JPH02102433A - ピン−ディスク型摩耗試験装置 - Google Patents

ピン−ディスク型摩耗試験装置

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JPH02102433A
JPH02102433A JP63256335A JP25633588A JPH02102433A JP H02102433 A JPH02102433 A JP H02102433A JP 63256335 A JP63256335 A JP 63256335A JP 25633588 A JP25633588 A JP 25633588A JP H02102433 A JPH02102433 A JP H02102433A
Authority
JP
Japan
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sample
pin
wear
disk
type
Prior art date
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Pending
Application number
JP63256335A
Other languages
English (en)
Inventor
Taku Kobayashi
卓 小林
Eiji Suzuki
英二 鈴木
Yoshitaka Uchiyama
内山 吉隆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SUTAARAITO KOGYO KK
Starlite Co Ltd
Original Assignee
SUTAARAITO KOGYO KK
Starlite Co Ltd
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Publication date
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Priority to US07/417,642 priority patent/US4966030A/en
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Priority to DE68914933T priority patent/DE68914933T2/de
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Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N3/00Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
    • G01N3/56Investigating resistance to wear or abrasion

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 fal産業上の利用分野 本発明は摺動材料の摩耗を計測する際に使用するピン−
ディスク型摩耗試験装置に関するものである。
(bl従来の技術 従来のピン−ディスク型摩耗試験装置の摩耗量計測方法
には (A)ピン型試料の重量減少量の測定による摩耗
の計測  (B)接触型あるいは非接触型変位計による
試験装置ベースからのピン型試料の摩耗の計測(第3図
)  があるが(A)方法では重量測定を行う毎に試験
機からピン型試料を取り外す必要があり、試験装置へ再
設置する際に摩擦面の当り具合や摺動跡に残った摩耗粉
の状況が変化し、さらに、吸湿などの影響をうけ、正確
な摩耗評価ができない。また、(B)方法では摩耗量を
経時的に測定できるが、変位計による測定がピン試料の
摩耗以外にディスクの変位を含んでしまう。すなわち、
ピン型試料の摩耗量はディスクからの相対変位ではなく
、試験装置ベースからの絶対変位Δh+Δh’ (Δh
はピン型試料の摩耗、Δh′は誤差)として計測され、
誤差Δh’ (ディスクの回転による軸方向変動、ディ
スクの円周方向のうねり、及び摩擦発熱等、温度変化に
伴う装置全体の熱膨張変位)の影響を受けて実際のピン
型試料の摩耗量を正確に計測することができなかった。
(C1発明が解決しようとする問題点 上記のように従来の測定方法では、各種誤差を含み、精
度よく摩耗の径時変化を測定できない問題があった。
(d1問題点を解決するための手段 本発明は前記の如き問題を解決するために、非接触変位
計をピン−ディスク型試験装置のピン試料ホルダー部に
設置し、ディスク型試料との相対変位でピン型試料の摩
耗を計測するものである。
本発明においては第1図及び第2図に示すように、試験
装置ベースl上でベアリング7を介して回転する試料テ
ーブル2上に設置されたディスク型試料3に一定荷重で
ピン型試料4を押し付け、ピン型試料の摩耗に追従して
動く試料ホルダー6に非接触型変位計5を固定し、ディ
スク型試料30摺動跡までの距離を計測することにより
ピン−ディスク型摩耗試験におけるピン型試料の高精度
な摩耗計測が可能となる。
(e1作用 摺動中のディスク型試料3までの非接触型変位計からの
距離と摺動前の距離との差を摩耗として計測できる。非
接触変位計5はピン試料ホルダー6に固定されているの
で変位計がディスクのうねり及び装置全体の熱膨張変化
に追従して作動し、ディスクのうねり及び装置全体の熱
膨張を無視することができる。
(f)実施例 同一材質の摩耗を本発明計測装置で測定した場合と従来
技術で計測した場合を対比して示す。
即ち 使用材料 ピン型試料:ポリアセクール90重量%:P
TFEIO重量%を混練し射 出成形したもの。
形状:φ5smXt3mm ディスク型試料: 5IJS 303表面粗さRa=0
.1 μl±0.05,17m 形状;φ100mm Xt 10mm 試験条件  摺動円直径(D)  φ851接触面圧 
    0.3 MPa 摩擦速度     0.5m/S 試験温度     23℃ により測定した結果は第4図に示した通りであって、従
来の摩耗計測方法たる(A)法、及び(B)法による摩
耗進行曲線(第4図中の曲線■及び曲線■)は何れも本
発明に係る測定装置で得た摩耗進行曲線(第4図中の曲
線■)に比して著しく不正確であった。
(g1発明の効果 従来の技術(A)による摩耗計測方法では、重量測定の
際に試験装置からピン型試料を取り外すと、前と同じ位
置に取り付けるのが困難であり、また、重量測定の際の
試験停止の効果が出て第4図中の曲線Hのような摩耗進
行曲線が得られる場が多い。
また、(B)方法の場合には、摺動初期に誤差Δh′の
影響を大きく受けるため第4図中の曲線■に示すように
摩耗進行曲線が測定上で負の値を示すような場合もある
。また、摺動中の誤差Δh′中のディスク型試料の円周
方向のうねりの影響を受けて摩耗進行曲線は大きな変動
幅を示す。
本発明による装置に基づく方法では、試料取り外しによ
る状態の変化も無く、誤差が測定系に関与しないので信
頼性の高いデーターを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明試験装置の平面図、第2図はその断面図
であり、第3図は上述(B)の方法の摩耗針側法を使用
した従来の試験装置の断面図である。 また、第4図は(A)方法、(B)方法並びに本発明装
置に基づく方法による摩耗進行曲線を示す。 図中 1    試験装置ベース 2・−・−・・−・−〜−−−・−試料テーブル3−−
−−−−−−−−−−−−・・ディスク型試料4   
 ピン型試料 5    非接触型変位針 6・・・・−−−−−・・・・−ピン試料ホルダー7 
   ベアリング ・−・・・・−・−・−接触型変位計 第1図 D  :  4M’M刀F(1311

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 回転するディスク上に一定荷重でピン型試料を押しつけ
    て摩耗を計測するピン−ディスク型摩耗試験装置におい
    て、ピン型試料の摩耗に追従して動くピン試料ホルダー
    部分に非接触型変位計を設置し、ピン試料ホルダー部と
    回転するディスク型試料との相対変位を計測することに
    より、高精度でピン型試料の摩耗量を経時的に検出する
    ことを特徴とするピン−ディスク型摩耗試験装置。
JP63256335A 1988-10-11 1988-10-11 ピン−ディスク型摩耗試験装置 Pending JPH02102433A (ja)

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US07/417,642 US4966030A (en) 1988-10-11 1989-10-05 Pin-on-disk type wear testing device
EP89310420A EP0364252B1 (en) 1988-10-11 1989-10-11 Wear testing devices
DE68914933T DE68914933T2 (de) 1988-10-11 1989-10-11 Abrasionsprüfgeräte.

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EP (1) EP0364252B1 (ja)
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DE68914933D1 (de) 1994-06-01
EP0364252B1 (en) 1994-04-27
EP0364252A2 (en) 1990-04-18
DE68914933T2 (de) 1994-08-11
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