JPH01500573A - 選別分離機の制御方法及び装置 - Google Patents

選別分離機の制御方法及び装置

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JPH01500573A JP62503886A JP50388687A JPH01500573A JP H01500573 A JPH01500573 A JP H01500573A JP 62503886 A JP62503886 A JP 62503886A JP 50388687 A JP50388687 A JP 50388687A JP H01500573 A JPH01500573 A JP H01500573A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の名称 選別分離機の制御方法及び装置発明の背景 (1)発明の分野 本発明の鉱石の選鉱に使用される選別機の制御方法に関するものである。特に、 本発明ζよ選別層の特性を測定するための装置に向けられている。測定から引き 出された情報は連続制御イ:号を供給して選別作業パラメータのより良好な規制 により選別機の作業効率を改善するのに使用することができる。
本明細書中の用語「鉱石」は石炭、スズ鉱石、全鉱石、鉄鉱石、マンガン鉱石の ごとき材料及び重量濃縮により貴重でない材料から分離することができろ他の貴 重な材料を包含するように使用されている。用語「選別機(ジグ)」は破壊され た鉱石からなる層内の粒子比重により層化を生ずるように脈動流体を使用するあ らゆる装置を意味するものと解釈する。通常の状況において選別は連続する鉱石 の流れを処理し、鉱石混合物のより低い比重及びより高い比重の連続的又は間欠 的放出用の手段を備えている。
(2)従来技術 −Sに広く認められている選別作業の原理:よウィルス(ビー・ニー・ウィルス 著「鉱石処理技術」、第2版、1981年、パーガモン・プレ7、社発行)によ って説明されている。ゴーディン(ニー・エム・ゴーディン著「鉱石選鉱の原理 」、1939年、マグツー・ヒル発行)は選別作業の物理的特性及び選別機から の密な材料の放出制御手段を検討している。
、有効な選別作業については2つの条件があり、即ち、(i1選別機からの重い 生成物放出の制御、および(11)選別機内の鉱石層の層化の制御である。用語 「層化」は一般にコンパクトまたは閉止した状態における選別層内の垂直位置の 関数としての粒子密度の変化に関するものである。
密な材料の放出が正確に行われると仮定すると、密な鉱石及び密でない鉱石成分 が選別機からのいずれかの層の放出を容易にする明確な層中に存在するように層 化がある場合に選別機によって行われる分離はより有効である。
より密な材料が選別室内の層から高過ぎる割合で放出される場合に層化の輪郭は 変更され、所望の分離又は分離効率を維持することが不可能となる。選別室内の 所望の分離は選別分離比重SG、。により定量的に記載することができる。SG 5゜は選別室からの密なおよびそれほど密でない流れにおいて等しい質量の流量 で回収されろこれらの鉱石粒子の密度である。
SG、。を調整する種々の手段が知られている。それらはすべて選別機からの密 な鉱石の放出のフィードバック制御と主として又はよt+−S的ではないが選別 機作動パラメータの操作と結合される選別層特性の間接的測定を行うことを伴な う。
最も一般的には、いわゆる「フロート」が垂直杆又は同様の装置によって層内に 吊り下げられ、フロートの位置が電機的手段によって感知される。フロートは重 量の使用により選定又は調整可能な有効な比重を持つ通常適宜に成形された(例 えば「流線型の」)本体である。フロートは通常層中の最も密な鉱石の層の頂部 位置を示すようになっている。最も密な層の放出の調整によって該層の頂部位置 を一定に維持することにより、選別機用のSG5゜が一定のままであるようにな される。
フ四−トの使用に加えて、また選別層内の1以上の点における静水圧を示すよう に圧力センサを使用することが知られている。圧力信号は層の平均比重を全体と してまたL土層の深さまたは層の選ばねた領域における層の平均比重を示すよう に解釈することができる。
層の深さ又は比重の制御においては、選別機が該選別機内の流体の規則的な脈動 による周期的方法において作動することが認められねばならない。流体の周期的 運動は選別層特性の対応する周期的変化を生じる。従って、フロート位置又は圧 力の測定は選別サイクル又は周期内で予め規定された点で時間内に行わなければ ならないが、又はセンサからの信号が意義のある方法において選別サイクルにわ たって平均化されねばならない。
選別調整を補助するように選別層内に配置された圧力センサと、水位表示器又は 機械的なパドルセンサがらの信号を使用することも知られている(例えばツート ンバーティ コリャーズ エンジニアリング リミテッド名義の英国特許第15 97231号及びシュタミカーボン エヌヴイ名義の西ドイツ国特許第1217 292号参照)。選別サイクル内の規定の時間におけるセンサからの平均値とし ての信号ζよ選別1gの全体的条件を示すものと解釈されている。機械的パドル からの信号(トルク佃@)は選別機の推進ストロークによって発生される層膨張 の度合を示すものと解釈することができる。選別放出ヌ;よ選別ストロークの調 整は全体的な層特性を示す13号を一定::維持するのに使用することができる 。
公知の選別層密度の最も直接的な測定はバーテルト(デー・バーテルト著「放射 性同位元素による選別放出の調整j、1962年、第4回国際石炭製造会議、レ ボ−)B−2、第89頁乃至第97頁)によって説明されている。バーテルトは 選別層内の選ばれt:水平において平均選別層密度を決定するためにガンマ線源 (セシウム137)及び放射検出器(ハロゲン抑制ガイで一係数管)を使用した 。この測定技術は測定信号がフロートセンサ信号に代えて選別層放出全調整すべ く使用したとき選別層特性および選別分離効率を著しく改善した。
フランス特許第1382798号(ベタイリグンクスウント パテントフェアヴ ルツンクス デー エム バー バー)の追加特許の明細書には層内の特別な水 平面における層密度の測定として、放射の平均吸収に単に基礎を置いた選別層放 出の調整方法を記載しており、西ドイツ国特許第1115651号(マシネンフ アプリックブッカウ アール ヴオルフ ァーデー) 明i 書iこミヨ放射源 及び検出器が一定の吸収率を維持するように垂j直に動かされる方法が記載され 、その運動は規定の遷移領域内にデー トを維持すべく放出ゲートの垂直位置を 制御するのに利用されている。
西ドイツ国特許第1245281号(ベタイリグンクス ラント パテントフェ アヴルツンクス デーエムベーハー)明細書には選別層が密に詰め込まれるとき サイクルのその部分中で放射吸収のみが監視される場合の放出制御方法が記載さ れている。この方法は特定の水平面内の層密度が選別サイクル内で時間により変 化するが、この時間による密度変化が層の膨張を測定するのに使用することがで き、膨張作動が層化を確立するのに重要であることを認めることができないこと を容認してt)ろ。
西ドイツ国特許第1123631号(マンネズマンアーデー)明細書には水柱の アンプブレード上での放出ゲートの作動を制御すべく層密度を連続的に監視する 方法が記載され、他力西ドイツ国特許第1131611号(同様にマンネスマン  アーデー)明細書(こ(よ吸収量、即ち層密度が現在の値から予め定めた値に まで変化するとき放出ゲート又は弁が開放される場合の選別分離機が記載されて いる。
上記西ドイツ特許第1123631号の追加の特許である西ドイツ国特許第11 32872号(マンネズマンアーデー)ではより厚い遷移領域を監視することが できるように垂直に間隔を置いた2つの放射検出器を使用し、放出ゲートは2つ の検出器による吸収測定間の差が減じるときより多くの材料を放出すべく開放さ れており、遷移領域の厚さの増加を表示する。
西ドイツ国特許第1140881号(マンネズマンアーデー)は西ドイツ特許第 1123631号の他の追加の特許でありそして該特許明細書には一対の検出器 が放出ゲートに近接して層の中間に放射源を(1m丸でいる微細な又は中位の粒 状材料用選別分離機の構成を開示している。
西ドイツ国特許第1123631号と、同第1131611号と、同第1 ]、  32872号及び同第1140881号明細書に記載された方法はバーテルト のアメリカ合衆国特許第3082873号明細書に包含されている。
発明の概要 零晃明は選別機の分離比重の制御に供給するような制御装置に使用することがで きるガンマ線(放射性同位元素又は他のもの)源及び検出器を使用する選別層特 性の測定のための方法を提供する。伝達されたガンマ線密度の測定は好ましくは 選別層(ジグペット)内の1つ又はそれ以上の水平線において行われ、放射検出 器及び関連の測定および計算エレクトロニクスは選別の作業サイクル内の明確な 時間の関数として伝達された放射密度を決定1ろような方法において作動さメす る。
閃光型のJ、iンマ線検出器又は他の適宜な検出ばは伝達されるガンマ線密度の 安定な決定が高いカウントレートで行われることができるように且つガンマ線エ ネルギ弁別が層密度決定の精度を改善するのに必要であるかまたは所望されると き電子パルス高さ弁別によって実施させることができるように使用される。1つ 又はそれ以上の閃光検出器からのパルス列はパルス成形及び弁別回路を経てカウ ンタに向けられる。カウンタは選別サイクルの連続する短い(At 1 / 1 0以下)セグメントにわたって平均待ち時間補正カウントレートを決定できるよ うな方法において作動される。時間セグメントの表現又は定義は選別サイクル制 御機構又は適宜な手段によるエレクトロニクスと同期される。
選別サイクルの連続時間セグメントから待ち時間補正カウントレート情報で開始 して、さらに他の電子または計算モイジュールは入口および出口弁タイミングと 、層下力水流量と、放出ゲート開口等のごとき選別機の作動パラメータの変化に よる選別分離比重の自動制御に使用されることができる信号またはデータ出力の 流れを引き出すために種々の方法において前記情報を処理するのに使用すること ができる。
カウントレート情報を処理する1つの方法は連続カウントレートの対数を取るこ とを含んでいる。カウントレートの対数は基本的物理的原理による放射ビームに おける材Uの密度に直線的に関連づけられている。選別層が水のみで充填される ときのカラン1−レートのごとき基準待ち時間補正カウント!2− ト対数は選 別・ノ゛イクル内の時間の関数として層密度を計算するのに使用することができ る。基準カウントレート:よ放射性同位元素崩壊および放射ビームが通過する金 属またはプラスデック部分の機械的摩損を考ざするのに使用されろ。選別サイク ルのセグメントを示す時間間隔が短く (約50 i51J秒)、検出器におけ るカウントレートが多くて100000カウント/秒程度に制限されねばならな いので、該計量において考慮されねばならない統計的要因はカラントレー1−が カラントレー1−の約1%程度の不確実性(カラン1−レートの標準傷差として 測定される)を有することを命令する。層を通る放射通路の長さが長く且つ層が 崩壊される状態において、検出器でのカラン1−レートは実用的放射能の放射性 同位元素コースが使用されるとき100000カウント/秒より非常に小さく、 選別サイクルの単一時間セグメントに対応するカウント・レートの不確実性はカ ウントレートの1%より大きい。後者の状況において、カウントレート処理方法 は「信号平均化」工程を含むべきである。信号平均化は循環又(よ周期的プロセ ス信号が関心あるところの信号対雑音比を改善するための公知の技術である。本 発明の場合には、信号平均化はカウントレートの算術的平均又は加重平均又は選 別作業の連続サイクルの対応する時間セグメントからのカウントレートの対数の 計算に関する。平均が計算されることができる連続サイクルの最a数は検出器で のカウントレートおよび信号が選別機を制御するのに使用されている;1′、i 法に依存ずろ。
単独で又は第1の方法に関連して使用ずろことができるカウントレート情報を処 理する第2のJ、り簡単なブ〕法は@選別サイクル又は選別サイクルの幾つかの 選ばれた単一時間部分間隔にわたる平均カウントl/ −トの計算てある。この 方法はバーデルト(西ドイツ特許第1123631号)及びベルクポルッ(西ド イツ特許第1245281号)に記載された方式に内在する方法し超■ば対応す る。カウントレート情報処理のこの第2の方法(よ平均化方法が平均がサイクル 全体にわたって取られるときの各サイクル内の時間によるg変度化に関する情報 を破壊するかまt:は選ばれた時間部分間隔のみからのカウントレートが記録さ れるときの全サイクルにわt二ろ密度の変化に関する情報を放棄するような選別 層の作動に関するほぼ同量の情報を供給するものではない(ベルツボ/Lツの特 許明細書第1欄第46行目乃至第2欄第21行目参照)。
異なる密度の材料層への選別層の層化の度合は主として層が選別サイクルの間中 拡張されろか又は開放される範囲に制御される。この層拡張又(よ「開放」は層 中の固体の容積割合によって定量的に表現することができ、層拡張の度合は層内 の垂直位置により変化する。不十分な拡張:よ完全でない層化に至り、(1A方 過肋の拡張1ま垂直配合、即ち最適状態に及ばない層に至る。
特定の型の鉱石の分離のため又は特定の石炭送給のためずべての状況において最 適である15拡張の度合の全体的な説明を備えることはできないが、層内の特定 の水平線における選別サイクル内の時間の連続又は不連続の関数としての層密度 の記録は亡拡張の度合の定量的測定並びに層がその最大詰め込み度合に達すると きサイクル内の点に対応する最大層密度の定量的測定を備丸ることができる。特 別な鉱石又は石炭送給に関して、その場合に送の最適層化と所望の分離密度での 最も有効な考え得る分離とに対応するサイクル内の層密度の時間による変化の特 定のパターンがある。サイクル内の層密度のこの時間に関する変化は「選別特性 (′2グ・シグネーチャ)」と称される。選別機の作動パラメータが幾つかの最 適特性と同様な選別特性を保持するような方法において変更される場合に、有効 な分離は未加工送給の密度又はサイズ分布における適度な変化面において及び分 離機処理量における適度な変化面において維持することができる。
最適な特性は選別特性の測定と同時に通常の分離機効率の測定を行うことにより 見い出すことができる。
本発明の目的は「選別特性」の決定に依存する方法による選別分離(または選別 分離機とほぼ同様に作動する脈動分離機における分離)の制御方法及び装置を提 供することにある。
図面の簡単な説明 本発明を十分に理解することができるように以下に本発明の好適な実施例を添付 図面について説明する。
第1図;よ石炭選別分離機を示す縦断側面図、第2図、第3図および第4図はそ れぞれ代替源/検出装置を示す第1図の選別分離機の平面図、第5図は利回装置 の結線図、第6図は2サイクルにわたる層密度の変化を示すグラフ図、第7図は 核測定を介しての実際の密度の打切りを示すグラフ図、第8図は標準の選別特性 についての制御包囲線のグラフ図である。
好適な実施例の詳細な説明 第1図はスフローン板11によって支持された石炭選別層10の簡略化した水力 断面図であり、第2図はその水平断面図である。選別層10は崩壊した状態で示 されている。耐水性の蒸気通路付き遮壁内に収容されている放射性同位元素源及 び放射シールド12と、同様の遮壁内に収容されている閃光型放射検知型13と は選別層10内に浸漬されている。放射性同位元素源はガンマ線の吸収が実質上 選別層10内の材料の化学的組成に依存しないようなニネルギのガンマ線を放出 すべきである(662keVガンマを放出するセシウム−137又は1゜17〜 1゜33keVの範囲のガンマを放出するコバルト−60は適切な放射性同位元 素源である)。放射性同位元素源と検出器構成体は適宜な枠体14によって選別 層内に堅固に支持されている。放射性同位元素源と検出器との間の分離間隔は被 処理鉱石の型式に適するように選定されている。通常の石炭選別において、選別 層材料を通る放射の通路長さ:↓約0.5メー1−ルにずべきてある。枠体14 は選別層の下層からの密な材料の放出を制卸ずろtコめの放出機構17を支持す ることができ、図示の装置は空気又は油圧シリンダ16.16Aによって作動さ 11ろ単一ゲート17である。放射性同位元素源と検出器の構成体の頂部には密 封ハウジング15,15Aが配置され、該ハウジング内には放射性同位元素源シ ャッタ機構の作動制卸のノ′二めの電子的、電気的且つ電機的装置を封入させろ ことができる。第3図及び第4図は同位元素源ど検出器の変形例を示す点を除い て第2図と同様の水平断面図である。第3図において、放射源12は検出i 1 .3 Bおよび1.3 Cによって受信される2つの方向に放射を放出する。1 つの放射源に関して2つの検出器の使用は放射による多機の選別層の尋問を可能 にする。
第4図は選別層の壁に沿って該層の外部に取付けられた放射源12と層内に浸漬 さfli放射検出器13Dとを示す。すべての状況において、放射源と検出器の 構成体を固定する方法は放射ビームが測定された選別特性に関連して最良の感度 を備え、る層内で水平に通過できろようにそれらの位置の垂直調整が可能である ようにするのが望ましい。
第5図に(f選別制御に使用することができるデータ出力信号を引き出すために 放射検出器からのパルスを処理するための処理機構を結線図で示している。図示 の電子モジュールは多数のマイク−処理又はプログラム可能な集積回路装置を色 A、てし)る。このような状況において、特定のブロックの機構は1つの装置又 :よ装置群に集積さぜろことがてきろか、又は要求される機能を実施ずろのに使 用される装置の特定の特徴に都合のよいような種々の物理的ユニットに分離させ ろことができる。種々のブロックの機能の説明は本発明の範囲を制限することな く要求される機能の特定の物理的分離に向(プられている。
放射源〕8からの放射を測定する閃光梨検出器19ヌ!:f他の型のいオ)ゆる 比例カウンタは作動特性、特に検出器定数の利得を維持Jろような方法におし) で検出器安定化モジュール20からエネルギーが供給さズ1ろ。検出器19から の出力パルスはパス:2スの積iツ上げ検出及びパノニス高さ分析を行うことが でさるパルス成形及び弁別回路21に通されろ。弁別回路21は待ち時間補正回 路又:ま検出器の有効時間を正確に決定するt:めの回路をも含有しなければな らない。弁別回路21からの出力パルス列はパルスカウントおよびタイミング回 路22に通され、該タイミング回路22においてタイミレグパルスによるパルス 列のゲートは待ち時間補正カウントレート:、が決定されるとことがてきる選別 づ・イクルの連続的な短い時間セグメントを正確に表現する。弁別回路2]から タイミング回路22に有効時間又は待ち時間情報を通ずことも必要である。時間 セグメント表現回路は例えば短い時間セグメントの実際の存続時間を規定するた めに制門及乙(計算ユニット24から制御情報をも受信する。該ユニット22は 短い時間セグメントの待ち時間補正カウントレールか又は短い時間周期のカウン トおよび有効時間のし)ずれかを示すレジスタ23に1つ又は複数の値を伝送す るような方法において作動される。この回路22は回路2】からのすべてのパル スが捕捉されろような方法において作動される。ユニット19乃至23の全体の 目的はユニット24によって規定された選別サイクルの各短い時間セグメントの 終りで、制御および計算ユニット24によって読み取ることができろレジスフ内 の安定した待ち時間補正カウントレートを発生させることにある。検出器安定化 の正確な手段はここでは検討されなし)が最新の技術を使用すべきである。
制卸及び計算ユニッ1−24はユニット18乃至23のすべての部材及び使用者 インターフェイス又はホスト役コンピュータ25に連通している。知友で、選別 状B4:。
号27を監視し、選別サイクルの開始を正確に示す選別づイクル同期イ:号26 を受信することができる。ユニット24は選別作業の状態と、同位元素源及び検 出器遮壁の安全性とを監視し、検出器からのカウントレート情報のデー;−制御 が選ばれt:パターンに正確に対応することを保証する。例えば、100OEす 秒の選別サイクルおよび20の連続する短い時間間隔への選別サイクルの分割の ために、各ゲート制御信号は50ミリ秒間隔て発生されねばならない。更に選別 サイクル用の時間ベースがユニット用のクロック発振器と同一のクロック発振器 から引き出されない場合に、ユニット24は連続する選別同期パルス26間の時 間間隔を等しい時間間隔の整数に分割するためにユニット24の失敗から生じろ カウントレートの考え得るエラーについて除去するために時間ベースの差を連続 的に監視し、そして補償しなければならない。この補償機能は実在数の連続する 選別サイクルにわたって平均している信号が受容されているときとくに重要であ る。時間ベースの差は例えば電子モジュールの温度変化から生ずることができる 。ユニット24は連続する選別サイクルからの対応する短い時間間隔からのカウ ントレートが算術的に平均化されるかまたは加重平均化アルゴリズムによって平 均化される信号平均化を実施するようにプログラムされている。平均化されるべ き連続サイクルの数及び平均を加重させることができる方法はインターフェース 又はコンピュータ25からユニット24に伝達されることができる。制御及び計 算ユニット24は各選別サイクルの終りにまI−は予め定めた数の選別サイクル が発生した後に選別特性を発生する。
選別の分離比重を所望の値に維持する責任がある洞部作用はデータ出力28を変 化さぜろことにより行われる。
データ出力28は1組のデジタルまたはアナログ電気信号として規定されている 。これらの電気信号は選別サイクル時間(入口および出口弁開閉時間29.30 )と、層下力水流量31と、放出ゲート位置32と、選別作業空気圧33と、自 動操作に利用し得ることができるような他のバラメー゛りのごとき選別作業調節 のための最終刷部要素に付加される。すべてのデータ出力値が選別特性の新たな 測定が利用可能になるとき変化される範囲は都合の良し)ようなユニット24ま たは25によって実施されるアルゴリズムによって決定される。このアルゴリズ ムは「設定点」またはユニット24または25に記憶された標準選別特性と今決 定された新たな特性との間の比較を行う。新たな特性が標準特性から統計的に異 なり、その差が選別周期内のいずれの点においても予め定めた量より大きいなら ば、1またはそれ以上のデータ出力信号29乃至33は標準特性により近く整合 する形に選別特性を復帰させるよ・うに再び計算さ第1ろ。
選別特性の概念は第6図乃至第8図に示しである。第6図において、グラフ:を 簡潔にした層の形状から監視する15密度(ρ)の実際の変化を示し、2つの連 続する選別サイクルが示しである。第7図において、グラフは核測定を介しての 実際の密度変化の打切りを示し、選別づイクルは20個の等し!、1時間間隔に 分割さCている(サイクルが分割される時間間隔:′i等しくする必要はないが 一般には等しくするのが好適である)。第8図において、グラフは幾つかの標準 選別特性にっし)での割部包囲線を示す。本発明による制と概念は新たな選別特 性が完全に制御包囲線内に存在しないときは必ず新たな組のデータ出力値の決定 に対応する。データ出力値29乃至33が変化さnる方法は1つ又は複数の誤整 合が制御包囲線内に選別特性を戻すように発生する包囲線の1つ又1よ複数の領 域に依存する。
当業者には容易に明らかであるように、本発明(よ最も効率良く作業されろ選別 機を可能にする。上述したように、層の密度変化の輪郭は選別作業に重要である 。−サイクルの単一時間セグメントを簡単に取り、測定するt−めに、例えば、 西ドイツ特許第1245281号明細害におけるような層密度は選別機制卸に十 分でない。無限の選別特性がサイクル内の選択さねた時間セグメントにわたって 共通の輪郭を持つことができるが、選別機にお+)で達成される層化レベルは著 しく異なる。例えば、最も好適な選別特性と比較される極めて鋭い密度変化を持 つ部分を有する特性はより少ない有効なと化を結果として生じる。知友で、選別 機の作動は選別されるべき特定の鉱石に適するように正確に調整されることがで きる。
上述した実施例は例として図示したものであり、各種の変形及び変更:1持許請 求の範囲に定めらねた本発明の範囲から逸脱することなく行うことができろ。
国際調査報告 1−’−−”−1肯”−” k PCT/AU87100185ANNEX T o T’、E ;NTERIAT+0IJLL 5EARCHREPORT O ’iG3 2131182 ALI 2174/83 Zll 8308258 uS 4265744 Dε 2734736 PL 114499DE 29 22979 JP 54155907

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)選別サイクルの連続する短いセグメントにおいて選別層内の材料の密度を 測定し、選別サイクルにわたって選別層の密度特性又は輪郭を決定し、予め選択 された制御包囲線内に密度特性又は輪郭を維持するように作動パラメータを調整 することを特徴とする鉱石用選別分離機の制御方法。
  2. (2)選別層内の材料による放射の吸収を該材料の密度を決定するため少なくと も1つの放射検出器によって測定することを特徴とする特許請求の範囲第1項に 記載の鉱石用選別分離機の制御方法。
  3. (3)選別サイクルの各セグメントの時間周期を選別分離機のサイクル時間の1 /10より大きくないようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第 2項に記載の鉱石用選別分離機の制御方法。
  4. (4)検出器からのカウントレート情報をカウントレートの対数が層内の材料密 度に直線的に関連づけられているセグメントからの連続カウントレートの対数を 取ることにより処理することを特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第3項のい ずれか1項に記載の鉱石用選別分離機の制御方法。
  5. (5)カウントレート情報の処理にはカウントレートの算術的平均又は加重平均 又は選別作業の連続サイクルのカウントレートの対数の計算による信号平均化工 程を含むことを特徴とする特許請求の範囲第4項に記載の鉱石用選別分離機の制 御方法。
  6. (6)平均が計算される連続サイクルの最適数を検出器におけるカウントレート に依存させたことを特徴とする特許請求の範囲第5項に記載の鉱石用分離機の制 御方法。
  7. (7)調整可能である作動パラメータには、入口弁開閉時間と、出口弁開閉時間 と、層下下流量と、放出ゲート位置と、選別作動空気圧とを備えたことを特徴と する特許請求の範囲第1項乃至第6項のいずれか1項に記載の鉱石用選別分離機 の制御方法。
  8. (8)特定鉱石用の選別機の制御包囲線を経験に基づいて決定し、次いで選別機 の作動パラメータを制御する制御ユニットに設定させることを特徴とする特許請 求の範囲第1項乃至第7項のいずれか1項に記載の鉱石用選別分離機の制御方法 。
  9. (9)特許請求の範囲第1項乃至第8項のいずれか1項に記載の方法によって制 御することを特徴とする鉱石用選別分離機。
  10. (10)放射源と、 選別層内の材料によって放射源からの放射の吸収を測定するため選別層内に備え た少なくとも1つの放射検出器と、 選別サイクルを連続する短いセグメントに分離するタイミング機構と、 検出器によるカウントレートから各セグメント内の層中の材料の実際の密度を決 定し、それにより選別サイクルにわたって密度特性又は輪郭を決定する計算機構 と、選別の作動パラメータを変化して予め選択した制御包囲線内に密度特性又は 輪郭を維持するように密度輪郭特性又は輪郭に応答して作動する制御機構とから 成ることを特徴とする鉱石用選別分離機の制御装置。
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