JPH0158636B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0158636B2 JPH0158636B2 JP17916087A JP17916087A JPH0158636B2 JP H0158636 B2 JPH0158636 B2 JP H0158636B2 JP 17916087 A JP17916087 A JP 17916087A JP 17916087 A JP17916087 A JP 17916087A JP H0158636 B2 JPH0158636 B2 JP H0158636B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- package
- socket
- lock cover
- spring
- heat sink
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はリードレスチツプキヤリア型ICパツ
ケージ(本明細書中ではこれをICパツケージと
いう)を使用する際に用いられるICソケツトの
構成要素の一つとして用いられるICソケツト用
ロツクカバーに関する。
ケージ(本明細書中ではこれをICパツケージと
いう)を使用する際に用いられるICソケツトの
構成要素の一つとして用いられるICソケツト用
ロツクカバーに関する。
従来、第11図及び第12図に示すように、一
面に導電性の接触パツド1を形成しかつ内部に
ICを内蔵したセラミツク製のICパツケージ3が
ある。このICパツケージ3は、第13図に示す
ように、ICソケツトに搭載されて使用される。
ICパツケージ3の脱落は、ロツクカバー5aに
て阻止される。このロツクカバー5aはプリント
回路基板に装着されるソケツト部7の外側に嵌合
される。
面に導電性の接触パツド1を形成しかつ内部に
ICを内蔵したセラミツク製のICパツケージ3が
ある。このICパツケージ3は、第13図に示す
ように、ICソケツトに搭載されて使用される。
ICパツケージ3の脱落は、ロツクカバー5aに
て阻止される。このロツクカバー5aはプリント
回路基板に装着されるソケツト部7の外側に嵌合
される。
ソケツト部7は、上面にICパツケージ3を受
け入れ得るように作られたインシユレータ9と、
このインシユレータ9に組込まれ、ICパツケー
ジ3の接触パツド1に一対一にて接触する複数の
コンタクト11とを有している。コンタクト11
はインシユレータ9を貫通して下方に突出した突
出部分を有している。これらの突出部分はプリン
ト回路基板の回路パターンに接続するための部分
である。
け入れ得るように作られたインシユレータ9と、
このインシユレータ9に組込まれ、ICパツケー
ジ3の接触パツド1に一対一にて接触する複数の
コンタクト11とを有している。コンタクト11
はインシユレータ9を貫通して下方に突出した突
出部分を有している。これらの突出部分はプリン
ト回路基板の回路パターンに接続するための部分
である。
ロツクカバー5aの側面には、インシユレータ
9の係止突起部13に嵌合する穴17が形成され
ている。したがつて、インシユレータ9の係止突
起部13に穴17が嵌合されると、ロツクカバー
5aがロツクされると同時にコンタクト11が上
方に向けてのバネ力を得るので、ロツクカバー5
aの上面から下向きに突出したダボ19とコンタ
クト11との間でICパツケージ3が押圧保持さ
れる。
9の係止突起部13に嵌合する穴17が形成され
ている。したがつて、インシユレータ9の係止突
起部13に穴17が嵌合されると、ロツクカバー
5aがロツクされると同時にコンタクト11が上
方に向けてのバネ力を得るので、ロツクカバー5
aの上面から下向きに突出したダボ19とコンタ
クト11との間でICパツケージ3が押圧保持さ
れる。
このようなICソケツト用のロツクカバー5a
は他にも種々考案されている。たとえば、ICパ
ツケージ3は厚さのバラツキの接触力への影響を
極力小さくするために、第14図及び第15図に
示すように、中央部に開口部21を形成したIC
ソケツト用のロツクカバー5bにホールドダウン
スプリングと呼ばれるバネ片23を付けてICパ
ツケージ3を押すようにした構造のものもある。
は他にも種々考案されている。たとえば、ICパ
ツケージ3は厚さのバラツキの接触力への影響を
極力小さくするために、第14図及び第15図に
示すように、中央部に開口部21を形成したIC
ソケツト用のロツクカバー5bにホールドダウン
スプリングと呼ばれるバネ片23を付けてICパ
ツケージ3を押すようにした構造のものもある。
別のロツクカバー5cとしては、第16図に示
すように、中央部に開口部21を形成して全体が
たわみつつ変形するようにしたものがある。この
ロツクカバー5cには、開口部21のまわりの二
辺にICパツケージ3を押すバネ手段としての押
し当て部25が形成されている。また、ロツクカ
バー5cの四つの脚部分は第13図に示したイン
シユレータ9の係止突部13に係止される係止部
27を有している。
すように、中央部に開口部21を形成して全体が
たわみつつ変形するようにしたものがある。この
ロツクカバー5cには、開口部21のまわりの二
辺にICパツケージ3を押すバネ手段としての押
し当て部25が形成されている。また、ロツクカ
バー5cの四つの脚部分は第13図に示したイン
シユレータ9の係止突部13に係止される係止部
27を有している。
このようなロツクカバー5cもコンタクト11
と同じようにばね定数が小さくなるように設計さ
れている。また、ロツクカバー5cは十分に変位
量をとることで、高い接触力を得るようにして使
用すると、部品寸法や組立寸法に公差内のバラツ
キがあつても接触力の変動量が小さくてすむ。
と同じようにばね定数が小さくなるように設計さ
れている。また、ロツクカバー5cは十分に変位
量をとることで、高い接触力を得るようにして使
用すると、部品寸法や組立寸法に公差内のバラツ
キがあつても接触力の変動量が小さくてすむ。
また、ICパツケージ3には、第17図及び第
18図に示すような、放熱体30を装着してIC
パツケージ3から発生する熱の放熱を促進する場
合がある。放熱体30にはロツクカバー5a,5
b,5cに取り付けられるフランジ部32が設け
られている。このICパツケージ3に放熱体30
を装着する場合には、この放熱体30の押し付け
フランジ部32の厚さの分だけロツクカバー5
a,5b,5cの荷重点の高さを変える工夫がな
されている。
18図に示すような、放熱体30を装着してIC
パツケージ3から発生する熱の放熱を促進する場
合がある。放熱体30にはロツクカバー5a,5
b,5cに取り付けられるフランジ部32が設け
られている。このICパツケージ3に放熱体30
を装着する場合には、この放熱体30の押し付け
フランジ部32の厚さの分だけロツクカバー5
a,5b,5cの荷重点の高さを変える工夫がな
されている。
放熱体30は第19図に示すようにロツクカバ
ー(例えば5c)の下から開口部21の内側に挿
入される。この状態でフランジ部32はロツクカ
バー5cの内側に位置する。
ー(例えば5c)の下から開口部21の内側に挿
入される。この状態でフランジ部32はロツクカ
バー5cの内側に位置する。
しかしながら、実際にはロツクカバー5a,5
b,5cの大きさによる制約からこれらのバネ手
段が短かくならざるを得ず、硬いバネとなるた
め、各種の寸法のバラツキが接触力に大きく影響
してしまうという問題がある。
b,5cの大きさによる制約からこれらのバネ手
段が短かくならざるを得ず、硬いバネとなるた
め、各種の寸法のバラツキが接触力に大きく影響
してしまうという問題がある。
また、ICパツケージ3に放熱体30を装着し
た場合には、このICパツケージ3の厚さの公差
と押し付けフランジ部32の厚さの公差とが重畳
して変位置の公差となるため、接触力のバラツキ
もそれだけ大きくなつてしまう。
た場合には、このICパツケージ3の厚さの公差
と押し付けフランジ部32の厚さの公差とが重畳
して変位置の公差となるため、接触力のバラツキ
もそれだけ大きくなつてしまう。
さらに放熱体30はロツクカバー5a,5b,
5cの開口部21に貫通した状態に装着されるた
め、横方向への広がりが開口部21の寸法に制限
される。このため、十分な放熱性能を得るために
は、放熱体30の高さを大きくとらざるを得ず、
プリント回路基板上の他の部品に比較して実装高
さが高くなつてしまうという問題がある。
5cの開口部21に貫通した状態に装着されるた
め、横方向への広がりが開口部21の寸法に制限
される。このため、十分な放熱性能を得るために
は、放熱体30の高さを大きくとらざるを得ず、
プリント回路基板上の他の部品に比較して実装高
さが高くなつてしまうという問題がある。
それ故に本発明の課題は、バネ片のバネ定数を
低くして、放熱体を使用する場合の接触力のバラ
ツキを小さくし、かつその放熱体の大きさを制限
されないICソケツト用ロツクカバーを提供する
ことにある。
低くして、放熱体を使用する場合の接触力のバラ
ツキを小さくし、かつその放熱体の大きさを制限
されないICソケツト用ロツクカバーを提供する
ことにある。
本発明によれば、ICパツケージを受けるソケ
ツト部に合わされ、該ソケツト部と係合して該
ICパツケージを該ソケツト部に押しつけるICソ
ケツト用ロツクカバーにおいて、互いに間隔をお
いて平行な二片の主バネと、該二片の主バネの中
央付近の外側端から内側に折り曲げられ、上記主
バネの上記ソケツト部とは反対側の面に対向した
副バネとを含み、上記主バネは、一端に上記ソケ
ツト部に回動可能に接続される接続部分を有し、
かつ他端に上記ソケツト部に係合する係合部を有
しており、上記主バネと上記副バネとの間に、上
記ICパツケージの放熱を促進するための放熱体
のフランジ部を保持するようにしたことを特徴と
するICソケツト用ロツクカバーが得られる。
ツト部に合わされ、該ソケツト部と係合して該
ICパツケージを該ソケツト部に押しつけるICソ
ケツト用ロツクカバーにおいて、互いに間隔をお
いて平行な二片の主バネと、該二片の主バネの中
央付近の外側端から内側に折り曲げられ、上記主
バネの上記ソケツト部とは反対側の面に対向した
副バネとを含み、上記主バネは、一端に上記ソケ
ツト部に回動可能に接続される接続部分を有し、
かつ他端に上記ソケツト部に係合する係合部を有
しており、上記主バネと上記副バネとの間に、上
記ICパツケージの放熱を促進するための放熱体
のフランジ部を保持するようにしたことを特徴と
するICソケツト用ロツクカバーが得られる。
第1図乃至第4図は本発明の一実施例によるロ
ツクカバーを用いたICソケツトを示している。
ツクカバーを用いたICソケツトを示している。
図示のICソケツトは、一面に導電性の接触パ
ツド1を形成しかつICを内蔵したセラミツク製
のICパツケージ3(第11図参照)の接続に使
用されるものである。このICソケツトはロツク
カバー40とソケツト部41とを含んでいる。
ツド1を形成しかつICを内蔵したセラミツク製
のICパツケージ3(第11図参照)の接続に使
用されるものである。このICソケツトはロツク
カバー40とソケツト部41とを含んでいる。
ロツクカバー40はプリント回路基板に装着さ
れるソケツト部41の外側に嵌合される。ソケツ
ト部41は、インシユレータ43と、このインシ
ユレータ43の内面にてICパツケージ1の接触
パツド1に一対一にて接触するコンタクト45と
を有している。コンタクト45はインシユレータ
43の下方に突出した突出部分を有する。この突
出部分はプリント回路基板の回路パターンに接続
される部分である。コンタクト45の上に配され
るICパツケージ3には、その上方からロツクカ
バー40によつて押圧力が加えられる。
れるソケツト部41の外側に嵌合される。ソケツ
ト部41は、インシユレータ43と、このインシ
ユレータ43の内面にてICパツケージ1の接触
パツド1に一対一にて接触するコンタクト45と
を有している。コンタクト45はインシユレータ
43の下方に突出した突出部分を有する。この突
出部分はプリント回路基板の回路パターンに接続
される部分である。コンタクト45の上に配され
るICパツケージ3には、その上方からロツクカ
バー40によつて押圧力が加えられる。
ロツクカバー40は、第5図をも参照して、二
枚の主バネ47と、これらの二枚の主バネ47を
ヒンジ部50側及び係止部52側(いずれも第1
1図参照)でそれぞれつなぐ補助部材55,57
とを有している。こうしてロツクカバー40には
主バネ47と補助部材55,57によつて開口部
60が形成されている。開口部60は係止部52
の付近まで延びている。主バネの全体はホールド
ダウンスプリングとして作用する。
枚の主バネ47と、これらの二枚の主バネ47を
ヒンジ部50側及び係止部52側(いずれも第1
1図参照)でそれぞれつなぐ補助部材55,57
とを有している。こうしてロツクカバー40には
主バネ47と補助部材55,57によつて開口部
60が形成されている。開口部60は係止部52
の付近まで延びている。主バネの全体はホールド
ダウンスプリングとして作用する。
なお一方の補助部材55の両端には、ヒンジ部
50に回動可能に接続するための穴61を有した
接続部分63が一体に設けられている。
50に回動可能に接続するための穴61を有した
接続部分63が一体に設けられている。
主バネ47は無負荷状態では第6図に示すよう
に反り返つているが、使用時にはこの反り返りに
逆らつて係止される。主バネ47の中央部分には
ICパツケージ3を押し付けるための主ダボ62
が形成されている。
に反り返つているが、使用時にはこの反り返りに
逆らつて係止される。主バネ47の中央部分には
ICパツケージ3を押し付けるための主ダボ62
が形成されている。
また、主バネ47の中央付近には、これらの主
バネ47の外側端から内側へ折り曲げられた副バ
ネ65が形成されている。副バネ65は主バネ4
7に対向している。この副バネ65には副ダボ6
7が形成されている。主バネ47と副バネ65と
の間には、図示の二点鎖線で示す放熱体69のフ
ランジ部71が挟み込まれる。この放熱体69の
取付状態は第7図及び第8図にも示した。
バネ47の外側端から内側へ折り曲げられた副バ
ネ65が形成されている。副バネ65は主バネ4
7に対向している。この副バネ65には副ダボ6
7が形成されている。主バネ47と副バネ65と
の間には、図示の二点鎖線で示す放熱体69のフ
ランジ部71が挟み込まれる。この放熱体69の
取付状態は第7図及び第8図にも示した。
今、ICパツケージ3がソケツト部41のイン
シユレータ43の内部に組込まれると、インシユ
レータ43の内部ではコンタクト45にICパツ
ケージ3の接触パツド1が接触される。さらに第
6図に示すように、ヒンジ部50を支点としてロ
ツクカバー40をICパツケージ3に向けて回動
させる。そしてロツクカバー40の回動端を押し
下げ、インシユレータ43の側面にロツクカバー
40の補助部材57を対向させ、この補助部材5
7を係止部52に係合させる。即ち補助部材57
はソケツト部41に係合する係合部として作用す
る。この結果、ICパツケージ3の接触バッド1
はコンタクト45に押圧接触し、電気的な接続が
確実に得られる。
シユレータ43の内部に組込まれると、インシユ
レータ43の内部ではコンタクト45にICパツ
ケージ3の接触パツド1が接触される。さらに第
6図に示すように、ヒンジ部50を支点としてロ
ツクカバー40をICパツケージ3に向けて回動
させる。そしてロツクカバー40の回動端を押し
下げ、インシユレータ43の側面にロツクカバー
40の補助部材57を対向させ、この補助部材5
7を係止部52に係合させる。即ち補助部材57
はソケツト部41に係合する係合部として作用す
る。この結果、ICパツケージ3の接触バッド1
はコンタクト45に押圧接触し、電気的な接続が
確実に得られる。
放熱体69の使用時には、副バネ65も放熱体
69のフランジ部71を下方へ押し付ける。した
がつて副バネ65と主バネ47の合成バネ力が放
熱体69とICパツケージ3との押付け力として
作用するため、バネ定数が低くなる。このとき、
第8図に示すように主バネ47の主ダボ62は
ICパツケージ3から離れる。そしてICパツケー
ジ3は放熱体69を介して下方へ押付けられる状
態になる。なお図示は昇略したが、主バネ47の
主ダボ62がICパツケージ3を押付けながら副
バネ65の副ダボ67も放熱体69を介してIC
パツケージ3を押付ける状態になつてもよい。ど
ちらの状態になるかは、放熱体69のフランジ部
71の厚さとICパツケージ3の厚さによつて決
まる。
69のフランジ部71を下方へ押し付ける。した
がつて副バネ65と主バネ47の合成バネ力が放
熱体69とICパツケージ3との押付け力として
作用するため、バネ定数が低くなる。このとき、
第8図に示すように主バネ47の主ダボ62は
ICパツケージ3から離れる。そしてICパツケー
ジ3は放熱体69を介して下方へ押付けられる状
態になる。なお図示は昇略したが、主バネ47の
主ダボ62がICパツケージ3を押付けながら副
バネ65の副ダボ67も放熱体69を介してIC
パツケージ3を押付ける状態になつてもよい。ど
ちらの状態になるかは、放熱体69のフランジ部
71の厚さとICパツケージ3の厚さによつて決
まる。
第1図及び第5図を参照して、開口部60は係
止部材52の近くまでのびているため、放熱体6
9を、第19図で示した従来のロツクカバー5a
の場合のように下から装着するのではなく、第9
図に矢印で示すように、横からスライドして装着
できる。このため、第10図に示すように、放熱
体69の寸法b′が開口部60の寸法a′に制限され
ることはない。また、放熱体69の高さを低く設
計することが可能である。
止部材52の近くまでのびているため、放熱体6
9を、第19図で示した従来のロツクカバー5a
の場合のように下から装着するのではなく、第9
図に矢印で示すように、横からスライドして装着
できる。このため、第10図に示すように、放熱
体69の寸法b′が開口部60の寸法a′に制限され
ることはない。また、放熱体69の高さを低く設
計することが可能である。
以上実施例により説明したように、本発明の
ICソケツト用ロツクカバーによれば、ロツクカ
バーのほとんどの部分をバネとして使用してバネ
定数の低いバネを設計できるようになつたため、
部品寸法や組立寸法に公差内のバラツキがあつて
も、接触力への影響を小さくすることが可能とな
つた。
ICソケツト用ロツクカバーによれば、ロツクカ
バーのほとんどの部分をバネとして使用してバネ
定数の低いバネを設計できるようになつたため、
部品寸法や組立寸法に公差内のバラツキがあつて
も、接触力への影響を小さくすることが可能とな
つた。
また、放熱体の使用時には、放熱体のフランジ
部の厚さの公差が変位の不定要素として加わつて
も、副バネがバネ要素として主バネに加わり、二
つのバネが共に作用し、合成したバネ定数が小さ
くなるため、接触力の変動を押えることが可能に
なつた。
部の厚さの公差が変位の不定要素として加わつて
も、副バネがバネ要素として主バネに加わり、二
つのバネが共に作用し、合成したバネ定数が小さ
くなるため、接触力の変動を押えることが可能に
なつた。
さらに、放熱体は溝にスライドにより装着する
ため、放熱部の大きさが開口部の大きさに制限さ
れることはなく、したがつて放熱部の横方向に大
きくすることができ、高い放熱性能を持つ放熱体
を高さを低くしても設計することが可能となる。
ため、放熱部の大きさが開口部の大きさに制限さ
れることはなく、したがつて放熱部の横方向に大
きくすることができ、高い放熱性能を持つ放熱体
を高さを低くしても設計することが可能となる。
第1図は本発明の一実施例によるロツクカバー
を用いたICソケツトの部分断面平面図、第2図
は第1図の側面図、第3図は第1図の正面図、第
4図は第3図の一部断面図、第5図は第1図のロ
ツクカバーの斜視図、第6図はロツクカバーの解
放状態を示す側面図、第7図はロツクカバーの押
し付け状態を示す平面図、第8図は第7図の−
断面図、第9図は放熱体の装着方法を示す側面
図、第10図は放熱体と主バネ及び副バネとの寸
法関係を示す説明図、第11図は一般的なICパ
ツケージを示す平面図、第12図は第11図の側
面図、第13図は従来のICソケツトにICパツケ
ージを装着する状態の説明用断面図、第14図は
従来のICソケツトに用いられるロツクカバーの
他の例を示す平面図、第15図は第14図の
−断面図、第16図は従来のICソケツトに
用いられるロツクカバーのさらに他の例を示す斜
視図、第17図及び第18図は放熱体の従来例を
示す斜視図、第19図は従来のロツクカバーと放
熱体との関係を説明する説明図である。 3;ICパツケージ、40;ロツクカバー、4
1;ソケツト部、45;コンタクト、47;主バ
ネ、50;ヒンジ部、52;係止部、57;係合
部として作用する補助部材、60;開口部、6
1;穴、62;主ダボ、63;接続部分、65;
副バネ、67;副ダボ、69;放熱体。
を用いたICソケツトの部分断面平面図、第2図
は第1図の側面図、第3図は第1図の正面図、第
4図は第3図の一部断面図、第5図は第1図のロ
ツクカバーの斜視図、第6図はロツクカバーの解
放状態を示す側面図、第7図はロツクカバーの押
し付け状態を示す平面図、第8図は第7図の−
断面図、第9図は放熱体の装着方法を示す側面
図、第10図は放熱体と主バネ及び副バネとの寸
法関係を示す説明図、第11図は一般的なICパ
ツケージを示す平面図、第12図は第11図の側
面図、第13図は従来のICソケツトにICパツケ
ージを装着する状態の説明用断面図、第14図は
従来のICソケツトに用いられるロツクカバーの
他の例を示す平面図、第15図は第14図の
−断面図、第16図は従来のICソケツトに
用いられるロツクカバーのさらに他の例を示す斜
視図、第17図及び第18図は放熱体の従来例を
示す斜視図、第19図は従来のロツクカバーと放
熱体との関係を説明する説明図である。 3;ICパツケージ、40;ロツクカバー、4
1;ソケツト部、45;コンタクト、47;主バ
ネ、50;ヒンジ部、52;係止部、57;係合
部として作用する補助部材、60;開口部、6
1;穴、62;主ダボ、63;接続部分、65;
副バネ、67;副ダボ、69;放熱体。
Claims (1)
- 1 ICパツケージを受けるソケツト部に合わさ
れ、該ソケツト部と係合して該ICパツケージを
該ソケツト部に押しつけるICソケツト用ロツク
カバーにおいて、互いに間隔をおいて平行な二片
の主バネと、該二片の主バネの中央付近の外側端
から内側に折り曲げられ、上記主バネの上記ソケ
ツト部とは反対側の面に対向した副バネとを含
み、上記主バネは、一端に上記ソケツト部に回動
可能に接続される接続部分を有し、かつ他端に上
記ソケツト部に係合する係合部を有しており、上
記主バネと上記副バネとの間に、上記ICパツケ
ージの放熱を促進するための放熱体のフランジ部
を保持するようにしたことを特徴とするICソケ
ツト用ロツクカバー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17916087A JPS6424377A (en) | 1987-07-20 | 1987-07-20 | Lock cover for ic socket |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17916087A JPS6424377A (en) | 1987-07-20 | 1987-07-20 | Lock cover for ic socket |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6424377A JPS6424377A (en) | 1989-01-26 |
| JPH0158636B2 true JPH0158636B2 (ja) | 1989-12-12 |
Family
ID=16060991
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17916087A Granted JPS6424377A (en) | 1987-07-20 | 1987-07-20 | Lock cover for ic socket |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6424377A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0464541U (ja) * | 1990-10-09 | 1992-06-03 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4290232B2 (ja) * | 1997-02-24 | 2009-07-01 | 富士通株式会社 | ヒートシンクとそれを使用する情報処理装置 |
| US6501652B2 (en) | 1997-02-24 | 2002-12-31 | Fujitsu Limited | Heat sink and information processor using it |
-
1987
- 1987-07-20 JP JP17916087A patent/JPS6424377A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0464541U (ja) * | 1990-10-09 | 1992-06-03 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6424377A (en) | 1989-01-26 |
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