JPH0210249A - 塗装面の欠陥検査装置 - Google Patents
塗装面の欠陥検査装置Info
- Publication number
- JPH0210249A JPH0210249A JP15932988A JP15932988A JPH0210249A JP H0210249 A JPH0210249 A JP H0210249A JP 15932988 A JP15932988 A JP 15932988A JP 15932988 A JP15932988 A JP 15932988A JP H0210249 A JPH0210249 A JP H0210249A
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- Japan
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- light
- motor
- painted surface
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、レーザ光線を塗装面へ照射してその反射光を
評価して塗装面の欠陥を光学的に検査する塗装面の欠陥
検査装置に関するものである。
評価して塗装面の欠陥を光学的に検査する塗装面の欠陥
検査装置に関するものである。
(従来の技術)
特開昭62−105037により、レーザスリット光を
検査面に照射し、その正反射光をラインセンサ上に結像
させ、その受光レベルの減少を欠陥として検出する表面
欠陥検査装置が周知である。
検査面に照射し、その正反射光をラインセンサ上に結像
させ、その受光レベルの減少を欠陥として検出する表面
欠陥検査装置が周知である。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、この装置によれば、スリット幅に対応し
て正反射光を受光する必要があるために、受光部が嵩ぼ
り、また曲面の検査は不可能である。さらに、検査装置
の姿勢制御も、スリット光をビームスプリッタで分光し
、2個の並置されたラインセンサて受光してそれぞれの
受光量に応して回転2軸により行っているために、自由
曲面に対して入射光の焦点偏差か生じ易く、スリット光
幅が広がり、微小欠陥を検出するのは困難であった。
て正反射光を受光する必要があるために、受光部が嵩ぼ
り、また曲面の検査は不可能である。さらに、検査装置
の姿勢制御も、スリット光をビームスプリッタで分光し
、2個の並置されたラインセンサて受光してそれぞれの
受光量に応して回転2軸により行っているために、自由
曲面に対して入射光の焦点偏差か生じ易く、スリット光
幅が広がり、微小欠陥を検出するのは困難であった。
よって、本発明は、受光部を小型化でき、かつ欠陥を確
実に検出てきる塗装面の欠陥検査装置を提供することを
目的とする。
実に検出てきる塗装面の欠陥検査装置を提供することを
目的とする。
(課題を解決するための手段)
本発明は、この目的を達成するために、第1図に示すよ
うに、走査基準点Pから塗装面11に向かうZ軸に沿っ
て移動すると共に、このZ軸に対してそれぞれ直交する
X軸及びY軸の直交2軸の周りを回動する光学へラド1
0に、レーザビーム光を発射するレーザ光源1と、この
レーザビーム光を塗装面11に向けて反射して集光レン
ズ2aを通して走査基準点Pを通るライン範囲を走査す
る光偏向器2と、塗装面11でのレーザビーム光の散乱
光を広角レンズを通して受光する受光素子3と、走査基
準点PからのZ軸と塗装面11との交点の距離偏差を検
出する距離センサ4と、前記交点におけるX軸及びY軸
周りの基準角に対する塗装面11の偏差角をそれぞれ検
出する角度センサ5とを装若し、さらに、光学ヘッドI
OをZ軸方向に移動させるモータ6及びこのモータを距
離センサ4の検知信号に応答して偏差距離をなくすよう
に駆動制御するZ軸モータ駆動制御回路6aと、光学ヘ
ッド10をX軸周りに回動させるモータ7及びこのモー
タを角度センサ5の検知信号に応答してX軸周りの偏差
角をなくすように駆動制御するX軸モータ駆動制御回路
7aと、光学ヘッド10をY軸周りに回動させるモータ
8及びこのモータを角度センサ5の検知信号に応答して
Y軸周りの角度偏差をなくすように駆声制御するY軸モ
ータ駆動制御回路8aと、受光素子3の検出信号中の所
定レベルを越える信号を塗装面欠陥信号として検出する
受光信号処理回路9とを設けられている。
うに、走査基準点Pから塗装面11に向かうZ軸に沿っ
て移動すると共に、このZ軸に対してそれぞれ直交する
X軸及びY軸の直交2軸の周りを回動する光学へラド1
0に、レーザビーム光を発射するレーザ光源1と、この
レーザビーム光を塗装面11に向けて反射して集光レン
ズ2aを通して走査基準点Pを通るライン範囲を走査す
る光偏向器2と、塗装面11でのレーザビーム光の散乱
光を広角レンズを通して受光する受光素子3と、走査基
準点PからのZ軸と塗装面11との交点の距離偏差を検
出する距離センサ4と、前記交点におけるX軸及びY軸
周りの基準角に対する塗装面11の偏差角をそれぞれ検
出する角度センサ5とを装若し、さらに、光学ヘッドI
OをZ軸方向に移動させるモータ6及びこのモータを距
離センサ4の検知信号に応答して偏差距離をなくすよう
に駆動制御するZ軸モータ駆動制御回路6aと、光学ヘ
ッド10をX軸周りに回動させるモータ7及びこのモー
タを角度センサ5の検知信号に応答してX軸周りの偏差
角をなくすように駆動制御するX軸モータ駆動制御回路
7aと、光学ヘッド10をY軸周りに回動させるモータ
8及びこのモータを角度センサ5の検知信号に応答して
Y軸周りの角度偏差をなくすように駆声制御するY軸モ
ータ駆動制御回路8aと、受光素子3の検出信号中の所
定レベルを越える信号を塗装面欠陥信号として検出する
受光信号処理回路9とを設けられている。
(作用)
レーザ光[1から発射されるレーザビーム光は光偏向器
2で反射され、集光レンズ2aを通して塗装面11をラ
イン走査する。この状態で、モータ6は、距離センサ4
の検知信号に応答して走査基準点Pが前記交点に一致す
るように光学ヘッドlOをZ軸方向に移動させると共に
、この一致状態でモータ7.8は角度センサ5のそれぞ
れの検知信号に応答して塗装面11がX軸及びY軸周り
の基準角に一致するように光学へット10を回動させる
。
2で反射され、集光レンズ2aを通して塗装面11をラ
イン走査する。この状態で、モータ6は、距離センサ4
の検知信号に応答して走査基準点Pが前記交点に一致す
るように光学ヘッドlOをZ軸方向に移動させると共に
、この一致状態でモータ7.8は角度センサ5のそれぞ
れの検知信号に応答して塗装面11がX軸及びY軸周り
の基準角に一致するように光学へット10を回動させる
。
つまり、走査基準点Pが塗装面11に一致し、その一致
点での塗装面11の直交2軸に対する角度が常に一定に
なるように光学ヘッド10が姿勢制御された状態におい
て、走査ビーム光は集光レンズ2aを通して走査基準点
Pを通る塗装面31の走査ライン領域11aへ一定の入
射角で入射して焦点を結ぶ。これにより、走査ライン領
域11aの散乱光か受光素子3に広角レンズを通して受
光され、欠陥個所で発生する大きな散乱光は受光信号処
理回路9で所定レベルを越える塗装面欠陥信号として検
出される。
点での塗装面11の直交2軸に対する角度が常に一定に
なるように光学ヘッド10が姿勢制御された状態におい
て、走査ビーム光は集光レンズ2aを通して走査基準点
Pを通る塗装面31の走査ライン領域11aへ一定の入
射角で入射して焦点を結ぶ。これにより、走査ライン領
域11aの散乱光か受光素子3に広角レンズを通して受
光され、欠陥個所で発生する大きな散乱光は受光信号処
理回路9で所定レベルを越える塗装面欠陥信号として検
出される。
(発明の実施例)
第2〜4図は1本発明の一実施例による塗装面の欠陥検
査装置の構成を示す。
査装置の構成を示す。
同図において、21は、前置されたコリメートレンズ2
1aを通してレーザビーム光を発射するレーザダイオー
ドである。22は、レーザビーム光をミラー22aで塗
装面31に向けて反射して集光レンズ22bを通して走
査基準点Pを通るライン範囲を光走査する光偏向器であ
る。23は、走査基準点Pが塗装面31に一致した状態
での走査ビーム光の散乱光を広角レンズ23aで集光し
てフィルタ23bを通して受光する受光素子である。
1aを通してレーザビーム光を発射するレーザダイオー
ドである。22は、レーザビーム光をミラー22aで塗
装面31に向けて反射して集光レンズ22bを通して走
査基準点Pを通るライン範囲を光走査する光偏向器であ
る。23は、走査基準点Pが塗装面31に一致した状態
での走査ビーム光の散乱光を広角レンズ23aで集光し
てフィルタ23bを通して受光する受光素子である。
24は、塗装面31での同様に散乱光を広角レンズ24
aで集光してフィルタ24bを通しで受光する距離セン
サとしてのPSD (半導体装置検出素子)である。
aで集光してフィルタ24bを通しで受光する距離セン
サとしてのPSD (半導体装置検出素子)である。
25は、レーザダイオード21及び光偏向器22間の光
路に配置されて走査基準点Pへ部分的にレーザビーム光
を反射させるハーフミラ−25a及びフィルタ25bを
前置された角度センサとしての4分割受光センサである
。この4分割受光センサは、4個のフォトダイオード2
51〜254より構成され、基準角状態ではその中心点
25oに反射光が入射するように構成されている。
路に配置されて走査基準点Pへ部分的にレーザビーム光
を反射させるハーフミラ−25a及びフィルタ25bを
前置された角度センサとしての4分割受光センサである
。この4分割受光センサは、4個のフォトダイオード2
51〜254より構成され、基準角状態ではその中心点
25oに反射光が入射するように構成されている。
26は光偏向器22及び集光レンズ22b間に配置され
たハーフミラ−26aからの反射光の入射位置を検出す
るビーム振れ角検出用のPSDであり、走査基準点Pを
走査する中心点の反射光が、このPSD26の中心位置
に入射するように構成されている。
たハーフミラ−26aからの反射光の入射位置を検出す
るビーム振れ角検出用のPSDであり、走査基準点Pを
走査する中心点の反射光が、このPSD26の中心位置
に入射するように構成されている。
27は欠陥検出時に走査基準点P近辺に向けてインクを
噴射するインクジェットノズルである。
噴射するインクジェットノズルである。
以上説明した各部は、第3図に示すように、ロボットア
ーム32に装着され、かつ走査基準点Pから塗装面31
に向うZ軸に沿って離接駆動させるモータ36による駆
動機構36b 、 X軸の周りを回動させるモータ37
による駆動機構37b及びY軸の周りを回動させるモー
タ38による駆動機構38bを備えた固定部側から姿勢
制御される光学ヘッド20に固定されている。
ーム32に装着され、かつ走査基準点Pから塗装面31
に向うZ軸に沿って離接駆動させるモータ36による駆
動機構36b 、 X軸の周りを回動させるモータ37
による駆動機構37b及びY軸の周りを回動させるモー
タ38による駆動機構38bを備えた固定部側から姿勢
制御される光学ヘッド20に固定されている。
そして、次のような位M(!I係に設定されている。即
ち、4分割受光センサ25の中心点25.を直交する線
をZ軸とし、PSD 24はそのZ軸上の基準距離に在
る走査基準点Pに対するZ軸と塗装面31との交点の距
離偏差を検出する。4分割受光センサ25は、塗装面3
]の走査基準点Pとの一致点の法線かZ軸に一致した状
態を基準角として、X軸及びY軸周りの角度偏差を検出
する。また、集光レンズ22bは、走査基準点pを中心
にしてその前後でも焦点を結んで所定の直線領域をライ
ン走査する。そして、さらに次のような回路部分が設け
られている。
ち、4分割受光センサ25の中心点25.を直交する線
をZ軸とし、PSD 24はそのZ軸上の基準距離に在
る走査基準点Pに対するZ軸と塗装面31との交点の距
離偏差を検出する。4分割受光センサ25は、塗装面3
]の走査基準点Pとの一致点の法線かZ軸に一致した状
態を基準角として、X軸及びY軸周りの角度偏差を検出
する。また、集光レンズ22bは、走査基準点pを中心
にしてその前後でも焦点を結んで所定の直線領域をライ
ン走査する。そして、さらに次のような回路部分が設け
られている。
即ち、21cは、4分割受光センサ25の総量光量に応
じてレーザダーイオード駆動回路21bをレーザダイオ
ード2Iの発射光が一定のビーム強度になるように制御
するオートゲインコントロール回路である。22cは、
光偏向器22に付属してミラー22aをくり返しスウィ
ングさせる光偏向器駆動回路である。24cはPSD2
4に付属する距離検出回路であり、塗装面31の実際の
ビーム走査位置の走査基準点Pからの距離偏差に対応す
るPSD24への入射位置の変位量に対応する距離信号
を出力する。25cは4分割受光センサ25に付属する
角度検出回路であり、Z軸と塗装面31との交点におけ
るX及びY軸周りの傾斜角に応じて変化するフォトダイ
オード25.〜254の各検知光量の相互の大小関係に
応答してそれぞれの基準角度からの偏差角に相当する角
度信号を出力する。26bはPSD26に付属するビー
ム振れ角検出回路であり、PSD26への入射光位置に
応答してビーム振れ角信号を出力する。
じてレーザダーイオード駆動回路21bをレーザダイオ
ード2Iの発射光が一定のビーム強度になるように制御
するオートゲインコントロール回路である。22cは、
光偏向器22に付属してミラー22aをくり返しスウィ
ングさせる光偏向器駆動回路である。24cはPSD2
4に付属する距離検出回路であり、塗装面31の実際の
ビーム走査位置の走査基準点Pからの距離偏差に対応す
るPSD24への入射位置の変位量に対応する距離信号
を出力する。25cは4分割受光センサ25に付属する
角度検出回路であり、Z軸と塗装面31との交点におけ
るX及びY軸周りの傾斜角に応じて変化するフォトダイ
オード25.〜254の各検知光量の相互の大小関係に
応答してそれぞれの基準角度からの偏差角に相当する角
度信号を出力する。26bはPSD26に付属するビー
ム振れ角検出回路であり、PSD26への入射光位置に
応答してビーム振れ角信号を出力する。
27aは、塗装面欠陥信号に応答してインクジェットノ
ズル27を作動させるインクジェット駆動回路である。
ズル27を作動させるインクジェット駆動回路である。
33は、受光素子23の1走査ラインの検出信号中の所
定レベルを越える信号を塗装面欠陥信号として検出する
受光信号処理回路である。コ4は、塗装面欠陥信号の発
生時点のビーム振れ角信号を取込んで、その信号が所属
する走査個所のデータと共に検査データとして記憶する
コンピュータである。
定レベルを越える信号を塗装面欠陥信号として検出する
受光信号処理回路である。コ4は、塗装面欠陥信号の発
生時点のビーム振れ角信号を取込んで、その信号が所属
する走査個所のデータと共に検査データとして記憶する
コンピュータである。
36aはモータ36をビーム振れ角検出回路26bが振
れ角O°を検出した時点で距離検出回路24cの検出信
号に応答して基準距離からの距離偏差が無くなるように
モータ36を駆動制御するZ軸モータ駆動制御回路、3
7a及び38aは角度検出回路2Scの検知信号に応答
してX軸及びY軸周りのそれぞれの基準角からの偏差角
を無くすようにモータ37.38をそれぞれ駆動するX
軸及びY軸子−タ駆動制御回路である。
れ角O°を検出した時点で距離検出回路24cの検出信
号に応答して基準距離からの距離偏差が無くなるように
モータ36を駆動制御するZ軸モータ駆動制御回路、3
7a及び38aは角度検出回路2Scの検知信号に応答
してX軸及びY軸周りのそれぞれの基準角からの偏差角
を無くすようにモータ37.38をそれぞれ駆動するX
軸及びY軸子−タ駆動制御回路である。
このように構成された欠陥検査装置の動作は、次の通り
である。
である。
ロボットアームコ2により、光学ヘッド20は、これに
装着された各光学要素が塗装面11に対して作用し得る
領域に位置付けされる。
装着された各光学要素が塗装面11に対して作用し得る
領域に位置付けされる。
レーザダイオード21からのレーザビーム光はコリメー
トレンズ21aで平行光線に集光されてスウィングされ
ているミラー22aに入射し、そのスウィング角に応じ
て集光レンズ22bを通して塗装面31のライン状に光
走査する。
トレンズ21aで平行光線に集光されてスウィングされ
ているミラー22aに入射し、そのスウィング角に応じ
て集光レンズ22bを通して塗装面31のライン状に光
走査する。
この間、ハーフミラ−26aからの反射光かPSD26
の中心位置に入射した時点で、ビーム振れ角検出回路2
6bが振れ角O°信号を出力し、距離検出回路24cは
このθ′″信号に応答してその時点の距離信号をZ軸モ
ータ駆動制御回路36aに供給させる。これにより、光
学へ・ント10は走査基準点Pが塗装面31に一致する
ようにZ軸方向に駆動される。一方、4分割受光センサ
25はハーフミラ−25aを通して塗装面31上の走査
基準点Pでの正反射光を受光し、その入射位置に応じた
フォトダイオード 25+〜254の受光信号を角度検
出回路25cに供給する。これにより、X軸及びY軸モ
ータ駆動制御回路37a、38aは、それぞれの角度信
号に応じてモータ37.38により光学へラド10をX
輌及びY軸周りに回動させてZ軸を法線に設定する。
の中心位置に入射した時点で、ビーム振れ角検出回路2
6bが振れ角O°信号を出力し、距離検出回路24cは
このθ′″信号に応答してその時点の距離信号をZ軸モ
ータ駆動制御回路36aに供給させる。これにより、光
学へ・ント10は走査基準点Pが塗装面31に一致する
ようにZ軸方向に駆動される。一方、4分割受光センサ
25はハーフミラ−25aを通して塗装面31上の走査
基準点Pでの正反射光を受光し、その入射位置に応じた
フォトダイオード 25+〜254の受光信号を角度検
出回路25cに供給する。これにより、X軸及びY軸モ
ータ駆動制御回路37a、38aは、それぞれの角度信
号に応じてモータ37.38により光学へラド10をX
輌及びY軸周りに回動させてZ軸を法線に設定する。
レーザダイオード21は所定のビーム強度になるように
自動制御されたレーザビーム光を発射し。
自動制御されたレーザビーム光を発射し。
このように姿勢制御された状態において、塗装面31に
一致した走査基準点Pを中心に走査ライン領域]1aを
所定の入射角で焦点を結んて走査する。
一致した走査基準点Pを中心に走査ライン領域]1aを
所定の入射角で焦点を結んて走査する。
受光素子23には、この走査ライン領域31aの各位置
での散乱光が広角レンズ23aで集光されて入射し、そ
の散乱光レベルに応じた光電信号を出力する。欠陥点P
。では、第4図に示すように、散乱光量が増大し、した
かって受光信号処理回路33はそのレベルを欠陥として
弁別して、パルス状の塗装面欠陥信号を出力する。この
信号は、インクジェット駆動回路27aにも供給されて
ノズル27から走査ライン領域31aの中心点に向けて
インクを噴射させる。さらに、この塗装面欠陥信号は、
コンピュータ34にも供給されてその時点のビーム振れ
角データを走査ライン個所のデータと共に欠陥データと
して保持させる。
での散乱光が広角レンズ23aで集光されて入射し、そ
の散乱光レベルに応じた光電信号を出力する。欠陥点P
。では、第4図に示すように、散乱光量が増大し、した
かって受光信号処理回路33はそのレベルを欠陥として
弁別して、パルス状の塗装面欠陥信号を出力する。この
信号は、インクジェット駆動回路27aにも供給されて
ノズル27から走査ライン領域31aの中心点に向けて
インクを噴射させる。さらに、この塗装面欠陥信号は、
コンピュータ34にも供給されてその時点のビーム振れ
角データを走査ライン個所のデータと共に欠陥データと
して保持させる。
(発明の効果)
以上、本発明によれば、拡散反射光を受光して欠陥を検
知するために、ラインセンサでライン状の正反射光を検
知するのに比べて受光部を小さくでき、また曲面での欠
陥も検知できる。光学ヘッドの距離及び2軸の回転角度
が姿勢制御されるために、常に入射角及び焦点を被検査
面に位置させ得、曲面での欠陥及び小さな欠陥も一層確
実に検知てきる。
知するために、ラインセンサでライン状の正反射光を検
知するのに比べて受光部を小さくでき、また曲面での欠
陥も検知できる。光学ヘッドの距離及び2軸の回転角度
が姿勢制御されるために、常に入射角及び焦点を被検査
面に位置させ得、曲面での欠陥及び小さな欠陥も一層確
実に検知てきる。
第1図は本発明の構成を示す図、第2図は本発明の一実
施例による欠陥検査装置の構成を示す図、第3図a、b
及びCはそれぞれ同実施例による光学ヘッドの正面図、
底面図及び側面図並びに第4図は同実施例の動作を説明
する図である。 l・・・レーザ光源、 2.22・・・光偏向器、
2a、22b−、集光レンズ、 3.23−・・受光素
子。 4・・・距離センサ、 5・・・角度センサ、+0
.20−・・光学ヘッド、 11.31・・・塗装面、
21・・・レーザダイオード、 24.26・・・
PSD、25・・・4分割受光センサ。 第3図 (a) (c)
施例による欠陥検査装置の構成を示す図、第3図a、b
及びCはそれぞれ同実施例による光学ヘッドの正面図、
底面図及び側面図並びに第4図は同実施例の動作を説明
する図である。 l・・・レーザ光源、 2.22・・・光偏向器、
2a、22b−、集光レンズ、 3.23−・・受光素
子。 4・・・距離センサ、 5・・・角度センサ、+0
.20−・・光学ヘッド、 11.31・・・塗装面、
21・・・レーザダイオード、 24.26・・・
PSD、25・・・4分割受光センサ。 第3図 (a) (c)
Claims (1)
- 走査基準点から塗装面に向かうZ軸に沿って移動すると
共に、このZ軸に対してそれぞれ直交するX軸及びY軸
の直交2軸の周りを回動する光学ヘッドに、レーザビー
ム光を発射するレーザ光源と、このレーザビーム光を前
記塗装面に向けて反射して集光レンズを通して前記走査
基準点を通るライン範囲を走査する光偏向器と、前記塗
装面での前記レーザビーム光の散乱光を広角レンズを通
して受光する受光素子と、前記走査基準点からのZ軸と
前記塗装面との交点の距離偏差を検出する距離センサと
、前記交点におけるX軸及びY軸周りの基準角に対する
前記塗装面の角度偏差をそれぞれ検出する角度センサと
を装着し、さらに、前記光学ヘッドをZ軸方向に移動さ
せるモータ及びこのモータを前記距離センサの検知信号
に応答して前記距離偏差をなくすように駆動制御するZ
軸モータ駆動制御回路と、前記光学ヘッドをX軸周りに
回動させるモータ及びこのモータを前記角度センサの検
知信号に応答してX軸周りの前記偏差角をなくすように
駆動制御するX軸モータ駆動制御回路と、前記光学ヘッ
ドをY軸周りに回動させるモータ及びこのモータを前記
角度センサの検知信号に応答してY軸周りの前記偏差角
をなくすように駆動制御するY軸モータ駆動制御回路と
、前記受光素子の検出信号中の所定レベルを越える信号
を塗装面欠陥信号として検出する受光信号処理回路と、
を備えたことを特徴とする塗装面の欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15932988A JPH0210249A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 塗装面の欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15932988A JPH0210249A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 塗装面の欠陥検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0210249A true JPH0210249A (ja) | 1990-01-16 |
Family
ID=15691438
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15932988A Pending JPH0210249A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 塗装面の欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0210249A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60154145A (ja) * | 1984-01-23 | 1985-08-13 | Koyo Seiko Co Ltd | 外観検査装置 |
-
1988
- 1988-06-29 JP JP15932988A patent/JPH0210249A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60154145A (ja) * | 1984-01-23 | 1985-08-13 | Koyo Seiko Co Ltd | 外観検査装置 |
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