JPH0157310B2 - - Google Patents
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- JPH0157310B2 JPH0157310B2 JP54036880A JP3688079A JPH0157310B2 JP H0157310 B2 JPH0157310 B2 JP H0157310B2 JP 54036880 A JP54036880 A JP 54036880A JP 3688079 A JP3688079 A JP 3688079A JP H0157310 B2 JPH0157310 B2 JP H0157310B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- control circuit
- current
- circuit
- test device
- voltage
- Prior art date
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 31
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 6
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は回路しや断器の試験装置に関するもの
である。
である。
回路しや断器は配電系統に取付ける前の動作点
検や取付後の定期的な保守点検の際に負荷線路に
実際に過負荷電流を流すことなく、手軽に点検で
きることが望ましい。特に負荷線路の過負荷電流
を検出し引外しコイルを駆動する電子式制御回路
を備えたしや断器においては、上記制御回路単位
の点検と、この回路と共に引外しコイル・開閉機
構・接点等の機械部分を含めた総合的な点検を行
い、不良発生個所が回路部分と機械部分のいづれ
にあるかを容易かつ即座に確認できるのが望まし
い。
検や取付後の定期的な保守点検の際に負荷線路に
実際に過負荷電流を流すことなく、手軽に点検で
きることが望ましい。特に負荷線路の過負荷電流
を検出し引外しコイルを駆動する電子式制御回路
を備えたしや断器においては、上記制御回路単位
の点検と、この回路と共に引外しコイル・開閉機
構・接点等の機械部分を含めた総合的な点検を行
い、不良発生個所が回路部分と機械部分のいづれ
にあるかを容易かつ即座に確認できるのが望まし
い。
本発明は上記の要求を満足するために考えられ
たものであり、以下実施例を用いて詳述する。
たものであり、以下実施例を用いて詳述する。
第１図において試験装置１４には長限時引外し
テストと瞬時引外しテストの選択が出来るように
切換スイツチ３を設けている。長限時引外しテス
トでは切換スイツチをａ側に倒しておく。電源ス
イツチ１６を投入するとAC100V商用電源１は変
圧器２で変圧され、整流器９で全波整流され、コ
ンデンサ１０で平滑され、コンデンサ１０の両端
にほぼ直流に近い電圧を生じる。この電圧は抵抗
Ｒ１を通し、ツエナーダイオードZD1をブレーク
ダウンさせ、トランジスタTr１を導通させる。
この時、トランジスタTr１のコレクタ電流はツ
エナーダイオードZD1による一定電圧VZD1と抵
抗R0によつて定まる一定電流となるので、抵抗
R0を適当に選択することにより試験装置１４は
長限時引外しテストに必要な検出電流に相当する
模擬電流ｉを供給することができる。また瞬時引
外しテストでは切換スイツチ３をｂ側へ倒すこと
により、コンデンサ１０の電荷が抵抗R2を介し
て放電され、上記長限時引外し電流より大きな模
擬電流を瞬時的に供給する。
テストと瞬時引外しテストの選択が出来るように
切換スイツチ３を設けている。長限時引外しテス
トでは切換スイツチをａ側に倒しておく。電源ス
イツチ１６を投入するとAC100V商用電源１は変
圧器２で変圧され、整流器９で全波整流され、コ
ンデンサ１０で平滑され、コンデンサ１０の両端
にほぼ直流に近い電圧を生じる。この電圧は抵抗
Ｒ１を通し、ツエナーダイオードZD1をブレーク
ダウンさせ、トランジスタTr１を導通させる。
この時、トランジスタTr１のコレクタ電流はツ
エナーダイオードZD1による一定電圧VZD1と抵
抗R0によつて定まる一定電流となるので、抵抗
R0を適当に選択することにより試験装置１４は
長限時引外しテストに必要な検出電流に相当する
模擬電流ｉを供給することができる。また瞬時引
外しテストでは切換スイツチ３をｂ側へ倒すこと
により、コンデンサ１０の電荷が抵抗R2を介し
て放電され、上記長限時引外し電流より大きな模
擬電流を瞬時的に供給する。
Q2は模擬電流供給線２０，２０′間に抵抗R13
を介して接続されたサイリスタ、ZD2はカソード
側が発光部１９を介して供給線２０に接続され、
アノード側が抵抗Ｒ１１，Ｒ１２を介して供給線
２０′に接続されたツエナー電圧V3のツエナーダ
イオードで、抵抗Ｒ１２にコンデンサ１７を並列
接続し、抵抗Ｒ１１，Ｒ１２の接続点をサイリス
タQ2のゲートに接続している。１８はサイリス
タQ2のゲートと供給線２０′の間に接続された切
換スイツチで、閉じることによりサイリスタQ2
のゲートを供給線２０′の電位に落とす。
を介して接続されたサイリスタ、ZD2はカソード
側が発光部１９を介して供給線２０に接続され、
アノード側が抵抗Ｒ１１，Ｒ１２を介して供給線
２０′に接続されたツエナー電圧V3のツエナーダ
イオードで、抵抗Ｒ１２にコンデンサ１７を並列
接続し、抵抗Ｒ１１，Ｒ１２の接続点をサイリス
タQ2のゲートに接続している。１８はサイリス
タQ2のゲートと供給線２０′の間に接続された切
換スイツチで、閉じることによりサイリスタQ2
のゲートを供給線２０′の電位に落とす。
しや断器の定常動作について説明すれば、負荷
線路１５の負荷電流は変流器５と変圧器５′で検
出され、この検出電流は電子式制御回路６に送出
される。
線路１５の負荷電流は変流器５と変圧器５′で検
出され、この検出電流は電子式制御回路６に送出
される。
電子式制御回路６のサイリスタQ1は最初非導
通であるから、過負荷時の検出電流ｉは引外しコ
イル１２および抵抗R9を通つてトランジスタTr
５を導通させ、従つてツエナーダイオードZD3を
ブレークダウンしたのちトランジスタTr４を導
通させる。ここで引外しコイル１２を流れる電流
はトランジスタTr５を導通させるだけで、引外
しコイル１２を動作させるには至らない微小電流
となるよう抵抗R9を十分大きく選択しておく。
トランジスタTr５およびトランジスタTr４が導
通し、抵抗R7および抵抗R8の低抗値を時限回路
７の内部抵抗に比べて十分小さく選定しておけば
変圧器５′から供給される過負荷時の検出電流ｉ
の大部分は抵抗Ｒ７、トランジスタTr４よび抵
抗Ｒ８を流れ、制御回路６の電圧Ｖは第２図ａに
示すようにツエナーダイオードZD3のツエナー電
圧VZD3と抵抗R8の降下電圧VR8の和V1となる。
この電圧V1が時限回路７に印加されると、電流
ｉの大きさに従つた（電流が増すとtoは短かくな
る）遅延時間toののち引外し信号が発生し、サイ
リスタQ1が点弧する。この点弧によりサイリス
タQ1の順方向電圧が約0.7V以下となりトランジ
スタTr４，Tr５が同時にOFFとなつてコレク
タ・エミツタ間のインピーダンスが増加する。こ
のため今までトランジスタTr４に流れていた電
流が引外しコイル１２に流れようとする。同時に
ツエナーダイオードZD4がブレークダウンし制御
回路の電圧Ｖは急上昇してこれのツエナー電圧
VZD4だけ上昇した電圧すなわち第２図ａに示す
電圧V2となる。なおV1＜V3＜V2となるように各
ツエナー電圧を設定する。
通であるから、過負荷時の検出電流ｉは引外しコ
イル１２および抵抗R9を通つてトランジスタTr
５を導通させ、従つてツエナーダイオードZD3を
ブレークダウンしたのちトランジスタTr４を導
通させる。ここで引外しコイル１２を流れる電流
はトランジスタTr５を導通させるだけで、引外
しコイル１２を動作させるには至らない微小電流
となるよう抵抗R9を十分大きく選択しておく。
トランジスタTr５およびトランジスタTr４が導
通し、抵抗R7および抵抗R8の低抗値を時限回路
７の内部抵抗に比べて十分小さく選定しておけば
変圧器５′から供給される過負荷時の検出電流ｉ
の大部分は抵抗Ｒ７、トランジスタTr４よび抵
抗Ｒ８を流れ、制御回路６の電圧Ｖは第２図ａに
示すようにツエナーダイオードZD3のツエナー電
圧VZD3と抵抗R8の降下電圧VR8の和V1となる。
この電圧V1が時限回路７に印加されると、電流
ｉの大きさに従つた（電流が増すとtoは短かくな
る）遅延時間toののち引外し信号が発生し、サイ
リスタQ1が点弧する。この点弧によりサイリス
タQ1の順方向電圧が約0.7V以下となりトランジ
スタTr４，Tr５が同時にOFFとなつてコレク
タ・エミツタ間のインピーダンスが増加する。こ
のため今までトランジスタTr４に流れていた電
流が引外しコイル１２に流れようとする。同時に
ツエナーダイオードZD4がブレークダウンし制御
回路の電圧Ｖは急上昇してこれのツエナー電圧
VZD4だけ上昇した電圧すなわち第２図ａに示す
電圧V2となる。なおV1＜V3＜V2となるように各
ツエナー電圧を設定する。
従つてサイリスタQ1が点弧すると同時に第２
図ｃに示すように引外しコイル１２は付勢を開始
し一定時間t1後に動作する（通常２ｍsec以上の
時間を要す）。この引外しコイルの動作によりし
や断器の開閉機構が働き、しや断器接点４が開離
し、負荷線路への通電を断つ。なお引外しコイル
１２の電流が動作過程において一時減少するがこ
れは可動子１２′が移動するためである。
図ｃに示すように引外しコイル１２は付勢を開始
し一定時間t1後に動作する（通常２ｍsec以上の
時間を要す）。この引外しコイルの動作によりし
や断器の開閉機構が働き、しや断器接点４が開離
し、負荷線路への通電を断つ。なお引外しコイル
１２の電流が動作過程において一時減少するがこ
れは可動子１２′が移動するためである。
またしや断器には制御回路６の検出電流供給路
にダイオードD0を順方向に接続し、このダイオ
ードの両端に試験端子１３を有している。
にダイオードD0を順方向に接続し、このダイオ
ードの両端に試験端子１３を有している。
以上のような構成において切換スイツチ１８を
開放した場合について試験装置としや断器の動作
を説明する。なおしや断器試験中は変圧器５′の
出力を一時短絡して検出信号の制御回路６への供
給を停止させておく。
開放した場合について試験装置としや断器の動作
を説明する。なおしや断器試験中は変圧器５′の
出力を一時短絡して検出信号の制御回路６への供
給を停止させておく。
試験装置１４から供給される模擬電流ｉはしや
断器のテスト端子１３から制御回路６へ伝達さ
れ、時限回路７で遅延時間t0を経た後、引外し信
号によりサイリスタQ1を点弧する。サイリスタ
Q1が点弧すると、制御回路６の電圧Ｖが第３図
ａに示すようにツエナーダイオードZD3のツエナ
ー電圧VZD3と抵抗R8の降下電圧VR8の和である
V1からツエナーダイオードZD4のツエナー電圧
VZD4だけ増加した電圧V2まで上昇しようとし、
引外しコイル１２の通電電流が次第に増加する。
制御回路６の電圧Ｖは模擬電流供給線２０，２
０′を介してツエナーダイオードZD2にも印加さ
れているため、V3まで上昇するとツエナーダイ
オードZD2がブレークダウンし、抵抗R12に電圧
が生じ、この電圧によりサイリスタQ2が点弧す
る。この時試験装置１４内の抵抗R13と発光部１
９の抵抗値を制御回路６と引外し２ｍの合成イン
ピーダンスに比べて十分低くなるように設定すれ
ば、模擬電流ｉの大部分はサイリスタQ2を流れ、
制御回路６にはわずかな電流i1しか供給されなく
なる。引外しコイル１２は誘導負荷であるため、
制御回路６内のサイリスタQ1が点弧し引外しコ
イル１２が電流i2で付勢され動作を完了するのに
第２図及び第３図に示すようにt1時間（最低２ｍ
Ｓ程度）を要すが、試験装置１４のツエナーダイ
オードZD2およびサイリスタQ2は制御回路６のサ
イリスタQ1が点弧したのち第４図に示すようにt2
時間（数μs以下）と引外しコイル１２の完全動作
時間に比べ極めて高速に動作する。
断器のテスト端子１３から制御回路６へ伝達さ
れ、時限回路７で遅延時間t0を経た後、引外し信
号によりサイリスタQ1を点弧する。サイリスタ
Q1が点弧すると、制御回路６の電圧Ｖが第３図
ａに示すようにツエナーダイオードZD3のツエナ
ー電圧VZD3と抵抗R8の降下電圧VR8の和である
V1からツエナーダイオードZD4のツエナー電圧
VZD4だけ増加した電圧V2まで上昇しようとし、
引外しコイル１２の通電電流が次第に増加する。
制御回路６の電圧Ｖは模擬電流供給線２０，２
０′を介してツエナーダイオードZD2にも印加さ
れているため、V3まで上昇するとツエナーダイ
オードZD2がブレークダウンし、抵抗R12に電圧
が生じ、この電圧によりサイリスタQ2が点弧す
る。この時試験装置１４内の抵抗R13と発光部１
９の抵抗値を制御回路６と引外し２ｍの合成イン
ピーダンスに比べて十分低くなるように設定すれ
ば、模擬電流ｉの大部分はサイリスタQ2を流れ、
制御回路６にはわずかな電流i1しか供給されなく
なる。引外しコイル１２は誘導負荷であるため、
制御回路６内のサイリスタQ1が点弧し引外しコ
イル１２が電流i2で付勢され動作を完了するのに
第２図及び第３図に示すようにt1時間（最低２ｍ
Ｓ程度）を要すが、試験装置１４のツエナーダイ
オードZD2およびサイリスタQ2は制御回路６のサ
イリスタQ1が点弧したのち第４図に示すようにt2
時間（数μs以下）と引外しコイル１２の完全動作
時間に比べ極めて高速に動作する。
従つて本試験装置１４によりしや断器の制御回
路６へ模擬電流ｉを供給すると、一定遅延時間後
（第２図t0時間）サイリスタQ1が点弧し、続いて
試験装置のサイリスタQ2が点弧し、事故模擬電
流ｉを制御回路６へほとんど供給しなくなり、引
外しコイル１２を不動作とすることができる。ま
た試験装置１４のツエナーダイオードZD2がブレ
ークダウンすると、これに直列に接続した発光部
１９が発光するので、しや断器の機構部および開
閉接点が開離しなくても制御回路６のしや断機能
を確認することができる。次に切換スイツチを閉
の状態にした場合の動作を説明する。スイツチ１
８を閉の状態にすると、試験装置１４のサイリス
タQ2のゲートが短絡され、サイリスタQ2が点弧
しないため制御回路６の電圧Ｖの上昇にかかわら
ず第２図に破線で行すように模擬電流ｉはそのま
ま（ｉ≒i1）制御回路へ伝達され、引外しコイル
１２が電流i2で動作ししや断機構部が働き、制御
回路およびしや断機構部も含めてしや断機能の点
検を行うことができる。
路６へ模擬電流ｉを供給すると、一定遅延時間後
（第２図t0時間）サイリスタQ1が点弧し、続いて
試験装置のサイリスタQ2が点弧し、事故模擬電
流ｉを制御回路６へほとんど供給しなくなり、引
外しコイル１２を不動作とすることができる。ま
た試験装置１４のツエナーダイオードZD2がブレ
ークダウンすると、これに直列に接続した発光部
１９が発光するので、しや断器の機構部および開
閉接点が開離しなくても制御回路６のしや断機能
を確認することができる。次に切換スイツチを閉
の状態にした場合の動作を説明する。スイツチ１
８を閉の状態にすると、試験装置１４のサイリス
タQ2のゲートが短絡され、サイリスタQ2が点弧
しないため制御回路６の電圧Ｖの上昇にかかわら
ず第２図に破線で行すように模擬電流ｉはそのま
ま（ｉ≒i1）制御回路へ伝達され、引外しコイル
１２が電流i2で動作ししや断機構部が働き、制御
回路およびしや断機構部も含めてしや断機能の点
検を行うことができる。
毎月の点検では、スイツチ１８を開の状態にし
て制御回路のみ点検確認を行い、年１回程度の点
検ではスイツチ１８を閉状態として、制御回路、
しや断機構部の点検確認を行う。この結果接点お
よび機構部の機械的寿命をいたずらに短くするこ
とを防ぐことができる。また試検時に不良が発見
された場合は制御回路と機構部のいずれに原因が
あるかも上記２種類の点検で簡単に分る。
て制御回路のみ点検確認を行い、年１回程度の点
検ではスイツチ１８を閉状態として、制御回路、
しや断機構部の点検確認を行う。この結果接点お
よび機構部の機械的寿命をいたずらに短くするこ
とを防ぐことができる。また試検時に不良が発見
された場合は制御回路と機構部のいずれに原因が
あるかも上記２種類の点検で簡単に分る。
また瞬時引外しテストの際には発光部１９に過
大電流を流すことになり、発光素子１９を破壊す
るおそれがあるが、その時には抵抗Ｒ１１，Ｒ１
２の抵抗値を適当に増していけばよい。
大電流を流すことになり、発光素子１９を破壊す
るおそれがあるが、その時には抵抗Ｒ１１，Ｒ１
２の抵抗値を適当に増していけばよい。
以上説明したように本発明によれば、しや断器
の電子式制御回路単位の試験と、この制御回路を
含めた機構部・接点部の総合した試験を切換スイ
ツチの操作で簡単に行え、またこれによつて不良
個所も即座に発見することができる。
の電子式制御回路単位の試験と、この制御回路を
含めた機構部・接点部の総合した試験を切換スイ
ツチの操作で簡単に行え、またこれによつて不良
個所も即座に発見することができる。
第１図は本発明実施例の試検装置と回路しや断
器の回路構成図、第２図は制御回路各部の信号波
形図、第３図は本発明実施例の試検装置による試
検時の制御回路各部の信号波形図である。 ２，３，９，１０，R0，R1，R2，ZD1，Tr1：
模擬電流発生回路、R11，R12，R13，Q2，ZD2，
１７，１９：制御回路、３：切換スイツチ、５，
５′：検出回路、６：制御回路、１２：引外しコ
イル、１９：発光部。
器の回路構成図、第２図は制御回路各部の信号波
形図、第３図は本発明実施例の試検装置による試
検時の制御回路各部の信号波形図である。 ２，３，９，１０，R0，R1，R2，ZD1，Tr1：
模擬電流発生回路、R11，R12，R13，Q2，ZD2，
１７，１９：制御回路、３：切換スイツチ、５，
５′：検出回路、６：制御回路、１２：引外しコ
イル、１９：発光部。
Claims (1)
- １ 負荷線路に流れる負荷電流を検出手段により
検出し、制御回路でこの検出電流を受けて過負荷
時に引外し信号を発生し、この引外し信号に基づ
き引外しコイルを駆動して接点の開放を行うよう
にした回路しや断器に過負荷模擬電流を供給して
制御回路の動作チエツクを行う試験装置におい
て、模擬電流発生回路と、模擬電流供給後上記制
御回路から発生した引外し信号に基づいて上記引
外しコイルの動作前に動作してしや断器への模擬
電流の供給を制限する制御回路と、制御回路の動
作に基づいて駆動される表示部と、この制限回路
を動作可能と不能のいづれかの状態に設定する切
換スイツチを設けたことを特徴とした回路しや断
器の試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3688079A JPS55129766A (en) | 1979-03-30 | 1979-03-30 | Test unit for circuit breaker |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3688079A JPS55129766A (en) | 1979-03-30 | 1979-03-30 | Test unit for circuit breaker |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55129766A JPS55129766A (en) | 1980-10-07 |
| JPH0157310B2 true JPH0157310B2 (ja) | 1989-12-05 |
Family
ID=12482084
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3688079A Granted JPS55129766A (en) | 1979-03-30 | 1979-03-30 | Test unit for circuit breaker |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55129766A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103698696B (zh) * | 2013-12-18 | 2016-02-24 | 国家电网公司 | 欠费跳闸开关检测装置 |
| CN109188171B (zh) * | 2018-09-12 | 2021-01-15 | 苏州东安岩芯能源科技股份有限公司 | 继电器线圈开路故障检测电路 |
| JP7192487B2 (ja) * | 2018-12-25 | 2022-12-20 | 東京電力ホールディングス株式会社 | 検査方法および試験装置 |
-
1979
- 1979-03-30 JP JP3688079A patent/JPS55129766A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55129766A (en) | 1980-10-07 |
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