ２２の駆動
軸に固定されたプーリ３０とフレーム２６に設置
された３個のアイドラプーリ３２のまわりを通つ
てテーブル１８の前後に連結された索２８を動か
すように動作する。モータ２２は、テーブル１８
をカバー２０上の加工物が光学路を遮ぎらない位
置から加工物全体が光学路を通過する位置まで移
動させる。これにより、加工物全体が“走査され
る”。
軸に固定されたプーリ３０とフレーム２６に設置
された３個のアイドラプーリ３２のまわりを通つ
てテーブル１８の前後に連結された索２８を動か
すように動作する。モータ２２は、テーブル１８
をカバー２０上の加工物が光学路を遮ぎらない位
置から加工物全体が光学路を通過する位置まで移
動させる。これにより、加工物全体が“走査され
る”。
装置は、さらにマイクロプロセツサとその他の
電気回路の組合せから成るデータ処理手段（図示
せず）を備えている。データ処理手段は、記録手
段、計算手段、選択手段、および比較手段で構成
されている。以下、それらの動作について説明す
る。
電気回路の組合せから成るデータ処理手段（図示
せず）を備えている。データ処理手段は、記録手
段、計算手段、選択手段、および比較手段で構成
されている。以下、それらの動作について説明す
る。
装置の記録手段は、モータ２２によつて行なわ
れる単位距離の移動ごとに、どの検出器が加工物
を検出したかを示す検出器の信号を記録するため
のものである。単位距離とはステツピングモータ
２２の１ステツプの距離をいう。ステツピング距
離は300ミクロンが適当である。したがつて、ス
テツピングモータ２２の各ステツプが終ると記録
手段が770個の検出器のどれが加工物を検出した
かを記録する。ほとんどの場合、加工物が検出器
の下を移動するとき、検出器列１４の両側にある
検出器グループは加工物を検出しないであろう、
これに対し中央にある検出器グループは加工物を
検出するであろう。その情報は、単に中央グルー
プの両末端にある検出器の番号の形で記録する方
が都合がよい。すなわち、記録された番号間のす
べての検出器は加工物を検出していることがわか
つているから、これにより記録手段が記憶する情
報量を節減できるのである。加工物に凹みがある
場合あるいは加工物に貫通する孔がある場合は、
加工物を検出する検出器グループは１つ以上にな
るはずである。この場合には、各グループの両末
端にある検出器の番号が記録される。記録手段は
加工物全体を“走査する”ために、モータ２２の
各ステツプごとに上記の情報を記録する。
れる単位距離の移動ごとに、どの検出器が加工物
を検出したかを示す検出器の信号を記録するため
のものである。単位距離とはステツピングモータ
２２の１ステツプの距離をいう。ステツピング距
離は300ミクロンが適当である。したがつて、ス
テツピングモータ２２の各ステツプが終ると記録
手段が770個の検出器のどれが加工物を検出した
かを記録する。ほとんどの場合、加工物が検出器
の下を移動するとき、検出器列１４の両側にある
検出器グループは加工物を検出しないであろう、
これに対し中央にある検出器グループは加工物を
検出するであろう。その情報は、単に中央グルー
プの両末端にある検出器の番号の形で記録する方
が都合がよい。すなわち、記録された番号間のす
べての検出器は加工物を検出していることがわか
つているから、これにより記録手段が記憶する情
報量を節減できるのである。加工物に凹みがある
場合あるいは加工物に貫通する孔がある場合は、
加工物を検出する検出器グループは１つ以上にな
るはずである。この場合には、各グループの両末
端にある検出器の番号が記録される。記録手段は
加工物全体を“走査する”ために、モータ２２の
各ステツプごとに上記の情報を記録する。
装置の計算手段は、記録手段が記録したデータ
からその加工物の所定のパラメータの集合を計算
するためのものである。この特定装置の場合、こ
れらのパラメータは、加工物の面積、その図心か
ら測つた最大半径、および前記最大半径に対しあ
らかじめ選定した角度をなす複数の半径である。
第２図に、図心Ｃ、最大半径Ｌ、および最大半径
Ｌに対し60゜、90゜、120゜、180゜、240゜、270゜、30
0゜
の角度をなす半径Ｒを有する加工物Ｗを示す。他
の適当な角度を使用してもよいが、必要な半径の
本数は、何種類の加工物があるかおよび加工物が
どの程度類似しているかによつて決められる。計
算手段は、加工物を走査する際モータ２２が行な
う全ステツプについて加工物を検出した検出器の
個数を単に合計することによつて加工物の面積を
計算する。図心Ｃと半径ＬとＲの位置は、周知の
数学的方法によつて簡単に計算される。しかしな
がら、半径の長さは、その半径に沿う図心から最
遠でない境界点はどれも無視され、選択した方向
にある図心Ｃから最遠の加工物の境界点の座標か
ら計算されることに注目されたい。したがつて、
第２図の加工物Ｗの最大半径Ｌに対し180゜の角度
をなす半径Ｒについて検討すると、その半径は、
半径に沿つて境界点Ｓ、Ｔ、およびＵを有してい
るが、点ＳとＴはＵよりも図心に近いので無視さ
れる。計算する半径の数と角度は、明確な判別が
できるだけの数のパラメータが得られるように選
ばれる。
からその加工物の所定のパラメータの集合を計算
するためのものである。この特定装置の場合、こ
れらのパラメータは、加工物の面積、その図心か
ら測つた最大半径、および前記最大半径に対しあ
らかじめ選定した角度をなす複数の半径である。
第２図に、図心Ｃ、最大半径Ｌ、および最大半径
Ｌに対し60゜、90゜、120゜、180゜、240゜、270゜、30
0゜
の角度をなす半径Ｒを有する加工物Ｗを示す。他
の適当な角度を使用してもよいが、必要な半径の
本数は、何種類の加工物があるかおよび加工物が
どの程度類似しているかによつて決められる。計
算手段は、加工物を走査する際モータ２２が行な
う全ステツプについて加工物を検出した検出器の
個数を単に合計することによつて加工物の面積を
計算する。図心Ｃと半径ＬとＲの位置は、周知の
数学的方法によつて簡単に計算される。しかしな
がら、半径の長さは、その半径に沿う図心から最
遠でない境界点はどれも無視され、選択した方向
にある図心Ｃから最遠の加工物の境界点の座標か
ら計算されることに注目されたい。したがつて、
第２図の加工物Ｗの最大半径Ｌに対し180゜の角度
をなす半径Ｒについて検討すると、その半径は、
半径に沿つて境界点Ｓ、Ｔ、およびＵを有してい
るが、点ＳとＴはＵよりも図心に近いので無視さ
れる。計算する半径の数と角度は、明確な判別が
できるだけの数のパラメータが得られるように選
ばれる。
しかしながら、前もつて定めた型の数を後にな
つて増すときに起ることであるが、別のすなわち
異なる半径が必要なことがわかつた場合に備え
て、装置は、さらに習得した加工物のすべての境
界点の位置を記憶することができる記憶手段を備
えている。記憶手段に記憶された情報は、後日、
計算手段に提供され計算手段は求められるかも知
れない加工物のどの半径でも計算することができ
る。したがつて、一度加工物を走査しさえすれ
ば、たとえ選定した半径を変更するとしてもその
ために加工物を再走査する必要はない。
つて増すときに起ることであるが、別のすなわち
異なる半径が必要なことがわかつた場合に備え
て、装置は、さらに習得した加工物のすべての境
界点の位置を記憶することができる記憶手段を備
えている。記憶手段に記憶された情報は、後日、
計算手段に提供され計算手段は求められるかも知
れない加工物のどの半径でも計算することができ
る。したがつて、一度加工物を走査しさえすれ
ば、たとえ選定した半径を変更するとしてもその
ために加工物を再走査する必要はない。
計算手段は、所定のパラメータの集合を計算し
た後、二つの誤差除去方法の第一の方法を実施す
る。この第一の誤差除去方法は、装置の測定精度
に関係するあらかじめ選定した数（以下“公差”
という）で、計算されたパラメータを割ることか
らなつている。パラメータは公差で割られること
により“公差単位”に換算され、パラメータの値
は公差単位のいちばん近い整数で表わされる。こ
の方法により、わずかな不正確さで生じる誤差、
たとえば加工物の境界で起ることがあるが、光学
路がほんのわずか遮ぎられ検出器が加工物を検出
することも検出しないこともありうることから生
じる誤差が除去されるほか、同一公称の加工物の
わずかな差異によつて生じる誤差が除去される。
面積と半径に対しては異なる大きさの公差が用意
されている。半径は同一の公差を有する場合と、
それに反し異なる公差を有する場合がある。面積
は半径とは異なる種類のパラメータであり、長さ
と違つて二乗の単位であるため、異なる公差が適
用される。面積と半径に対する公差の実際の大き
さは、加工物の型、検出器の間隔、および移動手
段の単位距離を考慮して選定される。半径に対す
る公差は検出器の離間距離の３倍にほゞ等しくし
（すなわち、0.3×３＝0.9mm）、面積に対する公差
は検出器の離間距離の500倍にモータ２２の単位
距離を掛けたものにほゞ等しくしてもよい（すな
わち、500×0.3×0.3＝45mm2）。
た後、二つの誤差除去方法の第一の方法を実施す
る。この第一の誤差除去方法は、装置の測定精度
に関係するあらかじめ選定した数（以下“公差”
という）で、計算されたパラメータを割ることか
らなつている。パラメータは公差で割られること
により“公差単位”に換算され、パラメータの値
は公差単位のいちばん近い整数で表わされる。こ
の方法により、わずかな不正確さで生じる誤差、
たとえば加工物の境界で起ることがあるが、光学
路がほんのわずか遮ぎられ検出器が加工物を検出
することも検出しないこともありうることから生
じる誤差が除去されるほか、同一公称の加工物の
わずかな差異によつて生じる誤差が除去される。
面積と半径に対しては異なる大きさの公差が用意
されている。半径は同一の公差を有する場合と、
それに反し異なる公差を有する場合がある。面積
は半径とは異なる種類のパラメータであり、長さ
と違つて二乗の単位であるため、異なる公差が適
用される。面積と半径に対する公差の実際の大き
さは、加工物の型、検出器の間隔、および移動手
段の単位距離を考慮して選定される。半径に対す
る公差は検出器の離間距離の３倍にほゞ等しくし
（すなわち、0.3×３＝0.9mm）、面積に対する公差
は検出器の離間距離の500倍にモータ２２の単位
距離を掛けたものにほゞ等しくしてもよい（すな
わち、500×0.3×0.3＝45mm2）。
装置の選択手段は、装置が習得モードのとき習
得すべきすべての加工物についてパラメータの集
合を計算した後に使用される。習得すべき各加工
物に対して同じパラメータが計算されることはわ
かるであろう。選択手段は、習得した各加工物に
対するそれらのパラメータで構成される部分集合
が少なくとも所定の数だけ他のすべての部分集合
と異なつているようにパラメータの部分集合を選
択する。所定の数は所定の許容誤差の２倍に１を
加えたものに等しく、所定の許容誤差は装置で得
られる結果に影響を及ぼさす誤つて決定すること
が許されるパラメータの数として選定した数であ
る。選択手段のこの働きが、先に述べた第二の誤
差除去方法なのである。たとえば、１つのパラメ
ータが誤つて決定することが許されるとすると、
許容誤差は１であり、選択手段は少なくとも３点
について相互に異なる部分集合を見つけなければ
ならない。したがつて、たとえば、第２図のよう
に面積と８本の半径（最大半径も含む）が計算さ
れたとすると、選択手段は面積とはじめの６本の
半径だけを用いて、少なくとも３相違点の条件を
満すことができよう、この場合、残りの２本の半
径は必要ないので捨てられ、部品集合には含まれ
ていない。許容誤差として２または３が選ばれた
とすれば、必要な相違点の数はそれぞれ５または
７になる。もし、計算されたパラメータから必要
な相違点の数を得ることができなければ、記憶装
置が記憶している境界点を用いて、習得したすべ
ての加工物についてさらに半径を計算する必要が
ある。装置の選択手段は、選択した部分集合の中
に必らず加工物の面積を含ませていることに注意
されたい。それは、半径が比較的少数の検出器か
らの情報に基づくものであるのに対し、面積は非
常に多数の検出器からの情報に基づくものである
ため、もつとも正確に決定しうるパラメータであ
るからである。
得すべきすべての加工物についてパラメータの集
合を計算した後に使用される。習得すべき各加工
物に対して同じパラメータが計算されることはわ
かるであろう。選択手段は、習得した各加工物に
対するそれらのパラメータで構成される部分集合
が少なくとも所定の数だけ他のすべての部分集合
と異なつているようにパラメータの部分集合を選
択する。所定の数は所定の許容誤差の２倍に１を
加えたものに等しく、所定の許容誤差は装置で得
られる結果に影響を及ぼさす誤つて決定すること
が許されるパラメータの数として選定した数であ
る。選択手段のこの働きが、先に述べた第二の誤
差除去方法なのである。たとえば、１つのパラメ
ータが誤つて決定することが許されるとすると、
許容誤差は１であり、選択手段は少なくとも３点
について相互に異なる部分集合を見つけなければ
ならない。したがつて、たとえば、第２図のよう
に面積と８本の半径（最大半径も含む）が計算さ
れたとすると、選択手段は面積とはじめの６本の
半径だけを用いて、少なくとも３相違点の条件を
満すことができよう、この場合、残りの２本の半
径は必要ないので捨てられ、部品集合には含まれ
ていない。許容誤差として２または３が選ばれた
とすれば、必要な相違点の数はそれぞれ５または
７になる。もし、計算されたパラメータから必要
な相違点の数を得ることができなければ、記憶装
置が記憶している境界点を用いて、習得したすべ
ての加工物についてさらに半径を計算する必要が
ある。装置の選択手段は、選択した部分集合の中
に必らず加工物の面積を含ませていることに注意
されたい。それは、半径が比較的少数の検出器か
らの情報に基づくものであるのに対し、面積は非
常に多数の検出器からの情報に基づくものである
ため、もつとも正確に決定しうるパラメータであ
るからである。
装置は、選択手段がパラメータの部分集合すな
わちサブセツトを選択したらいつでも識別モード
に移ることができる。識別モードでは、識別され
る加工物がテーブルの上に置かれる。移動手段、
検出器、記録手段、および計算手段は、習得モー
ドの場合と同様に動作するが、ただ計算手段がそ
の加工物について、習得したサブセツトと同等な
サブセツトを構成するパラメータを計算すること
が異なつている。
わちサブセツトを選択したらいつでも識別モード
に移ることができる。識別モードでは、識別され
る加工物がテーブルの上に置かれる。移動手段、
検出器、記録手段、および計算手段は、習得モー
ドの場合と同様に動作するが、ただ計算手段がそ
の加工物について、習得したサブセツトと同等な
サブセツトを構成するパラメータを計算すること
が異なつている。
装置の比較手段は、計算手段が識別モードで動
作した後に動作する。比較手段は習得したサブセ
ツトと同等なその加工物のサブセツトとを比較す
るために使用され、許容誤差以下の数の相違点を
除いて特定の型の加工物のサブセツトと一致して
いることを発見した場合はその加工物が特定の型
のものであると判断する。許容誤差が１の場合、
比較手段は、識別している加工物のサブセツトと
多くても１つの相違点を有するサブセツトを習得
したサブセツトの中より“探す”はずである。１
つの相違点が許されることは、１つのパラメータ
が誤つて決定されることを許しており、これは、
加工物がそのサブセツトに用いられた半径の方向
に例外、たとえばその半径に沿つて連続する縁を
有する場合に生じることがある。どの相違点も大
きさは重要ではないので、全体の誤差をなくする
ことができる。
作した後に動作する。比較手段は習得したサブセ
ツトと同等なその加工物のサブセツトとを比較す
るために使用され、許容誤差以下の数の相違点を
除いて特定の型の加工物のサブセツトと一致して
いることを発見した場合はその加工物が特定の型
のものであると判断する。許容誤差が１の場合、
比較手段は、識別している加工物のサブセツトと
多くても１つの相違点を有するサブセツトを習得
したサブセツトの中より“探す”はずである。１
つの相違点が許されることは、１つのパラメータ
が誤つて決定されることを許しており、これは、
加工物がそのサブセツトに用いられた半径の方向
に例外、たとえばその半径に沿つて連続する縁を
有する場合に生じることがある。どの相違点も大
きさは重要ではないので、全体の誤差をなくする
ことができる。
識別モードにおいて、計算手段は、別にモータ
２２によつてなされた移動方向に対する加工物の
最大半径の方位を計算する。したがつて、加工物
が識別され、カバー２０上のその方位がわかつて
いれば、その加工物はつまみ位置決め機構によつ
てカバー２０から取り除き、他の加工物に対して
あるいはその加工物に加工を施す装置内に正確に
位置決めすることができる。
２２によつてなされた移動方向に対する加工物の
最大半径の方位を計算する。したがつて、加工物
が識別され、カバー２０上のその方位がわかつて
いれば、その加工物はつまみ位置決め機構によつ
てカバー２０から取り除き、他の加工物に対して
あるいはその加工物に加工を施す装置内に正確に
位置決めすることができる。
この装置は、10本の半径と３つの許容誤差を使
用することにより、靴のサイズが1/2しか違つて
いない靴製甲の構成品の状態の加工物をわずか1/
１０００の失敗率で識別することが可能であり、また
左右の構成品の識別もできることがわかつた。
用することにより、靴のサイズが1/2しか違つて
いない靴製甲の構成品の状態の加工物をわずか1/
１０００の失敗率で識別することが可能であり、また
左右の構成品の識別もできることがわかつた。
第１図はこの発明に係る識別装置の一部の斜視
図、および第２図は種々のパラメータが記号を付
けて示されている加工物の平面図である。 図中、主要部品の参照番号は下記の通りであ
る。１０……フイラメント電球、１２……棒、１
４……光検出器、１６……高分解能レンズ、１８
……テーブル、２０……透明カバー、２２……ス
テツピングモータ、２４……レール、２６……フ
レーム、２８……索、３０……プーリ、３２……
アイドラプーリ、Ｌ……最大半径、Ｒ……他の半
径、Ｓ，Ｔ，Ｕ……境界点、Ｗ……加工物。
図、および第２図は種々のパラメータが記号を付
けて示されている加工物の平面図である。 図中、主要部品の参照番号は下記の通りであ
る。１０……フイラメント電球、１２……棒、１
４……光検出器、１６……高分解能レンズ、１８
……テーブル、２０……透明カバー、２２……ス
テツピングモータ、２４……レール、２６……フ
レーム、２８……索、３０……プーリ、３２……
アイドラプーリ、Ｌ……最大半径、Ｒ……他の半
径、Ｓ，Ｔ，Ｕ……境界点、Ｗ……加工物。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被加工物が複数の既定の型のどれに属するか
を識別するのに使用される装置であつて、この装
置は、習得モードにおいて作動可能であり、この
習得モードにおいて、既定の型のそれぞれの被加
工物が該装置に与えられ該装置により習得され、
そして、この装置は、識別モードにおいて作動可
能であり、この識別モードにおいて、該装置に与
えられた被加工物は、習得された被加工物との比
較により識別される装置であつて、 被加工物支持手段と、 光源及び光検出器アレーを含む被加工物検出手
段であつて、各光検出器は、被加工物が該検出器
と光源との間で光経路に存在するか否かを検出す
るように作動可能である被加工物検出手段と、 被加工物支持手段と被加工物検出手段との間で
相対移動を生じさせる移動手段であつて、被加工
物が検出器と光源との間で光経路を横切つて移動
させられることができるようにする移動手段と、 移動手段により生じる各単位距離の相対移動の
後に、前述したようにどの検出器が被加工物の存
在を検出するのかを記録するように作動可能であ
る記録手段と、 装置が習得モードであるときに、記録手段によ
り記録されたデータから、該被加工物についての
既定のパラメータのセツトを計算するように作動
可能である計算手段と、及び、装置が習得モード
であり、かつ、計算手段が習得されるべき各被加
工物についてのパラメータのセツトを計算した後
に、各パラメータのセツトからサブセツトを選択
するように作動可能である選択手段と、このよう
に習得された各被加工物についてのサブセツト
は、習得される被加工物についてのサブセツトと
相互に異なつており、この結果、被加工物の各型
がそのサブセツトにより識別されることができる
ようになつており、 前記計算手段は、装置が識別モードであるとき
に、識別されるべき被加工物についてのパラメー
タを計算するように作動可能であり、該パラメー
タは、習得された被加工物についてのパラメータ
に同等なサブセツトを形成しており、そして、装
置は、比較手段を含み、この比較手段は、装置が
識別モードであるときに、このような同等なサブ
セツトを習得された被加工物についてのサブセツ
トと比較し、そして、このような同等なサブセツ
トと習得された被加工物の１つについてのサブセ
ツトとの間の識別を確立し、それゆえ、識別され
るべき被加工物をこのように習得された被加工物
と同じ型であるとして識別するように作動可能で
ある装置であつて、 識別されるべき被加工物を習得された被加工物
と同じ型であるとして識別することにおける許容
可能誤差は、比較手段の作動において、予め選択
されることができ、このような予め選択された許
容可能誤差は、２つの被加工物を同じ型であると
してなお識別している状態で、識別されるべき被
加工物についてのパラメータのサブセツトと習得
された被加工物についてのパラメータのサブセツ
トとの間の最大の許容可能な数の相違点を示して
おり、 そして、各習得された被加工物について選択さ
れたパラメータのサブセツトは、前述したような
選択手段の作動において、全ての他の習得された
被加工物についてのサブセツトと、前記予め選択
された許容可能な誤差の２倍に１を加えたものに
少なくとも等しい数の点において、異なつている
ことを特徴とする装置。 ２ 前記検出器のアレーは、等間隔の検出器の一
直線の列である特許請求の範囲１の装置。 ３ 前記移動手段は、単位距離に等しいステツプ
長さで段階的に被加工物支持手段を移動させるよ
うに作動可能である特許請求の範囲１の装置。 ４ 前記計算手段により計算されるパラメータの
１つは、被加工物の面積である特許請求の範囲１
から３のうちいずれか１項の装置。 ５ 前記選択手段は、いつも、被加工物について
の選択されたサブセツトの中に該被加工物の面積
を含む特許請求の範囲４の装置。 ６ 前記計算手段により計算されたパラメータ
は、図心から測定された被加工物の最大半径の長
さと、及び、該最大半径に対し予め選択された角
度をなしている複数の半径のそれぞれの長さと、
を含む特許請求の範囲４の装置。 ７ 前記計算手段は、測定された各数量を予め選
択された公差で割ることにより、パラメータを公
差セルに換算する特許請求の範囲１から６のうち
いずれか１項の装置。 ８ 前述したように面積が割られる公差は、アレ
ーの検出器の離間距離に移動手段の単位距離を掛
けたものの500倍にほぼ等しい特許請求の範囲４
に直接的又は間接的に従属する特許請求の範囲７
の装置。 ９ 前述したように半径の長さが割られる公差
は、全ての半径について同一であり、かつ、アレ
ーにおける検出器の離間距離の３倍にほぼ等しい
特許請求の範囲７の装置。 １０ 前記計算手段は、移動手段により生じさせ
られる相対移動の方向に対して最大半径の方位を
計算するように作動する特許請求の範囲６又は９
のうちいずれか１項の装置。 １１ 習得された被加工物の全ての境界点の位置
を記憶するように作動可能である記憶手段が設け
られている特許請求の範囲１から１０のうちいず
れか１項の装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB8000663A GB2067326B (en) | 1980-01-09 | 1980-01-09 | Workpiece identification apparatus |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56104205A JPS56104205A (en) | 1981-08-19 |
| JPH0147721B2 true JPH0147721B2 (ja) | 1989-10-16 |
Family
ID=10510531
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18941180A Granted JPS56104205A (en) | 1980-01-09 | 1980-12-26 | Discriminating device for workpiece |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4360274A (ja) |
| JP (1) | JPS56104205A (ja) |
| CA (1) | CA1159955A (ja) |
| DE (1) | DE3100392A1 (ja) |
| FR (1) | FR2473281A1 (ja) |
| GB (1) | GB2067326B (ja) |
| IL (1) | IL61691A (ja) |
| IT (1) | IT1134956B (ja) |
Families Citing this family (29)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4435837A (en) | 1981-03-05 | 1984-03-06 | President And Fellows Of Harvard College | Pattern recognition and orientation system |
| DE3147355C2 (de) * | 1981-11-30 | 1986-05-07 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zum Justieren des Bezugssystems eines vorprogrammierbaren Strahlenablenksystems eines im Riesenimpulsbetrieb arbeitenden Lasergerätes |
| DE3312983A1 (de) * | 1983-04-12 | 1984-10-18 | Heinz 7070 Schwäbisch Gmünd Meitinger | Sortiergeraet fuer mechanische bauteile |
| DE3426056A1 (de) * | 1983-07-16 | 1985-01-24 | Leicester Polytechnic, Leicester | Verfahren und vorrichtung zur kontrolle von textilien |
| GB2155217A (en) * | 1983-08-22 | 1985-09-18 | Bernard Albert Hunn | Mind simulator |
| US4624367A (en) * | 1984-04-20 | 1986-11-25 | Shafer John L | Method and apparatus for determining conformity of a predetermined shape related characteristics of an object or stream of objects by shape analysis |
| US4608646A (en) * | 1984-10-25 | 1986-08-26 | Programmable Orienting Systems, Inc. | Programmable parts feeder |
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| DE102014104581B4 (de) * | 2014-04-01 | 2023-05-11 | Ks Huayu Alutech Gmbh | Verfahren zur Überwachung eines Werkzeugs, Verfahren zur Qualitätsbeurteilung einer mit dem Werkzeug bearbeiteten Oberfläche eines Werkstücks sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
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|---|---|---|---|---|
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| US3395794A (en) * | 1966-05-05 | 1968-08-06 | Fabri Tek Inc | Component sizing apparatus |
| US3525433A (en) * | 1968-08-12 | 1970-08-25 | Raymond Earl Babb | Apparatus for sorting products |
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| CA1098209A (en) * | 1975-10-20 | 1981-03-24 | Billy J. Tucker | Apparatus and method for parts inspection |
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-
1980
- 1980-01-09 GB GB8000663A patent/GB2067326B/en not_active Expired
- 1980-12-11 IL IL61691A patent/IL61691A/xx not_active IP Right Cessation
- 1980-12-26 JP JP18941180A patent/JPS56104205A/ja active Granted
-
1981
- 1981-01-02 US US06/222,180 patent/US4360274A/en not_active Expired - Fee Related
- 1981-01-07 IT IT19029/81A patent/IT1134956B/it active
- 1981-01-08 FR FR8100234A patent/FR2473281A1/fr active Granted
- 1981-01-08 CA CA000368095A patent/CA1159955A/en not_active Expired
- 1981-01-09 DE DE19813100392 patent/DE3100392A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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| GB2067326A (en) | 1981-07-22 |
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| DE3100392A1 (de) | 1981-11-19 |
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| IT1134956B (it) | 1986-08-20 |
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| CA1159955A (en) | 1984-01-03 |
| IL61691A (en) | 1985-12-31 |
| US4360274A (en) | 1982-11-23 |
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