JPH01751A - Package sealing device - Google Patents
Package sealing deviceInfo
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- JPH01751A JPH01751A JP62-155783A JP15578387A JPH01751A JP H01751 A JPH01751 A JP H01751A JP 15578387 A JP15578387 A JP 15578387A JP H01751 A JPH01751 A JP H01751A
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- package base
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- sealing material
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は共晶合金等からなるシール材を用いてキャップ
とパッケージベースとを接tryるパッケージの封止装
置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a package sealing device that connects a cap and a package base using a sealing material made of a eutectic alloy or the like.
半導体素子の封止技術を大別すると、樹脂封止技術と気
密封止技術がある。前者は工程が比較的簡単であること
やコストが低いことなどの理由で、DIR(デイ−アル
インラインパッケージ)などで広く用いられている。し
かしながら、高信頼性(特に耐湿度性)の要求されるも
のでは、セラミックスやガラスなどのパッケージに、窒
素(N2)などの不活性ガスを封入した気密封止型パッ
ケージが広く用いられている。Broadly speaking, encapsulation techniques for semiconductor devices can be divided into resin encapsulation techniques and hermetic encapsulation techniques. The former is widely used in DIR (daily in-line packages) and the like because the process is relatively simple and the cost is low. However, for products that require high reliability (particularly humidity resistance), hermetically sealed packages, in which a ceramic or glass package is filled with an inert gas such as nitrogen (N2), are widely used.
第3図に半導体素子が実装されたパッケージの−例を示
す。パッケージベース1のキャビティ2には半導体素子
3がダイボンディングされており、半導体素子3のパッ
ドがホンディングワイヤ4によってそれぞれインナーリ
ード5と接続されている。パッケージベース1の外側面
にはインナーリード5と接続された外部電極6が複数形
成されており、このようにして組み立てが行われた後は
、キャップ7が接着されてパッケージの気密封止がなさ
れる。FIG. 3 shows an example of a package in which a semiconductor element is mounted. A semiconductor element 3 is die-bonded to a cavity 2 of a package base 1, and pads of the semiconductor element 3 are connected to inner leads 5 by bonding wires 4, respectively. A plurality of external electrodes 6 connected to inner leads 5 are formed on the outer surface of the package base 1, and after assembly is performed in this manner, a cap 7 is adhered to hermetically seal the package. Ru.
かかる気密封止は、いわゆるハーメチックシール技術を
利用して行なわれる。すなわち、パッケージベース1は
加工性、汎用性、耐熱性などの点からセラミックスが使
用され、キャップ7はセラミックスあるいは金属からな
り、これらを接着する場合においてはAu−3n等の低
融点の共晶金属が最適である理由による。特に、ガリウ
ムヒ素(Ga As )などでは300’C以上に加熱
することが好ましくないことから、シール材としては低
融点ガラスではなく共晶金属が用いられる。Such hermetic sealing is performed using so-called hermetic sealing technology. That is, the package base 1 is made of ceramics from the viewpoint of processability, versatility, heat resistance, etc., and the cap 7 is made of ceramics or metal, and when these are bonded together, a low melting point eutectic metal such as Au-3n is used. Depends on why is optimal. In particular, since it is not preferable to heat gallium arsenide (GaAs) or the like above 300'C, a eutectic metal is used as the sealing material instead of a low melting point glass.
シール材8として使用される共晶金属は、図示のにうに
パッケージベース1の上面形状に合わせて)19片の矩
形板状に成形され、このシール材8がパッケージベース
1とキャップ7との間に挟まれ、加圧、加熱されること
でパッケージベース1とキャップ7との接着が行われる
。ここで、シール材8が載置されるパッケ−ジベース1
の上面およびシール材8に接触するキャップ7の下面は
、AIJなどの金属であらかじめメタライズされており
、シール材8溶融すると、これらのメタライズ層との間
で共晶反応が生じ、接着が行なわれてパッケージ内部の
封止が完了する。The eutectic metal used as the sealing material 8 is formed into 19 rectangular plates (according to the upper surface shape of the package base 1 as shown in the figure), and this sealing material 8 is formed between the package base 1 and the cap 7. The package base 1 and the cap 7 are bonded together by being sandwiched between them, pressurized, and heated. Here, the package base 1 on which the sealing material 8 is placed is
The upper surface and the lower surface of the cap 7 in contact with the sealing material 8 are pre-metalized with a metal such as AIJ, and when the sealing material 8 melts, a eutectic reaction occurs with these metallized layers, resulting in adhesion. The sealing inside the package is completed.
第4図は上記の封止を行なう従来装置の各例を示してい
る。第4図(a>に示す装置は、シール材8を介してキ
ャップ7が被Uられたパッケージベース1が、ヒータ台
10の上面凹部10aに嵌め込まれて固定され、この状
態でキャップ7上にプレス休11が下降してキャップ7
を加圧するようになっている。パッケージベース1はヒ
ータ台10に埋め込まれた発熱体(ヒータ台そのものか
発熱体のこともある)12によってシール材8の溶融温
度以上に加熱され、これによりシール材8がパッケージ
ベース1およびキャップ7のメタライズ層と共晶反応を
起こして、キャップ7の接着が行なわれる。FIG. 4 shows examples of conventional devices for performing the above-mentioned sealing. In the device shown in FIG. 4(a), a package base 1 covered with a cap 7 via a sealing material 8 is fitted into a recess 10a on the top surface of a heater stand 10 and fixed, and in this state is placed on the cap 7. Press rest 11 descends and cap 7
It is designed to pressurize. The package base 1 is heated to a temperature higher than the melting temperature of the sealing material 8 by a heating element 12 (which may be the heater itself or the heating element) embedded in the heater stand 10, thereby causing the sealing material 8 to heat the package base 1 and the cap 7. The cap 7 is bonded by causing a eutectic reaction with the metallized layer.
一方、第4図(b)に示す装置は、パッケージベース1
@:凹部13a内で位置決め固定1−るステージ13と
、ステージ13の方向に上下動するヒータブロック14
とからなり、ヒータブロック14がキャップ7を押圧す
ると共に、内部に配置された発熱体(ヒータブロックそ
のものが発熱する抵抗体であることもある)15により
キャップ7を加熱するものである。発熱体15の熱はヒ
ータブロック14からキャップ7だけに局所的に伝達さ
れ、これによりシール材8とメタライズ層が共晶反応を
するようになっている。On the other hand, the device shown in FIG. 4(b) has a package base 1
@: A stage 13 that is positioned and fixed within the recess 13a, and a heater block 14 that moves up and down in the direction of the stage 13.
The heater block 14 presses the cap 7, and the cap 7 is heated by a heating element 15 (the heater block itself may be a heat generating resistor) 15 disposed inside. The heat of the heating element 15 is locally transmitted from the heater block 14 only to the cap 7, thereby causing a eutectic reaction between the sealing material 8 and the metallized layer.
しかしながら、第4図(a>に示す従来装置は、パッケ
ージベース1を介してシールvJ8を加熱する構造であ
るので、パッケージベース1の加熱によりパッケージベ
ース1に実装された半導体素子が熱影響を受は易い。ま
た、パッケージベース1の加熱に多大の熱エネルギーを
必要とする。一方、第4図(b)に示す従来装置は、キ
ャップ7から熱を伝達する構造であるので半導体素子へ
の熱影響が少なく、また加熱効率が良いが、ヒータブロ
ック14の加圧の際の応力でキャップ7が位置ずれを起
こし易く、不良品発生率が高くなっている。However, since the conventional device shown in FIG. 4 (a) has a structure in which the seal vJ8 is heated through the package base 1, the semiconductor element mounted on the package base 1 is affected by heat due to the heating of the package base 1. Moreover, a large amount of thermal energy is required to heat the package base 1. On the other hand, the conventional device shown in FIG. Although the influence is small and the heating efficiency is good, the cap 7 is likely to be misaligned due to stress when the heater block 14 is pressurized, resulting in a high incidence of defective products.
そこで本発明は、上記の従来技術の問題点を解潤して、
半導体素子への熱影響が少なく、しかも加熱効率が良く
、キャップの位置決め精度も向上したパッケージ封止装
置を提供することを目的とする。Therefore, the present invention solves the problems of the above-mentioned conventional technology, and
It is an object of the present invention to provide a package sealing device that has less thermal influence on semiconductor elements, has good heating efficiency, and has improved cap positioning accuracy.
(問題点を解決するための手段〕
本発明に係るパッケージ封止装置は、基本的にはキャッ
プ側からシール材を加熱する第4図(b)の技術思想を
元に、キャップの位置決め機能を具1Jiiさせたもの
であり、少なくとも下部が発熱体で構成されると共に、
キャップを吸着する吸着口が下端部に形成されており、
キャップを保持した状態でパッケージベース上にキャッ
プを加圧状態で載置させるように、1M成したことを特
徴とする。(Means for Solving the Problems) The package sealing device according to the present invention is basically based on the technical idea of FIG. 4(b) of heating the sealing material from the cap side, and has a cap positioning function. At least the lower part is composed of a heating element, and
A suction port that suctions the cap is formed at the bottom end.
It is characterized in that it is made of 1M so that the cap can be placed on the package base under pressure while holding the cap.
(作用)
本発明に係るパッケージ封止装置は、以上の通りに構成
されるので、吸着口はキャップを確実に保持してパッケ
ージベースへの正確な位置決めを行なうように作用し、
発熱体は保持されたキャップを加熱するように作用する
。(Function) Since the package sealing device according to the present invention is configured as described above, the suction port acts to reliably hold the cap and accurately position it to the package base.
The heating element acts to heat the retained cap.
以下、添付図面の第1図および第2図を参照して、本発
明の詳細な説明する。なお、図面の説明において同一の
要素には同一の符号を付し、重視する説明を省略づる。Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 and 2 of the accompanying drawings. In the description of the drawings, the same elements are designated by the same reference numerals, and important descriptions will be omitted.
第1図は本発明の実施例に係る封止用装置の底面方向か
らの斜視図である。図示の通り、上下方向に移動あるい
は伸縮駆動される中空ロッド20の下端部には、プレス
ブロック21が取り付けられている。プレスブロック2
1は第2図のように、上下方向の貫通穴22が形成され
、貫通穴22の下端部は逆漏斗状に広がり、キャップ7
を真空吸着する吸着口23となっている。貫通穴22は
中空ロッド20を介してバルブおよび吸引装置(いずれ
も図示Vず。)に連結されてあり、バルブの切換えによ
って吸着口23はキ(・ラグ7を吸着したり、吸6を解
除するように作用する。従って、キャップ7は吸着口2
3の吸引作用によってプレスブロック21下端面に吸着
され、プレスブロック21と共に上下方向に移動する。FIG. 1 is a perspective view from the bottom of a sealing device according to an embodiment of the present invention. As shown in the figure, a press block 21 is attached to the lower end of the hollow rod 20, which is moved or expanded/contracted in the vertical direction. Press block 2
1, as shown in FIG. 2, a vertical through hole 22 is formed, the lower end of the through hole 22 widens into an inverted funnel shape, and a cap 7 is formed.
It serves as a suction port 23 for vacuum suction. The through hole 22 is connected to a valve and a suction device (both not shown) via a hollow rod 20, and by switching the valve, the suction port 23 can suction the lug 7 or release the suction 6. Therefore, the cap 7 acts to
3, it is attracted to the lower end surface of the press block 21 and moves in the vertical direction together with the press block 21.
本実施例では、プレスブロック21下端面にキャップ7
と同形状、同寸法の凹部24が形成されており、吸着口
23の作用で吸着されるキャップ7は凹部24内に嵌ま
り込み、位置ずれが防止されている。かかる凹部24は
、後述する擦合駆動の際に、キャップ7が位置ずれを起
こさないように機能Jるものである。なお、凹部24は
キャップ7の厚みよりも浅くなるように形成され、キャ
ップ7がパッケ−ジベース1に当接するだけの突出量が
確保されている。In this embodiment, a cap 7 is attached to the lower end surface of the press block 21.
A recess 24 having the same shape and size as the cap 7 is formed, and the cap 7, which is sucked by the suction port 23, fits into the recess 24 and is prevented from shifting. The recessed portion 24 functions to prevent the cap 7 from being displaced during the rubbing drive described later. Note that the recess 24 is formed to be shallower than the thickness of the cap 7, and a sufficient amount of protrusion for the cap 7 to abut against the package base 1 is ensured.
プレスブロック21の両側面に取り付けられた端子26
および電線27は、プレスブロック21に電流を供給す
るためのもので、プレスブロック21は一定の抵抗を有
する材料で形成されている。Terminals 26 attached to both sides of press block 21
The electric wire 27 is for supplying current to the press block 21, and the press block 21 is made of a material having a certain resistance.
従って、これら端子26および電線27を介してプレス
ブロック21に電力を供給すると、プレスブロック21
自体が発熱するようになっている。Therefore, when power is supplied to the press block 21 via these terminals 26 and electric wires 27, the press block 21
It is starting to generate heat itself.
次に、上記封止装置の作動を第2図により説明する。Next, the operation of the above sealing device will be explained with reference to FIG.
同図(a)に示すように、パッケージベース1は必らか
じめシール材8が載置された状態で、ステージ30の凹
部31に嵌められて固定されている。プレスブロック2
1は例えばロボットなどの移送装置のアームに連結され
た中空ロンド20により、パッケージベース1の真上に
移動される。As shown in FIG. 3A, the package base 1 is fitted into the recess 31 of the stage 30 and fixed with the sealing material 8 placed thereon in advance. Press block 2
1 is moved directly above the package base 1 by a hollow iron 20 connected to an arm of a transfer device such as a robot.
この場合、キャップ7は吸着口23の吸引作用によって
凹部24に嵌め込まれており、プレスブロック21の擦
合(scrub >駆動が可能となっている。一方、キ
ャップ7はプレスブロック21からの熱によってシール
材8の融点以上に加熱されている。In this case, the cap 7 is fitted into the recess 24 by the suction action of the suction port 23, and the press block 21 can be rubbed (scrub>driven). The sealing material 8 is heated to a temperature higher than its melting point.
次に、第2図(b)に示すように、キャップ7がシール
材8に当接してプレスブロック21から加圧されると、
シール材8は溶融してキャップ7下面のメタライズ層と
共晶反応を起こす。前述の擦合駆動は、この共晶反応を
促進させるものでおり、これにより共晶反応は迅速かつ
確実に起こり、キャップ7はパッケージベース1上に強
固に接着され、封止力が増大する。なお、擦合駆動を大
きな範囲で行なうと、溶融したシール材8がパッケージ
ベース1のキャビティ内に流入するため好ましくなく、
これを防止する適度の許容範囲内で行なわれるものでお
る。また、擦合駆動に際してキャップ7はプレスブロッ
ク21下端面の凹部24内に1■め込まれているので、
キャップ7の位置ずれを生じることもない。Next, as shown in FIG. 2(b), when the cap 7 comes into contact with the sealing material 8 and is pressurized by the press block 21,
The sealing material 8 melts and causes a eutectic reaction with the metallized layer on the lower surface of the cap 7. The above-mentioned rubbing drive promotes this eutectic reaction, whereby the eutectic reaction occurs quickly and reliably, the cap 7 is firmly adhered onto the package base 1, and the sealing force is increased. It should be noted that if the rubbing drive is performed over a large range, the melted sealing material 8 will flow into the cavity of the package base 1, which is undesirable.
This should be done within an appropriate tolerance to prevent this. In addition, since the cap 7 is inserted one inch into the recess 24 on the lower end surface of the press block 21 during the rubbing drive,
There is no possibility that the cap 7 will be misaligned.
キャップ7がシール材8によってパッケージベース1に
接着された後は、吸着口23の吸引が遮断され、これに
よりキャップ7がプレスブロック21から解放される。After the cap 7 is adhered to the package base 1 by the sealing material 8, the suction of the suction port 23 is cut off, thereby releasing the cap 7 from the press block 21.
この後、プレスブロック21は第2図(C)のように、
上昇してパッケージベース1から離れ、次の処理のため
に別のキャップを吸着して待機する。After this, the press block 21 is moved as shown in FIG. 2(C).
It rises and leaves the package base 1, and waits while adsorbing another cap for the next processing.
このような本実施例では、吸着口23によってキャップ
7がプレスブロック21に保持された状態で接着される
ので、キrツブ70位置ずれがなく、封止精度が向上す
る。また、キャップ7のみを加熱して接着するので熱効
率か良く、パッケージベース1に実装された半導体素子
への熱影響も大幅に少なくなる。In this embodiment, since the cap 7 is bonded to the press block 21 while being held by the suction port 23, there is no displacement of the cap 70, and the sealing accuracy is improved. Further, since only the cap 7 is heated and bonded, thermal efficiency is improved, and the influence of heat on the semiconductor element mounted on the package base 1 is significantly reduced.
本発明は上記に限定されるものではなく、種々の変形が
可能でおる。The present invention is not limited to the above, and various modifications are possible.
例えば、プレスブロック21の下面に凹部25を形成し
なくても良く、この場合には吸着口23の吸引ツノを大
ぎくすることでキャップ7の位置ずれを防止することが
できる。また、プレスブロック21の全体を発熱体とせ
ずに、下端部にのみ発熱体を設けるようにしてもよい。For example, it is not necessary to form the recess 25 on the lower surface of the press block 21, and in this case, by tightening the suction horn of the suction port 23, displacement of the cap 7 can be prevented. Further, instead of using the entire press block 21 as a heat generating body, a heat generating body may be provided only at the lower end portion.
以上、詳細に説明した通り、本発明に係るパッケージ封
止装置によれば、キャップの加熱と力0圧とをキャップ
の吸着状態で行なうので、キャップの取付は精度が向上
すると共に熱影響がなく、さらにはキX・ツブのみを加
熱するので熱効率も向−トJる効果かある。As explained in detail above, according to the package sealing device according to the present invention, heating of the cap and zero pressure are performed while the cap is in an adsorbed state, so the attachment of the cap improves accuracy and is free from heat effects. Furthermore, since only the tubes and tubes are heated, thermal efficiency is also improved.
第1図は本発明の実施1シリに係る封止装置の底面方向
からの斜視図、第2図(は封止作業を工程順で示す一部
破断側面図、第3図はパッケージの一例の分解斜視図、
第4図は従来装設の各例の側面図である。
1・・・パッケージベース、7・・・キャップ、8・・
・シール材、21・・・プレスブロック、23・・・吸
着口、25・・・発熱体。
特許出願人 住友電気工業株式会社
代理人弁理士 長谷用 芳 樹第1図
パッケージの分解斜視図
第3図FIG. 1 is a perspective view from the bottom of a sealing device according to the first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a partially cutaway side view showing the sealing operation in the order of steps, and FIG. Exploded perspective view,
FIG. 4 is a side view of each example of conventional installation. 1...Package base, 7...Cap, 8...
- Sealing material, 21... Press block, 23... Suction port, 25... Heating element. Patent Applicant: Sumitomo Electric Industries, Ltd. Representative Patent Attorney Yoshiki Hase Figure 1 Exploded perspective view of the package Figure 3
Claims (1)
パッケージベース上に載置されたキャップとの間に介挿
されてなるシール材を加圧・加熱し、前記キャップを前
記パッケージベースに接着させるパッケージ封止装置に
おいて、 少なくとも下部が発熱体で構成されると共に、前記キャ
ップを吸着する吸着口が下端部に形成されており、前記
キャップを吸着、保持した状態で前記パッケージベース
上にキャップを加圧状態で載置するように駆動されるこ
とを特徴とするパッケージ封止装置。 2、前記キャップが嵌め込まれる凹部が下端面に形成さ
れている特許請求の範囲第1項記載のパッケージ封止装
置。 3、前記加圧の際に、前記キャップを保持した状態で擦
合作動される特許請求の範囲第1項または第2項記載の
パッケージ封止装置。[Claims] 1. Pressure and heat a sealing material inserted between a package base on which a semiconductor element is mounted and a cap placed on this package base, and In a package sealing device for adhering to a package base, at least the lower part is composed of a heating element, and a suction port for adsorbing the cap is formed at the lower end, and the package sealing device is attached to the package base while the cap is adsorbed and held. A package sealing device that is driven to place a cap thereon under pressure. 2. The package sealing device according to claim 1, wherein a recess into which the cap is fitted is formed on the lower end surface. 3. The package sealing device according to claim 1 or 2, wherein when the pressurization is applied, the cap is rubbed while being held.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15578387A JPS64751A (en) | 1987-06-23 | 1987-06-23 | Sealing device for package |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15578387A JPS64751A (en) | 1987-06-23 | 1987-06-23 | Sealing device for package |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01751A true JPH01751A (en) | 1989-01-05 |
| JPS64751A JPS64751A (en) | 1989-01-05 |
Family
ID=15613317
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15578387A Pending JPS64751A (en) | 1987-06-23 | 1987-06-23 | Sealing device for package |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS64751A (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2901403B2 (en) * | 1991-12-25 | 1999-06-07 | 京セラ株式会社 | Package sealing device for electronic component storage and sealing method |
| JP2006108162A (en) * | 2004-09-30 | 2006-04-20 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | Hermetic sealing method, hermetic sealing body using the method, and heating apparatus used in the method |
| JP5500927B2 (en) * | 2009-09-29 | 2014-05-21 | シチズン電子株式会社 | Method for manufacturing light emitting device |
-
1987
- 1987-06-23 JP JP15578387A patent/JPS64751A/en active Pending
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