JPH0170170U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0170170U JPH0170170U JP1987118426U JP11842687U JPH0170170U JP H0170170 U JPH0170170 U JP H0170170U JP 1987118426 U JP1987118426 U JP 1987118426U JP 11842687 U JP11842687 U JP 11842687U JP H0170170 U JPH0170170 U JP H0170170U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- test head
- circuit testing
- support part
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図は本考案の実施例に係る集積回路試験装
置の正面図、第２図は第１図に示されたケーブル
移動台の斜視図、第３図は別実施例に係るケーブ
ル移動台の斜視図、第４図はさらに別実施例に係
るケーブル移動台の一部縦断面正面図、第５図は
従来例に係る集積回路試験装置の正面図である。 １：集積回路試験装置、２：テストヘツド、３
：試験回路本体、４：電線束（ケーブル束）、５
，１１，１２：電線移動台（ケーブル移動台）。
置の正面図、第２図は第１図に示されたケーブル
移動台の斜視図、第３図は別実施例に係るケーブ
ル移動台の斜視図、第４図はさらに別実施例に係
るケーブル移動台の一部縦断面正面図、第５図は
従来例に係る集積回路試験装置の正面図である。 １：集積回路試験装置、２：テストヘツド、３
：試験回路本体、４：電線束（ケーブル束）、５
，１１，１２：電線移動台（ケーブル移動台）。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 １ テストヘツドと、該テストヘツドと分離して
設置される試験回路本体とを備え、前記テストヘ
ツドと前記試験回路本体とを接続する電線束を移
動可納な態様で床面に敷設してなる集積回路試験
装置において、 前記電線束を床面から離して支持すると共に自
在に移動可能な電線移動台を備えているものであ
ることを特徴とする集積回路試験装置。 ２ 前記電線移動台は、前記電線束を支持する支
持部とキヤスタとを備えているものであることを
特徴とする実用新案登録請求の範囲第１項に記載
の集積回路試験装置。 ３ 前記支持部及び前記キヤスタは、前記支持部
の床面からの高さを調節する高さ可変機構により
接続されているものであることを特徴とする実用
新案登録請求の範囲第２項に記載の集積回路試験
装置。 ４ 前記電線移動台は、複数であることを特徴と
する実用新案登録請求の範囲第１項又は第２項又
は第３項に記載の集積回路試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987118426U JP2511186Y2 (ja) | 1987-07-31 | 1987-07-31 | 集積回路試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987118426U JP2511186Y2 (ja) | 1987-07-31 | 1987-07-31 | 集積回路試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0170170U true JPH0170170U (ja) | 1989-05-10 |
| JP2511186Y2 JP2511186Y2 (ja) | 1996-09-18 |
Family
ID=31362774
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987118426U Expired - Lifetime JP2511186Y2 (ja) | 1987-07-31 | 1987-07-31 | 集積回路試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2511186Y2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2006129372A1 (ja) * | 2005-06-03 | 2008-12-25 | 株式会社アドバンテスト | 半導体試験装置 |
| JP2024152869A (ja) * | 2020-11-20 | 2024-10-25 | 株式会社東京精密 | マルチプローバ |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6178135A (ja) * | 1984-09-25 | 1986-04-21 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体ウエ−ハの測定装置 |
| JPS6230952A (ja) * | 1985-08-01 | 1987-02-09 | Kawasaki Steel Corp | 可搬式の鋼板自動超音波探傷装置 |
-
1987
- 1987-07-31 JP JP1987118426U patent/JP2511186Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6178135A (ja) * | 1984-09-25 | 1986-04-21 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体ウエ−ハの測定装置 |
| JPS6230952A (ja) * | 1985-08-01 | 1987-02-09 | Kawasaki Steel Corp | 可搬式の鋼板自動超音波探傷装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2006129372A1 (ja) * | 2005-06-03 | 2008-12-25 | 株式会社アドバンテスト | 半導体試験装置 |
| JP2024152869A (ja) * | 2020-11-20 | 2024-10-25 | 株式会社東京精密 | マルチプローバ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2511186Y2 (ja) | 1996-09-18 |