JPH02102433A - ピン−ディスク型摩耗試験装置 - Google Patents
ピン−ディスク型摩耗試験装置Info
- Publication number
- JPH02102433A JPH02102433A JP63256335A JP25633588A JPH02102433A JP H02102433 A JPH02102433 A JP H02102433A JP 63256335 A JP63256335 A JP 63256335A JP 25633588 A JP25633588 A JP 25633588A JP H02102433 A JPH02102433 A JP H02102433A
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- Japan
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- sample
- pin
- wear
- disk
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N3/00—Investigating strength properties of solid materials by application of mechanical stress
- G01N3/56—Investigating resistance to wear or abrasion
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
fal産業上の利用分野
本発明は摺動材料の摩耗を計測する際に使用するピン−
ディスク型摩耗試験装置に関するものである。
ディスク型摩耗試験装置に関するものである。
(bl従来の技術
従来のピン−ディスク型摩耗試験装置の摩耗量計測方法
には (A)ピン型試料の重量減少量の測定による摩耗
の計測 (B)接触型あるいは非接触型変位計による
試験装置ベースからのピン型試料の摩耗の計測(第3図
) があるが(A)方法では重量測定を行う毎に試験
機からピン型試料を取り外す必要があり、試験装置へ再
設置する際に摩擦面の当り具合や摺動跡に残った摩耗粉
の状況が変化し、さらに、吸湿などの影響をうけ、正確
な摩耗評価ができない。また、(B)方法では摩耗量を
経時的に測定できるが、変位計による測定がピン試料の
摩耗以外にディスクの変位を含んでしまう。すなわち、
ピン型試料の摩耗量はディスクからの相対変位ではなく
、試験装置ベースからの絶対変位Δh+Δh’ (Δh
はピン型試料の摩耗、Δh′は誤差)として計測され、
誤差Δh’ (ディスクの回転による軸方向変動、ディ
スクの円周方向のうねり、及び摩擦発熱等、温度変化に
伴う装置全体の熱膨張変位)の影響を受けて実際のピン
型試料の摩耗量を正確に計測することができなかった。
には (A)ピン型試料の重量減少量の測定による摩耗
の計測 (B)接触型あるいは非接触型変位計による
試験装置ベースからのピン型試料の摩耗の計測(第3図
) があるが(A)方法では重量測定を行う毎に試験
機からピン型試料を取り外す必要があり、試験装置へ再
設置する際に摩擦面の当り具合や摺動跡に残った摩耗粉
の状況が変化し、さらに、吸湿などの影響をうけ、正確
な摩耗評価ができない。また、(B)方法では摩耗量を
経時的に測定できるが、変位計による測定がピン試料の
摩耗以外にディスクの変位を含んでしまう。すなわち、
ピン型試料の摩耗量はディスクからの相対変位ではなく
、試験装置ベースからの絶対変位Δh+Δh’ (Δh
はピン型試料の摩耗、Δh′は誤差)として計測され、
誤差Δh’ (ディスクの回転による軸方向変動、ディ
スクの円周方向のうねり、及び摩擦発熱等、温度変化に
伴う装置全体の熱膨張変位)の影響を受けて実際のピン
型試料の摩耗量を正確に計測することができなかった。
(C1発明が解決しようとする問題点
上記のように従来の測定方法では、各種誤差を含み、精
度よく摩耗の径時変化を測定できない問題があった。
度よく摩耗の径時変化を測定できない問題があった。
(d1問題点を解決するための手段
本発明は前記の如き問題を解決するために、非接触変位
計をピン−ディスク型試験装置のピン試料ホルダー部に
設置し、ディスク型試料との相対変位でピン型試料の摩
耗を計測するものである。
計をピン−ディスク型試験装置のピン試料ホルダー部に
設置し、ディスク型試料との相対変位でピン型試料の摩
耗を計測するものである。
本発明においては第1図及び第2図に示すように、試験
装置ベースl上でベアリング7を介して回転する試料テ
ーブル2上に設置されたディスク型試料3に一定荷重で
ピン型試料4を押し付け、ピン型試料の摩耗に追従して
動く試料ホルダー6に非接触型変位計5を固定し、ディ
スク型試料30摺動跡までの距離を計測することにより
ピン−ディスク型摩耗試験におけるピン型試料の高精度
な摩耗計測が可能となる。
装置ベースl上でベアリング7を介して回転する試料テ
ーブル2上に設置されたディスク型試料3に一定荷重で
ピン型試料4を押し付け、ピン型試料の摩耗に追従して
動く試料ホルダー6に非接触型変位計5を固定し、ディ
スク型試料30摺動跡までの距離を計測することにより
ピン−ディスク型摩耗試験におけるピン型試料の高精度
な摩耗計測が可能となる。
(e1作用
摺動中のディスク型試料3までの非接触型変位計からの
距離と摺動前の距離との差を摩耗として計測できる。非
接触変位計5はピン試料ホルダー6に固定されているの
で変位計がディスクのうねり及び装置全体の熱膨張変化
に追従して作動し、ディスクのうねり及び装置全体の熱
膨張を無視することができる。
距離と摺動前の距離との差を摩耗として計測できる。非
接触変位計5はピン試料ホルダー6に固定されているの
で変位計がディスクのうねり及び装置全体の熱膨張変化
に追従して作動し、ディスクのうねり及び装置全体の熱
膨張を無視することができる。
(f)実施例
同一材質の摩耗を本発明計測装置で測定した場合と従来
技術で計測した場合を対比して示す。
技術で計測した場合を対比して示す。
即ち
使用材料 ピン型試料:ポリアセクール90重量%:P
TFEIO重量%を混練し射 出成形したもの。
TFEIO重量%を混練し射 出成形したもの。
形状:φ5smXt3mm
ディスク型試料: 5IJS 303表面粗さRa=0
.1 μl±0.05,17m 形状;φ100mm Xt 10mm 試験条件 摺動円直径(D) φ851接触面圧
0.3 MPa 摩擦速度 0.5m/S 試験温度 23℃ により測定した結果は第4図に示した通りであって、従
来の摩耗計測方法たる(A)法、及び(B)法による摩
耗進行曲線(第4図中の曲線■及び曲線■)は何れも本
発明に係る測定装置で得た摩耗進行曲線(第4図中の曲
線■)に比して著しく不正確であった。
.1 μl±0.05,17m 形状;φ100mm Xt 10mm 試験条件 摺動円直径(D) φ851接触面圧
0.3 MPa 摩擦速度 0.5m/S 試験温度 23℃ により測定した結果は第4図に示した通りであって、従
来の摩耗計測方法たる(A)法、及び(B)法による摩
耗進行曲線(第4図中の曲線■及び曲線■)は何れも本
発明に係る測定装置で得た摩耗進行曲線(第4図中の曲
線■)に比して著しく不正確であった。
(g1発明の効果
従来の技術(A)による摩耗計測方法では、重量測定の
際に試験装置からピン型試料を取り外すと、前と同じ位
置に取り付けるのが困難であり、また、重量測定の際の
試験停止の効果が出て第4図中の曲線Hのような摩耗進
行曲線が得られる場が多い。
際に試験装置からピン型試料を取り外すと、前と同じ位
置に取り付けるのが困難であり、また、重量測定の際の
試験停止の効果が出て第4図中の曲線Hのような摩耗進
行曲線が得られる場が多い。
また、(B)方法の場合には、摺動初期に誤差Δh′の
影響を大きく受けるため第4図中の曲線■に示すように
摩耗進行曲線が測定上で負の値を示すような場合もある
。また、摺動中の誤差Δh′中のディスク型試料の円周
方向のうねりの影響を受けて摩耗進行曲線は大きな変動
幅を示す。
影響を大きく受けるため第4図中の曲線■に示すように
摩耗進行曲線が測定上で負の値を示すような場合もある
。また、摺動中の誤差Δh′中のディスク型試料の円周
方向のうねりの影響を受けて摩耗進行曲線は大きな変動
幅を示す。
本発明による装置に基づく方法では、試料取り外しによ
る状態の変化も無く、誤差が測定系に関与しないので信
頼性の高いデーターを得ることができる。
る状態の変化も無く、誤差が測定系に関与しないので信
頼性の高いデーターを得ることができる。
第1図は本発明試験装置の平面図、第2図はその断面図
であり、第3図は上述(B)の方法の摩耗針側法を使用
した従来の試験装置の断面図である。 また、第4図は(A)方法、(B)方法並びに本発明装
置に基づく方法による摩耗進行曲線を示す。 図中 1 試験装置ベース 2・−・−・・−・−〜−−−・−試料テーブル3−−
−−−−−−−−−−−−・・ディスク型試料4
ピン型試料 5 非接触型変位針 6・・・・−−−−−・・・・−ピン試料ホルダー7
ベアリング ・−・・・・−・−・−接触型変位計 第1図 D : 4M’M刀F(1311
であり、第3図は上述(B)の方法の摩耗針側法を使用
した従来の試験装置の断面図である。 また、第4図は(A)方法、(B)方法並びに本発明装
置に基づく方法による摩耗進行曲線を示す。 図中 1 試験装置ベース 2・−・−・・−・−〜−−−・−試料テーブル3−−
−−−−−−−−−−−−・・ディスク型試料4
ピン型試料 5 非接触型変位針 6・・・・−−−−−・・・・−ピン試料ホルダー7
ベアリング ・−・・・・−・−・−接触型変位計 第1図 D : 4M’M刀F(1311
Claims (1)
- 回転するディスク上に一定荷重でピン型試料を押しつけ
て摩耗を計測するピン−ディスク型摩耗試験装置におい
て、ピン型試料の摩耗に追従して動くピン試料ホルダー
部分に非接触型変位計を設置し、ピン試料ホルダー部と
回転するディスク型試料との相対変位を計測することに
より、高精度でピン型試料の摩耗量を経時的に検出する
ことを特徴とするピン−ディスク型摩耗試験装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63256335A JPH02102433A (ja) | 1988-10-11 | 1988-10-11 | ピン−ディスク型摩耗試験装置 |
| US07/417,642 US4966030A (en) | 1988-10-11 | 1989-10-05 | Pin-on-disk type wear testing device |
| EP89310420A EP0364252B1 (en) | 1988-10-11 | 1989-10-11 | Wear testing devices |
| DE68914933T DE68914933T2 (de) | 1988-10-11 | 1989-10-11 | Abrasionsprüfgeräte. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63256335A JPH02102433A (ja) | 1988-10-11 | 1988-10-11 | ピン−ディスク型摩耗試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02102433A true JPH02102433A (ja) | 1990-04-16 |
Family
ID=17291243
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63256335A Pending JPH02102433A (ja) | 1988-10-11 | 1988-10-11 | ピン−ディスク型摩耗試験装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4966030A (ja) |
| EP (1) | EP0364252B1 (ja) |
| JP (1) | JPH02102433A (ja) |
| DE (1) | DE68914933T2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5343733A (en) * | 1991-01-30 | 1994-09-06 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Abrasion testing method |
| WO2004003518A1 (ja) * | 2002-07-01 | 2004-01-08 | Tdk Corporation | 非接触型記録媒体についての摩擦特性測定方法、および非接触型記録媒体用の摩擦特性測定装置 |
| CN107290237A (zh) * | 2017-06-21 | 2017-10-24 | 南京理工大学 | 一种用于测量圆柱试样外圆周向耐磨性能的装置 |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5795990A (en) * | 1997-07-30 | 1998-08-18 | Center For Tribology, Inc. | Method and apparatus for measuring friction and wear characteristics of materials |
| RU2130602C1 (ru) * | 1997-08-18 | 1999-05-20 | Казаков Владимир Михайлович | Способ получения результатов экспериментальных исследований поверхности цилиндра |
| RU2164346C2 (ru) * | 1999-06-25 | 2001-03-20 | Казаков Владимир Михайлович | Способ получения результатов экспериментальных исследований поверхности шеек коленвала и вкладышей |
| RU2182323C2 (ru) * | 2000-02-08 | 2002-05-10 | Казаков Владимир Михайлович | Способ исследования влияния процесса обработки шеек коленвалов двигателя внутреннего сгорания в процессе натурных испытаний двигателя |
| US6840082B2 (en) * | 2001-11-30 | 2005-01-11 | Paul R. Evans | Machine for testing wear, wear-preventative and friction properties of lubricants and other materials |
| US20040226350A1 (en) * | 2003-03-17 | 2004-11-18 | Kim Jin Hong | Apparatus and method for testing endurance of optical disc |
| KR100947230B1 (ko) * | 2003-09-16 | 2010-03-11 | 엘지전자 주식회사 | 광디스크 표면의 기계적 내구성 검사 장치 및 방법 |
| US20050276532A1 (en) * | 2004-06-14 | 2005-12-15 | Zbigniew Zurecki | Rolling ball tribometer |
| SG127774A1 (en) * | 2005-06-02 | 2006-12-29 | Sony Corp | Method and apparatus for measuring a surface property |
| WO2012006613A2 (en) * | 2010-07-09 | 2012-01-12 | Tribis Engineering, Inc. | Tribometer |
| DE202011105181U1 (de) | 2011-08-29 | 2011-12-22 | Waltraud Brandl | Prüfstand für die Untersuchung des Verschleißverhaltens an Zylinder-Innenflächen |
| CN104515714A (zh) * | 2015-01-07 | 2015-04-15 | 北京林业大学 | 一种高速高温液压可调载的刀-屑摩擦装置及摩擦测量方法 |
| CN109690282B (zh) | 2016-09-14 | 2024-01-09 | 罗地亚经营管理公司 | 用于测量橡胶磨损的装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| BE425176A (ja) * | 1937-12-04 |
-
1988
- 1988-10-11 JP JP63256335A patent/JPH02102433A/ja active Pending
-
1989
- 1989-10-05 US US07/417,642 patent/US4966030A/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-10-11 DE DE68914933T patent/DE68914933T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-10-11 EP EP89310420A patent/EP0364252B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5343733A (en) * | 1991-01-30 | 1994-09-06 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Abrasion testing method |
| WO2004003518A1 (ja) * | 2002-07-01 | 2004-01-08 | Tdk Corporation | 非接触型記録媒体についての摩擦特性測定方法、および非接触型記録媒体用の摩擦特性測定装置 |
| CN107290237A (zh) * | 2017-06-21 | 2017-10-24 | 南京理工大学 | 一种用于测量圆柱试样外圆周向耐磨性能的装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0364252A3 (en) | 1991-01-30 |
| DE68914933D1 (de) | 1994-06-01 |
| EP0364252B1 (en) | 1994-04-27 |
| EP0364252A2 (en) | 1990-04-18 |
| DE68914933T2 (de) | 1994-08-11 |
| US4966030A (en) | 1990-10-30 |
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