JPH0192878A - 微小な不要または欠陥部分の検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「発明の目的」 （産業上の利用分野） 本発明は、印刷物、製版用フィルム、印画紙、複写物等
における本来の必要な画像の他に存在する。

ピンホール、汚れ等の微小な不要または欠陥部分を検出
する方法に関する。

（従来の技術） 従来、製版の作業において、使用されているノリや版下
台紙の汚れ、ｎ光器の汚れ等が原因で発生する不要な、
または欠陥である光透過部分または反射部分を遮光する
作業である。あるいは画線を色毎に区分けする作業であ
る。製版用フィルムまたは印画紙等の遮光方法としては
、マスクシート利用法および修正液塗布方法が知られて
いる。

これらの作業における不要または欠陥部分の検出につい
て見ると１人間の目による検出であり１時間がかかるこ
と１作業者の熟練、などの問題があった。

不要な、または欠陥である部分は、一般にピンホールや
汚れ等であることが多い。これらの不要な部分は、数が
多いだけでなく、検出に大変な労力がかかっているのが
現状である。つまり１文字や絵柄の間といった小さな部
分の中に多くの遮光すべき部分があることが多い。

すなわち、従来の製版用フィルムまたは印画紙等におけ
る不要な、または欠陥である光透過部分または反射部分
を遮光する方法としては、特に不要な光透過部分または
反射部分を検出する手段は極めて手工的な作業となって
いる。

なお、製版用フィルムまたは印画紙等における不要な光
透過部分または反射部分の検出という点について見ると
、印刷物検査装置またはプリント基板検査装置があるが
、これらの装置は検査用の見本となる試料を実物または
テレビカメラ等から入力された見本画像を電子的（電気
的）記憶手段にて装置内に保持し、各検査品ごとに構成
画像について順次走査または適当な方法にて見本となる
試料との比較・検証を実施して検査目的を達成するもの
である。

これらの装置としては１例えば特開昭６０−２５０９５
７号、同６０−２５０９５８号、同６１−１２３４１号
、同６１−１２３４３号、同６１−１２３４５号公報等
に記載されている。これらは検査または検査用の情報設
定を迅速かつ安定に行い、印刷物の生産合理化を実現せ
しめるという利点を一応有しているが、製版用フィルム
または印画紙等における不要な光透過部分または反射部
分の検出には、検査見本が無いこと、つまり検査見本と
なるものが版下台紙等のため、利用できない。つまり、
標準となる見本を必要とせずに不要な部分を検出する方
法または装置が望まれていた。

また２以上のような製版における作業だけでなく。

印刷物、写真、複写物等の画像に対しても微小な不要ま
たは欠陥部分の検出が必要とされることがあり。

この作業においてもほとんど人手に頼っているのが現状
である。

（発明が解決しようとする問題点） 本発明は、印刷物、製版用フィルム、印画紙等における
本来の必要な画像の他に存在する。ピンホール、汚れ等
の微小な不要または欠陥部分を検出する方法を提供する
ものである。

「発明の構成」 （問題点を解決するための手段） 本発明は９画像に対しピンホール、汚れ等の画素の大き
さ以下の微小な不要または欠陥部分を検出する方法にお
いて１画像を画素単位に検出し、ある画素に対し、該画
素に接して１周囲にある４個または８個の画素の情報に
より９周囲にある画素のいずれとも連続していない画像
の画素部分を微小な不要または欠陥部分として検出する
方法（以下、連結法という）であり、さらには１画素毎
または一定周期の画素毎に検出ピンチで検出を行う方法
である。

なお８画像の２値化情報により９輪郭を検出する方法も
知られているが、ピンホールや汚れ等の画素より小さい
不要部分を検出する方法に、連結法を応用した方法につ
いては検討されていない。

本発明は、形成されている画像（必要な部分）に対し、
それ以外の部分である微小な不要または欠陥部分を簡便
、迅速かつ精度よく検出でき、また熟練者によらなくと
も作業できる方法を見出したものである。すなわち、必
要な部分の検出も可能であり。

不要または欠陥部分の検出も可能である。

本発明は２画像形成されている印刷物、写真、製版用フ
ィルムまたは印画紙等の画像部分である必要な光透過部
分または反射部分以外を検出し、さらに遮光等の作業に
有効な方法を提供するものである。

本発明に係わる装置としては１画像を有する対象物を搬
送する手段、搬送されている対象物を露光する手段、露
光された対象物の画像情報を読み取る手段、その読み取
られた情報により必要な部分または不要な部分かを検出
する手段、を有する装置である。

必要な部分を画素による連結法により検出する方法であ
る。検出ピンチを画素毎または画素の１つおき等のよう
に一定周期の画素毎に設定することができる検出手段を
用いる方法である。

本発明の方法は、イメージスキャナー等を使って画像を
有する対象物の光学像をイメージセンサ−等で光電変換
し、得られた映像信号を演算処理装置にに供給し、この
映像信号によって、必要部分である以外の部分、つまり
ピンホール等の部分を検出するものである。

本発明に係わる検査対象物である印刷物、写真。

製版用フィルムまたは印画紙等としては、製版用フィル
ム、印画紙の他に、ネガまたはポジのモノクロまたはカ
ラーフィルム、版下台紙等が例示される。

検査対象物がネガ型の場合２通常光透過部分が検出部分
である。ポジ型の場合、光透過部分９反射部分いずれも
ある。例えば、必要な画像部分、太い線。

ベタ部等の中に不要なまたは欠陥である光透過部分が検
出対象となる。また、ポジ型印画紙のように。

白色ベースに汚れ等の黒色ぶぶんがあるとき、その反射
部分が検出対象となる。

本発明に係わる装置の主たる構成は、窪゛送手段。

露光手段および検出手段、であるが、搬送せずに露光お
よび検出手段をスキャニング可能となるように移動させ
る方式でもよい。また、必要に応じて２画素サイズや検
出ピッチを予め設定しておくのではなく、入力手段で、
その都度設定できるようにしておいてもよい。画素サイ
ズは通常検出手段である受光素子によって決定さ′れる
ことが多いが、変更できるようにすることもでき、簡易
には受光素子の大きさの倍数単位で調整出来るようにし
てもよい。また。

検出ピッチも通常画素毎に行うが９画素の１つおきに検
出することなども可能である。検出ピッチを固定方式と
することは勿論、可変とすることもできる。

入力手段としては１画素サイズを入力できるものであれ
ば特に制限されないが、キーボード、スキャナーなどが
使用できる。

露光手段としては、検出手段にある受光素子で受光でき
るものであれば、特に制限されるものではなく９例えば
ＬＥＤアレイ、タングステンランプ、螢光燈、キセノン
ランプ等が使用できる。検出手段における受光素子とし
ては２種々のものが使用可能である。例えばＣＯＤ密着
型イメージセンサ−、フォトマルチプライヤ−、ビジコ
ンに代表れる光導電型撮像管、フォトダイオード、フォ
トトランジスター。

太陽電池等が使用できる。特にＣＯＤ密着型イメージセ
ンサ−１例えば東芝製ＣＩＰＳ３０４ＭＳ１は製版用フ
ィルムまたは印画紙等が、予め設定されている検出部分
を通過する速度について高速化が実現できるため、優れ
た受光素子である。なお、撮像管の例としては、ビジコ
ン、プラビコン（フィリップス、松下電器産業）、サチ
コン（Ｎ　ＨＫ、日立、製作所）、カルニコン（東芝）
、ニュービコン（松下電器産業）、シリコンビジコン（
ＲＣＡ）等がありＣＯＤとしてはＩＬ（インターライン
方式）、ＦＴ（フレームトランスファ方式）のＣＣＤ等
である。

本発明に好適な受光素子の機能としては。

（１）波長２００〜８００ｎｍの一部または全部での光
電変換。

（２）最小の読み取りの大きさが０．０１〜０．５０　
ｍ（３）可変可能な諧調特性（Ｔ補正） を具備しており、必要に応じて単一または複数の受光素
子の入光部への拡大または縮小のレンズを有する。上記
（１）〜（３）の機能の一部または全部を具備し光電変
換特性を有すれば９例示した受光素子に限定されるもの
ではない。

検出に際し、必要に応じて適当な拡大または縮小のレン
ズ系を利用することができ、検出能力の向上や装置の簡
易化を図ることができる。これにより受光素子の解像力
、すなわち必要部分の検出程度を。

利用されるレンズ系との組合せによって種々な設定が可
能である。

印刷物、製版用フィルムまたは印画紙等の画素の検出は
、受光素子を使用し２画素単位での製版用フィルムまた
は印画紙等の表面の走査を行う。

この走査による１り報を、少なくとも走査１ライン以上
を何らかの手段で保持し９例えば走査１ライン中での独
立していない画素が必要な光透過または反射部分である
と、予め設定しておくことにより、検出が可能となる。

従って、走査１ラインまたは１ライン以上による画素情
報を適当な方法で調査・検証することによって、必要な
部分あるいは不要または欠陥部分としての同定ができる
。すなわち９本来必要部分である画像は２本来の画像部
分の画素が独立して存在することはなく、独立して存在
するものは不要な、または欠陥の部分であるため、走査
による前後およびまたは左右の画素の情報から判断でき
る。

なお、印刷物、製版用フィルムまたは印画紙等での本来
の画像部分は連続したものであり、製版用フィルムまた
は印画紙等から製版された印刷版においては、網点とな
っているが、大雑把な言い方をすれば、製版用フィルム
または印画紙等での画素は。

印刷版の網点に相当する。

また１画像メモリには、イメージスキャナー等のタイミ
ングで記憶し、必要に応じて設けられる検出の後工程で
必要なタイミングで読み出す。さらに。

画像メモリから後工程のタイミングで読み出してきたー
データを、後工程の制御信号に変換し、パルス巾を制御
することにより９次の工程を行うことができる。

検出における同定に際しては１Ｍ単なコンピューター処
理による画素の連結法により調査・検証する。

この連結法により製版用フィルムまたは印画紙等の必要
な光透過部分または反射部分である画素の検出ができる
。

検出手段から後工程への位置情報の伝達および後工程実
行法として具備すべき機能の１例として（１）少なくと
も走査１ライン相当分の電気的等の記憶手段。

（２）該記憶手段を調査・検証するのに適当なコンピュ
ーター。

含み、　（１）〜（２）の手段は、一体型または分離し
た構造にすることができる。

走査１ライン相当分以上の記憶手段の１例を挙げると１
例えば走査方向の解像力を４本／　ｍ　ｍとすれば、最
低８ピツ）　／　ｍ　ｍの記憶容量があればよく。

好ましくは、４バイト／ｍｍに相当する記憶容量を有す
る手段である。

次に本発明を１実施態様により説明するが９本発明はこ
の実施態様に限定されるものでないことは。

前記説明より明らかである。

第１図は１本発明の詳細な説明するための概略図である
。

製版用フィルムまたは印画紙等の検査対象物１はベルト
やローラ等を含む搬送手段２によって露光・検出手段１
０へ進む。露光・検出手段１０には、蛍光灯やＬＥＤア
レイ１１　（透過用）、１２（反射用。

つまり印画紙用）を照明光源（露光手段）とし、ＣＣＤ
受光素子（検出手段）１３が搬送方向と直角に配置され
ており、入力手段１６がＣＰＵＩ　５に接続され、入力
されたサイズ、さらには検出ピ・７チに基づき計算器１
５を介して検出コントローラ１４からの指示により、露
光手段１１または１２が稼働する。

検出手段からの情報である検査対象物の画像情報を順次
にＣＰＵ　（演算装置）１５管理下のメモリー１７に記
憶される。なお２本発明における装置において、ＣＰＵ
１５は必ずしも必須ではなく、場合によっては、ＣＰＵ
を設けない装置とすることも可能である。

なお、搬送手段２は検査対象物の保持を目的に動作し２
本例では動作確認のためにロータリーエンコーダー（図
示せず）を使用している。メモリー１７に記憶された情
報量が搬送直角方向で３ライン相当に達したら第３図に
示す４連結画素の情報を比較器で比較し、必要な部分で
ある文字または絵柄を。

予め定めた値によって決定される。この比較−決定によ
り必要な部分とされた場合、相当する座標情報をサブメ
モリー１８に記憶させる。

第３図の（Ａ）は本来必要な部分である画線を模式的に
位置情報と共に示したものであり、　（Ｂ）は不要なま
たは欠陥部分を示すものである。

比較器２０での比較について、説明すると、Ｂ−２の位
置について注目し、横方向、つまりＡ、Ｂ。

Ｃを走査ラインとした場合、Ｂ−２の部分が必要部分（
本来の画線）か、不要な部分（ピンホールや汚れ等）か
を、Ａ−１，８−１，Ｂ−３およびＣ−２の情報に基づ
き比較する。つまり、Ｂ−２の部分に光透過または反射
部分があり、かつＡ−１，Ｂ−１゜Ｂ−３およびＣ−２
のいずれか１つまた２つ以上に光透過または反射部分が
あった場合、すなわち第３図の（Ａ）では、Ｂ−２の部
分は必要部分として設定する。隣あう２つ以上、あるい
は３つ以上に光透過または反射部分があった場合に必要
部分と設定することもできる。また、第３図の（Ｂ）の
ように。

隣あうＡ−１，８−１，Ｂ−３およびＣ−２のいずれに
も光透過または反射部分がない場合には、不要なまたは
欠陥部分と設定する。

なお１画素単位に順次走査する例を示しているが。

画素の単位が１本来必要な画線の端等にかがった場合、
この画線部分も画素より小さい部分になり、不要または
欠陥部分とされないため、この部分を必要または欠陥部
分でないと検出しないようにするため。

上記したような連結法により検出することで正しい検出
を行う。

比較器２０で比較検討された結果が、必要に応じて次の
工程部３０へ送られる。なお、比較器２０は。

ＣＰＵ１５の内部に組み込まれている場合の他、ＣＰＵ
１５を使用しない場合には比較器２０として設けられる
。

同定のために参照する画素の数は同一でよく９例えば、
検出対象の文字等が大きくなった場合、小さい文字の検
出のときよりも、粗い画素数、つまり文字等の１つあた
りの画素数は同一でよく、これがために必要部分と不要
な部分との大きさが通常のものと異なっていても、検出
、遮光に要する処理時間等は通常の場合と同一である。

つまり１小さい画像単位（画線２文字等）でも、大きな
画像単位のものであっても、処理時間等は変らない。す
なわち、参照する画素の数が同一であるためである。

また２本発明では画素の大きさを予め設定することもで
きるが、目視で通常に処理する製版フィルム等の文字等
との比較２画像を形成している文字等の大きさ１例えば
級数やポイントの比較等を利用し。

自動化することもできるが、必ずしもこれらに限定され
ることはなく、キーボードを用いて１画素の大きさや検
出ピッチの入力を行うこともできる。なお。

通常の文字であれば１画素の大きさは約４００μｍとす
ればよい。また１画像の検出では、露光強度。

露光強度の周期的な変化も設定でき、この露光の変化条
件は、必要な部分の検出と同定をより迅速にする上で有
効である。画素の大きさや検出ピッチは。

キーボード等より入力される。入力されたサイズはＣＰ
Ｕを経て検出手段に設定される。本発明での画素大きさ
の設定がキーボードから入力されたサイズに基づき、Ｃ
ＰＵで計算される。さらにはＣＰＵで。

参照するピッチを変えたり、サイズの記憶ができる。

通常は９画像検出装置の検出ピンチ（巾）を変更するこ
とにより、検出が実施される。第４図に検出ピッチを変
更した例を示す。入力手段により、検出ピッチを設定す
ることは勿論、ＣＰＵ１５で演算できるようにすること
もできる。第４図の■では、検出ピッチを細かくした例
であり１例えば画素に応じて、つまり画素毎に検出ピッ
チを指定したものである。また、■では、検出ピンチを
大きくシ１点線で示す部分は検出しないようにして検出
を行う例である。なお、これらの検出ピッチは１通常検
出コントローラ１４によって行われる。なお９検出コン
トローラ１４を設けず、同じ検出ピンチで検出する装置
とすることもできる。

また、検出手段への露光条件の変更は、第５図に示すよ
うな時間（被検査物の搬送）方向での露光強度の変化を
主としていて、光源の明るさの変化によるピンホール等
の検出素子にとっての検出程度の差を生じせしめる効果
がある。すなわち、検出素子における検出の闇値は検出
素子への入光する光の強度と時間で決定されるが、露光
強度を予め設定した条件に従って変更（調光）は、この
強度と時間を利用して、ピンホールと文字等の本来の画
像の同定をより容易にしていることになる。

すなわち、第５図に示すグラフは、１走査を２回とし、
１回目の走査は強い光で露光し、２回目は弱い光で露光
し、２回の露光とも所定値に設定した闇値（点線で表示
）以上の場合だけ９本来の必要な画像であると判定し、
いすか一方（弱い光での露光）が闇値以下のときは不要
なまたは欠陥部分と判定でき、この部分を遮光する。な
お１強い光および弱い光いずれも闇値以下のときは、余
りに小さい部分であるため、無視する設定もできる。露
光の強弱を変える手段としては１例えばロータリーシャ
ッターによる開閉で行うことができる。また、その他の
調光装置により、露光の強弱を調節することもできる。

なお、製版用フィルムまたは印画紙等の大きさは使用さ
れる画像の大きさ１例えば街頭広告用またはカタログ用
等によって様々な形状と大きさとなる。

製版用フィルムまたは印画紙等の不要なまたは欠陥であ
る光透過部分または反射部分を検出する作業において１
本発明の方法により１次のような作業工程の改善がなさ
れる。

次に本発明による作業による結果を、従来の手作業と比
較した結果を示す。

本発明　　：　　作業時間　２０秒 従来の手作業　二　作業時間　１５分 （製版用フィルムＡ３サイズで、不要または欠陥部分の
検出対象　１７０箇所） 「発明の効果」 製版用フィルムまたは印画紙等の不要なまたは欠陥であ
る光透過部分または反射部分を検出する作業において２
本発明の方法により１作業工程の改善がなされる。

本発明により、従来９手作業で行われていた検出作業が
９機械化でき、さらに連続作業とすることもできる。さ
らに熟練者によらなくとも均マな作業ができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は２本発明の方法の１実施態様を示す概略図、第
２図、第３図は、不要なまたは欠陥である光透過部分ま
たは反射部分の検出を説明するための概念図、第４図は
不要な光透過部分または反射部分の検出を説明するため
の概念図、第５図は検出するた〇−画像検出装置、１１
−、１２−露光手段、１３−検出手段、１４−検出コン
トローラ、１５−ＣＰＵ、１６−人力手段、１７−メモ
リー、１８−サブメモリー、２０−比較器、３〇−次工
程部、をそれぞれ示す。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、画像に対しピンホール、汚れ等の画素の大きさ以下
   の微小な不要または欠陥部分を検出する方法において、
   画像を画素単位に検出し、ある画素に対し、該画素に接
   して、周囲にある４個または８個の画素の情報により、
   周囲にある画素のいずれとも連続していない画像の画素
   部分を微小な不要または欠陥部分として検出することを
   特徴とする方法。 ２、画素毎または一定周期の画素毎に検出ピッチで検出
   を行う特許請求の範囲第１項記載の方法。