JPH0198131A - 光学型情報再生装置 - Google Patents
光学型情報再生装置Info
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- JPH0198131A JPH0198131A JP62255587A JP25558787A JPH0198131A JP H0198131 A JPH0198131 A JP H0198131A JP 62255587 A JP62255587 A JP 62255587A JP 25558787 A JP25558787 A JP 25558787A JP H0198131 A JPH0198131 A JP H0198131A
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- light
- photodetector
- dividing line
- diffraction element
- diffracted
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
- G11B7/133—Shape of individual detector elements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1353—Diffractive elements, e.g. holograms or gratings
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、コンパクトディスク再生装置等、光ピツクア
ップを有し、この光ピツクアンプに焦点検出機構を備え
た光学型情報再生装置に関するものである。
ップを有し、この光ピツクアンプに焦点検出機構を備え
た光学型情報再生装置に関するものである。
コンパクトディスク再生装置等の光学型情報再生装置に
は光ピンクアップが設けられており、この光ピツクアッ
プの小型軽量化は装置の性能向上を図る上で重要な問題
となっている。そして、この問題の解決のために回折素
子を光ピ・ツクアップの光学系に使用することは非常に
有効であり、これまでにも幾つかの構成が提案されてい
る。
は光ピンクアップが設けられており、この光ピツクアッ
プの小型軽量化は装置の性能向上を図る上で重要な問題
となっている。そして、この問題の解決のために回折素
子を光ピ・ツクアップの光学系に使用することは非常に
有効であり、これまでにも幾つかの構成が提案されてい
る。
εの種の従来の光学型情報再生装置では、例えば、第9
図に示すように、半導体レーザ1から出射された光は、
回折素子2を透過し、結像レンズ3によって記録媒体で
あるディスク4上に集光されると共に、ディスク4から
の反射光は、結像レンズ3によって光学系内に取り込ま
れ、回折素子2によって光検出器5上に回折されるよう
になっている。このような装置においては、ディスク4
上に形成される集光スポットは直径1μm程度の非常に
小さなものであるため、上記回折素子2および光検出器
5等によって構成されるいわゆるフォーカス検出機構が
必要不可欠である。
図に示すように、半導体レーザ1から出射された光は、
回折素子2を透過し、結像レンズ3によって記録媒体で
あるディスク4上に集光されると共に、ディスク4から
の反射光は、結像レンズ3によって光学系内に取り込ま
れ、回折素子2によって光検出器5上に回折されるよう
になっている。このような装置においては、ディスク4
上に形成される集光スポットは直径1μm程度の非常に
小さなものであるため、上記回折素子2および光検出器
5等によって構成されるいわゆるフォーカス検出機構が
必要不可欠である。
上記の回折素子2は、はぼ円形を成し、等分された2個
の半円形の領域2a・2bを有している。一方、光検出
器5は方形を成し、回折素子2における回折方向である
X軸方向と、この方向と直交するY軸方向に、分割線A
−B−Cによって分割された4個の光検出部5a・5b
・5C・5dを有している。そして、回折素子2の一方
の領域2aによる回折光が、光検出器5を光検出部5a
・5bに分割する分割線A上に集光されると共に、他方
の領域2bによる回折光が、光検出器5を光検出部5c
・5dに分割する分割線B上に集光されるようになって
いる。
の半円形の領域2a・2bを有している。一方、光検出
器5は方形を成し、回折素子2における回折方向である
X軸方向と、この方向と直交するY軸方向に、分割線A
−B−Cによって分割された4個の光検出部5a・5b
・5C・5dを有している。そして、回折素子2の一方
の領域2aによる回折光が、光検出器5を光検出部5a
・5bに分割する分割線A上に集光されると共に、他方
の領域2bによる回折光が、光検出器5を光検出部5c
・5dに分割する分割線B上に集光されるようになって
いる。
このような構成では、半導体レーザ1からの出射光が、
結像レンズ3によってディスク4上に的確に焦点を結ん
でいるとき、即ち合焦点のときには、第10図(b)に
示すように、回折素子2からの回折光の集光スポット6
が光検出器5の分割線A−B上の一点に形成され、光検
出部5a・5bの出力が等しく、かつ光検出部5C・5
dの出力が等しくなる。一方、何らかの理由により、デ
ィスク4が結像レンズ3に近づいたときには、回折光の
焦点は光検出器5の後方に形成されるため、同図(a)
に示すように、集光スポット6は光検出部5a・5dに
半円状のバタンとなって広がる。また、逆に、ディスク
4が結像レンズ3から遠ざかったときには、回折素子2
からの回折光の焦点は光検出器5の前方に形成されるた
め、同図(c)に示すように、集光スポット6は光検出
部5b・5Cに半円状のバタンとなって広がる。
結像レンズ3によってディスク4上に的確に焦点を結ん
でいるとき、即ち合焦点のときには、第10図(b)に
示すように、回折素子2からの回折光の集光スポット6
が光検出器5の分割線A−B上の一点に形成され、光検
出部5a・5bの出力が等しく、かつ光検出部5C・5
dの出力が等しくなる。一方、何らかの理由により、デ
ィスク4が結像レンズ3に近づいたときには、回折光の
焦点は光検出器5の後方に形成されるため、同図(a)
に示すように、集光スポット6は光検出部5a・5dに
半円状のバタンとなって広がる。また、逆に、ディスク
4が結像レンズ3から遠ざかったときには、回折素子2
からの回折光の焦点は光検出器5の前方に形成されるた
め、同図(c)に示すように、集光スポット6は光検出
部5b・5Cに半円状のバタンとなって広がる。
従って、光検出部5a・5b・5c・5dの出力信号を
それぞれ、5a−3b−3c−3dとすると、フォーカ
ス誤差信号FESは、FES= (Sa+Sd)
(Sc+Sb)を演算することによって得られ、このフ
ォーカス誤差信号FESに基づき、図示しない結像レン
ズ駆動手段にて結像レンズ3力情区動され、ディスク4
上に適切に焦点が形成されるようになっている。
それぞれ、5a−3b−3c−3dとすると、フォーカ
ス誤差信号FESは、FES= (Sa+Sd)
(Sc+Sb)を演算することによって得られ、このフ
ォーカス誤差信号FESに基づき、図示しない結像レン
ズ駆動手段にて結像レンズ3力情区動され、ディスク4
上に適切に焦点が形成されるようになっている。
また、上記のように、光検出器5において、光検出部5
a・、5 bに対して光検出部5C・5dを縦方向に並
べた構成とは別に、特開昭62−97141号公報に開
示されているように、光検出部5a・5bと光検出部5
C・5dとを独立した光検出器として分割した構成が知
られている。このような構成の場合、回折素子2の格子
は領域2a・2b同士が線対称を成すように形成される
と共□ に、2個の光検出器は回折素子の対応する領域
から等距離の位置に配設されている。
a・、5 bに対して光検出部5C・5dを縦方向に並
べた構成とは別に、特開昭62−97141号公報に開
示されているように、光検出部5a・5bと光検出部5
C・5dとを独立した光検出器として分割した構成が知
られている。このような構成の場合、回折素子2の格子
は領域2a・2b同士が線対称を成すように形成される
と共□ に、2個の光検出器は回折素子の対応する領域
から等距離の位置に配設されている。
ところが、半導体レーザlを構成するレーザダイオード
等の発光源は、周囲温度の変化によって出射光の波長が
変化するという特性を有している。また、回折素子2に
おける回折角と、この回折素子2からの回折光の光検出
器5上における焦点の位置は波長依存性を有している。
等の発光源は、周囲温度の変化によって出射光の波長が
変化するという特性を有している。また、回折素子2に
おける回折角と、この回折素子2からの回折光の光検出
器5上における焦点の位置は波長依存性を有している。
従って、ディスク4からの反射光の検出においては、半
導体レーザ1の周囲温度の影響を受けることになり、情
報の記録再生を適切に行い難いという問題点を有してい
る。
導体レーザ1の周囲温度の影響を受けることになり、情
報の記録再生を適切に行い難いという問題点を有してい
る。
上記の問題点を詳述すると、今、ディスク4が半導体レ
ーザ1からの出射光のちょうど焦点位置にあり、光の波
長が基準の波長λ0である場合には、前記集光スポット
6は、第11図(b)に示すように、光検出器5におけ
る光検出部5a・5bの分割線A上と、光検出部5C・
5dの分割線B上の一点に集光される。一方、半導体レ
ーザ1の周囲の温度が高くなり、光の波長λが、λ〉λ
。
ーザ1からの出射光のちょうど焦点位置にあり、光の波
長が基準の波長λ0である場合には、前記集光スポット
6は、第11図(b)に示すように、光検出器5におけ
る光検出部5a・5bの分割線A上と、光検出部5C・
5dの分割線B上の一点に集光される。一方、半導体レ
ーザ1の周囲の温度が高くなり、光の波長λが、λ〉λ
。
になると、回折素子2における光の回折角は大きくなり
、回折光の焦点は光検出器5のやや前方に形成される。
、回折光の焦点は光検出器5のやや前方に形成される。
これにより、同図(a)に示すように、二つの回折光の
集光スポット6・6は、回折光の回折方向であるX軸方
向の−X方向に移動すると同時に、光検出部5b・5C
上に半円状に広がる。逆に、半導体レーザ1の周囲温度
が低くなり、光の波長λが、λくλ。になると、回折素
子2における光の回折角は小さくなり、回折光の焦点は
光検出器5のやや後方に形成される。これにより、同図
(c)に示すように、二つの回折光の集光スポット6・
6は、X軸方向の+X方向に移動すると同時に、光検出
部5a・5d上に半円状に広がる。
集光スポット6・6は、回折光の回折方向であるX軸方
向の−X方向に移動すると同時に、光検出部5b・5C
上に半円状に広がる。逆に、半導体レーザ1の周囲温度
が低くなり、光の波長λが、λくλ。になると、回折素
子2における光の回折角は小さくなり、回折光の焦点は
光検出器5のやや後方に形成される。これにより、同図
(c)に示すように、二つの回折光の集光スポット6・
6は、X軸方向の+X方向に移動すると同時に、光検出
部5a・5d上に半円状に広がる。
ここで、フォーカス誤差信号FESは、前記のように、
FES= (Sa+Sd) (Sc+、Sb)によ
って得られるので、上述のように光の波長が変化すると
、結像レンズ3の位置を制御するフォーカス信号に誤差
を生じる。即ち、光の波長が変化すると、ディスク4が
結像レンズ3の焦点位置にある場合であっても、フォー
カス誤差信号FESは0にならず、偽のフォーカス誤差
信号FESが現れることになる。そして、上記のような
波長の変化によって生じる偽信号は非常に大きいもので
あるため、これによるフォーカスずれが生じ、正常な情
報の記録再生が行い難いものであった。
FES= (Sa+Sd) (Sc+、Sb)によ
って得られるので、上述のように光の波長が変化すると
、結像レンズ3の位置を制御するフォーカス信号に誤差
を生じる。即ち、光の波長が変化すると、ディスク4が
結像レンズ3の焦点位置にある場合であっても、フォー
カス誤差信号FESは0にならず、偽のフォーカス誤差
信号FESが現れることになる。そして、上記のような
波長の変化によって生じる偽信号は非常に大きいもので
あるため、これによるフォーカスずれが生じ、正常な情
報の記録再生が行い難いものであった。
本発明の光学型情報再生装置は、上記の問題点を解決す
るために、光発生手段と、この光発生手段から出射され
た光を記録媒体上に集光させると共に、記録媒体からの
反射光を検出して回折素子に供給する光学系部と、上記
記録媒体からの反射光の光軸上に設けられ、分割された
2個以上の領域を存し、上記反射光を光検出器の対応す
る分割線上に回折させる回折素子と、分割線によって分
割された複数の光検出部を有し、分割線上に回折された
回折素子からの回折光を分割線の両側の光検出部にて電
気信号に変換する光検出器とを備えた光学型情報再生装
置において、上記光検出器は、回折素子からの回折光の
集光される分割線が、上記分割線両側の光検出部の受け
る集光スポットの光量がほぼ等しくなるように、回折素
子における反射光の回折方向に対し、傾斜して形成され
ている構成である。
るために、光発生手段と、この光発生手段から出射され
た光を記録媒体上に集光させると共に、記録媒体からの
反射光を検出して回折素子に供給する光学系部と、上記
記録媒体からの反射光の光軸上に設けられ、分割された
2個以上の領域を存し、上記反射光を光検出器の対応す
る分割線上に回折させる回折素子と、分割線によって分
割された複数の光検出部を有し、分割線上に回折された
回折素子からの回折光を分割線の両側の光検出部にて電
気信号に変換する光検出器とを備えた光学型情報再生装
置において、上記光検出器は、回折素子からの回折光の
集光される分割線が、上記分割線両側の光検出部の受け
る集光スポットの光量がほぼ等しくなるように、回折素
子における反射光の回折方向に対し、傾斜して形成され
ている構成である。
光発生手段から出射される光の波長は光発生手段周囲の
温度変化によって変化し、この光の波長変化により、記
録媒体からの反射光の回折素子における回折角が変化す
る。このため、光検出器上において、回折素子からの回
折光の焦点が光検出器の前方あるいは後方にずれると共
に、集光スポットの広がりが生じる。このような場合で
あっても、光検出器の分割線が、上記回折角の変化と、
これに伴う光検出器上での光束の広がり形状を考慮して
、常に分割線の両側の光検出部における受光量がほぼ等
しくなるように設定されているので、偽のフォーカス誤
差信号を生じて装置の誤動作を招来することがない。
温度変化によって変化し、この光の波長変化により、記
録媒体からの反射光の回折素子における回折角が変化す
る。このため、光検出器上において、回折素子からの回
折光の焦点が光検出器の前方あるいは後方にずれると共
に、集光スポットの広がりが生じる。このような場合で
あっても、光検出器の分割線が、上記回折角の変化と、
これに伴う光検出器上での光束の広がり形状を考慮して
、常に分割線の両側の光検出部における受光量がほぼ等
しくなるように設定されているので、偽のフォーカス誤
差信号を生じて装置の誤動作を招来することがない。
〔実施例1〕
本発明の第1実施例を第1図乃至第4図に基づいて以下
に説明する。
に説明する。
本発明に係る光学型情報再生装置は、第1図に示すよう
に、レーザ光を発生する光発生手段である半導体レーザ
11と、回折素子12を介して入射した半導体レーザ1
1からの光を記録媒体であるディスク14上に集光され
る光学系部を成す結像レンズ13と、結像レンズ13を
介して入射したディスク14からの反射光を反射光の光
軸外へ回折し、光検出器15上に回折させる回折素子1
2と、回折素子12を通じて入射した反射光を電気信号
に変換する光検出器15とを備えている。
に、レーザ光を発生する光発生手段である半導体レーザ
11と、回折素子12を介して入射した半導体レーザ1
1からの光を記録媒体であるディスク14上に集光され
る光学系部を成す結像レンズ13と、結像レンズ13を
介して入射したディスク14からの反射光を反射光の光
軸外へ回折し、光検出器15上に回折させる回折素子1
2と、回折素子12を通じて入射した反射光を電気信号
に変換する光検出器15とを備えている。
また、光学型情報再生装置は、光検出器15の各光検出
部15a ・15b−15c ・15dからの出力信号
5a−3b−3c−3dから、FES=(Sa+Sd)
(Sc+Sb)の演算を行うことによってフォー
カス誤差信号FESを得、このフォーカス誤差信号FE
Sに基づき、半導体レーザ11から出射された光がディ
スク14上に焦点を結ぶように結像レンズ13を駆動す
るようになっている。さらに、上記光検出器15の各光
検出部15a・15b・15cm15dの出力に基づい
て、トラッキングサーボおよびディスク14に記録され
た情報の再生等を行うようになっている。
部15a ・15b−15c ・15dからの出力信号
5a−3b−3c−3dから、FES=(Sa+Sd)
(Sc+Sb)の演算を行うことによってフォー
カス誤差信号FESを得、このフォーカス誤差信号FE
Sに基づき、半導体レーザ11から出射された光がディ
スク14上に焦点を結ぶように結像レンズ13を駆動す
るようになっている。さらに、上記光検出器15の各光
検出部15a・15b・15cm15dの出力に基づい
て、トラッキングサーボおよびディスク14に記録され
た情報の再生等を行うようになっている。
上記の回折素子12は、はぼ円形を成し、X軸方向の分
割線12dによって2個の半円形の領域12a・12b
に等分割されている。これら領域12a・1.2 bは
多数の格子12c・・・を有しており、一方の領域12
bの格子間ピッチは他方の領域12aの格子間ピンチよ
りも狭くなっている。
割線12dによって2個の半円形の領域12a・12b
に等分割されている。これら領域12a・1.2 bは
多数の格子12c・・・を有しており、一方の領域12
bの格子間ピッチは他方の領域12aの格子間ピンチよ
りも狭くなっている。
これによって、領域12aの回折角よりも領域12bの
回折角の方が大きくなり、領域12aからの回折光は、
後述する光検出器15の分割線A。
回折角の方が大きくなり、領域12aからの回折光は、
後述する光検出器15の分割線A。
上に集光されると共に、領域12bからの回折光は分割
線B1上に集光されるようになっている。
線B1上に集光されるようになっている。
尚、回折素子12の領域12a12bにおける格子12
c・・・の形状は、同図のように、直線状であってもよ
いが、第2図に示すように、収差を無くすために湾曲状
に、かつ、領域12a・12bにおける一X方向側の部
位は、その反対側の部位よりも徐々に格子間ピッチが狭
く形成されているのが好ましい。
c・・・の形状は、同図のように、直線状であってもよ
いが、第2図に示すように、収差を無くすために湾曲状
に、かつ、領域12a・12bにおける一X方向側の部
位は、その反対側の部位よりも徐々に格子間ピッチが狭
く形成されているのが好ましい。
一方、光検出器15は、第3図(b)にも示すように、
方形を成し、分割された4個の光検出部15a・15b
15c15dを有している。
方形を成し、分割された4個の光検出部15a・15b
15c15dを有している。
上記光検出器15は、回折素子12における回折方向と
直交するY軸方向の分割線C1によって光検出部15a
・15b側と光検出部15cm15d側とに等分され、
かつ、回折素子12による回折方向であるX軸方向に対
して傾斜した2本の分割線A、−B、により、それぞれ
、光検出部15aと光検出部15bとに分割されると共
に、光検出部15Cと光検出部15dとに分割されてい
る。上記分割線A1と分割線Blとは、回折素子12か
らの回折光が光検出器15へ入射したときに、これら分
割線A、・B、の両側における光量が等しくなるように
、分割vAC1を対称軸とするほぼ線対称方向に傾斜し
ており、各傾斜角度は、それぞれ、X軸に対してφ8と
φ2に設定されている。これら傾斜角φ1 ・φ2は、
半導体レーザ11からの出射光の波長変化に伴う回折素
子12における回折角の変化と、これに伴う光検出器1
5上での集光スポット18の広がり形状を考慮して決定
されている。
直交するY軸方向の分割線C1によって光検出部15a
・15b側と光検出部15cm15d側とに等分され、
かつ、回折素子12による回折方向であるX軸方向に対
して傾斜した2本の分割線A、−B、により、それぞれ
、光検出部15aと光検出部15bとに分割されると共
に、光検出部15Cと光検出部15dとに分割されてい
る。上記分割線A1と分割線Blとは、回折素子12か
らの回折光が光検出器15へ入射したときに、これら分
割線A、・B、の両側における光量が等しくなるように
、分割vAC1を対称軸とするほぼ線対称方向に傾斜し
ており、各傾斜角度は、それぞれ、X軸に対してφ8と
φ2に設定されている。これら傾斜角φ1 ・φ2は、
半導体レーザ11からの出射光の波長変化に伴う回折素
子12における回折角の変化と、これに伴う光検出器1
5上での集光スポット18の広がり形状を考慮して決定
されている。
上記の構成において、半導体レーザ11から出射された
光は、回折素子12を透過し、結像レンズ13によって
ディスク14上に集光される。ディスク14からの反射
光は、結像レンズ13によって再び光学系内に取り込ま
れ、回折素子12の領域12a−12bによって回折さ
れる。領域12aによって回折さ°れた光は光検出器1
5における分割vAA r上に集光され、領域1’2b
によって回折された光は分割線B1上に集光される。
光は、回折素子12を透過し、結像レンズ13によって
ディスク14上に集光される。ディスク14からの反射
光は、結像レンズ13によって再び光学系内に取り込ま
れ、回折素子12の領域12a−12bによって回折さ
れる。領域12aによって回折さ°れた光は光検出器1
5における分割vAA r上に集光され、領域1’2b
によって回折された光は分割線B1上に集光される。
そして、結像レンズ13によって、半導体レーザ11か
ら出射された光の焦点が的確にディスク14上に形成さ
れているとき、即ち合焦点のときには、第3図(b)に
示すように、光検出器15の分割線A1 ・B、上の一
点に集光スポット18が形成され、光検出部15a・1
5bの出力が等しくなると共に、光検出部15cm15
dの出力が等しくなる。
ら出射された光の焦点が的確にディスク14上に形成さ
れているとき、即ち合焦点のときには、第3図(b)に
示すように、光検出器15の分割線A1 ・B、上の一
点に集光スポット18が形成され、光検出部15a・1
5bの出力が等しくなると共に、光検出部15cm15
dの出力が等しくなる。
ここで、何らかの理由により、ディスク14が結像レン
ズ13に接近すると、回折光の焦点は光検出器15の後
方に形成され、同図(’a)に示すように、集光スボ・
ノド18は光検出部15a・15d上に半円状のバタン
となって広がる。このときには、フォーカス制御手段に
て、FES= (Sa+5d)−(Sc+Sb) 、の
演算が行われ、フォーカス誤差信号FBSが作成される
。そして、この信号に基づき、ディスク14上に光の焦
点が形成されるように、結像レンズ13がディスク14
から遠ざけられる。これによって、ディスク14からの
適切な信号の読み取りが行われる。
ズ13に接近すると、回折光の焦点は光検出器15の後
方に形成され、同図(’a)に示すように、集光スボ・
ノド18は光検出部15a・15d上に半円状のバタン
となって広がる。このときには、フォーカス制御手段に
て、FES= (Sa+5d)−(Sc+Sb) 、の
演算が行われ、フォーカス誤差信号FBSが作成される
。そして、この信号に基づき、ディスク14上に光の焦
点が形成されるように、結像レンズ13がディスク14
から遠ざけられる。これによって、ディスク14からの
適切な信号の読み取りが行われる。
逆に、ディスク14が結像レンズ13から遠ざかると、
回折光の焦点は光検出器15の前方に形成され、同図(
c)に示すように、集光スポット18は光検出部15b
・15c上に半円状のバタンとなって広がる。このとき
は、フォーカス誤差信号FESに基づき、結像レンズ1
3がディスク14と接近するように駆動され、ディスク
14上に光の焦点が形成される。
回折光の焦点は光検出器15の前方に形成され、同図(
c)に示すように、集光スポット18は光検出部15b
・15c上に半円状のバタンとなって広がる。このとき
は、フォーカス誤差信号FESに基づき、結像レンズ1
3がディスク14と接近するように駆動され、ディスク
14上に光の焦点が形成される。
ところで、ディスク14上に出射光の焦点が形成されて
いるときには、集光スポット1日は、第4図(b)に示
すように、光検出器15上の分割線A1上と分割線B、
上に一点状に集光されている。そして、このときの光の
波長を、基準の波長λ。とする。
いるときには、集光スポット1日は、第4図(b)に示
すように、光検出器15上の分割線A1上と分割線B、
上に一点状に集光されている。そして、このときの光の
波長を、基準の波長λ。とする。
ここで、半導体レーザ11の周囲の温度が高(なり、光
の波長λが、λ〉λ。になると、回折素子12における
光の回折角は大きくなり、回折光の焦点は光検出器15
のやや前方に形成される。
の波長λが、λ〉λ。になると、回折素子12における
光の回折角は大きくなり、回折光の焦点は光検出器15
のやや前方に形成される。
これにより、同図(a)に示すように、回折素子12に
おける領域12a・12bからの回折光の集光スポット
18・18は、回折光の回折方向、即ちX軸方向の−X
方向に移動すると同時に、光検出部15b・15c上に
半円状に広がる。しかしながら、光検出器15の分割線
A1 ・B+が各々φ、・φ2の傾斜角を有することに
より、光検出部15aと光検出部15b、および光検出
部15cと光検出部15dの出力は等しくなる。従って
、フォーカス誤差信号FESはOとなり、結像レンズ1
3の駆動機構は誤動作を生じない。
おける領域12a・12bからの回折光の集光スポット
18・18は、回折光の回折方向、即ちX軸方向の−X
方向に移動すると同時に、光検出部15b・15c上に
半円状に広がる。しかしながら、光検出器15の分割線
A1 ・B+が各々φ、・φ2の傾斜角を有することに
より、光検出部15aと光検出部15b、および光検出
部15cと光検出部15dの出力は等しくなる。従って
、フォーカス誤差信号FESはOとなり、結像レンズ1
3の駆動機構は誤動作を生じない。
逆に、半導体レーザ11の周囲の温度が低くなり、光の
波長λが、λくλ。になると、回折素子12における光
の回折角は小さくなり、回折光の焦点は光検出器15の
やや後方に形成される。これにより、同図(c)に示す
ように、回折素子12における領域12a・12bから
の回折光の集光スポットは、回折光の回折方向、即ちX
軸に沿って+X方向に移動すると同時に、光検出部15
a・15d上に半円状に広がる。このようなときにも、
上記の場合と同様、光検出部15aと光検出部15b、
および光検出部15cと光検出部15dの出力が等しく
なることにより、フォーカス誤差信号FESは0となり
、結像レンズ13の駆動機構は誤動作を生じない。
波長λが、λくλ。になると、回折素子12における光
の回折角は小さくなり、回折光の焦点は光検出器15の
やや後方に形成される。これにより、同図(c)に示す
ように、回折素子12における領域12a・12bから
の回折光の集光スポットは、回折光の回折方向、即ちX
軸に沿って+X方向に移動すると同時に、光検出部15
a・15d上に半円状に広がる。このようなときにも、
上記の場合と同様、光検出部15aと光検出部15b、
および光検出部15cと光検出部15dの出力が等しく
なることにより、フォーカス誤差信号FESは0となり
、結像レンズ13の駆動機構は誤動作を生じない。
次に、上述した光学型情報再生装置の誤動作抑制機能を
具体的な数値によって説明する。
具体的な数値によって説明する。
第1図および第3図において、Z+ −17,0mm、
lx =4,5mSx、=4u+、a=1.4mm、b
=1.6+u、光源の波長λ。を、λo=780nmと
して、回折素子12が設計されている場合、φ1=φ、
=Qmradであれば、周囲温度によって変化する実際
の波長λが、λ−770nmになると、フォーカス誤差
信号FESのオフセットは一〇、1#mになり、また、
λ=790nmでは+0゜1μmとなる。しかし、分割
線A1 ・B、の傾斜角をそれぞれ、φr =7.62
3mr a d、φ2=6.838mradとすること
によって、波長が、λ=770〜790nmの範囲にお
いて変化した場合であってもフォーカス誤差信号FES
のオフセットは−0,001μm以下に抑制される。
lx =4,5mSx、=4u+、a=1.4mm、b
=1.6+u、光源の波長λ。を、λo=780nmと
して、回折素子12が設計されている場合、φ1=φ、
=Qmradであれば、周囲温度によって変化する実際
の波長λが、λ−770nmになると、フォーカス誤差
信号FESのオフセットは一〇、1#mになり、また、
λ=790nmでは+0゜1μmとなる。しかし、分割
線A1 ・B、の傾斜角をそれぞれ、φr =7.62
3mr a d、φ2=6.838mradとすること
によって、波長が、λ=770〜790nmの範囲にお
いて変化した場合であってもフォーカス誤差信号FES
のオフセットは−0,001μm以下に抑制される。
(実施例2〕
本発明の第2実施例を第5図乃至第8図に基づいて以下
に説明する。尚、前記第1実施例と同一の機能を有する
部材には同一の符号を付記し、その説明を省略しである
。
に説明する。尚、前記第1実施例と同一の機能を有する
部材には同一の符号を付記し、その説明を省略しである
。
本実施例に係る光学型情報再生装置は、第5図に示すよ
うに、光検出器16が、一方向に並設された光検出部1
6a・16b・16c・16dを有するものとなってお
り、かつ回折素子17もこれに対応したものとなってい
る。その他の構成は前記第1実施例と同一である。
うに、光検出器16が、一方向に並設された光検出部1
6a・16b・16c・16dを有するものとなってお
り、かつ回折素子17もこれに対応したものとなってい
る。その他の構成は前記第1実施例と同一である。
上記光検出器16は、回折素子17による回折方向であ
るX軸方向の分割線CZによって、光検出部16a・1
6b側と光検出部16c16d側とに等分され、かつ、
上記のX軸方向に対して傾斜した分割線A2 ・B2に
より、それぞれ、光検出部16aと光検出部16bとに
分割されると共に、光検出部16Cと光検出部16dと
に分割されている。上記分割線A2と分割&I B 2
とは、第7図(b)に示すように、X軸と平行な分割線
C2を対称軸として線対称を成すと共に、分割線A2と
分割線B2との距離が半導体レーザ11に近い側で短く
なるようにX軸方向に対して各々φ。
るX軸方向の分割線CZによって、光検出部16a・1
6b側と光検出部16c16d側とに等分され、かつ、
上記のX軸方向に対して傾斜した分割線A2 ・B2に
より、それぞれ、光検出部16aと光検出部16bとに
分割されると共に、光検出部16Cと光検出部16dと
に分割されている。上記分割線A2と分割&I B 2
とは、第7図(b)に示すように、X軸と平行な分割線
C2を対称軸として線対称を成すと共に、分割線A2と
分割線B2との距離が半導体レーザ11に近い側で短く
なるようにX軸方向に対して各々φ。
たけ傾斜している。そして、回折素子17からの回折光
が光検出器16へ入射したときに、これら分割線A2
・B2の両側における光量が等しくなるように構成され
ている。
が光検出器16へ入射したときに、これら分割線A2
・B2の両側における光量が等しくなるように構成され
ている。
一方、回折素子17はX軸方向の分割線17dによって
領域17a・17bに等分割されると共に、これら領域
17a・17bに形成された格子17c・・・は、Y軸
方向に対して所定角度に傾斜され、かつ上記分割線17
dを対称軸として線対称を成している。これによって、
領域17aからの回折光は、光検出器16の分割線A2
上に集光されると共に、領域17bからの回折光は分割
線B2上に集光されるようになっている。尚、回折素子
17の領域17a・17bにおける格子17c・・・の
形状は、同図のように、直線状であってもよいが、第6
図に示すように、収差を無くすために湾曲状に、かつ、
領域17a・17bにおける一X方向側の部位は、その
反対側の部位よりも徐々に格子間ピンチが狭く形成され
ているのが好ましい。
領域17a・17bに等分割されると共に、これら領域
17a・17bに形成された格子17c・・・は、Y軸
方向に対して所定角度に傾斜され、かつ上記分割線17
dを対称軸として線対称を成している。これによって、
領域17aからの回折光は、光検出器16の分割線A2
上に集光されると共に、領域17bからの回折光は分割
線B2上に集光されるようになっている。尚、回折素子
17の領域17a・17bにおける格子17c・・・の
形状は、同図のように、直線状であってもよいが、第6
図に示すように、収差を無くすために湾曲状に、かつ、
領域17a・17bにおける一X方向側の部位は、その
反対側の部位よりも徐々に格子間ピンチが狭く形成され
ているのが好ましい。
上記の構成において、本実施例におけるフォーカス検出
機構の原理は前記第1図に示した構成と同一である。
機構の原理は前記第1図に示した構成と同一である。
ディスク14にて反射された光は、回折素子17の領域
17a・17bによって反射光の光軸外へ回折される。
17a・17bによって反射光の光軸外へ回折される。
領域17aによって回折された反射光は光検出器15に
おける分割線A2上に集光され、領域17bによって回
折された反射光は分割線B2上に集光される。
おける分割線A2上に集光され、領域17bによって回
折された反射光は分割線B2上に集光される。
そして、半導体レーザ11から出射された光の焦点が的
確にディスク14上に形成されているときには、第7図
(b)に示すように、光検出器17の分割線A2 ・B
2上に一点状に集光スポット18が形成され、光検出部
16a・16bの出力が等しくなると共に、光検出部1
6C−16dの出力が等しくなる。
確にディスク14上に形成されているときには、第7図
(b)に示すように、光検出器17の分割線A2 ・B
2上に一点状に集光スポット18が形成され、光検出部
16a・16bの出力が等しくなると共に、光検出部1
6C−16dの出力が等しくなる。
また、ディスク14が結像レンズ13に接近したときに
は、同図(a)に示す状態となり、逆に、ディスク14
が結像レンズ13から遠ざかったときには、同図(c)
に示す状態となる。このようなときには、FES= (
Sa+5d)−(Sc+Sb)の演算によって得たフォ
ーカス誤差信号FESに基づき、焦点が的確にディスク
14上に形成されるように結像レンズ13が駆動される
。
は、同図(a)に示す状態となり、逆に、ディスク14
が結像レンズ13から遠ざかったときには、同図(c)
に示す状態となる。このようなときには、FES= (
Sa+5d)−(Sc+Sb)の演算によって得たフォ
ーカス誤差信号FESに基づき、焦点が的確にディスク
14上に形成されるように結像レンズ13が駆動される
。
一方、半導体レーザ11の周囲の温度が高くなり、光の
波長λが、λ〉λ。になったときには、第8図(b)に
示すように、光検出器17の分割線A2 ・B2上に一
点状に集光スポット18が形成された状態に対し、同図
(a)に示すように、集光スポット18は−X方向に移
動する。また、逆に、半導体レーザ11の周囲の温度が
低(なり、光の波長λが、λくλ。になったときには、
同図(C)に示すように、集光スポット18は+X方向
に移動する。このような場合には、光検出器16の分割
線A2 ・B2が各々φ、の傾斜角を有することにより
、分割線A2 ・B2の両側における光量は等しく、光
検出部16aと光検出部16b、および光検出部16c
と光検出部16dの出力は等しくなる。従って、本実施
例においても、偽のフォーカス誤差信号FESの発生を
抑制することができる。
波長λが、λ〉λ。になったときには、第8図(b)に
示すように、光検出器17の分割線A2 ・B2上に一
点状に集光スポット18が形成された状態に対し、同図
(a)に示すように、集光スポット18は−X方向に移
動する。また、逆に、半導体レーザ11の周囲の温度が
低(なり、光の波長λが、λくλ。になったときには、
同図(C)に示すように、集光スポット18は+X方向
に移動する。このような場合には、光検出器16の分割
線A2 ・B2が各々φ、の傾斜角を有することにより
、分割線A2 ・B2の両側における光量は等しく、光
検出部16aと光検出部16b、および光検出部16c
と光検出部16dの出力は等しくなる。従って、本実施
例においても、偽のフォーカス誤差信号FESの発生を
抑制することができる。
次に、上述した光学型情報再生装置の誤動作抑制機能を
具体的な数値によって説明する。
具体的な数値によって説明する。
第5図および第7図において、j’+=17.0mm、
lz = 4.5 層m、 ’13
=411% a=5 0 μ m、 b−
1,5i+鳳、光源の波長λ。を、λ。=780nmと
して回折素子17が設計されている場合、回折素子17
における回折方向に対する分割綿A2 ・B2の傾斜角
φ3が、φ、=Qmradであれば、λ=770nmに
なると、フォーカス誤差信号FESのオフセットは一〇
、11μmになり、λ=790nmでは+0.11μm
となる。しかし、φ。
lz = 4.5 層m、 ’13
=411% a=5 0 μ m、 b−
1,5i+鳳、光源の波長λ。を、λ。=780nmと
して回折素子17が設計されている場合、回折素子17
における回折方向に対する分割綿A2 ・B2の傾斜角
φ3が、φ、=Qmradであれば、λ=770nmに
なると、フォーカス誤差信号FESのオフセットは一〇
、11μmになり、λ=790nmでは+0.11μm
となる。しかし、φ。
を、φ:+=9.44mradとすることによッテ、波
長λが、λ=770〜790nmの範囲において変化だ
場合であってもフォーカス誤差信号FESのオフセット
は−0,001μm以下に抑制される。
長λが、λ=770〜790nmの範囲において変化だ
場合であってもフォーカス誤差信号FESのオフセット
は−0,001μm以下に抑制される。
本発明の光学型情報再生装置は、以上のように、光発生
手段と、この光発生手段から出射された光を記録媒体上
に集光させると共に、記録媒体からの反射光を検出して
回折素子に供給する光学系部と、上記記録媒体からの反
射光の光軸上に設けられ、分割された2個以上の領域を
有し、上記反射光を光検出器の対応する分割線上に回折
させる回折素子と、分割線によって分割された複数の光
検出部を有し、分割線上に回折された回折素子からの回
折光を分割線の両側の光検出部にて電気信号に変換する
光検出器とを備えた光学型情報再生装置において、上記
光検出器は、回折素子からの回折光の集光される分割線
が、上記分割線両側の光検出部の受ける集光スポットの
光量がほぼ等しくなるように、回折素子における反射光
の回折方向に対し、傾斜して形成されている構成である
。
手段と、この光発生手段から出射された光を記録媒体上
に集光させると共に、記録媒体からの反射光を検出して
回折素子に供給する光学系部と、上記記録媒体からの反
射光の光軸上に設けられ、分割された2個以上の領域を
有し、上記反射光を光検出器の対応する分割線上に回折
させる回折素子と、分割線によって分割された複数の光
検出部を有し、分割線上に回折された回折素子からの回
折光を分割線の両側の光検出部にて電気信号に変換する
光検出器とを備えた光学型情報再生装置において、上記
光検出器は、回折素子からの回折光の集光される分割線
が、上記分割線両側の光検出部の受ける集光スポットの
光量がほぼ等しくなるように、回折素子における反射光
の回折方向に対し、傾斜して形成されている構成である
。
それゆえ、光発生手段から出射される光の波長が変化し
たような場合であっても、光検出器からは正常な出力信
号を得ることができる。これにより、正確なフォーカス
サーボ信号を得ることができると共に、良好な情報信号
を得ることができ、装置の信幀性を向上することができ
るという効果を奏する。
たような場合であっても、光検出器からは正常な出力信
号を得ることができる。これにより、正確なフォーカス
サーボ信号を得ることができると共に、良好な情報信号
を得ることができ、装置の信幀性を向上することができ
るという効果を奏する。
第1図乃至第4図は本発明の第1実施例を示すものであ
って、第1図は光学型情報再生装置の構成を示す概略の
斜視図、第2図は他の回折素子を示す概略の正面図、第
3図(a)は結像レンズにディスクが近づいた状態、同
図(b)はディスク上に適切に焦点が形成された状態、
同図(c)はディスクが結像レンズから遠ざかった状態
における光検出器上の集光スポットの状態を示す説明図
、第4図(a)は半導体レーザから出射される光の波長
λが基準の波長λ。よりも長くなった状態、即ちλ〉λ
。の状態、同図(b)はλ=λ。の状態、同図(c)は
λ〈λ。の状態における光検出器上の集光スポットの状
態を示す説明図、第5図乃至第8図は本発明の他の実施
例を示すものであって、第5図は光学型情報再生装置の
構成を示す概略の斜視図、第6図は他の回折素子を示す
概略の正面図、第7図(a)は結像レンズにディスクが
近づいた状態、同図(b)はディスク上に適切に焦点が
形成された状態、同図(C)はディスクが結像レンズか
ら遠ざかった状態における光検出器上の集光スポットの
状態を示す説明図、第8図(a)は半導体レーザから出
射される光の波長λが基準の波長λ。よりも長くなった
状態、即ちλ〉λ。の状態、同図(b)はλ=λ。の状
態、同図<c>はλ〈λ。の状態における光検出器上の
集光スポットの状態を示す説明図、第9図乃至第11図
は従来例を示すものであって、第9図は光学型情報再生
装置の構成を示す概略の斜視図、第10図(a)は結像
レンズにディスクが近づいた状態、同図(b)iディス
ク上に適切に焦点が形成された状態、同図(c)はディ
スクが結像レンズから遠ざかった状態における光検出器
上の集光スポットの状態を示す説明図、第11図(a)
は半導体レーザから出射される光の波長λが基準の波長
λ。よりも長くなった状態、即ちλ〉λ。 の状態、同図(b)はλ=λ。の状態、同図(C)はλ
くλ。の状態における光検出器上の集光スポットの状態
を示す説明図である。 11は半導体レーザ(光発生手段)、12・17は回折
素子、12a12b・17a17bは領域、12C・1
7cは格子、13は結像レンズ(光学系部)、14はデ
ィスク(記録媒体)、15は光検出器、15a・15b
・15c・15d・、16a16b・16c・16dは
光検出部、18は集光スポット、A+”Az ・B、
・B2・C1・C2は分割線である。 ′ト ノ1 第5111 第3図(a) 第3図(b) 第3図(C)第8図(a)
って、第1図は光学型情報再生装置の構成を示す概略の
斜視図、第2図は他の回折素子を示す概略の正面図、第
3図(a)は結像レンズにディスクが近づいた状態、同
図(b)はディスク上に適切に焦点が形成された状態、
同図(c)はディスクが結像レンズから遠ざかった状態
における光検出器上の集光スポットの状態を示す説明図
、第4図(a)は半導体レーザから出射される光の波長
λが基準の波長λ。よりも長くなった状態、即ちλ〉λ
。の状態、同図(b)はλ=λ。の状態、同図(c)は
λ〈λ。の状態における光検出器上の集光スポットの状
態を示す説明図、第5図乃至第8図は本発明の他の実施
例を示すものであって、第5図は光学型情報再生装置の
構成を示す概略の斜視図、第6図は他の回折素子を示す
概略の正面図、第7図(a)は結像レンズにディスクが
近づいた状態、同図(b)はディスク上に適切に焦点が
形成された状態、同図(C)はディスクが結像レンズか
ら遠ざかった状態における光検出器上の集光スポットの
状態を示す説明図、第8図(a)は半導体レーザから出
射される光の波長λが基準の波長λ。よりも長くなった
状態、即ちλ〉λ。の状態、同図(b)はλ=λ。の状
態、同図<c>はλ〈λ。の状態における光検出器上の
集光スポットの状態を示す説明図、第9図乃至第11図
は従来例を示すものであって、第9図は光学型情報再生
装置の構成を示す概略の斜視図、第10図(a)は結像
レンズにディスクが近づいた状態、同図(b)iディス
ク上に適切に焦点が形成された状態、同図(c)はディ
スクが結像レンズから遠ざかった状態における光検出器
上の集光スポットの状態を示す説明図、第11図(a)
は半導体レーザから出射される光の波長λが基準の波長
λ。よりも長くなった状態、即ちλ〉λ。 の状態、同図(b)はλ=λ。の状態、同図(C)はλ
くλ。の状態における光検出器上の集光スポットの状態
を示す説明図である。 11は半導体レーザ(光発生手段)、12・17は回折
素子、12a12b・17a17bは領域、12C・1
7cは格子、13は結像レンズ(光学系部)、14はデ
ィスク(記録媒体)、15は光検出器、15a・15b
・15c・15d・、16a16b・16c・16dは
光検出部、18は集光スポット、A+”Az ・B、
・B2・C1・C2は分割線である。 ′ト ノ1 第5111 第3図(a) 第3図(b) 第3図(C)第8図(a)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、光発生手段と、この光発生手段から出射された光を
記録媒体上に集光させると共に、記録媒体からの反射光
を検出して回折素子に供給する光学系部と、上記記録媒
体からの反射光の光軸上に設けられ、分割された2個以
上の領域を有し、上記反射光を光検出器の対応する分割
線上に回折させる回折素子と、分割線によって分割され
た複数の光検出部を有し、分割線上に回折された回折素
子からの回折光を分割線の両側の光検出部にて電気信号
に変換する光検出器とを備えた光学型情報再生装置にお
いて、 上記光検出器は、回折素子からの回折光の集光される分
割線が、上記分割線両側の光検出部の受ける集光スポッ
トの光量がほぼ等しくなるように、回折素子における反
射光の回折方向に対し、傾斜して形成されていることを
特徴とする光学型情報再生装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62255587A JPH0198131A (ja) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | 光学型情報再生装置 |
| EP88309460A EP0311463A3 (en) | 1987-10-09 | 1988-10-10 | An optical information reproducing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62255587A JPH0198131A (ja) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | 光学型情報再生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0198131A true JPH0198131A (ja) | 1989-04-17 |
Family
ID=17280792
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62255587A Pending JPH0198131A (ja) | 1987-10-09 | 1987-10-09 | 光学型情報再生装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0311463A3 (ja) |
| JP (1) | JPH0198131A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6125087A (en) * | 1996-11-07 | 2000-09-26 | Hitachi, Ltd. | Optical pickup for optical disk apparatus |
| JP2007299495A (ja) * | 2006-05-02 | 2007-11-15 | Sony Corp | 光ピックアップ装置及び情報処理装置 |
| JP2008004250A (ja) * | 2006-05-24 | 2008-01-10 | Sony Corp | 光ディスク装置及び光ピックアップ |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5283690A (en) * | 1989-04-04 | 1994-02-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical diffraction grating element |
| KR940001999B1 (ko) * | 1989-06-06 | 1994-03-12 | 샤프 가부시끼가이샤 | 광 픽업장치 |
| US5283772A (en) * | 1990-05-15 | 1994-02-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical head |
| JP2975395B2 (ja) * | 1990-05-15 | 1999-11-10 | シャープ株式会社 | 光ピックアップ装置 |
| JP2776487B2 (ja) * | 1992-01-28 | 1998-07-16 | シャープ株式会社 | 光学式情報記録再生装置 |
| JPH0612719A (ja) * | 1992-06-29 | 1994-01-21 | Canon Inc | 光ヘッド及び情報読取装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5897140A (ja) * | 1981-12-04 | 1983-06-09 | Victor Co Of Japan Ltd | 光学的情報信号再生装置 |
| NL8502835A (nl) * | 1985-10-17 | 1987-05-18 | Philips Nv | Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak. |
-
1987
- 1987-10-09 JP JP62255587A patent/JPH0198131A/ja active Pending
-
1988
- 1988-10-10 EP EP88309460A patent/EP0311463A3/en not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6125087A (en) * | 1996-11-07 | 2000-09-26 | Hitachi, Ltd. | Optical pickup for optical disk apparatus |
| JP2007299495A (ja) * | 2006-05-02 | 2007-11-15 | Sony Corp | 光ピックアップ装置及び情報処理装置 |
| JP2008004250A (ja) * | 2006-05-24 | 2008-01-10 | Sony Corp | 光ディスク装置及び光ピックアップ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0311463A2 (en) | 1989-04-12 |
| EP0311463A3 (en) | 1990-07-11 |
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