JPH0194539A - 光デイスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ この発明は、光ディスク装置に関するものであり、特に
、情報の記録／再生動作後の待機中に、光ディスクに照
射するレーザ光の出力レベルを大幅に減少させることが
可能になり、また、レーザ光によって同一トラック上が
照射される待機状態が長時間にわたったときでも、当該
光ディスク上の記録用薄膜に損傷等の不具合が生じるこ
とがなく、更に、次に続く情報の記録／再生動作が、光
ディスク上でのトラック・アクセスなしに行うことが可
能な光ディスク装置に関するものである。

［従来の技術］ 第４図は、例えば特開昭６１−２７８０４８号公報に開
示されているような、従来の光ディスク装置を示す概略
構成図である。この第４図において、光ディスク（１）
は、ガラスまたはプラスチック材料からなる円形の基板
上に、テルル等の所要の金属からなる記録用薄膜（ｌａ
）がコーティングされている。光ディスク（１）には光
学ヘッド（３）が当接されている。この光学ヘッド（３
）は次の諸手段によって構成されている。即ち、抵抗（
６１）に接続された半導体レーザ（１１）、半導体レー
ザ（１１）に対向するコリメータ・レンズ（１３）、コ
リメータ・レンズ（１３）に対向する偏光ビーム・スプ
リッタ（１４）　、偏光ビーム・スプリッタ（１４）と
光ディスク（１）との間に直列的に配置された１／４波
長板（１５）とその両端に第１、第２対物レンズ駆動コ
イル（２３）、（２４）が付設された対物レンズ（１６
）、ｆｉ光ビーム・スプリッタ（１４）に続けて、光デ
ィスク（１）とは反対の側に直列的に配置されたハーフ
・ミラー（１７）、第１投影レンズ（１８）および第１
光検出器（１９）、ハーフ・ミラー（１））に対向して
直列的に配置されたナイフ・エツジ（２０）　、第２投
影レンズ（２１）および第２光検出器（２２）、そして
、増慕器（４１）、（４２）の出力は差動増幅器（４５
）に結合され、この出力は波形整形回路（４７）を介し
て、第１対物レンズ駆動コイル（２３）を駆動するため
の第１駆動回路（４８）に結合されている。また、別異
の増幅器（３１）、（３２）の出力は差動増幅器（３８
）に結合され、この出力は波形整形回路（３９）を介し
て、第２対物レンズ駆動コイル（２４）を駆動するため
の第２駆動回路（４０）に結合されている。一方、この
装置全体を制御するためのＣＰＵ（５０）に接続されて
いるものは、検出部（７）、第３駆動回路（５１）　、
記録用光量設定部（５２）および再生用光量設定部（５
３）である、そして、記録用光量設定部（５２）はＦＥ
Ｔ（６３）を介して、また、再生用光量設定部（５３）
はそのエミッタが抵抗（６５）を通して接地されたトラ
ンジスタ（６４）を介して、いずれも半導体レーザ（１
１）につながる抵抗（６２）に接続されている。

次に、上記従来例の動作について説明する。いま、光デ
ィスク（１）は、光ディスク回転用モータ（図示されな
い）によって回転しているものとする。光学ヘッド（３
）はリニア・モータ（図示されない）の可動部に固定さ
れていて、光ディスク（１）の半径方向に移動可能にさ
れており、前記リニア・モータの位置は検出器（７）に
よって検出されるものである。この光学ヘッド（３）に
おいては、半導体レーザ（１１）で発生された発散性の
レーザ光りは、コリメータ・レンズ（１３）で平行光線
にされ、偏光ビーム・スプリッタ（１４）で反射されて
から、１／４波長板（１５）を通して対物レンズ（１６
）に入射される。そして、この対物レンズ（１６）から
投射されたレーザ光により生成された最小ビーム・スポ
ットが、光ディスク（１）の記録用薄膜（１ａ）の表面
上に形成される。このような状態においては、対物レン
ズ（１６）は焦点合致状態およびトラック合致状態にあ
るようにされて、情報の記録／再生が可能になっている
。

そして、光ディスク（１）の記録用薄膜（１ａ）から反
射された発散性のレーザ光りは、焦点合致状態にあると
きには、対物レンズ（１６）によって平行光線にされ、
１／４波長板（１５）を通して偏光ビーム・スプリッタ
（１４）に戻される。ところで、このレーザ光りは、１
／４波長板（Ｉ５）を往復することにより、その偏波面
が９０°だけ回転しており、そのために、偏光ビーム・
スプリッタ（１４）を通過することができる。そして、
偏光ビーム・スプリッタ（１４）を通過したレーザ光り
は、ハーフ・ミラー（１７）によって２系統に分割され
る。その一方の系統のレーザ光は第１投射レンズ（１８
）を介して第１光検出器（１９）に照射される。

この第１光検出器（１９）においては、レーザ光を対応
の電気信号に変換する１対の光検出セル（１９ａ）、（
１９ｂ　）によって構成されており、それぞれに電気信
号（α）、（β）を出力するようにされている。これに
対して、その他方の系統のレーザ光りは、ナイフ・エツ
ジ（２０）が介在することにより、その光軸から離れた
領域を通過するレーザ光成分だけが第２投射レンズ（２
１）に到達して、第２光検出器（２２）上に照射される
。この第２光検出器（２２）も、レーザ光を対応の電気
信号に変換する１対の光検出セル（２２ａ）　、　　（
２２ｂ）によって構成されており、それぞれに電気信号
（γ）、（δ）を出力するようにされている。

第２光検出セル（２２ａ　）から出力された電気信号（
γ）は、増幅器（３１）を介して、差動増幅器（３８）
の非反転入力部に加えられる。また、第２光検出セル（
２２ｂ　）から出力された電気信号（δ）は、増幅器（
３２）を介して、差動増幅器（３８）の反転入力部に加
えられる。この差動増幅器（３８）においては、増幅器
（３１）、（３２）からの電気信号（γ）、（δ）間の
差をとることにより、焦点ずれ検出信号（γ−δ）が得
られるようにされている。この差動増幅器（３８）から
の出力は、波形整形回路（３９）に加えられて、フォー
カシング・サーボ制御を安定に実施するために、信号位
相補償を行う波形整形処理が施されてから、第２駆動回
路（４０）に加えられる。この第２駆動回路（４０）に
おいては、波形整形回路（３９）からの信号に応じて、
第２対物レンズ駆動コイル（２４）に対する所要の駆動
電流を供給する。この第２対物レンズ駆動コイル（２４
）は、光ディスク（１）の記録用薄膜（１ａ）に対して
、対物レンズ（１６）を垂直方向に移動させることによ
り、焦点ずれの補償を行うものである。

一方、第１光検出セル（１９ａ　）から出力された電気
信号（α）は、増幅器（４１）を介して、差動増幅器（
４５）の非反転入力部に加えられる。また、第１光検出
セル（１９ｂ）から出力された電気信号（β）は、増幅
器（４２）を介して、差動増幅器（４５）の反転入力部
に加えられる。この差動増幅器（４５）においては、増
幅器（４１）　、（４２）からの電気信号（α）、（β
）間の差をとるこ゛とにより、トラッキングずれ検出信
号（α−β）が得られるようにされている。この差動増
幅器（４５）からの出力は、波形整形回路（４７）に加
えられて、トラ・ソキング・サーボ制御を安定に実施す
るために、信号位相補償を行う波形整形処理が施されて
から、第１駆動回路（４８）に加えられる。この第１駆
動回路（４８）においては、波形整形回路（４））から
の信号に応じて、第１対物レンズ駆動コイル（２３）に
対する所要の駆動電流を供給する。この第１対物レンズ
駆動コイル（２３）は、光ディスク（１）の記録用薄膜
（１ａ）に対して、対物レンズ（１６）を水平方向に移
動させることにより、トラッキングずれの補償を行うも
のである。

また、ＣＰＵ（５０）は、この従来例装置を全体的に制
御するためのものであって、例えば、適当な外部機器（
図示されない）からのアドレス信号に応じて第３駆動回
路（５１）を駆動して対応のリニア・モータ（図示され
ない）を制御することにより、光ヘッド（３）を所望の
トラック位置に移動させる働きをするものである。更に
、このＣＰＵ（５０）は、前記外部機器からの記録信号
または再生信号に対応する制御信号を生成させ、記録用
光量設定部（５２）　、再生用光量設定部（５３）に対
して、この制御信号を加えるようにされるものである。

ここで、前記記録用光景設定部（５２）は、記録動作時
にＣＰＵ（５０）から供給される制御信号に応じて、そ
の記録情報に対応した変調信号に基づき、ＦＥＴ（６３
）のゲートをオン／オフするための駆動信号を出力させ
るものである。また、前記再生用光量設定部（５３）に
ついてみると、その出力がトランジスタ（６４）のベー
スに加えられて、このトランジスタ（６４）が駆動され
、その結果として半導体レーザ（１１）に所要の電流が
流される。かくして、光ディスク（１）に対して、半導
体レーザ（１１）からの再生用レーザ光が照射されるこ
とになる。なお、ＦＥＴ（６３）のドレインとトランジ
スタ（６４）のコレクタとは共通にされ、抵抗（６２）
−半導体レーザ（１１）および抵抗（６１）を通して電
源（Ｖｏ、）に結合されている。

また、前記ＣＰＵ（５０）は、前記半導体レーザ（１１
）のレーザ出力レベルを低下させる機能をも果たすもの
であって、情報の記録／再生が終了してから、ある所定
の時間（例えば５分間）が経過したものと判断されたと
きに、再生用光量設定部（５３）に対して待機信号を発
することにより前記の機能を果たすようにされる。

即ち、情報の再生動作時には、通常の制御信号がＣＰＵ
（５０）から出力され、半導体レーザ（１１）からの所
定レベル（例えば０．４ｍＷ＞のレーザ光（再生用ビー
ム）Ｌが光学ヘッド（３）から光ディスク（１）に対し
て照射されて、所要の情報の再生動作とともに、前述さ
れたフォーカシングおよびトラッキングの補正動作を行
う。

これに対して、待機時には、半導体レーザ（１１）から
光学ヘッド（３）を介して光ディスク（１）に至るレー
ザ光のレベルは、０．２ｍＶ〜０．３ｍＶに低下されて
、これによるフォーカシングおよびトラッキングがなさ
れることになる。

このために、待機時に、同一のトラック上で長時間にわ
たるレーザ光の照射が続行されたとしても、光ディスク
上での記録情報を破壊する危険性は低減される。かくし
て、同一のトラック上でフォーカシングおよびトラッキ
ングを行いながら、次の動作を待機することができるた
めに、情報の記録／再生動作が指令されたときには、即
座に当該情報の記録／再生動作に移行することができる
６ところで、上記のように半導体レーザ（１１）からの
レーザ光の出力レベルが減少されたときには、第１光検
出器（１９）の光検出セル（１９ａ）　、（１９ｂ）か
らの信号の出力レベルも減少される。そして、これによ
り、関連の電気回路部分の偏差（オフセット）の影響を
受けやすくなること、周囲のノイズの影響を受けやすく
なること、波形整形回路（４７）におけるトラッキング
制御安定化のための位相補償量が、その最適値からずれ
てくること等のために、安定なトラッキングを行うため
には、待機中であっても、半導体レーザ（１１）からの
レーザ光の出力レベルを大幅に低減させることはできな
い。

更に、半導体レーザ（１１）からのレーザ光出力が減少
されたときには、第２光検出器（２２）の光検出セル（
２２ａ）　、（２Ｚｂ）の信号の出力レベルも減少され
る。そして、これにより、関連の電気回路部分の偏差（
オフセット）の影響を受けやすくなること、周囲のノイ
ズの影響を受けやすくなること、波形整形回路（３９）
におけるフォーカシング制御安定化のための位相補償量
が、その最適値からずれてくること等のために、安定な
フォーカシングを行うためには、待機中であっても、半
導体レーザ（１１）からのレーザ光の出力レベルを大幅
に低減させることはできない。

［発明が解決しようとする問題点］ 従来の光ディスク装置は以上のように構成されており、
情報の記録／再生動作後の待機中に、光ディスクに照射
するレーザ光の出力レベルを大幅に減少させることがで
きず、また、その出力レベルが余り減少されないレーザ
光によって同一トラック上が照射される待機状態が長時
間にわたるときには、当該光ディスク上の記録用薄膜に
損傷等の不具合が生じるという問題点があった。

この発明は、上記のような問題点を解決するためになさ
れたもので、情報の記録／再生動作後の待機中に、光デ
ィスクに照射するレーザ光の出力レベルを大幅に減少さ
せることが可能になり、また、レーザ光によって同一ト
ラック上が照射される待機状態が長時間にわたったとき
でも、当該光ディスク上の記録用薄膜に損傷等の不具合
が生じることがなく、更に、次に続く情報の記録／再生
動作が、光ディスク上でのトラック・アクセスなしに可
能にされた光ディスク装置を得ることを目的とする。

［問題点を解決するための手段・コ この発明に係る光ディスク装置は、案内トラックを備え
た記録媒体に情報を記録／再生するための光束を照射す
るための光源と、前記光源の発光出力をモニタするため
の受光手段と、前記光源の出力制御手段と、前記光源か
ら出された光線を前記記録媒体上に集束するための集束
手段と、前記記録媒体からの反射光束を受光し、対応の
信号を出力させる複数個のフォーカス用受光手段と、前
記フォーカス用受光手段からの信号により、前記照射光
束の焦点制御をするためのフォーカシング・サーボ手段
と、前記記録媒体からの反射光束を受光し、対応の信号
を出力させるための複数個のトラッキング用受光手段と
、前記トラッキング用受光手段からの信号により、前記
照射光束を前記案内トラックにトラッキングするための
トラッキング・サーボ手段とからなるものである。

［作用］ この発明においては、情報の記録／再生動作後の待機時
に、光源からの光束の断続が可能にされる。

［実施例］ 以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図は、この発明の一実施例である光ディスク装置を示す
概略構成図である。この第１図において、光ディスク（
１）は、ガラスまたはプラスチック材料からなる円形の
基板上に、テルル等の所要の金属からなる記録用薄膜（
１ａ）がコーティングされている。光ディスク（１）に
は光学ヘッド（３）が当接されている。この光学ヘッド
（３）は次の諸手段によって構成されている。即ち、半
導体レーザ（１１）　、この半導体レーザ（１１）に逐
次対向する偏光ビーム・スプリッタ（１４）　、コリメ
ータ・レンズ（１３）　、１／４波長板（１５）、対物
レンズ（１６）、これらと直交して前記偏光ビーム・ス
プリッタ（１４）に逐次対向するフーコー・プリズム（
１２）　、焦点距離補正レンズ（２５）、ハーフ・ミラ
ー（１７）、前記対物レンズ（１６）の両端に付設され
た第１、第２対物レンズ駆動コイル（２３）、（２４）
、前記ハーフ・ミラー（１７）に対向する第１光検出器
（１９）　、これと直交して前記ハーフ・ミラー（１７
）に対向する第２、第３光検出器（２０）、（２１）　
、および、前記半導体レーザ（１１）のレーザ光出力モ
ニタ用光検出セル（２６）　。

第１光検出器（１９）の一方の光検出セル（１９ａ　）
からの出力（α）は、増幅器（４１）で増幅されてから
、後述のピーク・エンベロープ検出回路（４３）に印加
される。他方の光検出セル（１９ｂ）からの出力（β）
は、増幅器（４２）で増幅されてから、他方のピーク・
エンベロープ検出回路（４４）に印加される。これらの
ピーク・エンベロープ検出回路（４３）、（４４）から
の出力は、それぞれに、差動増幅器（４５）および加算
増幅器（４６）で差および和が取られてから、割算回路
（５４）に印加される。この割算回路（５４）の出力は
、位相補償回路（４９）を介して第１駆動回路（４８）
に加えられて、第１対物レンズ駆動コイル（２３）を駆
動するようにされる。また、増幅器（４１）、（４２）
からの分岐出力は、加算増幅器（５６）を介して波形整
形回路（５７）に加えられて、再生デジタル信号が出力
される。なお、この波形整形回路（５６）は、アト″レ
ス検知回ＩｉＩ！Ｆ（５７）を介してＣＰＵ（８０）に
接続されている。

第２光検出器（２０）の光検出セル（ＺＯａ）側からの
出力および第３光検出器（２１）の光検出セル（２１ｂ
）側からの出力は、加算増幅器（２９）を介してピーク
・エンベロープ検出回路（３３）に加えられ、また、第
２光検出器（２０）の光検出セル（２ｏｂ）側からの出
力および第３光検出器（２１）の光検出セル（２１ａ　
）側からの出力は、加算増幅器（３０）を介してピーク
・エンベロープ検出回路（３４）に加えられる。これら
のピーク・エンベロープ検出回路（３３）、（３４）か
らの出力は、それぞれに、差動増幅器（３８ンおよび加
算増幅器（３５）で差および和が取られてから、割算回
路（３６）に印加される。この割算回路（３６）の出力
は、位相補償回路（３７）を介して第２駆動回路（４０
）に加えられて、第２対物レンズ駆動コイル（２４）を
駆動するようにされる。

次に、半導体レーザ（１１）のレーザ光出力モニタ用光
検出セル（２６）からの出力は、増幅器（５８）および
ピーク・エンベロープ検出回路（５９）を介して再生光
量制御回路（７０）に印加される。この再生光量制御回
路（７０）はトランジスタ（７１）を介して半導体レー
ザ（１１）に接続されている。また、記録信号が加えら
れる記録光量制御回路（７２）はＣＰＵ（８０）によっ
て制御されるものであり、この記録光量制御回路（７２
）もトランジスタ（７３）を介して半導体レーザ（１１
）に接続されている。

そして、論理ゲート（７５）も、トランジスタ（７４）
を介して半導体レーザ（１１）に接続されているも°の
であり、この論理ゲート（７５）には、ＣＰＵ（８０）
からの出力としての待機信号（Ｗ）および断続信号発生
回路（７６）からの断続信号が加えられる。更に、光ヘ
ッドを光ディスクの半径方向で駆動するためのリニア・
モータ（図示されない）に対するリニア・モータ制御回
路（７７）もＣＰＵ（８０）によって制御されるもので
あり、駆動回路（７８）により、当該リニア・モータの
駆動コイル（７９）を駆動させる。

第２図は、上記実施例の一部としてのピーク・エンベロ
ープ検出回路を示す回路図である。この第２図において
、ダイオード（８１）のアノード側が入力端子にされて
おり、そのカソード側が出力端子にされている。そして
、このダイオード（８１）のカソード側と接地部との間
には、コンデンサ（８２）と抵抗（８３）とが並列に接
続されている６第３図は、前記第２図のピーク・エンベ
ロープ検出回路の動作波形図である。この第３図におい
て、第３図（ａ）は入力信号の波形図を示すものであり
、また、第３図（ｂ）は出力信号の波形図を示すもので
ある。

次に、第１図に示したこの発明の一実施例の動作につい
て説明する。光ディスク（１）は、前述されたように、
ガラスまたはプラスチック材料からなる円形の基板であ
って、その上には同心円状または螺旋状の案内トラック
溝と所要のアドレス情報とが設けられており、また、そ
の上部表面には、テルル等の所要の金属からなる記録用
薄ＪＩＫ（１ａ）によるコーティングが施されている。

そして、この光ディスク（１）はディスク回転モータ（
２）によって一定速度で回転されている。

光学ヘッド（３）においては、半導体レーザ（１１）か
らの発散性のレーザ光りが光ディスク（１）に向けて投
射される。このレーザ光りは、偏光ビーム・スプリッタ
（１４）を透過し、コリメータ・レンズ（１３）で平行
光束になり、１／４波長板（１５）を経由して対物レン
ズ（１６）に到達する。そして、前記平行光束は、対物
レンズ（１６）により光ディスク（１）の記録用薄膜（
１ａ）上に投射されて、最小ビーム・スポットが当該記
録用薄膜（１ａ）の表面上に形成される。この状態にお
いて、前記対物レンズ（１６）は合焦状態および合トラ
ック状態に保持されており、所要の情報の記録／再生が
可能にされる。

一方、光ディスク（１）の記録用薄膜（１ａ）から反射
された発散性のレーザ光りは、合焦状態のときには、対
物レンズ（１６）によって平行光束となり、１／４波長
板（１５）およびコリメータ・レンズ（１３）を経由し
て偏光ビーム・スプリッタ（１４）に戻される。このレ
ーザ光りは、前記１／４波長板（１５）を往復すること
によって、その偏波面が９０°回転しており、偏光ビー
ム・スプリッタ（１４）で反射されてから、フーコー・
プリズム（１２）に到達する。そして、このフーコー・
プリズム（１２）に入射した光束は２分割され、焦点距
離補正レンズ（２５）を経由してハーフ・ミラー（１７
）に到達する。このハーフ・ミラー（１７）を透過した
光束は、光検出セル（２０ａ　）、（２Ｑｂ　）からな
る第２光検出器（２０）、および、光検出セル（２Ｌａ
）、（２１ｂ）からなる第３光検出器（２１）に照射さ
れ、それぞれの受光光量に応じて、フォーカシング・サ
ーボ用の電気信号Ａ、Ｂ、Ｃ，Ｄに変換される。ここで
、前記光検出セル（２０ａ　）、〈２ｏｂ）、（２１ａ
）、（２１ｂ）の位置関係は次のように設定されている
。即ち、光ディスク（１）の記録用薄膜（１ａ）と対物
レンズ（１６）との間の距離が、前記合焦点距離よりも
大になったときには、電気信号ＡおよびＤの出力レベル
が大となり、これに対して、前記合焦点距離よりも小に
なったときには、電気信号ＢおよびＣの出力レベルが大
になるように設定されている。

一方、ハーフ・ミラー（１７）で反射された光束は、光
検出セル（１９ａ）、（１９ｂ）からなる第１光検出器
（１９）上に照射され、その受光光量に応じて、トラッ
キング・サーボ用の電気信号α、βに変換される。ここ
で、前記光検出セル（１９ａ）、（１９ｂ　）の位置関
係は次のように設定されている。

即ち、光ディスク（１）の記録用薄膜（１ａ）上での案
内トラックに関して、レーザ光スポットが中央からずれ
たときに、前記電気信号α、βの出力レベルのバランス
が崩れて、ある一方が他方に対して大になるように設定
されている。また、半導体レーザ（１１）からのレーザ
光は、レーザ光出力モニタ用光検出セル（２６）をも照
射している。

次に、上記実施例において、情報の記録／再生後の待機
動作について説明する。第１図の断続信号発生回路（７
６）についてみると、これは適当なマルチバイブレータ
等からなるものであって、高周波の矩形波パルスを発生
させるものであり、その出力は論理ゲート（７５）の一
方の入力端子に加えられている。また、この論理ゲート
（７５）の他方の入力端子には、ＣＰＵ（８０）からの
待機信号（Ｗ）が加えられている。そして、この待機信
号（Ｗ）が“′１゛°であるときには、断続信号発生回
路（７６）からの高周波パルス信号が、論理和回路（７
５）を経由してトランジスタ（７４）のベース端子に加
えられる。トランジスタ（７４）は、そのベース端子に
加えられる高周波パルス信号に従ってオン・オフ動作を
繰り返す。そのために、トランジスタ（７１）のエミッ
タ・コレクタを介して半導体レーザ（１１）に流れてい
る情報再生電流は、間欠的に、このトランジスタ（７４
）にバイパスされる。かくして、半導体レーザ（１１）
には断続的に電流が流れて、明滅が繰り返され、その平
均的な発光レベルが低下することになる。これに対して
、前記待機信号（Ｗ＞が゛０パであるときには、論理ゲ
ー）（７５）の出力レベルは常にＯとなり、トランジス
タ（７４）のベース端子に電流が流れることはなく、従
って、このトランジスタ（７４）は常にオフ状態になる
。

ここで、第２、第３光検出器（２０）、（２１）以降の
信号の流れについてみると、光検出セル（２０ａ）およ
び（２１ｂ　）からの信号は、加算増幅器（２９）で加
算されてからピーク・エンベロープ検出回路（３３）に
加えられる。一方、光検出セル＜２０ｂ）および（２１
ａ　）からの信号は、加算増幅器、（３０）で加算され
てからピーク・エンベロープ検出回路（３４）に加えら
れる。

ここで第２図を参照すると、前記されたエンベロープ検
出回路の回路図が示されている。この第２図において、
ダイオード（８１）のアノード側が入力端子にされてお
り、そのカソード側が出力端子にされている。そして、
このダイオード（８１）のカソード側と接地部との間に
は、コンデンサ（８２）と抵抗（８３）とが並列に接続
されている。いま、ダイオード（８１）のアノード側か
らの入力信号に応じてコンデンサ（８２）が充電された
ときには、これに即座に応答して出力信号が生じるもの
である。そして、ダイオード（８１）−のアノード側の
電圧がコンデンサ（８２）の端子電圧よりも低くなった
ときには、コンデンサ（８２）の充電電圧が抵抗（８３
）を通して放電されるために、このピーク・エンベロー
プ検出回路からの出力電圧は、コンデンサ（８２）と抵
抗（８３）との時定数で規定される速度で低下していく
。

ここで第３図を参照すると、これには、前記第２図のピ
ーク・エンベロープ検出回路の動作波形図が示されてい
る。この第３図において、第３図（ａ＞は、入力信号の
波形図であって、ある所定の高周波信号の波形図が示さ
れており、また、第３図（ｂ）は、出力信号の波形図で
あって、前記高周波入力信号の波形図が示されている。

上記されたことから理解されるように、半導体レーザ（
１１）からのレーザ光を高速で明滅させ、これに対応し
て、加算増幅器（２９）、（３０）からの出力が比例的
に高速で変化したとしても、ピーク・エンベロープ検出
回路（３３）　、　　（３４）においては、前記出力の
ピーク・エンベロープを出力させるものである。そして
、前記ピーク・エンベロープ検出回路（３３）、（３４
）からの出力をフォーカシング・サーボ信号として使用
することにより、その信号レベルを、半導体レーザ（１
１）が明滅されない場合と同様の程度にすることができ
る。

ピーク・エンベロープ検出回路（３３）の出力は、差動
増幅器（３８）の非反転入力端子および加算増幅器（３
５）の一方の入力端子に加えられている。

これに対して、ピーク・エンベロープ検出回路（３４）
の出力は、差動増幅器（３８）の反転入力端子および加
算増幅器（３５）の他方の入力端子に加えられている。

差動増幅器（３８）の出力は、割算回路（３６）におい
て、加算増幅器（３５）の出力で除算される。そして、
この割算回路（３６）からは、規格化されたフォーカス
ずれ信号、即ち、光ディスク（１）の記録用薄膜（１ａ
）からの反射率の変化の影響等が除去されたフォーカス
ずれ信号が出力される。この割算回路（３６）からの出
力は、位相補償回路（３７）において、フォーカス制御
を安定化するための位相補償がなされてから、第２駆動
回路（４０）に加えられる。この第２駆動回路（４０）
は、位相補償回路（３７）からの出力信号に応じて、第
２対物レンズ駆動コイル（２４）に対する駆動電流を加
えて、対物レンズ（１６）を光ディスク（１）の記録用
薄膜（１ａ）と直角に駆動することにより、必要なフォ
ーカスずれの補正を行う。

次に、光検出セル（１９ａ）　、（１９ｂ）からなる第
１光検出器（１９）は、トラッキング情報を検出するた
めのセンサ機能を果たすものであり、合焦状態の光スポ
ットが光ディスク（１）の記録用薄膜（１ａ）上に当接
しているとき、前記光スポットがトラックの中心上にあ
る場合には、記録用薄膜（１ａ）からの前記光検出セル
（１９ａ）　、　（１９ｂ）に対する反射光景は互いに
等しく、これに対して、前記光スポットがトラックの中
心から変移している場合には、前記光検出セル（１９ａ
）、（１９ｂ）に対する反射光量は互いに異なってくる
。

光検出セル（１９ａ）からの出力αは、増幅器（４１）
を経由してピーク・エンベロープ検出回路（４３）に加
えられる。また、光検出セル（１９ｂ）からの出力βは
、増幅器（４２）を経由してピーク・エンベロープ検出
回路（４４）に加えられる。ピーク・エンベロープ検出
回路（４３）、（４４）の出力は、前述のフォーカス制
御の場合と同様に、半導体レーザ（１１）からのレーザ
光が高速で断続されても、その影響を殆ど受けることな
く、はぼ平滑なものにされる。これらのピーク・エンベ
ロープ検出回路（４３）　、（４４）からの出力は、そ
れぞれに、差動増幅器（４５）の非反転入力端子および
反転入力端子に加えられ、また、加算増幅器（４６）の
それぞれの入力端子に加えられる。差動増幅器（４５）
からの出力は、割算回路（５４）において、加算増幅器
（４６）からの出力で除算される。そして、この割算回
路（５４）からは、規格化されたトラックずれ信号、即
ち、光ディスク（１）の記録用薄膜（１ａ）からの反射
率の変化の影響等が除去されたトラックずれ信号が出力
される。この割算回路（５４）からの出力は、位相補償
回路（４９）において、トラッキング制御を安定化する
ための位相補償がなされてから、第１駆動回路（４８）
に加えられる。

この第１駆動回路（４８）は、位相補償回路（４９）か
らの出力信号に応じて、第１対物レンズ駆動コイル（２
３）に対する駆動電流を加えて、対物レンズ（１６）を
光ディスク（１）の記録用薄膜（１ａ）と平行に駆動す
ることにより、必要なトラッキングずれの補正を行う。

一方、増幅器（４１）、（４２）の出力は、加算増幅器
（５５）のそれぞれの入力端子に加えられている。いま
、再生動作がなされており、半導体レーザ（１１）から
の出力レーザ光が再生時のある一定レベルにあるときに
は、この加算増幅器（５５）からの出力は、光ディスク
（１）の記録用薄Ｍ（ｌａ）上の記録情報に応じて変化
するものであるから、これを波形整形回路（５６）に加
え、ある所定のアナ・ログ・レベルとの比較をすること
により、対応の１″、“０″形式によるデジタル信号と
して再生させることができる。この再生されたデジタル
信号には、対応のトラックのアドレス情報が含まれてお
り、従って、このデジタル信号をアドレス検知回路（５
７）に加えることで、レーザ光が照射されているトラッ
クのアドレスを知ることができる。そして、このアドレ
ス検知回路（５７）からの出力信号は、装置全体を制御
するためのＣＰＵ（８０）に加えられる。なお、波形整
形回路（５６）からの再生デジタル信号は、適当な外部
機器（図示されない）に加えられて、光ディスク（１）
の記録用薄膜（１ａ）上に記録されている情報の取り出
しのために使用される。

次に、レーザ光出力モニタ用光検出セル（２６）につい
てみると、これは、半導体レーザ（１１）からのレーザ
光を受光し、対応の電気信号りこ変換する。この電気信
号は、後段の増幅器（５８）およびピーク・エンベロー
プ検出回路（５９）を介して、再生光量制御回路（７０
）に加えられる。この再生光量制御回路（７０）は、ピ
ーク・エンベロープ検出回路（５９）からの出力を常に
一定のレベルに保持するためのものであって、トランジ
スタ（７１）のベース電流を調整することにより、電源
（Ｖｃｃ　）から前記トランジスタ（７１）のエミッタ
・コレクタを介して半導体レーザ（１１）に流れる再生
用電流の制御をする機能を果たす。いま、装置が待機状
態にあるものとして、トランジスタ（７４）をオン・オ
フ動作させることで半導体レーザ（１１）の平均的なレ
ーザ光出力レベルを低下させたとしても、ピーク・エン
ベロープ検出回路（５９）からの出力は殆ど変化するこ
とがないなめに、トランジスタ（７１）のコレクタ電流
に変化を生じることはない。

記録光量制御回路（７２）は、所定の外部機器（図示さ
れない）からの記録信号と同期して、ＣＰＵ（８０）で
指示された電流を半導体レーザ（１１）に流す機能を果
たすものであって、トランジスタ（７３）のベース電流
を制御することにより、電源（Ｖｅｃ）からトランジス
タ（７３）のエミッタ・コレクタを通して記録用電流を
流し、これをトランジスタ（７１）からの再生用電流と
重畳させる。

リニア・モータ制御回路（７７）は、光ヘッド（３）を
光ディスク（１）の半径方向に移動させるためのリニア
・モータ（図示されない）を制御するためのものであっ
て、後段の駆動回路（７８）によってリニア・モータ駆
動コイル（７９）に電流を流すことにより、ＣＰＵ（８
０）で指示されたトラックに対して光ヘッド（１）を移
動させる。

なお、上記実施例においては、情報の記録／再生後の待
機状態にあるときに、半導体レーザを明滅させることに
より、光ディスクの記録用薄膜上のレーザ光の平均的な
照射レベルを低下させたとしても、これに対応するサー
ボ信号レベルが低下することはなく、従って、安定なレ
ベルのフォーカシング・サーボ信号およびトラッキング
・サーボ信号を得ることができる。そして、前記半導体
レーザの明滅の比率を、例えば、１’：１０の程度に還
択したものとすれば、待機時のレーザ光の平均的な照射
レベルは再生時のそれの１／１０程度になるために、記
録用薄膜を損傷させる危険性は極めて低くなる。

また、図示されなかったけれども、待機中の断続周期が
ディスク四転モータの回転周期と一致しているときには
、光ディスクのレーザ光を受ける部分が、その回転毎に
同じ部分になる可能性があり、このために、両者の周期
が合わないように半導体レーザの発光制御をすることで
、光ディスクの記録用１１１Ｍの保護は、より完全なも
のにされる。

更に、上記実施例においては、フォーカス信号の検出の
ためにフーコー・プリズムが使用された場合について説
明されたけれども、これに限らず、ナイフェツジ等の適
当な手段によることもできる。

また、ピーク・エンベロープ検出回路としては、ダイオ
ード、コンデンサおよび抵抗からなるものが例示されて
いるけれども、これに限らず、例えば、半導体レーザの
明滅周期と同期された適当なアナログ・スイッチおよび
コンデンサによるホールド回路を使用して、同様な効果
を奏することができる。

［発明の効果コ 以上説明されたように、の発明に係る光ディスク装置は
、案内トラックを備えた記録媒体に情報を記録／再生す
るための光束を照射するための光源と、前記光源の発光
出力をモニタするための受光手段と、前記光源の出力制
御手段と、前記光源から出された光線を前記記録媒体上
に集束するための集束手段と、前記記録媒体からの反射
光束を受光し、対応の信号を出力させる複数個のフォー
カス用受光手段と、前記フォーカス用受光手段からの信
号により、前記照射光束の焦点制御をするためのフォー
カシング・サーボ手段と、前記記録媒体からの反射光束
を受光し、対応の信号を出力させるための複数個のトラ
ッキング用受光手段と、前記トラッキング用受光手段か
らの信号により、前記照射光束を前記案内トラックにト
ラッキングするためのトラッキング・サーボ手段とから
構成されており、情報の記録／再生動作後の待機時に、
前記光源からの光束の断続が可能にされているものであ
るから、情報の記録／再生動作後の待機中に、光ディス
クに照射するレーザ光の出力レベルを大幅に減少させる
ことが可能になり、また、レーザ光によって同一トラッ
ク上が照射される待機状態が長時間にわたったときでも
、当該光ディスク上での情報に損傷等の不具合が生じる
ことがなく、更に、次に続く情報の記録／再生動作が、
光ディスク上でのトラック・アクセスなしに行うことが
可能であるという効果が奏せられるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の一実施例である光ディスク装置を
示す概略構成図、第２図は、上記実施例におけるピーク
・エンベロープ検出回路を示す回路図、第３図は、前記
第２図のピーク・エンベロープ検出回路の動作波形図、
第４図は、従来の光ディスク装置を示す概略構成図であ
る。 （１）は光ディスク、（２）はディスク回転モータ、（
３）は光ヘッド、（１１）は半導体レーザ、（１６）は
対物レンズ、（１９）　、（２０）、（２１）は第１、
第２、第３光検出器、（２３）、（２４）は第１、第２
対物レンズ駆動コイル、（２６）はレーザ光出力モニタ
用光検出セル、−（３３）、（３４）、（４３）、（４
４）、（５９）はピーク・エンベロープ検出回路、（５
７）はアドレス検知回路、（７０）は再生光量制御回路
、（７２）は記録光量制御回路、（７１）、（７３）、
（７４）はトランジスタ、（７５）は論理ゲート、（７
６）は断続信号発生回路。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を箒２図 市３図 （ｂ）出力４″＝予 琳４図 手続補正書 昭和６２年１２月２８日

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）案内トラックを備えた記録媒体に情報を記録／再
   生するための光束を照射するための光源；前記光源の発
   光出力をモニタするための受光手段； 前記光源の出力制御手段； 前記光源から出された光線を前記記録媒体上に集束する
   ための集束手段； 前記記録媒体からの反射光束を受光し、対応の信号を出
   力させる複数個のフォーカス用受光手段； 前記フォーカス用受光素子からの信号により、前記照射
   光束のフォーカス制御をするためのフォーカシング・サ
   ーボ手段； 前記記録媒体からの反射光束を受光し、対応の信号を出
   力させるための複数個のトラッキング用受光手段；およ
   び 前記トラッキング用受光手段からの信号により、前記照
   射光束を前記案内トラックにトラッキングするためのト
   ラッキング・サーボ手段；が含まれている光ディスク装
   置であって、情報の記録／再生動作後の待機時に、前記
   光源からの光束を断続可能にさせたことを特徴とする光
   ディスク装置。
2. （２）前記光源の発光出力をモニタするための受光手段
   には、前記発光出力の受光素子と、この受光素子の出力
   信号のピーク・エンベロープの検出手段とが含まれてい
   ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光ディ
   スク装置。
3. （３）前記フォーカス用受光手段には、フォーカス用受
   光素子と、この受光素子の出力信号のピーク・エンベロ
   ープの検出手段とが含まれていることを特徴とする特許
   請求の範囲第１項記載の光ディスク装置。
4. （４）前記トラッキング用受光手段には、トラッキング
   用受光素子と、この受光素子の出力信号のピーク・エン
   ベロープの検出手段とが含まれていることを特徴とする
   特許請求の範囲第１項記載の光ディスク装置。