JPH0167581U - - Google Patents

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JPH0167581U
JPH0167581U JP1987162907U JP16290787U JPH0167581U JP H0167581 U JPH0167581 U JP H0167581U JP 1987162907 U JP1987162907 U JP 1987162907U JP 16290787 U JP16290787 U JP 16290787U JP H0167581 U JPH0167581 U JP H0167581U
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案によるＩＣ試験装置の要部を
示すブロツク図、第２図はその他の例を示すブロ
ツク図、第３図は従来のＩＣ試験装置の一部を示
すブロツク図である。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 アドレス発生回路よりのアドレス信号により試
    験パターンメモリ及び制御パターンメモリをそれ
    ぞれ読み出し、その制御パターンメモリから読み
    出されたタイミング選択信号によりタイミング発
    生器からタイミング信号を発生させ、そのタイミ
    ング信号により上記試験パターンメモリから読み
    出された試験パターンを制御して被試験ＩＣ素子
    へ供給するＩＣ試験装置において、 タイミング選択信号を格納したタイミング選択
    レジスタと、 そのタイミング選択レジスタのタイミング選択
    信号と上記制御パターンメモリからのタイミング
    選択信号とを切替えて上記タイミング発生器へ供
    給する切替え回路と、 発生した試験パターンの数を計数する試験パタ
    ーンカウンタと、 切替えるべき試験パターン数を格納したパター
    ン数レジスタと、 そのパターン数レジスタの試験パターン数と上
    記試験パターンカウンタの計数値との一致を検出
    して上記切替え回路を上記タイミング選択レジス
    タ側へ切替える一致検出回路とを具備するＩＣ試
    験装置。
JP16290787U 1987-10-23 1987-10-23 Ｉｃ試験装置 Expired - Lifetime JPH0639350Y2 (ja)

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JP16290787U JPH0639350Y2 (ja) 1987-10-23 1987-10-23 Ｉｃ試験装置

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Publication Number Publication Date
JPH0167581U true JPH0167581U (ja) 1989-05-01
JPH0639350Y2 JPH0639350Y2 (ja) 1994-10-12

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5339730B2 (ja) 2007-01-19 2013-11-13 キヤノン株式会社 再生弾性ローラの製造方法

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JPH0639350Y2 (ja) 1994-10-12

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