JPH0210443A - 再テストケース選択方式 - Google Patents

再テストケース選択方式

Info

Publication number
JPH0210443A
JPH0210443A JP63159135A JP15913588A JPH0210443A JP H0210443 A JPH0210443 A JP H0210443A JP 63159135 A JP63159135 A JP 63159135A JP 15913588 A JP15913588 A JP 15913588A JP H0210443 A JPH0210443 A JP H0210443A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
test
retest
source program
case
control flow
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP63159135A
Other languages
English (en)
Inventor
Tadao Hashimoto
忠雄 橋本
Yukio Akutsu
阿久津 幸雄
Shigeo Matsunaga
松永 栄夫
Noboru Ohara
昇 大原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP63159135A priority Critical patent/JPH0210443A/ja
Publication of JPH0210443A publication Critical patent/JPH0210443A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はソフトウェアシステムのテスト自動化方式に関
し、特にソースプログラム修正に対して、再テストが必
要なテストケースの自動的な選択、実行に関する6 〔従来の技術〕 従来この種のテストケース選択方式では、特開昭62−
166443号のように、データベース中のテストケー
スの環境(テスト対象プロダク1−名、基本機能/詳細
機能/障害テスト等の区分、使用装置等)と実際のテス
ト実行の際にユーザが指定したテスト実行環境との比較
により、テスト可能なテストケースを選択・起動するよ
うになっていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
ソフトウェアのテストにおいては、ソースプログラム修
正に伴う再テスト作業がテスト作業の大半を占めるが、
上記特許を含め従来技術はソースプログラム修正に対す
る再テスト(一般に回帰テストに言うことが多い)の範
囲選択及び自動化に関する配慮が欠けていた。
本発明の目的は、ソースプログラム修正により影響を受
ける基本パスを解析し、再テストに必要最少限のテスト
ケースを自動選択すること及びその自動実行にある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的は、ソースプログラム解析による基本パス群か
らなる制御フロー情報、テストケースと基本パスの対応
表、ソースプログラム修正に対応した影響基本パスの抽
出手段、左記基本パスを含むテストケース選択の手段及
び左記に基づくテスト実行手段とにより達成される。
〔作用〕
ソースプログラム修正が当プログラムの制御フローに与
える影響を解析し、影響を受ける基本パスを含むテスト
ケース、即ちソースプログラム修正に対して再テストが
必要なテストケースを、テストケースと基本パスの対応
表から選択する。またこのテストケースに基づくテスト
をテスト実行手段により実行する。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。
第1図でコンパイラ1はソースプログラムライブラリ1
1からオブジェクトプログラムライブラリ12と基本パ
ス群からなる制御フロー情報13を作成する。リンケー
ジエディタ2はオブジェクトプログラムライブラリ12
を入力し、被テストプログラムのロードモジュール14
を作成する。
テスタ3はユーザが指定したロードモジュール14、テ
ストケース15.及び制御フロー情報13を入力してテ
ストを実行し、テストケースと基本パスの対応表16の
作成・更新とテスト結果17の出力を行う。
ソースプログラム修正の場合、変更影響範囲解析4は、
ソースプログラムライブラリ11中のソースプログラム
差分情報(これは一般の汎用オペレーティングシステム
のライブラリ管理の機能)と制御フロー情報13とから
影響のある基本パスを抽出する。再テストケース選択5
は、上記結果とテストケースと基本パスの対応表16を
入力し、再テストが必要なテストケースを選択し、再テ
ストケース番号リスト18を出力する。また再テストコ
ントローラ6は上記選択情報を元に、テストケース15
とロードモジュール14をパラメータとしてテスタ3を
起動しテストを実行する。
第2図は第1図のソースプログラムライブラリ11中の
ソースプログラムの処理フローの例を示す。この処理フ
ローは、入口点30.各処理41〜46.制御の分岐点
及び流入点31〜36.出口点39から成る。
第3図は第2図の処理フローに対応する制御フローであ
り、制御の分岐点及び流入点でこの制御フローを分割し
た基本パスの集合とし表現されている。第3図の各ノー
ド30〜39は、第2図の入口点1分岐点、流入点、出
ロ点の各々の番号に対応する。また基本パスをa −j
で表現している。
各基本パスは第2図の隣接する入口点9分岐点。
流入点、出口点間の空文を含む命令文群に対応する。例
えば基本パスCは、第2図の処理ボックス43及びその
処理ボックス43の命令文群に対応する。
第4図は第2図の処理フローに対するテストケースt1
〜t4と基本パスとの対応表の例を示す。
例えばテストt1は基本パスa、b、Q、8.fからな
ることを示す。
ソースプログラムの修正が、第2図の処理フローの処理
ボックス43に対して実行されると、変更範囲解析4は
基本パスCを抽出する。再テストケース選択5は第4図
のテストケースと基本パスの対応表から、基本パスCを
含むテストケースt1を選択する。即ち、第2図の処理
フローの処理ボックス43に閉じる変更に対する再テス
トはテストケースt1のみを実行すれば良いことを示し
ている。再テストコントローラ6は、テストケースt1
を指示して、テスタ3を起動する。
〔発明の効果〕
本発明によればソースプログラム修正に影響のある再テ
ストケースを自動選択でき、又必要最少限の再テストの
実行ができ、テスト作業の大半を占めるソースプログラ
ム修正に対応した再テストを効率的に実施できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図。 第2図はソースプログラムの処理フロー図、第3図は第
2図に対応する制御フロー図、第4図は第3図に対応す
るテストケースと基本パスの対応説明図である。 1・・・コンパイラ、2・・・リンケージ・エディタ。 3・・・テスタ、4・・・変更影響範囲解析、5・・・
再テストケース選択、6・・・再テストコントローラ、
11・・・ソースプログラムライブラリ、12・・・オ
ブジェクトプログラムライブラリ、13・・・制御フロ
ー情報、14・・・ロードモジュール、15・・・テス
トケース、17・・・テスト結果、18・・・再テスト
ケース番号リスト、30・・・入口点、39・・・出口
点、41〜46・・・処理ボックス。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、ソースプログラムを解析して、制御の分岐点、流入
    点により分割された制御の流れを基本パスとし、この基
    本パス群からなる制御フロー情報と、各テストケースの
    テスト実行結果によるテストケースと上記基本パスの対
    応表と、ソースプログラムの修正による制御フローへの
    影響を解析し、影響する基本パスを抽出する手段と、前
    記対応表に基づき、影響する基本パスの実行を含むテス
    トケースを選択する手段を有することを特徴とする再テ
    ストケース選択方式。
JP63159135A 1988-06-29 1988-06-29 再テストケース選択方式 Pending JPH0210443A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63159135A JPH0210443A (ja) 1988-06-29 1988-06-29 再テストケース選択方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63159135A JPH0210443A (ja) 1988-06-29 1988-06-29 再テストケース選択方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0210443A true JPH0210443A (ja) 1990-01-16

Family

ID=15687012

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP63159135A Pending JPH0210443A (ja) 1988-06-29 1988-06-29 再テストケース選択方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0210443A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03291733A (ja) * 1990-04-10 1991-12-20 Fujitsu Ten Ltd 試験用データフアイルの作成方法
JPH08272650A (ja) * 1995-03-29 1996-10-18 Nec Corp 再テストパス選択方式
JP2012221394A (ja) * 2011-04-13 2012-11-12 Nec Commun Syst Ltd テスト支援システム、テスト支援方法、及びプログラム
JP2014021686A (ja) * 2012-07-18 2014-02-03 Fujitsu Ltd テストデータ生成装置、該プログラム、及び該方法
US9329981B2 (en) 2013-07-25 2016-05-03 Fujitsu Limited Testing program, testing method, and testing device
JP2018097785A (ja) * 2016-12-16 2018-06-21 株式会社東芝 テスト支援装置、テスト支援プログラム

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03291733A (ja) * 1990-04-10 1991-12-20 Fujitsu Ten Ltd 試験用データフアイルの作成方法
JPH08272650A (ja) * 1995-03-29 1996-10-18 Nec Corp 再テストパス選択方式
JP2012221394A (ja) * 2011-04-13 2012-11-12 Nec Commun Syst Ltd テスト支援システム、テスト支援方法、及びプログラム
JP2014021686A (ja) * 2012-07-18 2014-02-03 Fujitsu Ltd テストデータ生成装置、該プログラム、及び該方法
US9329981B2 (en) 2013-07-25 2016-05-03 Fujitsu Limited Testing program, testing method, and testing device
JP2018097785A (ja) * 2016-12-16 2018-06-21 株式会社東芝 テスト支援装置、テスト支援プログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0259662B1 (en) Method for generating a candidate list of faulty circuit elements and method for isolating faults in a digital logic circuit using said candidate list.
EP0988558B1 (en) Low cost, easy to use automatic test system software
US7856607B2 (en) System and method for generating at-speed structural tests to improve process and environmental parameter space coverage
US5684946A (en) Apparatus and method for improving the efficiency and quality of functional verification
EP3163448A1 (en) Test case generation system and recording medium wherein test case is recorded
JP7776220B2 (ja) 自動支援型回路検証方法
CN108763064A (zh) 一种基于黑盒函数与机器学习的代码测试生成方法和装置
CN113672498A (zh) 一种自动化诊断测试方法、装置和设备
Harrold Architecture-based regression testing of evolving systems
JPH0210443A (ja) 再テストケース選択方式
CN119862064B (zh) 一种异常算子的定位方法、设备、存储介质及程序产品
US5150367A (en) Composite range constraint propagation control
Lyu et al. A coverage analysis tool for the effectiveness of software testing
JP6723483B2 (ja) テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラム
Ulewicz et al. System regression test prioritization in factory automation: Relating functional system tests to the tested code using field data
Iryna et al. About the role of testing in process of mobile application development
Rodriguez-Navas et al. Offline analysis of independent guarded assertions in automotive integration testing
Khatun et al. An automatic test suite regeneration technique ensuring state model coverage using UML diagrams and source syntax
Stephenson et al. Test data generation for product lines-a mutation testing approach
JPH01154256A (ja) プログラムのエラー位置検出方法
JPH0217547A (ja) テストデータ作成支援処理方式
Naug et al. Roll of test cases in software testing
JP7059827B2 (ja) ソースコード生成装置
JPS62140076A (ja) 電子回路測定装置
CN114500266A (zh) 对于节点的工作状态进行分析的方法、装置及设备