JPH0153209B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、成形機で作られたガラス容器（たと
えばびん）を検査する装置に関する。一層詳細に
いえば本発明は、成形されたすべてのガラス容器
に各成形型に独自な識別記号をつける成形型の中
で該ガラス容器が成形される成形機と、ガラス容
器群の欠陥を並列的に検査する装置とを含むガラ
ス容器生産ラインにおいて、複数個のガラス容器
出所から各容器の出所を識別する記号を備えてい
るガラス容器を検査する装置に関する。したがつ
て本発明によれば、前記検査を介して前記成形機
を制御することも可能であり、さらにまた、ガラ
ス製品生産ラインおよびそこで作動する前記ガラ
ス容器検査装置の作動を監視、記録することも可
能である。

ガラス容器を製造する技術において知られると
おり、鉄原型の組によつて生産用空洞内に容器を
作るアイエスマシンが使用される。ある特別の空
洞が欠陥のびんを作つているとき、機能不良の原
型を識別してそこで成形されるすべての容器を選
出することが望ましいことが分つている。この目
的で、多くの空洞識別装置および処理装置がガラ
ス容器成形技術において知られている。

例えばジエー・ダブリユー・ジユービナル（J.
W.Juvinall）に対して発行された米国特許第
4175236号および第4230266号はいずれも、容器の
底に同心輪の記号を型つけした容器を用いる特定
の容器を作る原型の空洞識別の方法および装置に
関する。その記号は容器の底から特定の点まで反
射される光の強さの変化を測定することによつて
読まれる。ペジン（Pezzin）らに対して発行さ
れた米国特許第4230219号は空洞識別装置の取扱
装置を開示しており、それによつてびんは回転星
形車によつて直線コンベアから取り除かれ、びん
は引き離されて空洞識別読取器に順次導かれる。

フオーナ（Fornaa）に対して発行された米国
特許第3923158号は、欠陥びんを不合格にする情
報を与える複数個の検査位置を持つびん成形機を
開示している。検査すべきびんは、原形番号読取
装置を含む１組の検査位置に１列に送られる。検
査装置および原型番号検出器からの出力は、欠陥
の種類および原型番号の情報を作るように組み合
わされる。この情報は処理されて、情報および可
能な修正手段のため、かつ陰極線装置に表示する
ため生産作業員に送られる。

本発明は、ガラス容器生産ラインおよびそこで
作動するびん検査装置の作動を監視・記録する仕
上品制御装置に関する。徐冷がまを出るびんは、
数個の並列検査ループの１つに供給される。各検
査ループには、欠陥びんを検出する多数の検査セ
ンサがある。本発明の好適な実施例では、各検査
ループには衝撃シユミレータおよび多位置欠陥検
査装置があるが、いずれも技術的に周知である。
検査ループの一次ループ（すなわち第２検査ルー
プ）はさらに、複数個の原型のどれが特定の容器
を作つたかを決定する空洞識別装置を含む。同様
な空洞識別装置は、すべての検査ループの全被検
査品が組み合わされる点の下流に置かれている。

仕上品制御器は、いろいろな検査装置によつて
作られた空洞および欠陥の情報に応動する。制御
器は検出された欠陥をそれらを作る空洞に抜取基
準で相関させる。即ち被検ガラス容器であるびん
等の欠陥を検出するための相関性、云い換えれば
びん成形機のどの成形空洞即ちキヤビテイが欠陥
をもつびんを作るかをその欠陥成形品と関係付け
探知する。一次検査ループにある空洞識別装置か
ら得られる空洞情報は、空洞不合格比の形をした
欠陥ごとの空洞当たりの不合格百分率を作るため
に使用される。一次検査ループから得た空洞不合
格比は、これらのループへのびん配分がランダム
であるならば検査ループのすべてについて有効と
考えられる。特定空洞の空洞不合格比が所定の制
限を越えるとき、制御器は欠陥空洞を修正するよ
うに成形作業員に通告することができる。また制
御器は各ループの欠陥の各種類について空洞不合
格比を合計するとともに、これらの合計を検査ル
ープ間で比較して、欠陥検査装置を突き止める。
別に、制御器は空洞不合格化を下流の空洞識別装
置により作られるデータと比較する。下流の空洞
識別装置が一次検査ループにより欠陥と断定され
た特定の空洞で作られるびんの存在を検出するな
らば、制御器は二次検査ループ（すなわち第２検
査ループ）の１つにある欠陥検査装置を突止めて
修正することを整備員に警告することができる。

本発明の主な目的は、ガラス容器生産ラインに
有利に配置できる新規なガラス容器検査装置を提
供することである。

本発明の別の目的は、容器の欠陥を簡単かつ確
実に検出でき、しかも費用が多くかからないガラ
ス容器生産ライン用のガラス容器検査装置を提供
することである。

本発明のさらに別の目的は、並列に配置された
高性能検査ループを備えたガラス容器検査装置を
提供することである。

本発明の他の目的および利点は、その好適実施
例の下記詳細な説明から明らかになると思う。

いま図面について説明すれば、第１図には本発
明による仕上品制御器の概略図が示されている。
ガラスびんまたはガラス容器のような品物は、周
知のガラス製品成形アイエスマシン（図示されて
いない）の製造空洞内で成形される。各空洞の型
は、空洞識別装置に印刷済記号を読み取らせかつ
上述の任意な特定の容器の原型を決定するよう
に、すべてのびんの底に独自の識別記号を押印す
る。

次にびんは空洞から所定の順序で徐冷がま１０
に送られる。標準の徐冷がま１０は、成形された
びんを加熱・冷却して、それらに追加強度および
所望の仕上特性を与えるために、複数個の温度区
域に分けられている。びんが最終的に徐冷がま１
０を出ると、それらは検査および包装作業を始め
られる温度に十分冷却される。

びんは徐冷がまアンローダ１１によつてランダ
ムな形で徐冷がまから取り除かれて、検査区域に
びんを順次移動するコンベア装置１２の上に置か
れる。コンベア１２は徐冷がまアンローダと共に
技術的に周知である。びんは一次検査ループ１２
に、または数個の並列二次検査ループ１６あるい
は１８のどれでもに、ランダムに供給される。第
１図には２個の二次検査ループ１６および１８の
みが示されているが、仕上品制御器の容量を増加
するために任意な数の二次ループを並列に追加し
得るのが認められると思う。

一次検査ループ１４に入るびんは、まずびん計
数器２０を通過する。びん計数器２０は、びんが
一次検査ループ１４の計数器２０を通過するとき
必ず信号を作るのに用いられる簡単な光電アイで
あることができる。びんは次に衝撃シミユレータ
装置２２に供給される。衝撃シミユレータ２２
は、びんの側壁の周囲の一部に圧力を加えること
によつて、主としてその側壁表面にある構造的欠
陥についてガラス容器を試験する検査装置であ
る。衝撃シミユレータ２２はマツクガイヤ
（McGuire）らに対して発行された米国特許第
3991608号に詳しく記載されている。

装置２２によつて拒絶されなかつたびんは、次
にびんの底に印刷済の空洞識別記号を読み取る装
置に供給される。標準の空洞識別装置は米国特許
第4175236号、第4230219号、および第4230266号
に記載されている。上述の空洞識別装置２４は任
意の特定な容器の原型を決定することができる。
最後に、びんは多位置検査装置２６に供給され
る。ここで、びんは検査されて、内外径、高さの
変動、曲りおよびくぼみならびに上反り仕上げと
して普通知られているその周囲の仕上げのレベル
の変動、および仕げの垂直じまと水平じまのよう
な多数の欠陥に関して不合格とされる。多位置検
査装置２６はジエー・アール・ジヨンソン（J.R.
Johnson）に対する米国特許第3313409号および
デイー・エー・ダム（D.A.Damm）に対する米
国特許第3757940号に詳しく記載されている。多
位置検査装置２６を出る残りのびんは、検査区域
から除去するために上方マニホルド・コンベア２
８に供給される。

びん計数器２０は、びんが一次検査ループ１４
に入る度にライン２０ａに信号を発生させる。ラ
イン２０ａの信号は仕上品計算機３０に供給され
る。同様に、空洞識別装置２４に達する各びんの
原型を表わす同装置からのデータは、ライン２４
ａで計算機３０に供給される。衝撃シミユレータ
２２は、不合格とされたびんを数える組込み機構
を備えていないので、計算機３０はびん計数器２
０により検出されるびんの数から空洞識別装置２
４に達するびんの数を引くことによつて衝撃シミ
ユレータ２２によつて不合格とされたびん数を求
めることができる。多位置検査装置２６はライン
２６ａから計算機３０に進む信号を作るが、この
信号はそこで検出された欠陥の形式および数を表
わす。オペレータがプログラムして計算機３０か
らデータを受けられるように、在来形の入出力装
置３２が具備されている。

一次検出ループ１４に入らないびんは、コンベ
ア１２に沿つて二次検査ループ１６または１８の
いずれかに供給される。各二次検査ループは同一
であるので、最初の二次検査ループ１６のみを詳
しく説明する。しかし、他の二次検出ループ１８
の対応部分を示すために同様な参照番号が使用さ
れる。びんが二次検査ループ１６に入るにつれ
て、それらは一次検査ループのびん計数器２０に
似た構造のびん計数器３４によつて数えられる。
びん計数器３４は、びんが二次検査ループ１６に
入るとき必ずライン３４ａに信号を発生させる。
びんは次に衝撃シミユレータ３６に供給され、こ
のシミユレータはびんの側壁の強さを検査して欠
陥びんを不合格にする。最後に、残りのびんは多
位置検査装置３８に供給され、この装置はびんの
数種類の欠陥を検査する。多位置検査装置３８
は、それによつて不合格とされたびんの検出され
た欠陥の種類およびよび数を表わす計算機３０に
対するライン３８ａに信号を発生させる。不合格
にされないびんは、仕上品制御器から取り除くた
めに、多位置検査装置３８から上方マニホルド・
コンベア２８に供給される。空洞識別装置２４が
ない場合のほかは、二次検査ループ１６は一次検
査ループ１４と同じである。

検査ループのすべての下流に第２空洞識別装置
４０が置かれている。下流の空洞識別装置４０
は、いろいろな検査装置によつて不合格とされな
かつたすべてのびん底から押印された型記号を読
み、それによつて上方マニホルド・コンベア２８
の上に置かれる。空洞識別装置４０は、型に関係
のある欠陥を不合格とすべきびんの識別に利用さ
れる。計算機３０は、装置４０に対する欠陥の型
を識別する信号をライン４０ａに発生させる。不
合格にされないびんは選択包装コンベア４２に供
給される。計算機３０は、空洞識別装置４０に送
られる各空洞拒絶信号のオンおよびオフ時間を記
憶することができる。

いま第２図から、仕上品制御器の計算機３０の
流れ図が示されている。プログラムは「開始」点
に入力される。プログラムはすぐに処理命令「ジ
ヨブ・ヒストリー・フアイルを払う」を入力す
る。プログラムは次に「データを読み取る」命令
を入力する。計算機３０は各検査ループの各検査
装置に質問して、それから得たデータを記憶す
る。プログラムは次に処理命令「衝撃シミユレー
タの不合格数を求める」を入力する。一次検査ル
ープ１４にある衝撃シミユレータ２２によつて不
合格とされるびんの数は、びん計数器２０によつ
て検出されたびんの数から空洞識別装置２４に達
するびんの数を引くことによつて求められる。

プログラムは次に処理命令「すべての欠陥を個
個の空洞に相関させる」を入力する。上流の空洞
識別装置２４は事実上連続のびんの流れを受ける
が、これは衝撃シミユレータ２２がその中で破れ
ているびんによつて作られる間〓を速やかに埋め
るように十分速やかに作動するからである。した
がつて、多位置検査装置２６も数個所の検査位置
でおのおの検査されるびんの事実上連続の流れを
受ける。多位置検査装置２６に近い上流の空洞識
別装置２４をさがすことによつて、計算機３０は
多位置検査装置２６により検出された欠陥をそれ
らを作るそれぞれの空洞に相関することができ
る。

米国特許第3313409号に開示されているとおり、
多位置検査装置２６および２８は検査ライン１
４，１６および１８から欠陥のびんを取り除く不
合格位置を含むことができる。しかし周知のとお
り、別の不合格位置は米国特許第3757940号に開
示されているとおり各検査装置の下流に置くこと
ができる。同特許第3757940号は、計算機３０に
対するライン２６ａおよび３８ａに欠陥信号を発
生させる装置をも開示している。空洞識別装置２
４および多位置検査装置２６はびんの連続ライン
を検査しているので、これらの装置からの信号は
びんを移動するコンベアの速度に比例する周波数
でクロツク・パルスを発生させることによつて、
組み合わされるびんと相関される。すなわち、検
査ループの各びんの位置は多位置検査装置の出力
により決定される。このようなクロツク・パルス
の発生装置は前記特許第3757940号に開示されて
いる。

プログラムは次にもう１つの処理命令「欠陥ご
との空洞当たり不合格百分比率を空洞不合格比と
して算出する」を入力する。一次検査ループ１４
のいろいろな検査装置から得られた空洞および欠
陥情報を利用して、計算機は各特定の空洞に作ら
れたびんに見られる欠陥の種類ならびに頻度に関
する百分率を算出することができる。したがつて
この空洞不合格比は、検査中のびんのすべてに適
用される一次検査ループ１４にあるびんの原型に
関する統計サンプリングである。びんのサンプリ
ングに基づく空洞不合格比は、一次検査ライン１
４へのびんの配分がランダムであるかぎり、検査
すべきびんの全ラインについて妥当である。びん
は徐冷がまアンローダ１１によつて徐冷がまから
ランダムに取り出され、かつコンベア１２から一
次検査ループ１４または二次検査ループ１６か１
８のどちらか１つにランダムに選択されるので、
受け入れられる程度のランダムさが保証される。

空洞不合格比が算定されると、計算機３０は判
断点「すべての空洞不合格比が高すぎないか？」
を入力する。計算機３０は算出された不合格比を
所定の受け入れられる許容限界レベルと比較す
る。空洞不合格比が所定のレベルより小であれ
ば、プログラムは「ノー」で処理命令「各ループ
からの各欠陥についての全不合格比を、他のルー
プからの対応する比に比較する」に分岐する。空
洞不合格比が許容限界レベルを越えると、プログ
ラムは「イエス」で処理命令「欠陥空洞を修正す
るように成形作業員に警報する」に分岐する。計
算機３０は機能不良の型および検出される欠陥の
種類の正体を成形作業員に知らせるために、入出
力装置３２に対する適当な信号を発生させる。こ
のように、仕上品制御器は生産ライン機器の性能
を監視・記録する。

プログラムは次に、処理命令「各ループからの
全不合格比を、他のループからの対応する比に比
較する」を入力するが、ここで計算機は欠陥のあ
らゆる型の全不合格比がループによつて違うかど
うかを調べる。プログラムは次に、判断点「検査
装置のどれかが機能不良ではないか？」を入力す
る。１つのループからの特定の欠陥についての全
不合格比が他のループの同じ欠陥についての全不
合格比から所定の量を越えて異なることを計算機
が決定すると、１つの検査ループにあるいろいろ
な検査装置の１つは、欠陥と思われるびんを不合
格にしなかつたり、市場で許容される容器を誤つ
て不合格にすることによつて機能不良である。プ
ログラムは「イエス」で処理命令「欠陥の種類を
決定する」に分岐して、不良検査機器の捜索を狭
める。

プログラムは次に、もう１つの処理命令「不良
検査機器を発見・修正することを整備員に警報す
る」を入力する。計算機３０は、特定な１つの形
の検査機器が正しく作動していない旨を整備員に
知らせる入出力装置３２に対する適当な信号を発
生させる。プログラムは次に処理命令「ジヨブ・
ヒストリー・フアイルを更新する」に戻る。もし
判断点、「検査装置のどれかが機能不良ではない
か？」で検査装置が機能不良でないと決定された
ら、プログラムは「ノー」で処理命令「ジヨブ・
ヒストリー・フアイルを更新する」に直接分岐す
る。

計算機３０はマサチユーセツツ州メイナードの
デイジタル・イクイツプメント・コーポレーシヨ
ン製LSI−１１計算機であつたり、市販で入手し
得る多数のミニ計算機あるいはマイクロ計算機の
どれであつてもよい。さらに、計算機３０は個別
部品として、欠陥情報を収集する計数器を利用す
るハードワイヤー回路を実現し得る。例えば、ア
ツプ／ダウン計数器は、ライン２０ａに接続され
るアツプ計数の入力ならびにライン２４ａに接続
されるダウン計数の入力を持ち、衝撃シミユレー
タ２２によつて不合格とされたびんの数を表わす
計数の合計を作ることができる。各空洞および各
種欠陥用の別の計数器はライン２４ａから駆動さ
れ、欠陥ごとの空洞当たりの各不合格を計数する
ためにライン２６ａに接続される計数入力を持
つ。各計数器の出力は所定の記憶された計数の合
計に対して比較され、整備員に対する信号を発生
させる。循環リセツト信号は、所定数のびんがサ
ンプル方式で検査されてから計数器を払うために
発生されることがある。

別の作動形態として、計算機３０は、欠陥と断
定された型で成形されるすべてのびんが二次ルー
プの１つにある機能不良の検査装置を識別するた
めに下流の空洞識別装置で検出されるかどうかを
調べることができる。処理命令「各ループからの
各欠陥についての全不合格比を他のループからの
対応する比に比較する」の代わりに、プログラム
は処理命令「空洞不合格比を下流の識別装置デー
タに比較する」を入力することができ、この場合
計算機は欠陥と断定された型で成形されるすべて
のびんが下流の空洞識別装置４０で検出されるか
どうかを調べる。プログラムは次に、判断点「検
査装置のどれかが機能不良ではないか？」を入力
する。もし下流の空洞識別装置４０が不合格比に
より機能不良と断定された型で成形された特定の
びんを識別するならば、二次検査ループ１６また
は１８の１つにあるいろいろな検査装置の１つ
は、欠陥と思われるびんを不合格にしなかつた
り、市場で許容される容器を誤つて不合格にする
ことによつて機能不良である。

特許法の規定により、本発明の主旨および作動
形態がその好適実施例において説明された。しか
し、本発明はその主旨または範囲内で詳しく図示
されかつ説明された以外の方法で実施し得ること
を理解しなければならない。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による仕上品制御器の平行検査
ラインおよび計算機を示す概略図、第２図は第１
図の計算機の主プログラムの流れ図である。 １０……徐冷がま；１１……徐冷がまアンロー
ダ；２０，３４……びん計数器；２２，３６……
衝撃シミユレータ；２４，４０……空洞識別装
置；２６，３８……多位置検査装置；１４，１
６，１８……検査ループ；３０……計算機；３２
……入出力装置；４０……空洞識別装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 成形されたすべてのガラス容器に各成形型に
   独自な識別記号をつける成形型の中で該ガラス容
   器が成形される成形機と、ガラス容器群の欠陥を
   並列的に検査する装置とを含むガラス容器生産ラ
   インにおいて、複数個のガラス容器出所から各容
   器の出所を識別する記号を備えているガラス容器
   を検査する装置であつて、おのおのがガラス容器
   群の一部を受ける第１検査ループおよび第２検査
   ループと、該第１検査ループ内で容器の欠陥を検
   査する第１検査手段、該第２検査ループ内で容器
   の欠陥を検査する第２検査手段、および第１検査
   ループ内にあつて各容器の出所識別記号に応答し
   て作動する容器出所識別装置とを含む前記容器検
   査装置において、欠陥に関する情報を取得する装
   置をさらに有し、該欠陥情報取得装置は、 (a) 前記の第１検査手段と前記の第１検査ループ
   内の容器出所識別装置とに応答して作動して、
   第１検査ループで検査された容器において検出
   された欠陥と、該欠陥を作つた出所との相関関
   係を指示し、そして、前記の第２検査手段に応
   答して作動して、第２検査ループで検査された
   容器の欠陥に関する情報を取得する情報取得手
   段、 (b) 第１検査ループおよび第２検査ループに入る
   ガラス容器を計数し、そして上記の情報取得手
   段を応答作動させる容器計数装置、 (c) 前記の容器計数装置と前記の第１検査ループ
   内の容器出所識別装置との間に存在する第１検
   査ループ内の位置に配置された衝撃シミユレー
   タ装置、および (d) 第１検査ループおよび第２検査ループの出口
   部に配置され、各容器の出所識別記号に応答し
   て作動する容器出所識別装置 を有し、 前記の欠陥情報取得手段が、第１検査ループ内
   の容器計数装置によつて計数された容器の数か
   ら、前記の第１検査ループ内の容器出所識別装置
   によつて求められた容器の数を引いて、前記衝撃
   シミユレータ装置によつて除去された容器の数を
   求める操作を行い、さらにまた、 前記の情報取得手段が、前記の出口部に配置さ
   れた容器出所識別装置に応答して作動して、前記
   の第１検査手段および第２検査手段の機能不良を
   検出する ことを特徴とする容器検査装置。