JPH0194242A - 濁度測定装置 - Google Patents

濁度測定装置

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JPH0194242A
JPH0194242A JP25137087A JP25137087A JPH0194242A JP H0194242 A JPH0194242 A JP H0194242A JP 25137087 A JP25137087 A JP 25137087A JP 25137087 A JP25137087 A JP 25137087A JP H0194242 A JPH0194242 A JP H0194242A
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JP
Japan
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cleaning
circuit
turbidity
value
input
Prior art date
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Pending
Application number
JP25137087A
Other languages
English (en)
Inventor
Shotaro Urushibara
漆原 正太郎
Seiichi Kamata
鎌田 誠一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 A、産業上の利用分野 この発明は上下水道等における濁度測定装置1こ関する
B1発明の概要 この発明は」二下水道等で使用される濁度測定装置にお
いて、 濁度測定検出部の洗浄周期を検出部の汚れ等の度合に応
じて変更させることにより、 汚れ等による測定誤差をなくして正確な測定を行うこと
ができるようにしたものである。
C従来の技術 」1下水道や環境水域において濁度を測定することは重
要である。濁度測定には光学的手段が使用され、その手
段として、散乱光式、透過光式、透過散乱光比較式等が
ある。また、測定形態から分類するとサンプリング形、
浸漬形に区別される。
後者の浸漬形測定方式は、設置コストが安いこと、検出
の遅れがないこと、ポンプ配管系のメンテナンスが不要
なこと等の利点が多い反面、計器全体が測定用検水の近
くの環境に設置されるため、耐環境性等を克服しな1ノ
ればならない。第2図に散乱光方式浸漬形濁度計の構成
説明図を示す。第2図において、検水槽1に濁度測定検
出部2を浸漬させる。検出部2は第3図Aに示すように
パイプ部2aと、パイプ部22Lの先端に設(3られた
検出器本体2bとから構成され、検出器本体2bの先端
面は第3図Bに示すように中央に発光部20bを有し、
その周囲に受光部21bを有する。3は検出用信号線で
、この信号線3の一端は検出部2のパイプ部りa内を通
って検出器本体2bに接続され、他端は変換器4?こ接
続される。
5は洗浄器で、この洗浄器5の先端部?こは検出器本体
2bの先端面を洗浄させるブラシ6が移動自在に設けら
れている。洗浄器5は検水槽1の」−壁に設(Jられた
取イ」台7に固定される。8.9は検出部2と洗浄器5
とを固定する第1.第2固定部材、10は洗浄プラノ6
の駆動部(モータ等から形成されている)である。駆動
部IOは洗浄用ケーブル11を介して変換器4に接続さ
れる。
第2図の濁度計で、検水槽I内の検水中の汚濁物、微細
気泡が検出器本体2bの検出面に付着すると、その散乱
光のため、測定出力としては実際の濁度よりも高くなっ
てしまう。これを防ぐため、変換器4内に設+:lられ
たコントローラ(後述する)により洗浄指令が駆動部1
(Hこ与えられる。駆動部10は洗浄指令によりブラシ
6を往復連動させて検出面の洗浄を行う。
第4図は洗浄装置を備えた従来の測度測定装置を示すブ
ロック図で、第4図において、検出部2て検出された濁
度信号は計測回路12に供給される。計測回路12は測
度に対応した信号をホールド回路I3に供給する。14
はコントローラで、このコントローラI4は洗浄周期イ
、、プラノ6の洗浄時間t2を設定するもので、洗浄周
期1 、が経過する毎に洗浄時間1.の間、洗浄器5の
ブラシ6に洗浄指令を送出すると同時にホールド回路1
3にホールド指令を与える。ホールド回路13はホール
ド指令が入力されると、計測回路12の出力のうちその
直前の値を保持する機能を持っているとともにホールド
指令がないときには計測回路12の出力をそのまま出力
する3゜ 第5図は検出部?こ汚れ、気泡がほとんど付着していな
いときと、それらが付着されているときの濁度測定装置
の出力特性図で、図中時間(a)は検出部に汚れ、気泡
がほとんどイ」着していない場合のときの出力で、t2
の期間はブラシ洗浄中であることを示す。このブラシ洗
浄中のときコントローラ14からホールド指令が送出さ
れる。また、第5図中時間(b)は測定時間t3に検出
部に汚れや、気泡が付着する場合で、汚れ、気泡が検出
面に付着するとその散乱光のため、実際の測度(図中の
点線)よりも高い出力となってしまう。
図から汚れの付着の増加とともに、出力が」二昇ず・ 
るため、洗浄直後のみ実際の濁度に近い値を示すノコ刃
状の波形出力となる。
D 発明が解決しようとする問題点 」二足に示す濁度計を使用して濁度計測を行い、゛その
出力を使用して監視制御を行うと次に示すような問題を
生じる。
(+)検出部の汚れ、気泡の付着が激しい場合に、正確
な濁度出力が得られるのは検出部を洗浄した後の一定期
間のみである。
(2)洗浄回数を増加、すなわち、洗浄周期1゜を小さ
くすることにより、正しい測定をする頻度が増すげれど
も、次のような問題が新た?こ発生ずる。
(イ)ホールド回数が多くなって測定の応答性が劣化す
る。
(ロ)洗浄機構の摩耗、劣化、故障の増加が起きる。
(3)汚れ、気泡の付着状況が変化する場合、汚れ気泡
付着の少なくなった時には複数回の洗浄(J無駄である
E2問題点を解決するための手段 この発明は洗浄装置を備えた検出部と、この検〜7− 山部で得られた濁度信号を計測する計測回路と、洗浄装
置に予め設定された洗浄周期内における洗浄指令を与え
、この洗浄指令が送出されているときにホールド指令を
送出するコントローラと、前記計測回路で計測された濁
度信号が与えられ、前記コントローラからホールド指令
が送出されているときにはホールド指令が与えられる直
前の濁度信号を保持し、ホールド指令がないときには計
測された濁度信号をそのまま出力するホールド回路とを
有する測度測定装置において、 洗浄装置の洗浄開始直前の濁度信号出力を記憶する記憶
回路と、前記ホールド回路の出力に設けられ、ホールド
回路をそのまま通過した濁度信号出力が供給される入力
回路と、前記記憶回路に記憶された記憶値と入力回路に
供給された入力値とが供給され、記憶値と入力値とを演
算し、その演算出力をコントローラに与えて前記洗浄周
期を変更させる演算装置とを備えたものである。
F0作用 演算装置を用いて洗浄開始直前の濁度信号と、ホールド
回路をそのまま通過した濁度信号出力とを演算し、その
演算結果をコントローラに与えて検出部の汚れ何着の度
合に応じて洗浄周期の変更を行うようにした。
G6実施例 以下図面を参照してこの発明の一実施例を説明するに、
第2図から第4図と同一部分は同一符号を倒して示す。
第1図において、15は記憶回路で、この記憶回路15
は洗浄開始直前の濁度信号(Xl)をポ−ルド回路13
から得て記憶保持する。16は入ツノ回路で、この入力
回路16は洗浄が収容したとき、ホールド回路13のホ
ールドが解除され、潤度信号がそのままホールド回路I
3から出力されるのを入力する。このとき入力される値
をX、とする。記憶回路15の潤度信号の記憶値X1と
入力回路16の入力値X2は演算装置17に取り込まれ
る。演算装置17はXI  X2の演算を行い、その演
算値ΔXをコントローラ14に供給する。
コントローラ14は予め設定された洗浄周期t1の長短
をΔXによって変更される。
次に上記実施例の動作を述へる。まず、コン)・ローラ
14に洗浄周期11をある周期に設定する。
検出部2を洗浄時間1 、で洗浄した後、測定時間13
が経過すると、再び洗浄を開始する。このとき、記憶回
路15に洗浄開始直面の両度信号X1が記憶される。そ
の後、洗浄が終了されろとホールド回路13の出力に(
J計測回路12の計測信号がそのまま出力される。この
出力を入力回路J6に入力する。記憶回路15のXIと
入力回路16のX2は演算装置I7でx、−x2−ΔX
の演算が行われる。演算されたΔXはコントローラI4
に与えられる。コントローラI4では予め設定したしき
い値Aとの比較を行う。その結果(1)式の演算を行っ
て、洗浄周期t1の変更を行う。
但し、1.を(2)式のように最大と最小を設定してお
き、周期変更の限界を決めておく。
1:mln≦1.≦jmax         ・・(
2)また、しきい値Aおよび演算値ΔXは測定器の用い
られる状況、使用目的によって設定を行う。
従って、ある測定時間L3の間に汚れ付着により出力誤
差を生じ、しきい値Aを越えると、次の洗浄までの期間
、すなわち測定期間がΔ1減少する。このため、洗浄が
それだけ早く繰り返すことになる。このように洗浄時間
を早くしても、検出部の汚れ何着が大きい場合には次の
洗浄周期L1はさらにΔtだけ短くなる。一方、検出部
2に汚れ、気泡イ」着が生じない場合には逆に八りづつ
洗浄周期t、が増加することになる。なお、洗浄時間t
、は通常検出される検水の濁度変動の周期に比へ充分に
短くして、洗浄前後における真の測度の変動を無視でき
る範囲に設定する。
」二足のように、検出部2の汚れ付着の少ない場合にも
(2)式に示す1.8xの周期で洗浄を行い、汚れ気泡
付着の有無を確かめることができる。また、汚れ気泡付
着の激しい時でも最小の測定時間を確保するため、tl
、+n<tIの限界を設(Jている。
J−記実施例ではしきい値A、洗浄周期の変更幅をΔt
とした場合について説明してきたが、複数のしきい値A
 + 、 A、・・・Anと洗浄周期tA111A2・
・・tAn−1を対応させることも次式のように可能で
ある。
△x > A +ならばtI−)tmIo−An≧ΔX
ならばt、→t、、、、、x  ■但し、Δ+ > A
 、> A 3> −> A n。
t mln<  t Al<  j A2< −<  
j mlnまた、」−記実施例ではプラン式洗浄装置の
濁度計について述べてきたが、洗浄前後で洗浄の効果が
△Xとして検出できる方式の測定、洗浄機構であれば適
用は容易である。
H、発明の効果 以」二連へたように、この発明によれば、検出部の洗浄
前後の濁度信号を演算し、その演算結果が検出部の汚れ
等のイ;j着に相当していることに着目して、演算結果
によって洗浄周期を自動的に変更するようにしたので、
正確な測度の測定ができ、しかも汚れ、気泡付着による
測定誤差を生じている期間が短くでき、かつ過剰洗浄す
ることも防止できる。過剰洗浄をしなくなるため、測定
応答の劣化がなくなるとともに洗浄機構の摩耗、劣化等
を防止できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第2図
は散乱光方式浸漬形濁度計の構成説明図、第3図A、B
は検出部の詳細を示す正面図および検出器本体の底面図
、第4図は従来の濁度測定装置を示すブロック図、第5
図は濁度測定装置の出力特性図である。 2・・・検出部、5・・洗浄器、12・計測回路、I3
・・ホールド回路、14 コントローラ、15・・・記
憶回路、■6 ・入力回路、■7・演算装置。 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)洗浄装置を備えた検出部と、この検出部で得られ
    た濁度信号を計測する計測回路と、洗浄装置に予め設定
    された洗浄周期内における洗浄指令を与え、この洗浄指
    令が送出されているときにホールド指令を送出するコン
    トローラと、前記計測回路で計測された濁度信号が与え
    られ、前記コントローラからホールド指令が送出されて
    いるときにはホールド指令が与えられる直前の濁度信号
    を保持し、ホールド指令がないときには計測された濁度
    信号をそのまま出力するホールド回路とを有する濁度測
    定装置において、 洗浄装置の洗浄開始直前の濁度信号出力を記憶する記憶
    回路と、前記ホールド回路の出力に設けられ、ホールド
    回路をそのまま通過した濁度信号出力が供給される入力
    回路と、前記記憶回路に記憶された記憶値と入力回路に
    供給された入力値とが供給され、記憶値と入力値とを演
    算し、その演算出力をコントローラに与えて前記洗浄周
    期を変更させる演算装置とを備えたことを特徴とする濁
    度測定装置。
JP25137087A 1987-10-05 1987-10-05 濁度測定装置 Pending JPH0194242A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0376153U (ja) * 1989-11-28 1991-07-30
JP2005274216A (ja) * 2004-03-23 2005-10-06 Kurita Water Ind Ltd センサの汚れ検出方法およびセンサの洗浄方法
JP2007046978A (ja) * 2005-08-09 2007-02-22 Optex Co Ltd 水質測定器、水質測定システム、水質測定方法、水質管理システム、および水質管理方法
JP2019020203A (ja) * 2017-07-14 2019-02-07 三菱電機株式会社 汚れ判断装置およびそれを用いた計測器のメンテナンス装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5551339A (en) * 1978-10-11 1980-04-15 Toshiba Corp Sludge precipitation meter

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5551339A (en) * 1978-10-11 1980-04-15 Toshiba Corp Sludge precipitation meter

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0376153U (ja) * 1989-11-28 1991-07-30
JP2005274216A (ja) * 2004-03-23 2005-10-06 Kurita Water Ind Ltd センサの汚れ検出方法およびセンサの洗浄方法
JP2007046978A (ja) * 2005-08-09 2007-02-22 Optex Co Ltd 水質測定器、水質測定システム、水質測定方法、水質管理システム、および水質管理方法
JP2019020203A (ja) * 2017-07-14 2019-02-07 三菱電機株式会社 汚れ判断装置およびそれを用いた計測器のメンテナンス装置

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