JPH0150032B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、保守記録媒体に関し、特に光デイス
クの保守、調整を短時間で行うことができる保守
記録媒体に関するものである。

〔発明の背景〕

デイスク上に順次追加して情報を書き込んでい
く追加記録形式の光デイスク装置においては、一
旦デイスク上に書き込まれた情報の上に再書き込
みすると、破壊書き込みであるため、前に書き込
まれた情報は消されてしまう。このため、保守用
媒体を用いて、書込み読出し特性をテストする場
合には、種々の問題がある。

従来のEDP（Erectronic Data Processing）シ
ステムを構成する磁気デイスク装置等では、交換
型デイスク装置に対して記録装置の保守用媒体が
用いられている。この保守用媒体は、磁気ヘツド
のアライメントを設定するために、そのデイスク
面上に特殊パターンを書き込み、オシロスコープ
により磁気ヘツドの位置合わせを行つている。ま
た、書込み、読出し特性をテストする場合にも、
磁気デイスクは再書込みが可能であるため、ワー
ク・デイスクであれば自由に書込み読出し特性を
テストすることができる。

次に、固定デイスク装置に対しては、製造段階
でヘツド・アライメント等が決定されるため、ア
ライメント設定用の保守用媒体は不要であり、ま
た、書込み読出し特性をテストする場合にも、ユ
ーザが使用するエリア外に特別にCEトラツク
（保守用トラツク）を設けて、書込み読出し特性
をテストしている。この場合にも、再書き込みが
可能であるため、そのエリア内を自由に使用する
ことができる。

これに対して、追加記録形式の光デイスク装置
の場合には、一旦書き込まれたデータの位置を避
けて再び書き込むことにより、書込み特性をテス
トすることができるが、既に書き込まれたエリア
を探すことは、膨大な記憶容量を有する光デイス
クの場合、きわめて長時間を要し、短時間で保守
したいという要求に全く適合しない。

また、保守する際には、異状事態が生じている
装置をテストする場合が多いが、追加記録方式の
記録装置の場合には、異常なデータが異常な状態
で書き込まれてしまうため、保守用媒体を用いて
も、２度と使用できないほど異常になると考えら
れる。このため、書込み特性のテスト項目をでき
る限り限定し、書込み時に暴走等の異常事態が生
じないように書込んだ後、読出しテストにより可
能な限りテストしておく必要がある。また、読出
し特性テスト時には、限界間際のデータ・パター
ンを作ることにより、マージン不足の特性も捕捉
できるようにする必要がある。さらに、デイスク
装置の場合、デイスク円板の内周と外周との間で
は、書込み密度に大幅な差が生ずるため、このマ
ージンがどの程度あるかということも捕捉できな
ければならない。しかし、従来は、インライン保
守や、データ処理装置を用いたテスト・プログラ
ムによる保守や、オペレーテイング・システム等
に全く影響を及ぼさない保守等を要求しても、こ
れに対し効率よくかつ精度よくテストできる保守
用媒体は提案されていない。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、このような要求を満足するた
め、書込みテストするエリアを迅速にサーチで
き、かつ書込み読出しテストを精度よく行い、保
守時間を短縮できる追加記録式記録装置用の保守
記録媒体を提供することにある。

〔発明の概要〕

上記目的を達成するため、本発明の保守記録媒
体は、データ処理装置から記録装置を介してデー
タの書込み／読出しが行われ、かつ同一箇所に再
書込みが不能な破壊記録方式の保守記録媒体にお
いて、オペレーテイング・システムからアクセス
されたとき、保守用媒体であることを識別させる
表示ラベル領域と、破壊書込みが行われたエリア
の位置を表示するデイレクトリ領域と、複数箇所
に分散して設けられ、書込みテストを行うために
データが記録されていない書込み領域と、複数箇
所に分散して設けられ、読出しテストを行うため
に予めテストパターンが記録されている読出し領
域を具備することに特徴がある。

〔発明の実施例〕

以下、本発明の実施例を、図面により説明す
る。

第２図は、本発明が適用される情報処理システ
ムの構成図である。

第２図において、１は中央データ処理装置、２
は入出力制御装置、３は光デイスク駆動装置、４
は光デイスク自動装填機構である。これらのメイ
ン系統に対して、保守のために各種装置が周辺に
接続されている。すなわち、中央データ処理装置
には、システム全体の保守機能を具備するサービ
ス・プロセツサと、オンライン保守プログラムや
エラー編集プログラムを格納したデイスク装置等
７が接続される。これらのプログラムを格納した
デイスク装置等７からは、必要に応じてユーザ業
務実行中にテスト・プログラムを流すことができ
るようになつており、またそのロギング・データ
はデイスク装置等７のエラー編集プログラムによ
り各種の統計データに編集され、保守業務が円滑
に行われるように用意されている。なお、デイス
ク装置等７としては、磁気デイスク装置、磁気テ
ープ装置等が用いられる。

次に、入出力制御装置２には、保守操作装置
８、遠隔保守アダブタ９が接続されている。入出
力制御装置２では、内蔵するフレキシブル・デイ
スク等にオフライン・テストプログラムが格納さ
れており、必要に応じて制御装置２以下のシステ
ムにローカル・モードでオフライン保守を行う。
保守操作装置８は、入出力制御装置２内のオフラ
イン・テストプログラムを操作したり、あるいは
簡単な動作をさせる保守専用の装置である。ま
た、遠隔保守アダプタ９は、他システムのCPU
１０と回線で接続されており、遠隔診断を行うこ
とができる。

次に、光デイスク駆動装置３には、オフライ
ン・デバイス保守装置１１が接続され、これは光
デイスク駆動装置３以下のシステム、つまり駆動
装置３とデイスク自動装填機構４のオフライン診
断を行う。

また、光デイスク自動装填機構４には、本発明
のCEデイスク（保守用デイスク）５が内蔵され
ており、このCEデイスクのフオーマツトを第１
図に示すように形成することによつて、新しい保
守機能を持たせることができる。なお、その他の
デイスクはユーザデイスク１２である。光デイス
ク自動装填機構４は、光デイスク円板の格納と取
り出しをすべて自動化したものであつて、一例と
してユーザ・デイスク１２の中に本発明による
CEデイスク５が含まれる場合を示しているが、
これに限定されることなく、CEデイスク５はど
こに保管されていてもよい。

オペレーテイング・システムが最初にフアイル
をアクセスして読み取るエリアはVOLラベル部
であるが、本発明の保守用媒体では(i)このVOL
ラベル部に保守用媒体である旨を表示し、かつユ
ーザ使用可エリアがすでに全使用済になつている
旨の宣言をして、オペレーテイング・システムに
無駄なサービスを実施させることなく、他の業務
を継続実行させる。また、逆に保守する場合に
は、オペレーテイング・システムに対し、保守用
媒体である旨の表示を確認させ、テスト・プログ
ラムまたはインライン・プログラムを走行させる
ことにより、誤つてユーザ・フアイルを永久破壊
しないように配慮している。

次に、本発明の保守用媒体では、(ii)特定トラツ
クにデイレクトリ部を持たせ、書込みエリアを小
分割してそのエリアがすべて書込まれた場合にそ
れに該当するデイレクトリ・エリア（セクタ）に
書込み済の信号を書込む。

従来のデイスク装置の記録媒体と同じように、
書込みエリア管理を行わないで、保守上に必要な
書込み動作を実行した場合、光デイスクは再書込
みが不可能であるから、書込みエリア管理ができ
なくなるが、本発明では、上記のデイレクトリ・
エリアを設けたので、管理が可能になつた。すな
わち、通常、トラツク内をセクタに区分し、これ
を最小単位として読み書きするトラツク・セクタ
方式では、書込みエリアを管理することにより、
書込みテストが可能な未書込みエリアを探す時間
を十分の１から数百分の１に短縮することがで
き、保守時間を格段に短縮することができる。ま
た、すでに書込まれたエリア中に再書込みする危
険度もなくなる。

次に、本発明の保守用媒体では、(iii)読出し専用
エリアについて、デイスク上の内周から外周に到
るまでの数箇所に専用エリアを設け、内周（記録
密度大）から外周（記録密度小）に到る各部の読
出し特性を、VFO等の読出し特性のテストに段
階的に使用させるようにする。なお、記録特性上
のワースト・パターンをあらかじめ書込んでお
き、読出し系のテストに使用させることもでき
る。また、読出し専用エリアに、トラツクずれを
生じる方向に情報を記録し、この場合にも許容で
きる値まで読出し可能であるか否かを検査できる
ようにすれば、マージン・テストも実施できる。
また、数箇所に読出し専用エリアを配置すること
により、シーク動作による筐体振動等の機構テス
トも行うことができる。

第１図は、本発明の一実施例を示す保守記録媒
体（CHデイスク）のトラツク・フオーマツト図
と説明図であり、第３図は第１図のデータ・トラ
ツク・フオーマツトの説明図である。

第３図ａに示すように、光デイスクの場合に
は、内周に０トラツクがあり、外周に41299トラ
ツクがある。そして、渦巻状のトラツク・フオー
マツトを有し、数Ｇバイトの記憶容量を持つ。

項番２１の論理トラツク番号０は、システム領
域として使用される。また、項番２２の論理トラ
ツク番号１はVOL LABELが書込まれた領域で
あつて、第３図ｂに示すように、ボリユーム識別
名が光デイスクの表裏を区分することができるよ
うに、表面に“CEWKA”、裏面に“CEWRKB”
と書込まれている。これにより保守用デイスク
を、ユーザ・デイスクと明確に区別できるように
している。項番２３の論理トラツク番号２は、
HDR（ヘツダー）領域であつて、第３図ｂに示す
ように、識別名の後に、ブロツク長とエクステン
ト（使用量）が書込まれている。エクステントに
は、デイスク上に書込まれたデータの大きさがす
でにユーザ開放エリアをすべて使い切つている旨
の表示がなされている。このため、オペレーテイ
ング・システムからアクセスがあつても、ユー
ザ・プログラムでは使用が不可と判断される。し
かし、テスト・プログラムおよびインライン・プ
ログラムでは、この表示があることを認識して保
守用デイスクであると判断するようにしているた
め、このデイスクを用いてテストすることができ
る。次に、項番２４の論理トラツク番号３〜４
は、デイレクトリ領域であり、項番２６および項
番３０に示す書込みテスト領域でどのトラツク・
エリアが使用済かを書込むようになつている。ト
ラツク・セクタ方式の場合、書込み読出し単位が
セクタ単位であるため、デイレクトリの最小単位
もセクタ単位となり、かつ書込みテストの最小単
位を200トラツクずつに分割して、合計75のケー
スに区分けする。この場合、書込みテスト領域
は、(1)と(2)の２つの領域があるが、内周、外周に
はその特性のばらつきをテストするため、同一デ
ータを書込みテスト領域(1)と(2)に書込むように考
慮されている。したがつて、デイレクトリの管理
は、領域(1)(2)の１対で１つのセクタに管理される
ようになつている。つまり、第３図ｃに示すよう
に、書込みテスト領域(1)に、15トラツクから214
トラツクまで書込まれ、しかも書込みテスト領域
(2)に26290トラツクから26489トラツクまで書込ま
れると、デイレクトリ３トラツクのセクタ０に
FFデータが書込まれ、そのエリアはすでに書込
まれて使用済となつたことを表示する。したがつ
て、テストする場合には、先ずデイレクトリを参
照してFFが書込まれていないセクタがあれば、
それに相当する書込みテスト領域にシークし、低
アドレス・トラツクから順に読出していくことに
より、書込まれていない書込みテスト領域を簡単
に検出し、書込みテストを実施することができ
る。

次に、項番２５，２７，２９，３１は、読出し
テスト領域(1)(2)(3)(4)であつて、光デイスクの内周
から外周に向つて分散させている。前述のよう
に、これは内外周書込み密度の差、デイスクのラ
ンアウト等、各種のマージンに影響がある条件を
加味して配置されている。また、CEデイスクを
保守に使用する前に、あらかじめ書込まれるデー
タとして、ワースト・パターン・トラツクずれデ
ータ等、マージンを側定することができるデータ
が書込まれている。さらに、読出しテスト領域(1)
〜(4)が分散されているため、各種のシーク動作が
可能となり、メカニカルの共振特性の測定等を行
うことができる。

第４図は、本発明による保守テスト・マクロフ
ローチヤートである。

先ず、光デイスク駆動装置３にCEデイスク５
を装填し（ステツプ）、オンライン・テストプ
ログラムまたはオフライン・テストプログラムを
走行させて、エラーの有無を調べ（ステツプ
）、エラー解析を極力プログラム上で行い（ス
テツプ）、不具合箇所を指摘した後、修復作業
を行う（ステツプ）。完全に修理できたか否か
をチエツクするため、再度テストプログラムを走
行させ（ステツプ）、エラーが検出されないこ
とを確認する（ステツプ）。エラーがなければ
保守を完了する（ステツプ）。

第６図は、オンライン・テスト実施上の共通シ
ーケンス・フローチヤートである。

先ず、オペレーテイング・システム配下のオン
ライン・テストプログラムで論理トラツク番号22
にすでに書込まれているVOL LABELを読み込
み、“CEWRKA”または“CEWRKB”が書込ま
れているか否かチエツクし、ユーザ・デイスクか
否か、およびCEデイスクの表裏をチエツクする
（ステツプ）。

次に、論理トラツク番号23のHDR（ヘツダ）領
域を読み出し、デイスク上に一般ユーザに開放さ
れているエリアが存在するか否かチエツクする。
これは、読出し／シーク／書込みテストによるデ
ータ破壊からユーザ・デイスクを守るためにさら
に追加チエツクするもので、CEデイスクにはユ
ーザ解放エリアがない旨の表示をしている（ステ
ツプ）。

次に、論理トラツク番号24のデイレクト領域を
読み出し、第３図に示す書込みテスト領域のどの
トラツクが書込みテストに使用可能か否かをチエ
ツクする（ステツプ）。その後、通常コマンド、
診断コマンドおよびシステムの各機能が正常であ
るか否かをテストし、次に主に光デイスク駆動装
置や自動装填機構が正常に動作し、各種のマージ
ンを持つた系になつているか否かをテストする
（ステツプ）。最後に、このテストによつて書込
んだエリアに相当するデイレクトリ部のセクタに
Ｆ，Ｆ、を書込み、使用済として登録する（これ
は、書込みテストの前に実施してもよい）（ステ
ツプ）。

第５図は、本発明によるCEデイスクを用いた
保守テスト・フローチヤート（オンライン・テス
トの場合）である。

オペレーテイング・システム（OS）を立上げ、
そのもとで動作するオンライン保守プログラムを
走行させる（ステツプ）。光デイスク駆動装
置３に装填されているデイスクがCEデイスクか
否かをチエツクした後、制御装置２が正常機能さ
れているか否かを、通常のコマンド類や診断コマ
ンド等を使用してテストする（ステツプ）。
これらが正常であることを確認すると、光デイス
ク駆動装置３以下に接続されている装置（デイス
ク自動装填機構を含む）が正常機能は否かを、通
常コマンド、診断コマンド、CEデイスクの組合
わせによりテストする（ステツプ）。

第７図は、本発明による読出しテストのフロー
チヤートである。

書込みテストやシーク・テストに先立つて、読
取り系のテストが行われる。先ず、デイスクの外
周部の読出しテスト領域(4)にヘツド部を位置付け
する（ステツプ）。このエリアには、すでに各
種のマージンを測定するために、デイスク上に各
種パターンが書込まれている。ステツプ〜に
おいては、正常のPIT（光デイスク上にレーザ等
であけられた穴）で読み取りが可能か、ワース
ト・パターンとしたPIT配置で読み取りが可能
か、穴径や形状や深さ等、PITの形状を種々変化
させて読み取りが可能か、およびPIT位置を円周
方向にずらせて、読み取りが可能かをテストする
ものである。その際に、情報のマージンを測定す
るため、信号の取込みパルス幅を振らせてマージ
ン・チエツクを行うと、さらに効果的なテストが
可能となる。

次に、円板製造時に作り込まれたトラツク案内
溝であるグループの深さ等を変化させ、正規のト
ラツク・フオローイングが可能か否かのマージン
テストを行う（ステツプ）。次に、PIT位置を
半径方向にずらせて、正規なトラツク位置からず
らせた場合のオフトラツク・マージンを測定する
（ステツプ）。これで読出しテスト領域(4)のテス
トが終了したので、次に読出しテスト領域(3)にヘ
ツドを位置付けする（ステツプ）。このように
して、テスト動作をCEデイスクの外周部から内
周部へ順次移してテストすることにより、デイス
クの半径位置の影響を調べることができ、マージ
ンのない箇所の部品指摘が可能となる。ステツプ
では、読み出されたデータの分析を行い、ステ
ツプでは不具合箇所を指摘する。

第８図は、本発明によるシーク・テストの動作
フローチヤートである。

被テスト装置の機能単位を分け、指摘精度を上
げ、かつデイスクの破壊を防止するために、シー
ク・テストは読出しテストの後に実施し、書込み
テストの前で行うことが望ましい。

先ず、読出しテスト領域(4)にヘツドを位置付け
し、一定トラツク位置の連続フオローイング・テ
スト実施して、ヘツド・フオローイング・サーボ
の機能が正規に行われているかをチエツクする
（ステツプ）。次に、１トラツクごとのシー
ク・テストを行う（ステツプ）。この間に、適
当な遅延を設け、トラツク・フオローイング・ワ
ーストとなる状態でテストする方法が有効であ
る。次に、あるトラツク間の連続繰返しシーク・
テストを行う（ステツプ）。この際に、最小シ
ーク（１トラツク間の連続シーク）テストでは、
ミクロシークのサーボ特性がマージンを持つて動
作するか否かをテストしたり、次に、シーク・ス
ピードが最大となり、その直後に減速させてある
トラツク位置に設定させる動作モードのシーク・
テストを行う等、ここでのテストでは、各種のサ
ーボ・メカニズムの特性を考慮したテスト・モー
ドを行うことができる。次に、シークのトラツク
幅を漸増させて上位サーボ系およびメカニカル共
振特性に異常がないか否かをテストする（ステツ
プ）。これで、テスト領域(4)のテストが終了し、
次に読出しテスト領域(3)にヘツドを位置付けする
（ステツプ）。ここでも、前と同じテストを行う
（ステツプ）。このようにして、CEデイスクの
外周から内周へ順次実施した後、ランダム・シー
クテストをデイスク全面にわたり実施し、総合的
なシーク動作をテストする（ステツプ）。ステ
ツプでは、エラー解析や、不具合箇所の指摘を
行う。

第９図は、本発明による書込みテストの動作フ
ローチヤートである。

このテストは、デイスクの破壊防止をするため
に、最後に実施することが望ましい。先ず、書込
みテスト領域(2)の書込まれていないトラツクにシ
ークさせ、ワースト・パターンを書込み、エラー
チエツクを実施する（ステツプ）。次に、
書込みテスト領域(2)で書込んだトラツクに相当す
る書込みテスト領域(1)のトラツクに同一パターン
を書き込み、エラー・チエツクを行う（ステツプ
）。次に、レーザ・パワーを変化させて、前
記手順を繰返し行つた後、エラー解析し、不具合
箇所の指摘を行う（ステツプ）。

このようなパターンを有するCEデイスクを用
いて保守を行えば、書込みテストするエリアを迅
速にサーチすることが可能であり、かつ書込み読
出しテストを精度よく行うことができる。

また、オペレーテイング・システムから保守記
録媒体（CEデイスク）を保護することが可能で
あり、逆に、保守時にテストプログラムやインラ
イン・プログラムが保守記録媒体であることをチ
エツクすることにより、ユーザ・フアイルを保護
することができるので、ユーザ・フアイルの破壊
等を未然に防止することができる。

さらに効率よく、かつ精度よく書込み読出しテ
ストを行うことにより、全体の保守時間を従来に
比べて、数十分の１から数百分の１に短縮するこ
とができる。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明の保守記録媒体に
よれば、デイレクトリ部を最初に読み出すことに
より、追加記録式記録装置で書込んだエリアが判
別できるので、書込みテストするエリアを迅速に
サーチすることができ、また書込みテスト領域、
読出しテスト領域を複数箇所設定することにより
効率よく、かつ精度よくテストすることができ、
保守時間を大幅に短縮することが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す保守記録媒体
のトラツク・フオーマツト図、第２図は本発明が
適用される情報処理システムの構成図、第３図は
第１図のデータ・トラツクフオーマツトの説明
図、第４図は本発明による保守テスト・マクロフ
ローチヤート、第５図は本発明によるCEデイス
クを用いた保守テスト・フローチヤート、第６図
はオンライン・テスト実施上の共通シーケンス・
フローチヤート、第７図は本発明による読出しテ
ストのフローチヤート、第８図は本発明によるシ
ーク・テストの動作フローチヤート、第９図は本
発明による書込みテストの動作フローチヤートで
ある。 １：中央データ処理装置、２：入出力制御装
置、３：光デイスク駆動装置、４：デイスク自動
装填機構、５：CEデイスク、６：サービス・プ
ロセツサ、７：プログラム格納のデイスク、８：
保守操作装置。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ データ処理装置から記録装置を介してデータ
   の書込み／読出しが行われ、かつ同一箇所に再書
   込みが不能な破壊記録方式の保守記録媒体におい
   て、オペレーテイング・システムからアクセスさ
   れたとき、保守用媒体であることを識別させる表
   示ラベル領域と、破壊書込みが行われたエリアの
   位置を表示するデイレクトリ領域と、複数箇所に
   分散して設けられ、書込みテストを行うためにデ
   ータが記録されていない書込み領域と、複数箇所
   に分散して設けられ、読出しテストを行うために
   予めテストパターンが記録されている読出し領域
   を具備することを特徴とする保守記録媒体。