JPH0155460B2 - - Google Patents

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JPH0155460B2
JPH0155460B2 JP57226716A JP22671682A JPH0155460B2 JP H0155460 B2 JPH0155460 B2 JP H0155460B2 JP 57226716 A JP57226716 A JP 57226716A JP 22671682 A JP22671682 A JP 22671682A JP H0155460 B2 JPH0155460 B2 JP H0155460B2
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JP
Japan
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film
address lines
transistor
ground conductor
matrix array
Prior art date
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Application number
JP57226716A
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Japanese (ja)
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JPS59119379A (en
Inventor
Koji Suzuki
Mitsushi Ikeda
Toshio Aoki
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Toshiba Corp
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Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、トランジスタをマトリクスアレイに
構成して駆動回路として用いた薄型表示装置の改
良に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to an improvement in a thin display device in which transistors are arranged in a matrix array and used as a drive circuit.

〔発明の技術的背景〕[Technical background of the invention]

近年スイツチングトランジスタをマトリクスア
レイに構成して駆動回路とした薄型表示装置が注
目されている。この方法は、基板上に設けられた
スイツチングトランジスタマトリクスの各ドツト
に画像情報を蓄積しておき、これら画像情報をマ
トリクスアレイ上に設けられた液晶層、EL層又
はEC層の各ドツトに対応した位置に表示を行な
い、所望の画像を得ようとするものであり、従来
の表示装置の主流であつたCRTを用いた方法に
比べ、原理的にはるかに薄型の表示装置が実現で
きる。又、CRTの表示原理がけい光物質に高エ
ネルギーの電子ビームを衝突させ発光させるた
め、全画面が常に表示されているわけでなく、人
間の目の残像現象を利用したものとなつており、
フリツカー雑音等があり見易さに問題があつた。
これに対し、トランジスタマトリクスアレイを用
いた表示装置はほぼ全時間表示となりCRTより
も自然な画面を得ることができる。更に、CRT
に比べ、平坦な画面が得られること、高圧電源を
必要としないこと、真空領域が必要でなく、全固
体装置であるため小型軽量で十分な強度が得られ
ること、などの特徴を有する。
2. Description of the Related Art In recent years, thin display devices in which switching transistors are arranged in a matrix array and used as a driving circuit have been attracting attention. In this method, image information is accumulated in each dot of a switching transistor matrix provided on a substrate, and this image information is applied to each dot of a liquid crystal layer, EL layer, or EC layer provided on a matrix array. This method attempts to obtain the desired image by displaying the image at the desired position, and in principle, it is possible to realize a display device that is much thinner than the method using CRT, which was the mainstream of conventional display devices. In addition, the CRT's display principle is that a high-energy electron beam collides with a fluorescent material to emit light, so the entire screen is not always displayed, and the CRT utilizes the afterimage phenomenon of the human eye.
There was a problem with visibility due to Fritzker noise.
On the other hand, a display device using a transistor matrix array displays almost the entire time and can provide a more natural screen than a CRT. Furthermore, CRT
Compared to , it has the following characteristics: it can provide a flat screen, it does not require a high-voltage power supply, it does not require a vacuum area, and because it is an all-solid-state device, it is small and lightweight and has sufficient strength.

第1図はトランジスタマトリクスアレイの基本
構成を示す概略図である。表示画面はたてm本、
横n本のマトリクス状に分割され全部でm・n個
の単位画素に分割されている。各マトリクスの交
点C11,C12…Cij…Cnoはスイツチングトランジス
タによるメモリ機能を持つ画素回路が構成されて
おり、ここに各画素の画像情報が蓄えられ、この
情報に従つてマトリクスアレイ上に設けられた液
晶、EL又はEC層の各画素に対応した領域で表示
が実現されるようになつている。
FIG. 1 is a schematic diagram showing the basic configuration of a transistor matrix array. The display screen is vertical.
It is divided into a matrix of n horizontal lines, and is divided into m·n unit pixels in total. At the intersections C 11 , C 12 ...C ij ...C no of each matrix, a pixel circuit with a memory function is constructed using a switching transistor, and the image information of each pixel is stored here, and the matrix array is processed according to this information. Display is realized in areas corresponding to each pixel of the liquid crystal, EL, or EC layer provided above.

具体的な画素回路は第2図又は第3図に示され
るような単純な構成のものが使用されている。こ
れは高精細な表示画面を得るためには、マトリク
スの大きさm・nが非常に大きくなり、高歩留り
でマトリクスアレイを作成するためにはより単純
な回路が望まれるためである。第2図は、液晶駆
動に用いられる画素回路で実質的に直流駆動で表
示を行なう場合、第3図はEL表示のときで、交
流駆動表示を行なう場合によく用いられる回路で
ある。第2図において21はスイツチングトラン
ジスタ、22は液晶層、23は画像信号を蓄積す
る容量である。トランジスタ21のゲートは第i
番目のアドレスラインXiに接続され、ソース電極
は第j番目のデータラインYjに接続されている。
アドレスラインXi及びデータラインYjはそれぞ
れV(Xi)、V(Yj)の電源が接続されている。ア
ドレスラインXiにトランジスタ21をON状態に
する信号が入つたとき、トランジスタ21のチヤ
ンネルが導通し、このときデータラインYjに用
意された画像信号が容量23に蓄積され、デート
電圧V(Xi)が雰の間その信号はCsに記憶される。
この蓄積された画像信号に対応して、液晶22が
駆動される。なお、アドレスラインXi上の他のト
ランジスタも全て同時にON状態となり、それぞ
れ、そのときの各データライン上に用意された画
像信号V(Y1)、V(Y2)…V(Yo)が各画素回路
Ci1,Ci2…Cioに蓄積される。同様にしてXi+1
Xi+2…というふうに各アドレスラインの順次駆動
により画像信号が次々に蓄積されていき、全画面
の信号が書き込まれることになる。
A specific pixel circuit having a simple configuration as shown in FIG. 2 or 3 is used. This is because in order to obtain a high-definition display screen, the matrix size m·n becomes extremely large, and in order to create a matrix array with a high yield, a simpler circuit is desired. FIG. 2 shows a pixel circuit used to drive a liquid crystal when the display is substantially driven by direct current, and FIG. 3 shows an EL display, which is a circuit often used when performing an alternating current drive display. In FIG. 2, 21 is a switching transistor, 22 is a liquid crystal layer, and 23 is a capacitor for storing image signals. The gate of the transistor 21 is the i-th
It is connected to the jth address line X i and its source electrode is connected to the jth data line Y j .
The address line X i and the data line Y j are connected to power supplies of V(X i ) and V(Y j ), respectively. When a signal that turns on the transistor 21 is input to the address line X i , the channel of the transistor 21 becomes conductive, and at this time, the image signal prepared for the data line Y j is accumulated in the capacitor 23, and the date voltage V(X i ) while the signal is stored in Cs .
The liquid crystal 22 is driven in accordance with this accumulated image signal. Note that all other transistors on the address line X i are also turned on at the same time, and the image signals V(Y 1 ), V(Y 2 )...V(Y o ) prepared on each data line at that time are respectively turned on. is each pixel circuit
C i1 , C i2 ... are accumulated in C io . Similarly, X i+1 ,
Image signals are accumulated one after another by sequentially driving each address line in this way, and signals for the entire screen are written.

第3図は2個のスイツチングトランジスタ31
a,31bを用いるもので、画像信号は第2図と
同様な原理により、トランジスタ31aのスイツ
チングにより容量33に蓄積される。画素Cij
動作タイミングは第2図の場合と同様にアドレス
ラインXi及びデータラインYjの電源V(Xi)、V
(Yj)により制御される。第3図の場合、画像信
号は2つ目のトランジスタ31bのスイツチング
を制御し、例えばEL層などの表示層32の駆動
を行なう。第3図では第2図と異なり、表示層3
2の一端に与える電圧Vcとして交流電圧を用い
ることができるため、EL層駆動が可能となる。
Figure 3 shows two switching transistors 31.
A and 31b are used, and the image signal is stored in the capacitor 33 by switching the transistor 31a based on the same principle as shown in FIG. The operation timing of the pixel C ij is the same as in the case of FIG. 2, when the power supplies V (X i ) and V
(Y j ). In the case of FIG. 3, the image signal controls the switching of the second transistor 31b to drive the display layer 32, such as an EL layer. In Fig. 3, unlike Fig. 2, the display layer 3
Since an alternating current voltage can be used as the voltage V c applied to one end of 2, the EL layer can be driven.

以上が第1図に示すトランジスタマトリクスア
レイを用いた薄型表示装置の動作原理である。
The above is the operating principle of the thin display device using the transistor matrix array shown in FIG.

第4図は従来のトランジスタマトリクスアレイ
を用いた液晶表示装置の断面構造を示す図であ
る。絶縁性基板41上に、接地導体膜42を全面
に設け、更に絶縁膜43を形成してこの上にトラ
ンジスタのゲート電極を兼ねるアドレスライン4
4(441,442,…)が設けられる。更にこの
上にゲート絶縁膜となる絶縁膜45を介して各画
素領域に半導体薄膜46(461,462,…)を
形成し、それぞれにYアドレスライン(図示せ
ず)に接続されるソース電極47(471,47
,…)、ドレイン電極と蓄積容量電極を兼ねた表
示電極48(481,482,…)が設けられる。
またこの基板表面は表示画素領域に孔があけられ
た絶縁膜49でおおわれている。蓄積容量は、前
述のように表示電極48を一方の端子電極とし、
接地導体膜42を他方の端子電極として、この間
に挾まれた絶縁膜43,45を用いて構成されて
いる。このように構成されたトランジスタマトリ
クスアレイと透明電極51を形成したガラス基板
50との間に液晶52を挾持することにより、液
晶表示装置が構成されている。
FIG. 4 is a diagram showing a cross-sectional structure of a liquid crystal display device using a conventional transistor matrix array. A ground conductor film 42 is provided on the entire surface of an insulating substrate 41, an insulating film 43 is further formed, and an address line 4 which also serves as a gate electrode of a transistor is formed thereon.
4 (44 1 , 44 2 , . . . ) are provided. Furthermore, a semiconductor thin film 46 (46 1 , 46 2 ,...) is formed in each pixel region via an insulating film 45 serving as a gate insulating film, and a source connected to a Y address line (not shown) is formed on each pixel region. Electrode 47 (47 1 , 47
2 ,...), and display electrodes 48 ( 481 , 482 ,...) which serve as drain electrodes and storage capacitor electrodes are provided.
Further, the surface of this substrate is covered with an insulating film 49 having holes in the display pixel area. As mentioned above, the storage capacitor uses the display electrode 48 as one terminal electrode,
It is constructed using the ground conductor film 42 as the other terminal electrode and the insulating films 43 and 45 sandwiched therebetween. A liquid crystal display device is constructed by sandwiching a liquid crystal 52 between the transistor matrix array constructed in this way and a glass substrate 50 on which a transparent electrode 51 is formed.

このようなトランジスタマトリクスアレイにお
いては、接地導体膜42が基板上に一様に設けら
れるため工程は比較的単純である。しかし、図示
のように絶縁層のピンホール53a,53b等を
通じて、アドレスライン441あるいは表示電極
481が接地導体膜42と短絡することがしばし
ば生ずる。ピンホール53bによる影響は、一つ
の画素欠陥を生ずるだけであるため、絶縁層のピ
ンホール密度に比例して、欠陥を改善できる。と
ころがピンホール53aによる欠陥は、そのアド
レスライン441によつて駆動されるすべての画
素回路が動作しなくなるため、線欠陥となつてあ
らわれる。ピンホール密度を改善してもこのよう
な致命的な線欠陥を全くなくすことは大規模なマ
トリクスアレイでは極めて困難である。
In such a transistor matrix array, the process is relatively simple because the ground conductor film 42 is uniformly provided on the substrate. However, as shown in the figure, it often happens that the address line 44 1 or the display electrode 48 1 is short-circuited to the ground conductor film 42 through pinholes 53a, 53b, etc. in the insulating layer. Since the pinhole 53b causes only one pixel defect, the defect can be improved in proportion to the pinhole density of the insulating layer. However, the defect caused by the pinhole 53a appears as a line defect because all the pixel circuits driven by the address line 44 1 stop operating. Even if the pinhole density is improved, it is extremely difficult to completely eliminate such fatal line defects in large-scale matrix arrays.

第5図は、このようなピンホールによる欠陥を
除くことができるトランジスタマトリクスアレイ
を用いた例である。第4図と異なる点は、接地導
体膜42(421,422,…)をアドレスライン
44と平行な線状パターンとしてアドレスライン
44と同一平面上に配設したことである。接地導
体膜42は勿論、基板端部で全て接地電位にバイ
アスされて使用される。
FIG. 5 shows an example using a transistor matrix array that can eliminate defects caused by such pinholes. The difference from FIG. 4 is that the ground conductor films 42 (42 1 , 42 2 , . . . ) are arranged in a linear pattern parallel to the address lines 44 on the same plane. Of course, the ground conductor film 42 is used with the entire edge of the substrate biased to the ground potential.

ところが、この構造では、アドレスライン44
と接地導体膜42と同一導電膜のパターニングに
より形成することから、パターン形成のマスクの
泥れ、露光エツチング時のゴミの影響等で、これ
らが十分に所望のパターンに形成されず、電極材
料が一部のこることが生ずる。
However, in this structure, the address line 44
Since it is formed by patterning the same conductive film as the ground conductor film 42, the desired pattern may not be formed sufficiently due to mud from the mask for pattern formation, dust during exposure etching, etc. Some things happen.

このことは、マトリクスのセルサイズの高精細
化により、アドレスライン44と接地導体膜42
の分離領域が狭くなつた場合に、確実な分離が難
しくなることを意味する。
This is because the address line 44 and the ground conductor film 44
This means that if the separation area becomes narrower, reliable separation becomes difficult.

そして、アドレスライン44と接地導体膜42
の短絡箇所が1つであると、これは先のピンホー
ル53aによる欠陥の場合と同様に線欠陥となつ
て現われる。
Then, the address line 44 and the ground conductor film 42
If there is only one short-circuit location, this will appear as a line defect, similar to the defect caused by the pinhole 53a described above.

以上のようなアドレスラインの接地電極との短
絡は、大画面の表示装置、大規模なマトリクスア
レイ、高精細なマトリクスアレイでは極めて高い
確率で生じうる。一方、表示装置としては、この
ような致命的な線欠陥は一本でも生ずることが許
されないため、従来のトランジスタマトリクスア
レイ構造では、大画面の高精細な表示装置を実現
することが困難であつた。
A short circuit between the address line and the ground electrode as described above can occur with an extremely high probability in a large-screen display device, a large-scale matrix array, or a high-definition matrix array. On the other hand, in a display device, even one fatal line defect cannot be allowed to occur, so it is difficult to realize a large-screen, high-definition display device with the conventional transistor matrix array structure. Ta.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は上記の点にかんがみ、表示画面の線欠
陥を生じることのないトランジスタマトリクスア
レイ構造を用いた薄型表示装置を提供することを
目的とする。
In view of the above points, it is an object of the present invention to provide a thin display device using a transistor matrix array structure that does not cause line defects on the display screen.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明の概要を第6図を参照して説明する。同
図aは本発明によるトランジスタマトリクスアレ
イのアドレスライン及び接地導体膜部分の構造を
示す平面図、同図bはそのA―A′断面図である。
即ち本発明においては、絶縁性基板61上にまず
接地導体膜62(621,622,…)を帯状パタ
ーンに複数本配設し、この上に絶縁膜63を介し
て接地導体膜62と平行してこれと重ならないよ
うにアドレスライン64(641,642,…)を
配設する。
An overview of the present invention will be explained with reference to FIG. FIG. 5A is a plan view showing the structure of the address line and ground conductor film portion of a transistor matrix array according to the present invention, and FIG.
That is, in the present invention, first, a plurality of ground conductor films 62 (62 1 , 62 2 , . . . ) are disposed in a strip pattern on an insulating substrate 61, and then the ground conductor films 62 and 62 are disposed on the insulating substrate 61 via an insulating film 63. Address lines 64 (64 1 , 64 2 , . . . ) are arranged in parallel so as not to overlap.

なお、パターニング位置の多少のズレ等は現実
に起こりうるので接地導体膜62とアドレスライ
ン64とがマスク合せずれがあつても重ならない
ように、予め間隙67を設けておくことが望まし
い。間隙67の大きさは、露光装置によるパター
ン合わせの許容量程度を考えておけばよい。例え
ば、第1図でアドレスラインX1からXnまでの長
さが10cm程度以下の大きさであれば、前記間隙6
7は2μm程度、10cm以上ではその長さの約2×
10-5倍(例えば20cmでは4μm程度)位が適当であ
る。しかし、この値はもちろんその露光装置に依
存する。要は前記間隙67が少しでも存在するこ
とが本発明の効果を著しく増大させる。又、絶縁
膜63の接地導体膜62のパターニング端での完
全な絶縁性を保つためには、絶縁膜63の厚みは
接地導体膜62の厚み以上にすることが望まし
い。
Incidentally, since some deviation in the patterning position may actually occur, it is desirable to provide a gap 67 in advance so that the ground conductor film 62 and the address line 64 do not overlap even if there is a mask misalignment. The size of the gap 67 may be determined by considering the allowable amount of pattern alignment by the exposure device. For example, if the length from address lines X 1 to X n in FIG. 1 is approximately 10 cm or less, the gap 6
7 is about 2 μm, and for 10 cm or more, it is about 2 times the length.
Approximately 10 -5 times (for example, about 4 μm for 20 cm) is appropriate. However, this value naturally depends on the exposure device. In short, the presence of even a small gap 67 significantly increases the effects of the present invention. Further, in order to maintain complete insulation at the patterned end of the ground conductor film 62 of the insulating film 63, it is desirable that the thickness of the insulating film 63 be greater than the thickness of the ground conductor film 62.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明においては、アドレスラインと接地導体
膜の接触はほぼ完全になくなり、線欠陥のない薄
型表示パネルを高歩留りで実現することができ
る。本発明の構造でアドレスラインと接地導体間
の接触が生ずるのは、第6図に示したように、絶
縁膜63のピンホール65が、接地導体膜62の
不完全パターン領域66に重なる場合であつて、
このように両者の欠陥が同一箇所に生ずることは
最近のIC製造工程においては極めて確率が低く、
殆んど問題にならない。
In the present invention, contact between the address line and the ground conductor film is almost completely eliminated, and a thin display panel without line defects can be realized with high yield. In the structure of the present invention, contact between the address line and the ground conductor occurs when the pinhole 65 of the insulating film 63 overlaps the incomplete pattern area 66 of the ground conductor film 62, as shown in FIG. It's hot,
In recent IC manufacturing processes, the probability that both defects occur in the same location is extremely low.
It's hardly a problem.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

第7図a,bは本発明による一実施例の液晶表
示装置の投影平面図とそのB―B′断面図である。
トランジスタマトリクスアレイの大きさはアドレ
スライン数220、データライン数240、アドレスラ
インのピツチは200μm、データラインのピツチは
250μm、全体の表示部は44×60mmで全部で56400
個の画素回路からなる。第7図a,bはその一部
を示すものである。製造工程に従つて説明する
と、ガラス基板71上に、まず透明導電膜で複数
本の接地導体膜72(721,722,…)をパタ
ーニングする。次に、常圧CVD法により約1500
Åの厚みのSiO2膜73を堆積させ、その上にア
ドレスライン74(741,742,…)を厚さ
900ÅのMo膜で形成する。接地導体膜72とア
ドレスライン74は平行でその間隙75は5μmと
してある。しかる後、CVD法によりゲート酸化
膜となるSiO2膜76を約2500Å堆積し、次に厚
さ2000Åの透明導電膜で表示電極77(771
772,…)を形成し、アモルフアスシリコン膜
78(781,782,…)を厚さ1500Å堆積して
それぞれ露光エツチング技術により所望の大きさ
にパターニングする。そして、厚さ5000ÅのAl
膜によりソース電極兼データライン79(791
792,…)およびドレイン電極80(801,8
2,…)を形成する。そして厚さ6000Åのスパ
ツタSiO2膜81を堆積させ表示電極77上の
SiO2膜をエツチンング除去してマトリクスアレ
イを完成させる。表示パネルとするため透明電極
82を形成したガラス基板83をマトリクスアレ
イに対向させ、この間に液晶84を封入保持する
ことにより全工程が終了する。
FIGS. 7a and 7b are a projected plan view and a sectional view taken along the line BB' of a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.
The size of the transistor matrix array is 220 address lines and 240 data lines, the pitch of the address lines is 200 μm, and the pitch of the data lines is 220.
250μm, total display area is 44 x 60mm, total 56400
It consists of several pixel circuits. Figures 7a and 7b show a part of it. To explain the manufacturing process, first, a plurality of ground conductive films 72 (72 1 , 72 2 , . . . ) are patterned using a transparent conductive film on a glass substrate 71 . Next, approximately 1500
A SiO 2 film 73 with a thickness of Å is deposited, and address lines 74 (74 1 , 74 2 ,...) are formed on it with a thickness of
Formed with a 900Å Mo film. The ground conductor film 72 and the address line 74 are parallel to each other, and the gap 75 therebetween is 5 μm. Thereafter, a SiO 2 film 76, which will become a gate oxide film, is deposited to a thickness of approximately 2500 Å using the CVD method, and then a transparent conductive film 77 77 (77 1 , 77 1 ,
77 2 , . . . ), and an amorphous silicon film 78 ( 78 1 , 78 2 , . . . ) is deposited to a thickness of 1500 Å and patterned to a desired size by exposure etching. And 5000 Å thick Al
The film serves as a source electrode and data line 79 (79 1 ,
79 2 ,...) and the drain electrode 80 (80 1 , 8
0 2 ,...). Then, a sputtered SiO 2 film 81 with a thickness of 6000 Å is deposited on the display electrode 77.
The SiO 2 film is removed by etching to complete the matrix array. The entire process is completed by placing a glass substrate 83 on which a transparent electrode 82 is formed to face the matrix array to form a display panel, and holding a liquid crystal 84 therebetween.

本実施例の効果を調べるために、第4図および
第5図を示す従来構造のトランジスタマトリクス
アレイも試作した。それぞれの従来構造のアレイ
では、各電極及び絶縁膜の材料、厚み、パターン
の大きさ及び形成条件は第7図の実施例と同一と
している。その結果、第4図に示す構造では220
本のアドレスラインのうち接地電極と短絡して線
欠陥となつたのは約5%であつた。又、第5図の
ものでは約20%あつた。これに対し本実施例の場
合、このような短絡は全くなくその効果が実証さ
れた。
In order to examine the effects of this embodiment, a transistor matrix array of the conventional structure shown in FIGS. 4 and 5 was also prototyped. In each conventional array, the material, thickness, pattern size, and formation conditions of each electrode and insulating film are the same as in the embodiment shown in FIG. As a result, in the structure shown in Figure 4, 220
Approximately 5% of the book's address lines were short-circuited to the ground electrode, resulting in line defects. In addition, the temperature in Figure 5 was about 20%. On the other hand, in the case of this example, there was no such short circuit at all, and its effect was verified.

なお本発明は上記実施例に限定されるものでは
ない。例えば、接地導体膜は透明導電膜に限ら
ず、Al、Mo等パターニング可能ないかなる金属
材料であつてもよいし、アドレスラインもMoに
限られない。又、絶縁膜はSiO2膜に限らず、そ
の製造もCVDの他、スパツタ、塗布法、陽極酸
化法などを用い得る。又、薄膜トランジスタはア
モルフアスSiを用いたものに限らず、多結晶Si、
CdSe、CdS、Te等十分なスイツチング特性が得
られるものならばなんでもよい。表示材料も液晶
に限らず、EL、EC等でも可能で、単位画素回路
構成も例えば第3図に示すものであつてもよい。
Note that the present invention is not limited to the above embodiments. For example, the ground conductor film is not limited to a transparent conductive film, and may be any metal material that can be patterned, such as Al or Mo, and the address line is not limited to Mo. Further, the insulating film is not limited to the SiO 2 film, and its manufacture can also be performed using CVD, sputtering, coating, anodizing, or the like. In addition, thin film transistors are not limited to those using amorphous Si, but also polycrystalline Si,
Any material can be used as long as sufficient switching characteristics can be obtained, such as CdSe, CdS, Te, etc. The display material is not limited to liquid crystal, but may also be EL, EC, etc., and the unit pixel circuit configuration may be as shown in FIG. 3, for example.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図はトランジスタマトリクスアレイの構成
を示す図、第2図および第3図は画素回路の構成
例を示す図、第4図および第5図は従来のトラン
ジスタマトリクスアレイを用いた液晶表示装置の
断面図、第6図a,bは本発明におけるトランジ
スタマトリクスアレイの要部構成を示す平面図と
そのA―A′断面図、第7図a,bは本発明によ
る一実施例の液晶表示装置を示す投影平面図とそ
のB―B′断面図である。 61……絶縁性基板、62(621,622
…)……接地導体膜、63……絶縁膜、64(6
1,642,…)……アドレスライン、71……
ガラス基板、72(711,722,…)……接地
導体膜、73……SiO2膜、74(741,742
…)……アドレスライン、76……SiO2膜、7
7(771,772,…)……表示電極、78(7
1,782,…)……アモルフアスSi膜、79
(791,792,…)……ソース電極兼データラ
イン、80(801,802,…)……ドレイン電
極、81……SiO2膜、82……透明電極、83
……ガラス基板、84……液晶。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of a transistor matrix array, FIGS. 2 and 3 are diagrams showing an example of the configuration of a pixel circuit, and FIGS. 4 and 5 are diagrams of a liquid crystal display device using a conventional transistor matrix array. 6a and 6b are plan views showing the configuration of essential parts of a transistor matrix array according to the present invention, and its AA' cross-sectional view, and FIGS. 7a and 7b are a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a projected plan view and a cross-sectional view taken along line BB'. 61... Insulating substrate, 62 (62 1 , 62 2 ,
...)...Grounding conductor film, 63...Insulating film, 64 (6
4 1 , 64 2 ,...)...address line, 71...
Glass substrate, 72 (71 1 , 72 2 ,...)... Ground conductor film, 73... SiO 2 film, 74 (74 1 , 74 2 ,
...) ... Address line, 76 ... SiO 2 film, 7
7 (77 1 , 77 2 ,...)...Display electrode, 78 (7
8 1 , 78 2 ,...)...Amorphous Si film, 79
(79 1 , 79 2 ,...)... Source electrode/data line, 80 (80 1 , 80 2 ,...)... Drain electrode, 81... SiO 2 film, 82... Transparent electrode, 83
...Glass substrate, 84...Liquid crystal.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 絶縁性基板上に接地導体膜を介して絶縁膜を
形成し、この絶縁膜上に、互いに平行に配列され
た複数本のアドレスラインと、これらのアドレス
ラインと直交して互いに平行に配列された複数本
のデータラインと、これらデータラインとアドレ
スラインの各交点位置に配置されソース、ゲート
がそれぞれデータライン、アドレスラインに接続
された複数のスイツチングトランジスタと、これ
ら各スイツチングトランジスタのドレインに一端
が接続され他端が前記接地導体膜に接続された蓄
積容量とを集積形成してなるトランジスタマトリ
クスアレイを用いて表示素子を駆動する薄型表示
装置において、前記接地導体膜を、前記アドレス
ラインと平行してかつアドレスラインと重ならな
いように複数本の帯状パターンに配設したことを
特徴とする薄型表示装置。 2 前記表示素子が液晶であり、前記スイツチン
グトランジスタが薄膜トランジスタである特許請
求の範囲第1項記載の薄型表示装置。
[Claims] 1. An insulating film is formed on an insulating substrate via a grounded conductor film, and on this insulating film, a plurality of address lines are arranged parallel to each other, and a plurality of address lines are arranged orthogonally to these address lines. A plurality of data lines arranged parallel to each other, a plurality of switching transistors arranged at each intersection of these data lines and address lines, and whose sources and gates are connected to the data lines and the address lines, respectively; In a thin display device that drives a display element using a transistor matrix array formed by integrating a storage capacitor having one end connected to the drain of a switching transistor and the other end connected to the ground conductor film, the ground conductor film are arranged in a plurality of strip-like patterns parallel to the address lines and not overlapping with the address lines. 2. The thin display device according to claim 1, wherein the display element is a liquid crystal, and the switching transistor is a thin film transistor.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7116302B2 (en) 1991-10-16 2006-10-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Process of operating active matrix display device having thin film transistors
US7253440B1 (en) 1991-10-16 2007-08-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having at least first and second thin film transistors
US7456427B2 (en) 1991-08-26 2008-11-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Insulated gate field effect semiconductor devices and method of manufacturing the same

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0812539B2 (en) * 1985-01-29 1996-02-07 株式会社東芝 Display device and manufacturing method thereof
JPS62100737A (en) * 1985-10-28 1987-05-11 Seiko Epson Corp Liquid crystal display device
JP3042493B2 (en) 1998-05-13 2000-05-15 日本電気株式会社 Liquid crystal display device and driving method thereof

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5665176A (en) * 1979-10-31 1981-06-02 Canon Kk Display device
JPS5730882A (en) * 1980-07-31 1982-02-19 Suwa Seikosha Kk Active matrix substrate

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7456427B2 (en) 1991-08-26 2008-11-25 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Insulated gate field effect semiconductor devices and method of manufacturing the same
US7116302B2 (en) 1991-10-16 2006-10-03 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Process of operating active matrix display device having thin film transistors
US7253440B1 (en) 1991-10-16 2007-08-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having at least first and second thin film transistors

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