JPH0196090A - Liquid phase epitaxial growth process of semiconductor crystal - Google Patents
Liquid phase epitaxial growth process of semiconductor crystalInfo
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野〕
本発明は、半導体結晶のエピタキシャル成長法に係り、
特に温度差法により半導体結晶をエピタキシャル成長さ
せる方法に関するものである。[Detailed Description of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a method for epitaxial growth of semiconductor crystals,
In particular, it relates to a method for epitaxially growing semiconductor crystals using a temperature difference method.
従来、例えばGaAlAs等の■−V族化合物半導体の
液相エピタキシャル成長法としては、第6図に示すよう
に、半導体材料GaAs+ AIとドーピング用不純物
Zn、 Te等を溶解したGa溶液(メルト)1を複数
の、第6図の場合3個のメルト槽2に入れ、水素雰囲気
中で高温に加熱して該メルト1中にGaAs、^l、l
−ドーピング純物を溶かし込んだ後、これらメルト槽2
の上と下に温度差を付与して、一方向に直線運動される
ウェハースライダ3の上面にセットされたGaAs基板
結晶4をこれらのメルト1の低温側に接触させて一定時
間保持することによって、該メルト1中の過飽和成分が
基板結晶4上に析出することにより、該基板結晶4上に
半導体結晶をエピタキシャル成長させるようにした温度
差法が広く知られている。Conventionally, in the liquid phase epitaxial growth method of ■-V group compound semiconductors such as GaAlAs, as shown in FIG. GaAs,
- After dissolving the doping pure substance, these melt tanks 2
By applying a temperature difference between the top and bottom, the GaAs substrate crystal 4 set on the top surface of the wafer slider 3 that moves linearly in one direction is brought into contact with the low temperature side of these melts 1 and held for a certain period of time. A temperature difference method is widely known in which a supersaturated component in the melt 1 is precipitated on the substrate crystal 4, thereby epitaxially growing a semiconductor crystal on the substrate crystal 4.
上述した温度差法において、所謂エビウェハーを例えば
ダブルへテロ構造に作製する場合、各メルト槽2a、
2b、 2c内に受容されたメルト1a+ 1b+1c
をそれぞれp型、P型、n型にドーピングしておき、ウ
ェハースライダ3の上面に複数の基板結晶4をセットし
て、これらの基板結晶4を順次各メルト槽2a、 2b
、 2c内に受容されたメルトla、 lb。In the above-mentioned temperature difference method, when producing a so-called shrimp wafer with, for example, a double heterostructure, each melt tank 2a,
Melt 1a+ 1b+1c received in 2b, 2c
A plurality of substrate crystals 4 are set on the upper surface of the wafer slider 3, and these substrate crystals 4 are sequentially placed in each melt tank 2a, 2b.
, 2c received melt la, lb.
1cに接触させることにより、例えば第7図(A)に示
すように、基板結晶4a上に、順次p−cao、オA1
0. sAs の第−層5と、P Gao、hsAI
o、*sAsの第二層6と、そしてn Ga6.zA
lo、aAsの第三層7とが結晶成長されて、エビウェ
ハーが完成する。1c, as shown in FIG.
0. Layer 5 of sAs, P Gao, hsAI
o, *sAs second layer 6, and n Ga6. zA
A third layer 7 of lo and aAs is crystal-grown to complete the shrimp wafer.
しかし、このとき奇数番目、即ち一番目の基板結晶4a
について、所望の厚さの結晶成長を得るように、即ち第
−層5及び第三層7を比較的厚く、また第二層6を比較
的薄くなるように結晶成長を行わせるように結晶成長時
間を選定し、例えば第一のメルト1aに対して60分、
第二のメル1−1bに対して1分、第三のメルトICに
対して60分の結晶成長時間を選定すると、偶数番目、
即ち二番目の基板結晶4b上には、第7図(B)に示す
ように、第一のメルトlaに対して1分、第二〇メルト
1bに対して60分、第三のメルトICに対して1分と
いう結晶成長時間となってしまい、従って第−層5及び
第三層7が比較的薄く、第二層6が比較的厚く形成され
てしまうことになる。However, at this time, the odd numbered, ie, the first, substrate crystal 4a
The crystal growth is performed so as to obtain crystal growth of desired thickness, that is, the crystal growth is performed so that the first layer 5 and the third layer 7 are relatively thick and the second layer 6 is relatively thin. Select a time, for example 60 minutes for the first melt 1a,
If you select a crystal growth time of 1 minute for the second melt 1-1b and 60 minutes for the third melt IC, the even-numbered
That is, as shown in FIG. 7(B), on the second substrate crystal 4b, the first melt la was heated for 1 minute, the second melt 1b was heated for 60 minutes, and the third melt IC was heated for 1 minute. On the other hand, the crystal growth time is 1 minute, so that the -th layer 5 and the third layer 7 are formed relatively thin, and the second layer 6 is formed relatively thick.
かくして、ダブルへテロ構造のエビウェハーとして、例
えばLEDチップを製造するために使用し得るエビウェ
ハーは奇数番目のものに限られ、このため、奇数番目の
エビウェハーの歩留まりが100%であっても、エビウ
ェハー全体としては最大50%の歩留まりしか達成でき
ないことになり、生産性の点で問題があった。Thus, as shrimp wafers with a double heterostructure, for example, shrimp wafers that can be used for manufacturing LED chips are limited to odd-numbered shrimp wafers, and therefore, even if the yield of odd-numbered shrimp wafers is 100%, the overall yield of shrimp wafers is As a result, a maximum yield of only 50% can be achieved, which poses a problem in terms of productivity.
また、上述した基板結晶4を載置するウェハースライダ
3の送り装置として、間欠駆動装置が必要となり、しか
もその間隔が一定ではない等、構造が?!雑となりコス
ト高となっていた。In addition, an intermittent drive device is required as a feeding device for the wafer slider 3 on which the substrate crystal 4 is placed, and furthermore, the spacing between the devices is not constant, resulting in problems with the structure. ! It became complicated and the cost was high.
本発明は、以上の点に鑑み、構造が簡単でしかも歩留ま
りのよい、半導体結晶の液相エピタキシャル成長法を提
供することを目的としている。In view of the above points, it is an object of the present invention to provide a method for liquid phase epitaxial growth of semiconductor crystals that has a simple structure and a high yield.
〔問題点を解決するための手段及び作用〕上記目的は、
本発明によれば、複数のメルト槽内にそれぞれ受容され
た成長素材を溶解したメルトに対して、一方向に直線運
動されるウェハースライダ上に載置した基板結晶をこれ
らのメルトに順次接触させることにより、基板結晶上に
複数の半導体結晶をエピタキシャル成長させるようにし
た半導体結晶の液相エピタキシャル成長法において、各
メルト槽が、その基板結晶の運動方向に関して、上記複
数の半導体結晶の各厚さに基づいた長さを有しており、
基板結晶が一方向に一定速度で移動され、必要に応じて
該基板結晶を各メルトに接触させた状態で一定時間保持
させることによって所定の厚さの結晶成長が行われるよ
うにしたことにより達成される。[Means and actions for solving the problem] The above purpose is:
According to the present invention, a substrate crystal placed on a wafer slider that is linearly moved in one direction is sequentially brought into contact with a plurality of melts containing melted growth materials respectively received in a plurality of melt baths. In a liquid phase epitaxial growth method for semiconductor crystals in which a plurality of semiconductor crystals are epitaxially grown on a substrate crystal, each melt bath has a structure in which the thickness of each of the plurality of semiconductor crystals is determined based on the thickness of each of the plurality of semiconductor crystals with respect to the movement direction of the substrate crystal. It has a length of
This is achieved by moving the substrate crystal in one direction at a constant speed and, if necessary, holding the substrate crystal in contact with each melt for a certain period of time to grow the crystal to a predetermined thickness. be done.
この発明によれば、各メルト槽の基板結晶の運動方向の
長さが、各メルト槽内のメルトに対する結晶成長時間に
比例して選定されており、基板結晶が一方向に一定速度
で移動されることによって該基板結晶上に順次各メルト
槽内のメルトが析出して所定の厚さに結晶成長されるこ
とになり、かくしてすべての基板結晶によるエビウェハ
ーが所望の構造を有することにより、歩留まりが向上せ
しめられ、しかも基板結晶、即ち該基板結晶を載置する
ウェハースライダが一方向に一定速度で移動されればよ
いので、構造の簡単な送り装置によって基板結晶の自動
送りが可能となるから、コストが低減されることになる
。According to this invention, the length of the substrate crystal in each melt tank in the moving direction is selected in proportion to the crystal growth time for the melt in each melt tank, so that the substrate crystal moves in one direction at a constant speed. By doing this, the melt in each melt tank is sequentially deposited on the substrate crystal, and the crystal is grown to a predetermined thickness.In this way, the shrimp wafer made of all the substrate crystals has the desired structure, and the yield is increased. Furthermore, since the substrate crystal, that is, the wafer slider on which the substrate crystal is placed, only needs to be moved in one direction at a constant speed, automatic feeding of the substrate crystal is possible with a feeding device of simple structure. Costs will be reduced.
以下、図面に示した一実施例に基づいて本発明をさらに
詳細に説明する。Hereinafter, the present invention will be explained in more detail based on one embodiment shown in the drawings.
本発明を実施するための液相エピタキシャル成長装置は
、基本的には従来のものとほぼ同様の構成であり、各メ
ルト槽の長手方向の寸法のみが異なっている。The liquid phase epitaxial growth apparatus for carrying out the present invention basically has almost the same structure as the conventional apparatus, and differs only in the longitudinal dimension of each melt tank.
本発明を実施するためのエピタキシャル成長装置の一実
施例を示す第1回において、メルト槽1゜は、図面右側
から順に第一〇メルト槽11.第二〇メルト槽12.第
三のメルト槽13を備えている。これら第一、第二及び
第三の各メルト槽11.12.13は、その基板結晶4
の運動方向に関する長さが各メルト槽11.12.13
内のメルト1a+ lb、 tcに対する所定の結晶成
長時間、例えば上述した従来例においてそれぞれ60分
、1分、60分の結晶成長時間に比例した長さに選定さ
れている。In the first episode showing an embodiment of an epitaxial growth apparatus for carrying out the present invention, the melt tanks 1° are sequentially arranged from the right side of the drawing as 10 melt tanks 11. No. 20 melt tank 12. A third melt tank 13 is provided. Each of these first, second and third melt tanks 11, 12, 13 has its substrate crystal 4
The length in the direction of movement of each melt tank 11.12.13
The predetermined crystal growth times for the melts 1a+lb, tc are selected to be, for example, lengths proportional to the crystal growth times of 60 minutes, 1 minute, and 60 minutes, respectively, in the conventional example described above.
本発明におけるメルト槽10の実施例は以上のように構
成されており、基板結晶上に結晶成長させてダブルへテ
ロ構造のエビウェハーを作製する場合には、本発明によ
るメルト槽10の各メルト槽11゜12、13内のメル
トla、 lb、 lcをそれぞれP型、n型、n型に
ドーピングしておき、ウェハースライダ3の上面に複数
の基板結晶4をセットして、これらの基板結晶4を矢印
Aで示ず方向に一定速度で移動させることによって、順
次各メルト槽11゜12、13内に受容されたメルtl
a、 Ib+ lcに接触させれば、基板結晶4上には
、従来と同様に順次pGas、 、A+、5.Asの第
−層5と、P Gao、*sA]o、5sAsの第二
層6と、そしてn −Gao、2八1o、sAsの第三
層7とが結晶成長されて、第2図に示すエビウェハーが
作製される。この結晶成長の際、各基板結晶4上のある
点は一定速度で矢印A方向に移動することにより、各メ
ルト槽11.12.13内のメルトla、 lb、 l
cに対して各メルト槽11.12.13の基板結晶運動
方向の長さに比例した時間だけ接触して結晶成長する(
第3図参照)こととなり、従ってすべての基板結晶4に
ついて、第2図に示すように第−層5及び第三層7が比
較的厚くまた第二層6が比較的薄く形成された、適正な
ダブルへテロ構造のエビウェハーが作製される。The embodiment of the melt tank 10 according to the present invention is configured as described above, and when producing a shrimp wafer with a double heterostructure by growing crystals on a substrate crystal, each melt tank of the melt tank 10 according to the present invention is 11. The melts la, lb, and lc in the melts 12 and 13 are doped with P type, n type, and n type, respectively, and a plurality of substrate crystals 4 are set on the upper surface of the wafer slider 3, and these substrate crystals 4 are doped. By moving the tl in the direction not shown by arrow A at a constant speed, the melt tl received in each melt tank 11, 12, 13 is
a, Ib+ lc, pGas, , A+, 5 . A first layer 5 of As, a second layer 6 of P Gao, *sA]o, 5sAs, and a third layer 7 of n-Gao, 281o, sAs are grown as shown in FIG. The shrimp wafer shown is fabricated. During this crystal growth, a certain point on each substrate crystal 4 moves at a constant speed in the direction of arrow A, so that the melts la, lb, l in each melt tank 11.12.13 are
Crystals grow by contacting c for a time proportional to the length of each melt tank 11, 12, 13 in the direction of substrate crystal movement (
(See FIG. 3) Therefore, for all the substrate crystals 4, as shown in FIG. A shrimp wafer with a double heterostructure is fabricated.
また、この方法によれば、基板結晶4が各メルト槽11
.12.13に対して一定速度で常にスライドしてるの
で、結晶成長が各メルトla、 ib、 lcの下部に
溜まった過飽和分の一部を利用して行われることから、
その成長時間に対する結晶成長速度は第4図に実線で示
すように、従来の方法による結晶成長(点線図示)に比
較して非常にゆるやかになる。そして、上記過飽和分が
一気に析出することがないので、結晶成長速度が一定に
なり、精度のよい薄膜成長が得られることになる。Further, according to this method, the substrate crystal 4 is
.. Since it is always sliding at a constant speed with respect to 12.13, crystal growth is performed using part of the supersaturation accumulated at the bottom of each melt la, ib, and lc.
As shown by the solid line in FIG. 4, the crystal growth rate with respect to the growth time is very slow compared to the crystal growth by the conventional method (shown by the dotted line). Since the supersaturated portion does not precipitate all at once, the crystal growth rate becomes constant and thin film growth with high precision can be obtained.
尚、結晶成長速度は、各メルト槽11.12.13の基
板結晶運動方向の長さを適宜に選定することにより、第
5図に示すように調整され得る。従って上述のように基
板結晶を一方向に一定速度でスライドさせなくても、該
基板結晶を各メルト槽に対して接触させて一定時間保持
することによっても所望のダブルへテロ構造のエビウェ
ハーが得られる。この場合、各メルト槽に対して基板結
晶を保持する時間は一定であるので、すべての基板結晶
について所望のダブルへテロ構造のエビウェハーが得ら
れることになる。The crystal growth rate can be adjusted as shown in FIG. 5 by appropriately selecting the length of each melt tank 11, 12, 13 in the substrate crystal movement direction. Therefore, instead of sliding the substrate crystal in one direction at a constant speed as described above, the desired double heterostructure shrimp wafer can be obtained by bringing the substrate crystal into contact with each melt tank and holding it for a certain period of time. It will be done. In this case, since the time for holding the substrate crystals in each melt bath is constant, shrimp wafers with the desired double heterostructure can be obtained for all the substrate crystals.
以上述べたように本発明によれば、複数のメルト槽内に
それぞれ受容された成長素材を溶解したメルトに対して
、一方向に直線運動されるウェハースライダ上に載置し
た基板結晶をこれらのメルトに順次接触させることによ
り基板結晶上に複数の半導体結晶をエピタキシャル成長
させるようにした半導体結晶の液相エピタキシャル成長
法において、各メルト槽を、その基板結晶の運動方向に
関して、上記複数の半導体結晶の各厚さに基づいた長さ
に設定し、基板結晶が一方向に一定速度で移動され、好
ましくは該基板結晶を各メルトに接触させた状態で一定
時間保持することにより、所定の厚さの結晶成長が行わ
れるように構成したから、各メルト槽の基板結晶の運動
方向の長さが、各メルト槽内のメルトに対する結晶成長
時間に比例して選定されており、基板結晶が一方向に一
定速度で移動されることによって、該基板結晶上に順次
各メルト槽内のメルトが析出して所定の厚さに結晶成長
されることになる。As described above, according to the present invention, the substrate crystal placed on the wafer slider is linearly moved in one direction with respect to the melt obtained by melting the growth materials respectively received in a plurality of melt tanks. In a liquid phase epitaxial growth method for semiconductor crystals in which a plurality of semiconductor crystals are epitaxially grown on a substrate crystal by sequential contact with a melt, each melt bath is used to grow each of the plurality of semiconductor crystals with respect to the movement direction of the substrate crystal. By setting the length based on the thickness, the substrate crystal is moved in one direction at a constant speed, and preferably the substrate crystal is kept in contact with each melt for a certain period of time, so that a crystal of a predetermined thickness can be obtained. Since the structure is configured to allow growth to occur, the length in the direction of movement of the substrate crystal in each melt tank is selected in proportion to the crystal growth time for the melt in each melt tank, so that the substrate crystal remains constant in one direction. By moving at a high speed, the melt in each melt tank is sequentially deposited on the substrate crystal, and the crystal is grown to a predetermined thickness.
従って、すべての基板結晶によるエビウェハーが所望の
構造を有することにより、歩留まりが向上せしめられ、
しかも基板結晶、即ち該基板結晶を!置するウェハース
ライダが一方向に一定速度で移動されればよいので、構
造の簡単な送り装置によって基板結晶の自動送りが可能
であるがら、コストが低減されることになる。Therefore, since the shrimp wafer made of all the substrate crystals has the desired structure, the yield is improved,
Moreover, the substrate crystal, that is, the substrate crystal! Since the wafer slider to be placed only needs to be moved in one direction at a constant speed, costs are reduced while automatic feeding of the substrate crystal is possible using a feeding device with a simple structure.
かくして、本発明によれば、構造が簡単で、しかもすべ
ての基板結晶に対して適正なダブルへテロ構造のエビウ
ェハーが得られる、歩留まりのよい半導体結晶の液相エ
ピタキシャル成長法が提供され得る。Thus, according to the present invention, it is possible to provide a method for liquid phase epitaxial growth of semiconductor crystals with a simple structure and a good yield, in which a double heterostructure shrimp wafer suitable for all substrate crystals can be obtained.
第1図は本発明を実施するための液相エピタキシャル成
長装置の一実施例を示す概略断面図、第2図は第1図の
装置により作製したエビウェハーの概略断面図、第3図
はメルトに対するスライド時間と結晶成長の厚さとの関
係を示すグラフ、第4図は第1図の実施例における結晶
成長速度を示すグラフ、第5図はメルト槽の長さと結晶
成長速度との関係を示すグラフである。
第6図は従来の液相エピタキシャル成長装置の一例を示
す概略断面図、第7図は第6図の装置により作製したエ
ビウェハーの概略断面図であり、(A)は奇数番目及び
(B)は偶数番目のエビウェハーを示す。
1 、 la、 Ib、 1c−−メルト; 2
、2a、 2b、 2cmメルト槽;3− ウェハ
ースライダ; 4 、4a、 4b−基板結晶;5−
・−第一層;6−・−第二層; 7・−第三層;10、
11. 12. 13・−・・・メルト槽。
特許出願人:スタンレー電気株式会社
代 理 人:弁理士 平 山 −室
間 :弁理士 海 津 保 三
第1図
第3図
第4図FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an embodiment of a liquid phase epitaxial growth apparatus for carrying out the present invention, FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of a shrimp wafer produced by the apparatus shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a slide for melting. FIG. 4 is a graph showing the relationship between time and crystal growth thickness. FIG. 4 is a graph showing the crystal growth rate in the example of FIG. 1. FIG. 5 is a graph showing the relationship between the length of the melt tank and the crystal growth rate. be. FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing an example of a conventional liquid phase epitaxial growth apparatus, and FIG. 7 is a schematic cross-sectional view of shrimp wafers produced using the apparatus shown in FIG. The second shrimp wafer is shown. 1, la, Ib, 1c--melt; 2
, 2a, 2b, 2cm melt tank; 3- wafer slider; 4, 4a, 4b- substrate crystal; 5-
・-first layer; 6--second layer; 7--third layer; 10,
11. 12. 13.--melt tank. Patent applicant: Stanley Electric Co., Ltd. Representative: Patent attorney Hirayama - Muroma: Patent attorney Tamotsu Kaizu Figure 1 Figure 3 Figure 4
Claims (2)
を溶解したメルトに対して、一方向に直線連動されるウ
ェハースライダ上に載置した基板結晶をこれらのメルト
に順次接触させることにより、基板結晶上に複数の半導
体結晶をエピタキシャル成長させるようにした、半導体
結晶の液相エピタキシャル成長法において、 上記各メルト槽が、その基板結晶の運動方 向に関して、上記複数の半導体結晶の各厚さに基づいた
長さを有しており、基板結晶が一方向に一定速度で移動
されることにより所定の結晶成長が行われるようにした
ことを特徴とする、半導体結晶の液相エピタキシャル成
長法。(1) By sequentially bringing a substrate crystal placed on a wafer slider that is linearly interlocked in one direction into contact with the melt containing melted growth materials received in a plurality of melt tanks, In a liquid phase epitaxial growth method for semiconductor crystals in which a plurality of semiconductor crystals are epitaxially grown on a substrate crystal, each of the melt baths is configured to perform a process based on the thickness of each of the plurality of semiconductor crystals with respect to the movement direction of the substrate crystal. 1. A method for liquid phase epitaxial growth of a semiconductor crystal, characterized in that the substrate crystal has a certain length and a predetermined crystal growth is performed by moving the substrate crystal in one direction at a constant speed.
持する動作を含む、特許請求の範囲第1項に記載の半導
体結晶の液相エピタキシャル成長法。(2) The liquid phase epitaxial growth method of a semiconductor crystal according to claim 1, which includes an operation of bringing the substrate crystal into contact with each melt and holding the substrate crystal for a certain period of time.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25384187A JPH0196090A (en) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | Liquid phase epitaxial growth process of semiconductor crystal |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25384187A JPH0196090A (en) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | Liquid phase epitaxial growth process of semiconductor crystal |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0196090A true JPH0196090A (en) | 1989-04-14 |
Family
ID=17256879
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25384187A Pending JPH0196090A (en) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | Liquid phase epitaxial growth process of semiconductor crystal |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0196090A (en) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62202893A (en) * | 1986-02-28 | 1987-09-07 | Hitachi Cable Ltd | Liquid phase epitaxy |
-
1987
- 1987-10-09 JP JP25384187A patent/JPH0196090A/en active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62202893A (en) * | 1986-02-28 | 1987-09-07 | Hitachi Cable Ltd | Liquid phase epitaxy |
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