JPH0210528A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
- Publication number
- JPH0210528A JPH0210528A JP63159310A JP15931088A JPH0210528A JP H0210528 A JPH0210528 A JP H0210528A JP 63159310 A JP63159310 A JP 63159310A JP 15931088 A JP15931088 A JP 15931088A JP H0210528 A JPH0210528 A JP H0210528A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- semiconductor laser
- recording medium
- injection current
- current value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 42
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 36
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims abstract description 13
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims abstract description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 8
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 206010041662 Splinter Diseases 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光を用いて情報の記録再生を行う光記録に用い
る光ピックアップ装置に関するものであ〔従来の技術〕 光記録においては、光源からの出射光を微小スポットと
して光記録媒体上に照射し、反射光の光量変化を検出す
る光ピツクアンプ装置を主要デバイスとして用いている
。
る光ピックアップ装置に関するものであ〔従来の技術〕 光記録においては、光源からの出射光を微小スポットと
して光記録媒体上に照射し、反射光の光量変化を検出す
る光ピツクアンプ装置を主要デバイスとして用いている
。
従来の光ピックアップ装置は、基本的に第４図に示す構
成を用いている。すなわち、光検出器１と、半導体レー
ザ２と、集光レンズ３と、ビームスプリンタ８とから構
成されている。このような従来の光ピンクアップ装置に
おいては、半導体レーザ２の出射光を集光レンズ３によ
って記録媒体４上に集光し、その集光点からの反射光を
ビームスプリンタ８によって分離し、光検出器１で検出
している。したがって従来の光ピックアップ装置では、
光学系の構成部品数が多く小型化が難しかった。
成を用いている。すなわち、光検出器１と、半導体レー
ザ２と、集光レンズ３と、ビームスプリンタ８とから構
成されている。このような従来の光ピンクアップ装置に
おいては、半導体レーザ２の出射光を集光レンズ３によ
って記録媒体４上に集光し、その集光点からの反射光を
ビームスプリンタ８によって分離し、光検出器１で検出
している。したがって従来の光ピックアップ装置では、
光学系の構成部品数が多く小型化が難しかった。
このような欠点を解消するために、第５図に示すように
半導体レーザ２から出射し記録媒体４の面で反射した光
を直接レーザ発光点に戻す方式が提案されている（Ｉｎ
ｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｓｙｍｐｏｓｉｕｍ ｏｎＯ
ｐｔｉｃａｌ Ｍｅ＋ｗｏｒｙ １９８７． ＴＢ−４
） ｏこの構成では、第６図に示すように記録媒体の反
射率によって半導体レーザの発振しきい値ｒｔｈが変化
する、すなわち戻り光が大きくなると発振しきい値１ｔ
ｈが小さくなるため、注入電流の値を発振しきい値１ｔ
ｈが変化する中間に設定することにより半導体レーザ裏
面より大きな光出力変化を得ることができる。
半導体レーザ２から出射し記録媒体４の面で反射した光
を直接レーザ発光点に戻す方式が提案されている（Ｉｎ
ｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｓｙｍｐｏｓｉｕｍ ｏｎＯ
ｐｔｉｃａｌ Ｍｅ＋ｗｏｒｙ １９８７． ＴＢ−４
） ｏこの構成では、第６図に示すように記録媒体の反
射率によって半導体レーザの発振しきい値ｒｔｈが変化
する、すなわち戻り光が大きくなると発振しきい値１ｔ
ｈが小さくなるため、注入電流の値を発振しきい値１ｔ
ｈが変化する中間に設定することにより半導体レーザ裏
面より大きな光出力変化を得ることができる。
ところで、記録媒体面で反射した光を直接レーザ発光点
に戻す方式では、半導体レーザへの戻り光位相によって
発振しきい値■いの変化量が変動するため、レーザ端面
と記録媒体との間の距離を１μｍ以下の精度で制御する
必要がある。したがって半導体レーザと記録媒体とを数
μｍ−数１０μｍの近接配置とする必要があり、実用的
には難しい構成となる。
に戻す方式では、半導体レーザへの戻り光位相によって
発振しきい値■いの変化量が変動するため、レーザ端面
と記録媒体との間の距離を１μｍ以下の精度で制御する
必要がある。したがって半導体レーザと記録媒体とを数
μｍ−数１０μｍの近接配置とする必要があり、実用的
には難しい構成となる。
本発明の目的は上記のような問題点を生しることの無い
光ピックアップ装置を提供することにある。
光ピックアップ装置を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、光源と、この光源からの出射光ビームを集光
レンズにより記録媒体上に微小スポットとして集光し、
その集光点からの反射光を前記光源に戻す光学系を有す
る光ピックアップ装置において、 前記光源として、或る注入電流値によって光出力が不連
続に変化し、かつ外部からの戻り光によって前記注入電
流値が変化する半導体レーザを用い、 前記光学系に、戻り光の偏光が前記半導体レーザの出射
光の偏光と直交するように、偏光を回転する光学素子を
設けたことを特徴としている。
レンズにより記録媒体上に微小スポットとして集光し、
その集光点からの反射光を前記光源に戻す光学系を有す
る光ピックアップ装置において、 前記光源として、或る注入電流値によって光出力が不連
続に変化し、かつ外部からの戻り光によって前記注入電
流値が変化する半導体レーザを用い、 前記光学系に、戻り光の偏光が前記半導体レーザの出射
光の偏光と直交するように、偏光を回転する光学素子を
設けたことを特徴としている。
本発明の光ピックアップ装置において用いられる半導体
レーザは、或る注入電流値によって光出力が不連続に変
化し、かつ外部からの戻り光によって前記注入電流値が
変化するので、半導体レーザの注入電流を、記録媒体の
反射率の変化による戻り光量の変化に対して前記注入電
流値の変化する中間に設定しておけば、半導体レーザは
ほぼ低出力と高出力の２値の光を出力する。
レーザは、或る注入電流値によって光出力が不連続に変
化し、かつ外部からの戻り光によって前記注入電流値が
変化するので、半導体レーザの注入電流を、記録媒体の
反射率の変化による戻り光量の変化に対して前記注入電
流値の変化する中間に設定しておけば、半導体レーザは
ほぼ低出力と高出力の２値の光を出力する。
また、記録媒体上の集光点からの反射光を半導体レーザ
に戻す光学系に、偏光を回転する光学素子を設け、半導
体レーザからの出射光の偏光と直交する偏光の光を半導
体レーザに戻す、これにより、戻り光と出射光とは干渉
を生じないので、戻り光位相によって前記注入電流値が
変化することはない。
に戻す光学系に、偏光を回転する光学素子を設け、半導
体レーザからの出射光の偏光と直交する偏光の光を半導
体レーザに戻す、これにより、戻り光と出射光とは干渉
を生じないので、戻り光位相によって前記注入電流値が
変化することはない。
第１図に本発明の一実施例の構成を示す。この光ピック
アップ装置は、光検出器１と、半導体レーザ２と、集光
レンズ３と、１／４波長板５とから構成されている。
アップ装置は、光検出器１と、半導体レーザ２と、集光
レンズ３と、１／４波長板５とから構成されている。
１７４波長板５の光学軸は、以下のように設定する。す
なわち、半導体レーザ２からの出射光は、１７４波長板
５と集光レンズ３を介して記録媒体４上に集光され、そ
の反射光は逆の経路をたどって半導体レーザ２に戻るが
、戻った光の偏光は出射光の偏光と直交するように１ノ
４波長板５の光学軸を設定する。
なわち、半導体レーザ２からの出射光は、１７４波長板
５と集光レンズ３を介して記録媒体４上に集光され、そ
の反射光は逆の経路をたどって半導体レーザ２に戻るが
、戻った光の偏光は出射光の偏光と直交するように１ノ
４波長板５の光学軸を設定する。
半導体レーザ２としては、第２図に示すように片側の電
極を共振器長方向に分割して励起領域６と吸収領域７を
設けたタンデム電極形の半導体レーザを用いる。この半
導体レーザは、第３図に示すように励起領域６への注入
電流によって光出力が不連続に変化する。そして、この
不連続を生じる電流値１ｔｈは、戻り光量が増大すると
減少する。
極を共振器長方向に分割して励起領域６と吸収領域７を
設けたタンデム電極形の半導体レーザを用いる。この半
導体レーザは、第３図に示すように励起領域６への注入
電流によって光出力が不連続に変化する。そして、この
不連続を生じる電流値１ｔｈは、戻り光量が増大すると
減少する。
この傾向は、出射光と直交する偏光が戻った場合も同じ
である。
である。
以上のような構成の光ピックアップ装置において、半導
体レーザ２からの出射光は、１７４波長板５と集光レン
ズ３を介して記録媒体４上に集光され、その反射光は逆
の経路をたどって半導体レーザ２に戻る。ｌ／４波長板
５により、戻った光の偏光は出射光の偏光と直交する。
体レーザ２からの出射光は、１７４波長板５と集光レン
ズ３を介して記録媒体４上に集光され、その反射光は逆
の経路をたどって半導体レーザ２に戻る。ｌ／４波長板
５により、戻った光の偏光は出射光の偏光と直交する。
このように直交する偏光が戻る場合には、出射光との干
渉は生じないため戻り光位相によって電流値■いが変化
することはない。したがって第５図に示した従来の光ピ
ックアップ装置のように、レーザ端面と記録媒体との間
隔を制御する必要はない。
渉は生じないため戻り光位相によって電流値■いが変化
することはない。したがって第５図に示した従来の光ピ
ックアップ装置のように、レーザ端面と記録媒体との間
隔を制御する必要はない。
また、半導体レーザ２の注入電流を、記録媒体４の反射
率の変化による戻り光量の変化に対して電流値Ｉｔｈの
変化する中間に設定しておけば（例えば、第３図の■、
）、光検出器１では、はぼ低出力と高出力の２値の光出
力を検出することができる。したがって、記録媒体４の
反射率の変化をＳ／Ｎよく検出することが可能となる。
率の変化による戻り光量の変化に対して電流値Ｉｔｈの
変化する中間に設定しておけば（例えば、第３図の■、
）、光検出器１では、はぼ低出力と高出力の２値の光出
力を検出することができる。したがって、記録媒体４の
反射率の変化をＳ／Ｎよく検出することが可能となる。
半導体レーザ２の光出力の変化は裏面で検出することも
できるが、第２図に示すように吸収領域７に接続した抵
抗９に流れる電流値をモニタしてもよい。
できるが、第２図に示すように吸収領域７に接続した抵
抗９に流れる電流値をモニタしてもよい。
また、偏光を回す光学素子としては、１７４波長板の代
わりにファラデー回転子を用いてもよい。
わりにファラデー回転子を用いてもよい。
なお、第２図のようなタンデム電極型レーザでは、電流
の上昇および下降において光出力にヒステリシス特性を
生じることがあるが、不連続を生じる電流値■いの変化
量がヒステリシス幅より大きければ問題はない。
の上昇および下降において光出力にヒステリシス特性を
生じることがあるが、不連続を生じる電流値■いの変化
量がヒステリシス幅より大きければ問題はない。
本発明によれば、レーザ端面と記録媒体との間の距離に
対して１μｍ以下の精密な制御を必要としないので、小
型化が可能な光ピックアップ装置を得ることができる。
対して１μｍ以下の精密な制御を必要としないので、小
型化が可能な光ピックアップ装置を得ることができる。
第１図は本発明の一実施例を示す図、
第２図および第３図は本発明に用いられる半導体レーザ
の構成および特性をそれぞれ示す図、第４図および第５
図は従来の光ピックアップ装置の例をそれぞれ示す図、 第６図は従来の光ピックアップ装置に用いられる半導体
レーザの特性を示す図である。 １・・・・・光検出器 ２・・・・・半導体レーザ ３・・・・・集光レンズ ４・・・・・記録媒体 ５・・・・・１７４波長板 ６・・・・・励起領域 ７・・・・・吸収領域 ８・・・・・ビームスプリンタ ９・・・・・抵抗
の構成および特性をそれぞれ示す図、第４図および第５
図は従来の光ピックアップ装置の例をそれぞれ示す図、 第６図は従来の光ピックアップ装置に用いられる半導体
レーザの特性を示す図である。 １・・・・・光検出器 ２・・・・・半導体レーザ ３・・・・・集光レンズ ４・・・・・記録媒体 ５・・・・・１７４波長板 ６・・・・・励起領域 ７・・・・・吸収領域 ８・・・・・ビームスプリンタ ９・・・・・抵抗
Claims (1)
- （１）光源と、この光源からの出射光ビームを集光レン
ズにより記録媒体上に微小スポットとして集光し、その
集光点からの反射光を前記光源に戻す光学系を有する光
ピックアップ装置において、前記光源として、或る注入
電流値によって光出力が不連続に変化し、かつ外部から
の戻り光によって前記注入電流値が変化する半導体レー
ザを用い、 前記光学系に、戻り光の偏光が前記半導体レーザの出射
光の偏光と直交するように、偏光を回転する光学素子を
設けたことを特徴とする光ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63159310A JPH0210528A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63159310A JPH0210528A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 光ピックアップ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0210528A true JPH0210528A (ja) | 1990-01-16 |
Family
ID=15691006
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63159310A Pending JPH0210528A (ja) | 1988-06-29 | 1988-06-29 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0210528A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1585120A1 (en) * | 2004-04-08 | 2005-10-12 | Deutsche Thomson-Brandt Gmbh | Miniaturized optical pickup |
| DE102014004102B4 (de) * | 2013-03-28 | 2019-09-05 | Fanuc Corporation | Punktschweisssystem mit einer Punktschweisszange |
-
1988
- 1988-06-29 JP JP63159310A patent/JPH0210528A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1585120A1 (en) * | 2004-04-08 | 2005-10-12 | Deutsche Thomson-Brandt Gmbh | Miniaturized optical pickup |
| DE102014004102B4 (de) * | 2013-03-28 | 2019-09-05 | Fanuc Corporation | Punktschweisssystem mit einer Punktschweisszange |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4357533A (en) | Focus detector for an optical disc playback system | |
| US5067117A (en) | Output stabilizing apparatus for an optical head | |
| US4449204A (en) | Information processing apparatus using a semiconductor laser diode | |
| JPH0210528A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| KR930005786B1 (ko) | 프리즘-증대 스폿 사이즈 모니터링을 이용한 포커스-에라 검출 | |
| US4569039A (en) | Optical information output device | |
| JPH0159751B2 (ja) | ||
| EP0537712B1 (en) | Optical pickup apparatus | |
| JPS6329337B2 (ja) | ||
| JPH0242642A (ja) | 光学ヘッド構造 | |
| Musha et al. | Optical head for digital audio disks (DAD) | |
| JPH04295635A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPH0212625A (ja) | 光ヘッド装置 | |
| JPH0743835B2 (ja) | フォーカス誤差検出装置 | |
| JPH03112184A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
| JPH0384744A (ja) | フォーカス誤差検出装置 | |
| JPS60231103A (ja) | 反射型光スイツチ | |
| JPS62275330A (ja) | 光学式デイスク装置 | |
| JPH03276784A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
| JPH02121129A (ja) | 光ヘッド | |
| JPS63244421A (ja) | 多重発光装置 | |
| JPH02301046A (ja) | 光磁気ヘッド装置 | |
| JPH0428028A (ja) | 光ヘッド装置 | |
| JPS6214896B2 (ja) | ||
| JPH03192539A (ja) | 光ピックアップ装置 |