JPH021078A - 放射線画像処理方法および装置 - Google Patents
放射線画像処理方法および装置Info
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- JPH021078A JPH021078A JP63253066A JP25306688A JPH021078A JP H021078 A JPH021078 A JP H021078A JP 63253066 A JP63253066 A JP 63253066A JP 25306688 A JP25306688 A JP 25306688A JP H021078 A JPH021078 A JP H021078A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、医療用診断に用いる放射線画像情報記録再生
システムにおける画像処理方法に関するものであり、更
に詳細には、中間媒体として蓄積性螢光体材料(以下、
「螢光体」という。)を用いて、これに放射線画像情報
を記録し、しかる後にこの放射線画像情報を読み出して
再生し、これを記録材料上に最終画像として記録する放
射線画像情報記録再生システムにおける画像処理方法お
よび装置に関するものである。
システムにおける画像処理方法に関するものであり、更
に詳細には、中間媒体として蓄積性螢光体材料(以下、
「螢光体」という。)を用いて、これに放射線画像情報
を記録し、しかる後にこの放射線画像情報を読み出して
再生し、これを記録材料上に最終画像として記録する放
射線画像情報記録再生システムにおける画像処理方法お
よび装置に関するものである。
被写体を透過した放射線を螢光体に吸収せしめて放射線
画像情報を記録し、しかる後にこれをレーザ光等で走査
して励起し、発光した光を光検出器で読み取り、この読
み取った放射線画像情報で光ビームを変調して写真フィ
ルム等の記録材料に放射線画像を記録する放射線画像情
報記録再生システムが知られている。(米国特許第3.
859.527号) この螢光体を用いる放射線画像情報記録再生システムは
、従来の銀塩写真による放射線写真システムと比較して
、広い放射線露光域にわたって画像を記録することがで
きるという点で非常に利用価値が高く、特に人体を対象
とするX線写真システムとしての利用価値が高いもので
ある。
画像情報を記録し、しかる後にこれをレーザ光等で走査
して励起し、発光した光を光検出器で読み取り、この読
み取った放射線画像情報で光ビームを変調して写真フィ
ルム等の記録材料に放射線画像を記録する放射線画像情
報記録再生システムが知られている。(米国特許第3.
859.527号) この螢光体を用いる放射線画像情報記録再生システムは
、従来の銀塩写真による放射線写真システムと比較して
、広い放射線露光域にわたって画像を記録することがで
きるという点で非常に利用価値が高く、特に人体を対象
とするX線写真システムとしての利用価値が高いもので
ある。
他方、X線は被曝線量が多くなると人体に有害であるの
で、−回のX線撮影でできるだけ多くの情報が得られる
ことが望ましいのは言うまでもないが、現在のX線写真
フィルムは、撮影適性と観察読影適性の両方を兼ね備え
ることが要求され、それらをある程度ずつ満足するよう
に設計されているため、撮影適性についてはX線露光域
が充分広いとは言えず、また現在のX線写真フィルムの
観察読影適性についても、その画質が必ずしも診断に充
分なものとは言えないという問題があった。
で、−回のX線撮影でできるだけ多くの情報が得られる
ことが望ましいのは言うまでもないが、現在のX線写真
フィルムは、撮影適性と観察読影適性の両方を兼ね備え
ることが要求され、それらをある程度ずつ満足するよう
に設計されているため、撮影適性についてはX線露光域
が充分広いとは言えず、また現在のX線写真フィルムの
観察読影適性についても、その画質が必ずしも診断に充
分なものとは言えないという問題があった。
また前述した米国特許第3.859,527号に開示さ
れた螢光体を用いる放射線画像情報記録再生システムは
、システムとして新規なものであるが、前述したX線写
真フィルムを用いたシステムにおける問題点は解消する
ものではなかった。
れた螢光体を用いる放射線画像情報記録再生システムは
、システムとして新規なものであるが、前述したX線写
真フィルムを用いたシステムにおける問題点は解消する
ものではなかった。
本発明者は上記事情に鑑み、螢光体を用いる放射線画像
記録方法において、螢光体に記録されている放射線画像
情報を読み出して記録材料上に再生するに当り、非鮮鋭
マスク処理を施して放射線画像の診断性能を向上させる
放射線画像処理方法を特開昭55−88740号におい
て提案した。
記録方法において、螢光体に記録されている放射線画像
情報を読み出して記録材料上に再生するに当り、非鮮鋭
マスク処理を施して放射線画像の診断性能を向上させる
放射線画像処理方法を特開昭55−88740号におい
て提案した。
この方法は、診断に重要な周波数は人体の各部位によっ
て多少の差はあるものの、非常に低い周波数(以下、「
超低周波数」という。)領域にあるという知見、高周波
成分を強調して鮮鋭度を改良せんとすることは、放射線
画像の処理の場合にはノイズ成分を強調するだけで、診
断性能をむしろ低下させてしまうという知見および高周
波数領域では、ノイズの占める割合が高く、この高周波
数領域のものは強調を低減すれば、雑音が目立たず、見
やすくなるという知見に基き、超低周波数成分を強調す
ると同時に、雑音の占める割合が大きい高周波数成分を
相対的に低減し、視覚的に見やすい画像が得られるよう
にするというものであって、具体的には螢光体を励起光
で走査して、これに記録されている放射線画像情報を読
み出してこれを電気信号に変換した後、記録材料上に再
生するに当り、各走査点で超低周波数に対応する非鮮鋭
マスク信号Susを求め、螢光体から読み出されたオリ
ジナル画像信号をSorgs強調係数をβ、再生画像信
号をS′としたときに S’−3org+β(Sorg −5us)なる演算に
より信号の変換を行なって、上記超低周波数以上の周波
数成分を強調することを特徴とする放射線画像処理方法
である。ここで超低空間周波数とは、はぼ0.5サイク
ル/mm以下の空間周波数を意味するものである。
て多少の差はあるものの、非常に低い周波数(以下、「
超低周波数」という。)領域にあるという知見、高周波
成分を強調して鮮鋭度を改良せんとすることは、放射線
画像の処理の場合にはノイズ成分を強調するだけで、診
断性能をむしろ低下させてしまうという知見および高周
波数領域では、ノイズの占める割合が高く、この高周波
数領域のものは強調を低減すれば、雑音が目立たず、見
やすくなるという知見に基き、超低周波数成分を強調す
ると同時に、雑音の占める割合が大きい高周波数成分を
相対的に低減し、視覚的に見やすい画像が得られるよう
にするというものであって、具体的には螢光体を励起光
で走査して、これに記録されている放射線画像情報を読
み出してこれを電気信号に変換した後、記録材料上に再
生するに当り、各走査点で超低周波数に対応する非鮮鋭
マスク信号Susを求め、螢光体から読み出されたオリ
ジナル画像信号をSorgs強調係数をβ、再生画像信
号をS′としたときに S’−3org+β(Sorg −5us)なる演算に
より信号の変換を行なって、上記超低周波数以上の周波
数成分を強調することを特徴とする放射線画像処理方法
である。ここで超低空間周波数とは、はぼ0.5サイク
ル/mm以下の空間周波数を意味するものである。
ここで、超低周波数に対応する非鮮鋭マスク信号Sus
とは、オリジナル画像を超低周波数成分より低い周波数
成分しか含まないようにぼかした非鮮鋭画像(以下これ
を「非鮮鋭マスク」と呼ぶ)の各走査点の信号を指し、
この非鮮鋭マスクとしては、変調伝達関数が0.Olサ
イクル/mtnの空間周波数のときに0,5以上で、か
つ0.5サイクル/mの空間周波数のときに0.5以下
であるようなものが用いられており、また非鮮鋭マスク
の作成方法としでは、 (1)各走査点でのオリジナル画像信号を記憶させてお
き、非鮮鋭マスクのサイズに応じて周辺部のデータとと
もに読み出してその平均値(単純平均または種々の荷重
平均による平均値)であるSusを求める方法(この方
法においては、アナログ信号のままで作成する場合と、
A/D変換してデジタル信号としてから作成する場合が
あり、更にA/D変換前に主走査方向のみローパスフィ
ルターでアナログ信号を非鮮鋭化して副走査方向にはデ
ジタル信号処理によりおこなう場合も含まれる。)、 (a 小サイズ径の光ビーム等でオリジナル画像信号を
読み出した後に、まだ蓄積画像が残っている場合に非鮮
鋭マスクのサイズに合わせた大サイズ径の光ビームを用
いて各走査点の信号をその周囲の信号とともに平均化し
て読み出す方法、(3)読み出し用の光ビームが螢光体
層中での散乱によりそのビーム径がだんだん広がること
を利用するもので、光ビームの入射側からの発光信号で
オリジナル画像信号S orgを作り、光ビームの透過
した側での発光で非鮮鋭マスク信号Susを作る方法(
この場合、非鮮鋭マスクのサイズは螢光体層の光散乱の
程度を変えたり、これを受光するアパーチャの大きさを
変えたりすることによってコントロールすることができ
る。)が用いられ得るとされている。
とは、オリジナル画像を超低周波数成分より低い周波数
成分しか含まないようにぼかした非鮮鋭画像(以下これ
を「非鮮鋭マスク」と呼ぶ)の各走査点の信号を指し、
この非鮮鋭マスクとしては、変調伝達関数が0.Olサ
イクル/mtnの空間周波数のときに0,5以上で、か
つ0.5サイクル/mの空間周波数のときに0.5以下
であるようなものが用いられており、また非鮮鋭マスク
の作成方法としでは、 (1)各走査点でのオリジナル画像信号を記憶させてお
き、非鮮鋭マスクのサイズに応じて周辺部のデータとと
もに読み出してその平均値(単純平均または種々の荷重
平均による平均値)であるSusを求める方法(この方
法においては、アナログ信号のままで作成する場合と、
A/D変換してデジタル信号としてから作成する場合が
あり、更にA/D変換前に主走査方向のみローパスフィ
ルターでアナログ信号を非鮮鋭化して副走査方向にはデ
ジタル信号処理によりおこなう場合も含まれる。)、 (a 小サイズ径の光ビーム等でオリジナル画像信号を
読み出した後に、まだ蓄積画像が残っている場合に非鮮
鋭マスクのサイズに合わせた大サイズ径の光ビームを用
いて各走査点の信号をその周囲の信号とともに平均化し
て読み出す方法、(3)読み出し用の光ビームが螢光体
層中での散乱によりそのビーム径がだんだん広がること
を利用するもので、光ビームの入射側からの発光信号で
オリジナル画像信号S orgを作り、光ビームの透過
した側での発光で非鮮鋭マスク信号Susを作る方法(
この場合、非鮮鋭マスクのサイズは螢光体層の光散乱の
程度を変えたり、これを受光するアパーチャの大きさを
変えたりすることによってコントロールすることができ
る。)が用いられ得るとされている。
本発明者等は上記(1)〜(3)の非鮮鋭マスク作成方
法を比較検討した結果、画像処理にフレキシビリティ−
を持たせるためには、(1)の方法が最も好ましいこと
を見出したが、この場合、理想的には通常各走査点での
非鮮鋭マスク信号Susを求めるのに以下の演算が必要
とされる。
法を比較検討した結果、画像処理にフレキシビリティ−
を持たせるためには、(1)の方法が最も好ましいこと
を見出したが、この場合、理想的には通常各走査点での
非鮮鋭マスク信号Susを求めるのに以下の演算が必要
とされる。
ここに、l、jは各走査点を中心とした円形領域(その
領域内に入る画素数を直径方向にN個とする。)の座標
で、aIjは重み係数であって、全方向に等方的でなめ
らかな変化を持たせたものが好ましく、 Σ aij=1 傷、+60 である。
領域内に入る画素数を直径方向にN個とする。)の座標
で、aIjは重み係数であって、全方向に等方的でなめ
らかな変化を持たせたものが好ましく、 Σ aij=1 傷、+60 である。
しかし、かかる演算を単純に実行する場合には、各走査
点につき乗算をおよそ、 N 2回、加算を工N2回実
行することが必要となり、Nが大であると、演算にきね
で時間がかかり、実際的でないという欠点がある。事実
、通常の放射線画像を螢光体の走査によって読み出すに
あたっては、その画像のもっている周波数成分を失うこ
とのないようにすることが必要であり、そのため画像に
よって多少の差はあるが、通常5〜20画素/#程度の
サンプリング率(画素サイズで言えば200〜50μ)
で走査する必要があり、−力木発明における非鮮鋭マス
クは超低周波数に対応しているため、このマスクを作る
ためきわめて多くの画素を用いて演算する必要がある。
点につき乗算をおよそ、 N 2回、加算を工N2回実
行することが必要となり、Nが大であると、演算にきね
で時間がかかり、実際的でないという欠点がある。事実
、通常の放射線画像を螢光体の走査によって読み出すに
あたっては、その画像のもっている周波数成分を失うこ
とのないようにすることが必要であり、そのため画像に
よって多少の差はあるが、通常5〜20画素/#程度の
サンプリング率(画素サイズで言えば200〜50μ)
で走査する必要があり、−力木発明における非鮮鋭マス
クは超低周波数に対応しているため、このマスクを作る
ためきわめて多くの画素を用いて演算する必要がある。
たとえば、ガウス分布状重み係数を持ったマスクの場合
、画素サイズを100μX 100μとすればf、−0
,1サイクル/#の場合、Nはおよそ50となり、fc
−0,02サイクル/rttrttの場合にはNはおよ
そ250となるから、演算時間は膨大なものとなってし
まう。(ここに、f、とは、非鮮鋭マスクの変調伝達関
数が0.5になる値を意味する。) また円形領域を加算平均することは、走査線毎に加算範
囲を変えることを意味するが、演算実行上、かような判
断をおこなわせなければならないことは、演算機構を著
しく複雑にしてしまい、不経済である。
、画素サイズを100μX 100μとすればf、−0
,1サイクル/#の場合、Nはおよそ50となり、fc
−0,02サイクル/rttrttの場合にはNはおよ
そ250となるから、演算時間は膨大なものとなってし
まう。(ここに、f、とは、非鮮鋭マスクの変調伝達関
数が0.5になる値を意味する。) また円形領域を加算平均することは、走査線毎に加算範
囲を変えることを意味するが、演算実行上、かような判
断をおこなわせなければならないことは、演算機構を著
しく複雑にしてしまい、不経済である。
本発明は、経済的かつ高速度で診断性能を向上せしめう
る放射線画像処理方法及び装置を提供することを目的と
する。
る放射線画像処理方法及び装置を提供することを目的と
する。
本発明者は、かかる目的を達成するため、鋭意研究を重
ねた結果、上記画像処理方法において、非鮮鋭マスク信
号を得る方法として、走査の主走査方向に平行な2辺と
、副走査方向に平行な2辺とによって囲まれた矩形領域
内の各走査点におけるオリジナル画像信号S orgを
単純加算平均することによって、各走査点における超低
空間周波数に対する非鮮鋭マスク信号Susを求める方
法が前記目的に沿うものであることを見出した。すなわ
ち、かかる非鮮鋭マスクの作成方法は、矩形状領域で均
一な重みを持ち、したがって例えばガウス分布状重みを
持ったなめらかに重みが減衰するマスクに比べて、その
伝達特性が振動を起すとか、方向によって非鮮鋭の度合
が異なるとかいった欠点を持っているにもかかわらず、
診断性能の向上という面では前述した理想的なマスク演
算の場合と実質的な差異がなく、しかも矩形領域での単
純加算平均であるので後述するように演算時間の大巾な
短縮、装置の大巾なコストダウンが実現できることを見
出したものである。
ねた結果、上記画像処理方法において、非鮮鋭マスク信
号を得る方法として、走査の主走査方向に平行な2辺と
、副走査方向に平行な2辺とによって囲まれた矩形領域
内の各走査点におけるオリジナル画像信号S orgを
単純加算平均することによって、各走査点における超低
空間周波数に対する非鮮鋭マスク信号Susを求める方
法が前記目的に沿うものであることを見出した。すなわ
ち、かかる非鮮鋭マスクの作成方法は、矩形状領域で均
一な重みを持ち、したがって例えばガウス分布状重みを
持ったなめらかに重みが減衰するマスクに比べて、その
伝達特性が振動を起すとか、方向によって非鮮鋭の度合
が異なるとかいった欠点を持っているにもかかわらず、
診断性能の向上という面では前述した理想的なマスク演
算の場合と実質的な差異がなく、しかも矩形領域での単
純加算平均であるので後述するように演算時間の大巾な
短縮、装置の大巾なコストダウンが実現できることを見
出したものである。
本発明は、蓄積性螢光体材料を走査して、この螢光体材
料に記録されている放射線画像情報を読み出して電気信
号に変換した後、可視像として再生するに当り、各走査
点での超低空間周波数に対応する非鮮鋭マスク信号Su
sを求め、螢光体から読み出されたオリジナル画像信号
をSorgq強調係数をβ、再生画像信号S′としたと
きに、演算式 %式%) で表わされる演算を行なって、上記超低空間周波数以上
の周波数成分を強調する放射線画像処理方法において、
前記非鮮鋭マスク信号Susを、前記走査の主走査方向
に平行な2辺と、副走査方向に平行な2辺によって囲ま
れた矩形の非鮮鋭マスク内の各走査点におけるオリジナ
ル画像信号S orgを単純加算平均して求めることを
特徴とする放射線画像処理方法である。
料に記録されている放射線画像情報を読み出して電気信
号に変換した後、可視像として再生するに当り、各走査
点での超低空間周波数に対応する非鮮鋭マスク信号Su
sを求め、螢光体から読み出されたオリジナル画像信号
をSorgq強調係数をβ、再生画像信号S′としたと
きに、演算式 %式%) で表わされる演算を行なって、上記超低空間周波数以上
の周波数成分を強調する放射線画像処理方法において、
前記非鮮鋭マスク信号Susを、前記走査の主走査方向
に平行な2辺と、副走査方向に平行な2辺によって囲ま
れた矩形の非鮮鋭マスク内の各走査点におけるオリジナ
ル画像信号S orgを単純加算平均して求めることを
特徴とする放射線画像処理方法である。
また、本発明の装置は、蓄積性螢光体を走査してこれに
蓄積記録されている放射線画像を輝尽発光させるための
励起光源と、この発光を検出して電気信号に変換する光
検出器と、この光検出器の出力を前記走査の主走査方向
に平行な2辺と、副走査方向に平行な2辺によって囲ま
れた矩形の非鮮鋭マスクの範囲に亘って単純加算平均し
て超低空間周波数に対応する非鮮鋭マスク信号Susを
求める回路と、この非鮮鋭マスク信号5uss前記光検
出器の出力であるオリジナル画像信号Sorgsおよび
強調係数βから、再生画像信号をS′としたとき、演算
式 S’−Sorg+β(Sorg −5us)で表わされ
る演算を行なう演算装置を備えてなる放射線画像処理装
置である。
蓄積記録されている放射線画像を輝尽発光させるための
励起光源と、この発光を検出して電気信号に変換する光
検出器と、この光検出器の出力を前記走査の主走査方向
に平行な2辺と、副走査方向に平行な2辺によって囲ま
れた矩形の非鮮鋭マスクの範囲に亘って単純加算平均し
て超低空間周波数に対応する非鮮鋭マスク信号Susを
求める回路と、この非鮮鋭マスク信号5uss前記光検
出器の出力であるオリジナル画像信号Sorgsおよび
強調係数βから、再生画像信号をS′としたとき、演算
式 S’−Sorg+β(Sorg −5us)で表わされ
る演算を行なう演算装置を備えてなる放射線画像処理装
置である。
本発明において、超低周波数に対応する非鮮鋭マスク信
号Susとは、オリジナル画像を超低周波数成分より低
い周波数成分しか含まないようにぼかした非鮮鋭画像(
以下これを「非鮮鋭マスク」と呼ぶ)の各走査点の信号
を指す。この非鮮鋭マスクとして、変調伝達関数が0.
Olサイクル/#の空間周波数のときに0.5以上で、
かつ0.5サイクル/mrsの空間周波数のときに0.
5以下であるようなもの、あるいは0.01〜0.5サ
イクル/#の空間周波数の範囲において0.01を下端
とした変調伝達関数の積分値が、0.01−10サイク
ル/lN11の当該変調伝達関数の積分値の90%以上
となるようなものが用いられる。
号Susとは、オリジナル画像を超低周波数成分より低
い周波数成分しか含まないようにぼかした非鮮鋭画像(
以下これを「非鮮鋭マスク」と呼ぶ)の各走査点の信号
を指す。この非鮮鋭マスクとして、変調伝達関数が0.
Olサイクル/#の空間周波数のときに0.5以上で、
かつ0.5サイクル/mrsの空間周波数のときに0.
5以下であるようなもの、あるいは0.01〜0.5サ
イクル/#の空間周波数の範囲において0.01を下端
とした変調伝達関数の積分値が、0.01−10サイク
ル/lN11の当該変調伝達関数の積分値の90%以上
となるようなものが用いられる。
また、昭和54年11月22日付特許願(4)(出願人
:富士写真フィルム株式会社)において開示キ札でいる
ように、変調伝達関数が0.02サイクル/朧の空間周
波数のときに0.5以上で、かつ0.15サイクル/m
mの空間周波数のときに0.5以下であるような非鮮鋭
マスクを用いると、診断性能の向上が著しく好ましい。
:富士写真フィルム株式会社)において開示キ札でいる
ように、変調伝達関数が0.02サイクル/朧の空間周
波数のときに0.5以上で、かつ0.15サイクル/m
mの空間周波数のときに0.5以下であるような非鮮鋭
マスクを用いると、診断性能の向上が著しく好ましい。
ここに上述の非鮮鋭マスクは、変調伝達関数の値が0.
5となる空間周波数をfcと定義すれば変調伝達関数の
f、が0.01〜0.5サイクル/ rra s好まし
くは0.02〜0,15サイクル/mの範囲にあるもの
というのと同義である。
5となる空間周波数をfcと定義すれば変調伝達関数の
f、が0.01〜0.5サイクル/ rra s好まし
くは0.02〜0,15サイクル/mの範囲にあるもの
というのと同義である。
なお本発明において、オリジナル信号とは光学業界にお
いて慣用されている手段により処理された後の信号、す
なわち帯域圧縮、非線形補正のために対数増幅等の非線
形増幅をおこなった後の信号を含むものであることは言
うまでもない。
いて慣用されている手段により処理された後の信号、す
なわち帯域圧縮、非線形補正のために対数増幅等の非線
形増幅をおこなった後の信号を含むものであることは言
うまでもない。
本発明において、矩形状非鮮鋭マスクで単純加算平均す
る場合、換言すると、非鮮鋭マスクを矩形状とし、その
マスクに含まれる画素のオリジナル信号(Sorg)の
重みを一定とした場合には、fゎが0.O1〜0.5サ
イクル/#(好ましくは、0.02〜0.15サイクル
/rIIrR)という規定は、理論的に矩形状非鮮鋭マ
スクの一辺の長さを6h+m−1.2mIII(好まし
くは、30#IIII〜4Inm)とするということと
同義になる。なお、非鮮鋭マスクの形状が長方形の場合
にも、各辺の長さが上記範囲内にあればよく、たとえば
直線断層撮影の画像処理には縦横比の大きい長方形マス
クが有効である。
る場合、換言すると、非鮮鋭マスクを矩形状とし、その
マスクに含まれる画素のオリジナル信号(Sorg)の
重みを一定とした場合には、fゎが0.O1〜0.5サ
イクル/#(好ましくは、0.02〜0.15サイクル
/rIIrR)という規定は、理論的に矩形状非鮮鋭マ
スクの一辺の長さを6h+m−1.2mIII(好まし
くは、30#IIII〜4Inm)とするということと
同義になる。なお、非鮮鋭マスクの形状が長方形の場合
にも、各辺の長さが上記範囲内にあればよく、たとえば
直線断層撮影の画像処理には縦横比の大きい長方形マス
クが有効である。
本発明において、強調係数βとしては、定数の場合とオ
リジナル画像信号(S org)又は非鮮鋭マスク信号
(S us)の関数である場合とが含まれるが、とくに
後者の場合、すなわち強調係数βをオリジナル画像信号
(Sorg)又は非鮮鋭マスク信号(S us)に応じ
て変化させると一層診断性能を高めることができ好まし
い。
リジナル画像信号(S org)又は非鮮鋭マスク信号
(S us)の関数である場合とが含まれるが、とくに
後者の場合、すなわち強調係数βをオリジナル画像信号
(Sorg)又は非鮮鋭マスク信号(S us)に応じ
て変化させると一層診断性能を高めることができ好まし
い。
また、強調係数β及び非鮮鋭マスク信号(S us)を
いかに選ぶかによって、本発明により強調された信号に
基いて作成された可視像を与える系の変調伝達関数の最
大値(B)と零周波数付近での変調伝達関数の値(A)
の比(B/A)は変化するが、B/A<1.5では従来
のX線写真と比べ診断性能にほとんど差異が認められな
い。また強調係数βを定数として本発明の処理をおこな
う場合には、B/Aが6を越えると、強調されすぎて不
自然な画像部分が現われたり、画像が白く、或いは黒く
抜けたようになる部分が現われたりし、診断に差支える
ことが多く好ましくない。他方、強調係数βをオリジナ
ル画像信号S org又は非鮮鋭マスク信号Susに応
じて変化させる場合には、B/Aの好ましい範囲(この
場合には、B/AもSorg又はSusに応じて変化す
るが、B/Aとしてはその最大値とする。)は拡大し、
B/Aが6を越えても、これが10以下である場合には
前述の如き偽画像が目立つことはなかった。更には、B
/Aの値は、βを固定する場合には2〜5,5、βを可
変とする場合には2〜8の範囲に設定すると診断性能の
向上が著しかった。
いかに選ぶかによって、本発明により強調された信号に
基いて作成された可視像を与える系の変調伝達関数の最
大値(B)と零周波数付近での変調伝達関数の値(A)
の比(B/A)は変化するが、B/A<1.5では従来
のX線写真と比べ診断性能にほとんど差異が認められな
い。また強調係数βを定数として本発明の処理をおこな
う場合には、B/Aが6を越えると、強調されすぎて不
自然な画像部分が現われたり、画像が白く、或いは黒く
抜けたようになる部分が現われたりし、診断に差支える
ことが多く好ましくない。他方、強調係数βをオリジナ
ル画像信号S org又は非鮮鋭マスク信号Susに応
じて変化させる場合には、B/Aの好ましい範囲(この
場合には、B/AもSorg又はSusに応じて変化す
るが、B/Aとしてはその最大値とする。)は拡大し、
B/Aが6を越えても、これが10以下である場合には
前述の如き偽画像が目立つことはなかった。更には、B
/Aの値は、βを固定する場合には2〜5,5、βを可
変とする場合には2〜8の範囲に設定すると診断性能の
向上が著しかった。
また強調係数βは、B/Aが上述の範囲内になるように
設定されるが、B/Aはβの他罪鮮鋭マスクの形、すな
わちSusによっても若干変化をするが、B/A−1,
5〜10は、単純加算平均のマスクを用いた場合には、
βを0.4〜8に設定することと同義である。
設定されるが、B/Aはβの他罪鮮鋭マスクの形、すな
わちSusによっても若干変化をするが、B/A−1,
5〜10は、単純加算平均のマスクを用いた場合には、
βを0.4〜8に設定することと同義である。
本発明において、以上の操作に加えて更に平滑化処理を
施すこともできる。一般に高周波数領域では雑音が多く
見ずらいことが多いため、更に平滑化処理を施すと診断
性能をより向上させ好ましいことが多い。平滑化処理と
しては、変調伝達関数が0.5サイクル/議の空間周波
数のとき0.5以上で、かつ5サイクル/#の空間周波
数のとき0゜5以下であるような処理が好ましい。どの
ような平滑化処理が好ましいかは、たとえば胸部断層画
像のように比較的低い周波数の陰影を読影する場合には
、できるだけ多くの雑音を除去することが好ましいが、
逆に血管造影画像のように高い周波数成分を含む細かい
血管陰影を追いかける必要のある場合には、あまり強い
平滑化処理は見たい陰影まで見に<<シてしまい、好ま
しくないなど、X線画像の部位、症状、検査目的等によ
って異なるが、本発明者の研究によれば、前述の如き平
滑化処理をおこなうことにより、はとんどすべてのX線
画像について診断性能向上の効果のあることが判明した
。また、この平滑化処理は、本発明の超低空間周波数処
理を行なった後のS′に対して実施をしても、またオリ
ジナル画像信号S orgに対して施しても、同様に効
果的であることが認められている。
施すこともできる。一般に高周波数領域では雑音が多く
見ずらいことが多いため、更に平滑化処理を施すと診断
性能をより向上させ好ましいことが多い。平滑化処理と
しては、変調伝達関数が0.5サイクル/議の空間周波
数のとき0.5以上で、かつ5サイクル/#の空間周波
数のとき0゜5以下であるような処理が好ましい。どの
ような平滑化処理が好ましいかは、たとえば胸部断層画
像のように比較的低い周波数の陰影を読影する場合には
、できるだけ多くの雑音を除去することが好ましいが、
逆に血管造影画像のように高い周波数成分を含む細かい
血管陰影を追いかける必要のある場合には、あまり強い
平滑化処理は見たい陰影まで見に<<シてしまい、好ま
しくないなど、X線画像の部位、症状、検査目的等によ
って異なるが、本発明者の研究によれば、前述の如き平
滑化処理をおこなうことにより、はとんどすべてのX線
画像について診断性能向上の効果のあることが判明した
。また、この平滑化処理は、本発明の超低空間周波数処
理を行なった後のS′に対して実施をしても、またオリ
ジナル画像信号S orgに対して施しても、同様に効
果的であることが認められている。
また本発明において、非鮮鋭マスクによる周波数強調処
理に加えて、階調処理をおこなってもよい。超低周波数
処理は、大きな領域にわたってゆるやかに発光輝度が変
化する疾患、たとえば肺ガン、乳ガン等に対しては効果
が比較的小さいので、これらに対しては特開昭55−8
8740号、特公昭62−53179号、同63−28
585号等に開示された階調処理を併用することが望ま
しい。この場合、階調処理は、超低周波数処理の前後、
いずれにおいておこなってもよい。
理に加えて、階調処理をおこなってもよい。超低周波数
処理は、大きな領域にわたってゆるやかに発光輝度が変
化する疾患、たとえば肺ガン、乳ガン等に対しては効果
が比較的小さいので、これらに対しては特開昭55−8
8740号、特公昭62−53179号、同63−28
585号等に開示された階調処理を併用することが望ま
しい。この場合、階調処理は、超低周波数処理の前後、
いずれにおいておこなってもよい。
本発明において螢光体とは、最初の光もしくは高エネル
ギー放射線が照射された後に、先約、熱的、機械的、化
学的または電気的等の刺激(励起)により、最初の光も
しくは高エネルギー放射線の照射量に対応した光を再発
光せしめる、いわゆる輝尽性を示す螢光体をいい、とく
に300〜500nIIlの輝尽性発光波長を有するも
のが好ましく、例えば希土類元素付活アルカリ土類金属
フルオロハライド螢光体[具体的には特公昭60−42
837号明細書に記載されている(Ba l−1−F
1Mg −、Ca y )FX:aE′u2+(但しX
はC9JおよびB「のうちの少なくとも1つであり、X
およびyは0くx+y≦0.6かつxy≠0であり、a
はlO°6≦a≦5×l0−2である)特公昭59−4
4333号明細書に記載されている(Bat−x、 M
n、 ) F X : y A (但しMnはMg、C
a、Cr、ZnおよびCdのうちの少なくとも1つ、X
はC9J、Brおよび■のうちの少なくとも1つ、Aは
Eu、Tb、Ce、Tra、Dy、Pr、Ho、Nd、
YbおよびE「のうちの少なくとも1つ、Xは0≦X≦
o、e 、yは0≦y≦0.2である)等] ;特公昭
60−9542号明細書に記載されているZn S:C
u、PbSBaO・x AQ、203 : Eu (
但し0.8≦X≦10)お■ よびM O・x Sl 02 :A (但しMnはM
g。
ギー放射線が照射された後に、先約、熱的、機械的、化
学的または電気的等の刺激(励起)により、最初の光も
しくは高エネルギー放射線の照射量に対応した光を再発
光せしめる、いわゆる輝尽性を示す螢光体をいい、とく
に300〜500nIIlの輝尽性発光波長を有するも
のが好ましく、例えば希土類元素付活アルカリ土類金属
フルオロハライド螢光体[具体的には特公昭60−42
837号明細書に記載されている(Ba l−1−F
1Mg −、Ca y )FX:aE′u2+(但しX
はC9JおよびB「のうちの少なくとも1つであり、X
およびyは0くx+y≦0.6かつxy≠0であり、a
はlO°6≦a≦5×l0−2である)特公昭59−4
4333号明細書に記載されている(Bat−x、 M
n、 ) F X : y A (但しMnはMg、C
a、Cr、ZnおよびCdのうちの少なくとも1つ、X
はC9J、Brおよび■のうちの少なくとも1つ、Aは
Eu、Tb、Ce、Tra、Dy、Pr、Ho、Nd、
YbおよびE「のうちの少なくとも1つ、Xは0≦X≦
o、e 、yは0≦y≦0.2である)等] ;特公昭
60−9542号明細書に記載されているZn S:C
u、PbSBaO・x AQ、203 : Eu (
但し0.8≦X≦10)お■ よびM O・x Sl 02 :A (但しMnはM
g。
Ca、Sr、Zn、CdまたはBaであり、AはCe、
Tb、Eu、Tm、Pb、Tfl、BiまたはMrlで
あり、Xは0.5≦X≦2.5である);および特公昭
59−44339号明細書に記載されたLnOX:x
A (但しLnはLa、Y、GdおよびLuのうちの少
なくとも1つ、XはC9JおよびBrのうちの少なくと
も1つ、AはCeおよびTbのうちの少なくとも1つ、
Xは0<x<0.1である);などが挙げられる。これ
らのうちでも好ましいのは希土類元素付活アルカリ土類
金属フルオロハライド螢光体であるが、その中でも具体
例として示したバリウムフルオロハライド類が特に輝尽
性の発光が優れているので好ましい。
Tb、Eu、Tm、Pb、Tfl、BiまたはMrlで
あり、Xは0.5≦X≦2.5である);および特公昭
59−44339号明細書に記載されたLnOX:x
A (但しLnはLa、Y、GdおよびLuのうちの少
なくとも1つ、XはC9JおよびBrのうちの少なくと
も1つ、AはCeおよびTbのうちの少なくとも1つ、
Xは0<x<0.1である);などが挙げられる。これ
らのうちでも好ましいのは希土類元素付活アルカリ土類
金属フルオロハライド螢光体であるが、その中でも具体
例として示したバリウムフルオロハライド類が特に輝尽
性の発光が優れているので好ましい。
また、この蓄積性螢光体を用いて作成された蓄積性螢光
体板の螢光体層を顔料又は染料を用いて着色すると、最
終的に得られる画像の鮮鋭度が向上し好ましい結果が得
られる(特公昭59−23400号入本発明において、
蓄積性螢光体板に蓄積された放射線画像を読み出すため
の励起光としては、指向性の良いレーザ光が用いられる
。レーザ光の励起光源としては、発光光との分離を容易
にしてS/N比を上げるため、500〜800nm s
好ましくは600〜700nmの光を放出するもの、た
とえばHe−Neレーザ(B33n11) 、Krレー
ザ(647nI11)が好ましいが、500〜800n
m以外の光をカットするフィルターを併用すれば、上記
以外の励起光源を用いることもできる。
体板の螢光体層を顔料又は染料を用いて着色すると、最
終的に得られる画像の鮮鋭度が向上し好ましい結果が得
られる(特公昭59−23400号入本発明において、
蓄積性螢光体板に蓄積された放射線画像を読み出すため
の励起光としては、指向性の良いレーザ光が用いられる
。レーザ光の励起光源としては、発光光との分離を容易
にしてS/N比を上げるため、500〜800nm s
好ましくは600〜700nmの光を放出するもの、た
とえばHe−Neレーザ(B33n11) 、Krレー
ザ(647nI11)が好ましいが、500〜800n
m以外の光をカットするフィルターを併用すれば、上記
以外の励起光源を用いることもできる。
本発明により画像処理を受けた放射線画像はCRTに入
力されてCRT上に可視像として再生され、CRT診断
が可能となる。また上記放射線画像は、CRT等に表示
して観察した後、銀塩写真フィルム、ジアゾフィルム、
電子写真材料等の記録材料上に光学的に記録してもよい
。
力されてCRT上に可視像として再生され、CRT診断
が可能となる。また上記放射線画像は、CRT等に表示
して観察した後、銀塩写真フィルム、ジアゾフィルム、
電子写真材料等の記録材料上に光学的に記録してもよい
。
以下、本発明をその実施態様であるX線画像情報記録再
生システムに基づいて詳細に説明する。
生システムに基づいて詳細に説明する。
第1図は再生画像の作画過程を示すものである。
X線を放出して人体に照射すると人体を透過したX線は
、螢光体板に入射する。この螢光体板は、螢光体のトラ
ップレベルに、X線画像のエネルギーを蓄積する。
、螢光体板に入射する。この螢光体板は、螢光体のトラ
ップレベルに、X線画像のエネルギーを蓄積する。
X線画像の撮影後、500〜800nmの波長の励起光
で螢光体板を走査して、蓄積されたエネルギーをトラッ
プから励起し、300〜500nmの波長域の光を発光
させる。この発光光は、この波長域の光だけを受けるよ
うにした光検出器例えば、光電子増倍管、フォトダイオ
ードで測定される。
で螢光体板を走査して、蓄積されたエネルギーをトラッ
プから励起し、300〜500nmの波長域の光を発光
させる。この発光光は、この波長域の光だけを受けるよ
うにした光検出器例えば、光電子増倍管、フォトダイオ
ードで測定される。
X線画像の読取後に、光検出器の出力信号は非線形増幅
されてからA/D変換器でデジタル信号に変換され、磁
気テープに記憶される。
されてからA/D変換器でデジタル信号に変換され、磁
気テープに記憶される。
この磁気テープに記憶された各部のデジタル信号は、演
算装置例えばミニコンピユータに読み出され、SO8を
求めた後、前述した S’−8org+β(Sorg −5us)の演算が行
なわれる。
算装置例えばミニコンピユータに読み出され、SO8を
求めた後、前述した S’−8org+β(Sorg −5us)の演算が行
なわれる。
前記Susとしては、変調伝達関数が0.01サイクル
/ mmの空間周波数のときに0.5以上で、かつ0゜
5サイクル/mの空間周波数のときに0.5以下である
ようなものを指定しなければならない。また前記式を演
算するに当っては、強調係数βを指定しなければならな
い。これらの値は、外部から個別に指定するか、あるい
は人体の部分、症例別によって数種類決めておき、これ
を演算装置のメモリに入れておく。
/ mmの空間周波数のときに0.5以上で、かつ0゜
5サイクル/mの空間周波数のときに0.5以下である
ようなものを指定しなければならない。また前記式を演
算するに当っては、強調係数βを指定しなければならな
い。これらの値は、外部から個別に指定するか、あるい
は人体の部分、症例別によって数種類決めておき、これ
を演算装置のメモリに入れておく。
前記S′に対して超低空間周波数以上の周波数成分低減
用の平滑化処理を行なう。この平滑化処理によって診断
に必要な情報をそこなうことなく、雑音を低減すること
ができる。
用の平滑化処理を行なう。この平滑化処理によって診断
に必要な情報をそこなうことなく、雑音を低減すること
ができる。
本発明は、前述のように矩形状非鮮鋭マスクを用いて非
鮮鋭マスク信号Susをそのマスク内の信号の単純加算
平均によって求めることを特徴とするものであるが、こ
の方法によればきわめて簡単な方法によって非鮮鋭マス
ク信号Susを求めることができる。これは、信号処理
をデジタル、アナログいずれの形式で行なった場合にも
共通する利点であって、実用上はこの方法によってきわ
めて短時間に非鮮鋭マスク信号Susを求めることが可
能となり、前述の演算方法による非鮮鋭マスク処理が実
用的な意味で初めて実施可能となるものである。
鮮鋭マスク信号Susをそのマスク内の信号の単純加算
平均によって求めることを特徴とするものであるが、こ
の方法によればきわめて簡単な方法によって非鮮鋭マス
ク信号Susを求めることができる。これは、信号処理
をデジタル、アナログいずれの形式で行なった場合にも
共通する利点であって、実用上はこの方法によってきわ
めて短時間に非鮮鋭マスク信号Susを求めることが可
能となり、前述の演算方法による非鮮鋭マスク処理が実
用的な意味で初めて実施可能となるものである。
すなわち、例えば各走査点の信号S org(i 、j
)に重み係数aljを乗じて計算する場合には、非鮮鋭
マスク信号5us(lハは 5us(IバーΣaij @ S org(ij)I嘲
j (1,jは各走査点の座標を示す画素の番号、l、Jは
非鮮鋭マスク信号の座標を示す番号、Σaij−1)な
る計算によって求められるもので j あるから、計算の回数は乗算をおよそN2回、加算を同
じ<N2回行なう必要があり、N(非鮮鋭マスクの一辺
の長さを画素数で表わした数)、すなわち非鮮鋭マスク
中の画素数が多くなると非鮮鋭マスク信号Susを求め
るのに相当の時間がかかる。例えば非鮮鋭マスクの大き
さが6 mm X 6 mmで、画素(0,1mmX0
.l mm>を3600個含むものである場合には、各
走査点でのマスクを計算するのに3600回の乗算と3
600回の加算を繰返さなくてはならず、例えばg b
ttマイコンを用いてソフトだけで演算する場合例えば
、乗算は3□、。、加算は5#。
)に重み係数aljを乗じて計算する場合には、非鮮鋭
マスク信号5us(lハは 5us(IバーΣaij @ S org(ij)I嘲
j (1,jは各走査点の座標を示す画素の番号、l、Jは
非鮮鋭マスク信号の座標を示す番号、Σaij−1)な
る計算によって求められるもので j あるから、計算の回数は乗算をおよそN2回、加算を同
じ<N2回行なう必要があり、N(非鮮鋭マスクの一辺
の長さを画素数で表わした数)、すなわち非鮮鋭マスク
中の画素数が多くなると非鮮鋭マスク信号Susを求め
るのに相当の時間がかかる。例えば非鮮鋭マスクの大き
さが6 mm X 6 mmで、画素(0,1mmX0
.l mm>を3600個含むものである場合には、各
走査点でのマスクを計算するのに3600回の乗算と3
600回の加算を繰返さなくてはならず、例えばg b
ttマイコンを用いてソフトだけで演算する場合例えば
、乗算は3□、。、加算は5#。
、Cかかると考えると、1点の非鮮鋭マスク信号を得る
のに3□llc X a800+ 511ute X
3800: 11am、もかかることになって全く実用
性がない。
のに3□llc X a800+ 511ute X
3800: 11am、もかかることになって全く実用
性がない。
これに対し、本発明によれば、単純加算平均でよいため
乗算が必要でなくなり、計算時間が大巾に短縮できる。
乗算が必要でなくなり、計算時間が大巾に短縮できる。
例えば上記の例では1点あたり、1811a*cとなる
。さらに後述のような種々の計算の簡略化が可能となり
、その計算のアルゴリズムによっては僅か4回に計算回
数を激減することができ、数10Mascの間に非鮮鋭
マスク信号Susを求めることも可能になり、本発明の
実用的効果は著しい。すなわち、5us(IJ)は 5us(IJ)= (ΣS lj)で求められ
るため N2回の加算と1回の乗算だけでSusを求め
ることができる。
。さらに後述のような種々の計算の簡略化が可能となり
、その計算のアルゴリズムによっては僅か4回に計算回
数を激減することができ、数10Mascの間に非鮮鋭
マスク信号Susを求めることも可能になり、本発明の
実用的効果は著しい。すなわち、5us(IJ)は 5us(IJ)= (ΣS lj)で求められ
るため N2回の加算と1回の乗算だけでSusを求め
ることができる。
非鮮鋭マスクの大きさを主走査方向にN11副走査方向
にN2としてさらに詳述すれば、非鮮鋭マスク信号5u
s(IJ)は 5us(IJ)= (ΣS 1j) N1 xl’J2 で表わされ、単純に計算してもNI XNz回の加算と
1回の除算で求めることができる。
にN2としてさらに詳述すれば、非鮮鋭マスク信号5u
s(IJ)は 5us(IJ)= (ΣS 1j) N1 xl’J2 で表わされ、単純に計算してもNI XNz回の加算と
1回の除算で求めることができる。
さらに計算の手順を次に説明する各種アルゴリズムのよ
うに工夫すれば、1つの非鮮鋭マスク信号を求めるため
の平均的計算回数を僅か4回にまでも減少させることが
可能となる。
うに工夫すれば、1つの非鮮鋭マスク信号を求めるため
の平均的計算回数を僅か4回にまでも減少させることが
可能となる。
以下、上記非鮮鋭マスク信号Susを求めるための計算
を特に簡単にしたアルゴリズム(デジタル方式)の例に
ついて説明する。
を特に簡単にしたアルゴリズム(デジタル方式)の例に
ついて説明する。
第2図に示すように主走査方向に平行な2辺と副走査方
向に平行な2辺によって囲まれた矩形状の非鮮鋭マスク
M(太い実線で示す)を考える。
向に平行な2辺によって囲まれた矩形状の非鮮鋭マスク
M(太い実線で示す)を考える。
このマスクMは簡単のため正方形とし、その−辺の長さ
を画素数にしてNとする。(Nは正の奇数とする)第2
図においてS’ IJが画像処理をして求めようとする
走査点(画素)の信号値(前述の演算式S’−3org
+β(Sorg−Sus)で求められる最終的信号値)
、SIJがマスクの走査方向の先端にある注目している
時刻に入力された画素PIJの信号値、T1.がマスク
M内のN2個の画素の信号値の総和すなわち である。
を画素数にしてNとする。(Nは正の奇数とする)第2
図においてS’ IJが画像処理をして求めようとする
走査点(画素)の信号値(前述の演算式S’−3org
+β(Sorg−Sus)で求められる最終的信号値)
、SIJがマスクの走査方向の先端にある注目している
時刻に入力された画素PIJの信号値、T1.がマスク
M内のN2個の画素の信号値の総和すなわち である。
ここで、注目してる画素PIJの信号値SLIを、まず
画素の信号Sの該当アドレスに格納する。この各アドレ
スには画素の信号値を表現できるビット数(例えば8ビ
ツト)が必要である。
画素の信号Sの該当アドレスに格納する。この各アドレ
スには画素の信号値を表現できるビット数(例えば8ビ
ツト)が必要である。
次に、主走査方向の画素N個分の信号の和CIJこれは
注目している画素P1Jの列にPIJの前までに並ぶN
個の画素の信号値の和CI−1,Jと、注目している画
素PIJのN個前の画素の信号値5t−N、と、注目し
ている画素P 1. Jの信号値S 1. Jによって
演算式C1,J =Cl−1,J +S1.J ””5
l−N。
注目している画素P1Jの列にPIJの前までに並ぶN
個の画素の信号値の和CI−1,Jと、注目している画
素PIJのN個前の画素の信号値5t−N、と、注目し
ている画素P 1. Jの信号値S 1. Jによって
演算式C1,J =Cl−1,J +S1.J ””5
l−N。
、から求めることかができる。そして、この和C1Jを
画素の主走査方向の列の信号の和Cの該当アドレスに格
納する。この各アドレスには、この演算を行なってオー
バーフローしないだけのビット数が必要であり、このビ
ット数はNに依存する。
画素の主走査方向の列の信号の和Cの該当アドレスに格
納する。この各アドレスには、この演算を行なってオー
バーフローしないだけのビット数が必要であり、このビ
ット数はNに依存する。
次に、マスクMl、J内のN2個の画素の信号値の総和
T、、、を求める。これは注目している画素P 1.
Jを先端に含むマスクM、、、より1列副走査方向へ戻
った位置のマスクMl、J−1内の画素の信号値の総和
T I、 J−1と、そのマスクM1.J−1の最終列
(すなわちMl、、に含まれなくなる列)の信号の和C
1,J−Nと、注目している画素P1..を先端に含む
列の信号の和C1,Jによって、演算式T1.J −T
1.J−1+C1,J C1,J−Nから求めること
ができる。そして、この値T1.Jを非鮮鋭マスク内の
画素の信号の総和Tの該当アドレスに格納する。このT
1.Jは非鮮鋭マスク信号SusのN2倍に相当するも
のであるから、このTIJを得た後、演算式 によって前述の非鮮鋭マスク処理を行なうことができる
。
T、、、を求める。これは注目している画素P 1.
Jを先端に含むマスクM、、、より1列副走査方向へ戻
った位置のマスクMl、J−1内の画素の信号値の総和
T I、 J−1と、そのマスクM1.J−1の最終列
(すなわちMl、、に含まれなくなる列)の信号の和C
1,J−Nと、注目している画素P1..を先端に含む
列の信号の和C1,Jによって、演算式T1.J −T
1.J−1+C1,J C1,J−Nから求めること
ができる。そして、この値T1.Jを非鮮鋭マスク内の
画素の信号の総和Tの該当アドレスに格納する。このT
1.Jは非鮮鋭マスク信号SusのN2倍に相当するも
のであるから、このTIJを得た後、演算式 によって前述の非鮮鋭マスク処理を行なうことができる
。
上記演算に必要なメモリー容量を次に説明する。
第3図(a)はSIJ用のメモリーで、主走査方向には
主走査方向に必要な全ての画素数のメモリーが、副走査
方向にはN」」・個のメモリーが必要である。
主走査方向に必要な全ての画素数のメモリーが、副走査
方向にはN」」・個のメモリーが必要である。
1つのメモリーは例えば8ビツトの容量があればよい。
第3図(b)はCIJ用のメモリーで、主走査方向には
SIJ用のメモリーと同じ数のメモリーが、副走査方向
にはN+1個のメモリーがあればよい。
SIJ用のメモリーと同じ数のメモリーが、副走査方向
にはN+1個のメモリーがあればよい。
このメモリーは上のメモリーの2−3倍のビット数が必
要である。第3図(C)はTIJ用のメモリーで、主走
査方向には上の2つのメモリーと同じ数だけげ“メモリ
ーが必要であるが、副走査方向には2個のメモリーがあ
ればよい。
要である。第3図(C)はTIJ用のメモリーで、主走
査方向には上の2つのメモリーと同じ数だけげ“メモリ
ーが必要であるが、副走査方向には2個のメモリーがあ
ればよい。
第4図は上記演算を行なう回路ブロックの例を示すもの
で、画素入力信号SINを入力するゲート11から上記
容量を有するメモリー12へ信号を送り、メモリー12
に格納した記憶値に基づいて演算回路13が演算を行な
う。これらのゲート11. メモリー12、演算回路
13の操作は、制御回路14が行なう。
で、画素入力信号SINを入力するゲート11から上記
容量を有するメモリー12へ信号を送り、メモリー12
に格納した記憶値に基づいて演算回路13が演算を行な
う。これらのゲート11. メモリー12、演算回路
13の操作は、制御回路14が行なう。
演算回路13による演算結果は、メモリー12を介して
ゲート11から画素出力信号80υTとして出力される
。
ゲート11から画素出力信号80υTとして出力される
。
上記の計算方法によれば、非鮮鋭マスク信号Susを得
るための演算はきわめて簡略化され、そのための装置も
きわめて簡素化される。これは、本発明の方法によって
非鮮鋭マスク信号を矩形状マスク内の画素の信号値を単
純加算平均することによって得ることに基づいている。
るための演算はきわめて簡略化され、そのための装置も
きわめて簡素化される。これは、本発明の方法によって
非鮮鋭マスク信号を矩形状マスク内の画素の信号値を単
純加算平均することによって得ることに基づいている。
すなわち、本発明の単純加算平均する方法によれば、例
えば上記のようなきわめて簡素化されたアルゴリズムが
可能になり、演算をきわめて容易に行なうことができ、
本発明の対象とする放射線画像処理をきわめて簡単に実
現することができる。
えば上記のようなきわめて簡素化されたアルゴリズムが
可能になり、演算をきわめて容易に行なうことができ、
本発明の対象とする放射線画像処理をきわめて簡単に実
現することができる。
なお、上記アルゴリズムを実施する演算回路において、
第5図に示すように3種のメモリー18.19.20を
アドレスが連続した一連のメモリーとすることができる
が、また3種のメモリー15.16.17を第6図のよ
うにアドレスバスとデータバスを分割して3つのメモリ
ーを同時にアクセス可能にすれば、演算時間をさらに短
縮することができる。
第5図に示すように3種のメモリー18.19.20を
アドレスが連続した一連のメモリーとすることができる
が、また3種のメモリー15.16.17を第6図のよ
うにアドレスバスとデータバスを分割して3つのメモリ
ーを同時にアクセス可能にすれば、演算時間をさらに短
縮することができる。
前記制御回路、演算回路はそれぞれ専用のハードウェア
として例えばP L A (Progra+nable
LogIc array) 、ランダム ロジック(
randoIIlogle)等を用いてもよい。また、
これらの回路にはマイクロコンピュータ、ミニコンピユ
ータ等を使用してもよいし、制御回路に高速のマイクロ
コンピュータ(例えばビットスライスタイプ)を用い、
演算回路に専用回路を用いるようにしてもよい。
として例えばP L A (Progra+nable
LogIc array) 、ランダム ロジック(
randoIIlogle)等を用いてもよい。また、
これらの回路にはマイクロコンピュータ、ミニコンピユ
ータ等を使用してもよいし、制御回路に高速のマイクロ
コンピュータ(例えばビットスライスタイプ)を用い、
演算回路に専用回路を用いるようにしてもよい。
これは要求される演算速度によって適当なものを選んで
決められる。
決められる。
上記アルゴリズムよりさらに一層メモリーの容量を小さ
くすることの可能なアルゴリズムの例を、次に第7図、
第8図および第9図によって説明する。
くすることの可能なアルゴリズムの例を、次に第7図、
第8図および第9図によって説明する。
このアルゴリズムでは、注目している画素すなわち非鮮
鋭マスクM+、先端の画素Piの信号値S1、をS用の
メモリーの該当アドレスに格納した後、副走査方向のS
IJのN個の画素の信号の和EIJ、すなわち EIJ−Σ S。
鋭マスクM+、先端の画素Piの信号値S1、をS用の
メモリーの該当アドレスに格納した後、副走査方向のS
IJのN個の画素の信号の和EIJ、すなわち EIJ−Σ S。
1−J−N+1
を演算し、その値をE用のメモリーの該当アドレスに格
納する。これは演算式 %式% によって行なわれる。
納する。これは演算式 %式% によって行なわれる。
これらの格納された値を使用して、非鮮鋭マスク信号S
usのN2倍に相当するTIJが求められる。
usのN2倍に相当するTIJが求められる。
このTIJは演算式
TIJ−”T、−、、J+E、、、−E、−N、Jによ
って求められる。
って求められる。
しかしながらこの方法では主走査が右端から左端へ戻る
時には演算できないため、この時に主走査方向のはじめ
のN個の信号SIJの和R,すなわち R4−Σ S1j を演算しておきこれをR用のメモリーの該当アドレスに
格納する。このR1は例えば第9図に示すようにN−5
のときはR五はSl、1〜S5.1の和であり、R5は
Sl、、〜S91.の和である。S。
時には演算できないため、この時に主走査方向のはじめ
のN個の信号SIJの和R,すなわち R4−Σ S1j を演算しておきこれをR用のメモリーの該当アドレスに
格納する。このR1は例えば第9図に示すようにN−5
のときはR五はSl、1〜S5.1の和であり、R5は
Sl、、〜S91.の和である。S。
5から、S6.、に出力が変わってもR5は変化しない
ものである。
ものである。
したがって主走査が右端から左端へ戻る時には上記R,
を用いて演算式 %式% によってT1.が求められる。
を用いて演算式 %式% によってT1.が求められる。
このように求めたTIJを用いて、演算式によって前述
の非鮮鋭マスク処理を行なうことができる。
の非鮮鋭マスク処理を行なうことができる。
このアルゴリズムでは、各画素の信号値Sljのための
メモリーは第8図(a)のように主走査方向には主走査
方向に必要な全ての画素数のメモリーが、そして副走査
方向にはN+1個のメモリーが必要であるが、R,E、
T用のメモリーとしては第8図(b)、(c)、、
(d)に示すようにRとEは主走査方向にN+1個、副
走査方向には1個、Tは主走査方向に2個、副走査方向
には1個のメモリーを有するだけの小さな容量のメモリ
ーを使用することができる。S用のメモリーの各アドレ
スには例えは8ビツトのものが使用できるが、R,E。
メモリーは第8図(a)のように主走査方向には主走査
方向に必要な全ての画素数のメモリーが、そして副走査
方向にはN+1個のメモリーが必要であるが、R,E、
T用のメモリーとしては第8図(b)、(c)、、
(d)に示すようにRとEは主走査方向にN+1個、副
走査方向には1個、Tは主走査方向に2個、副走査方向
には1個のメモリーを有するだけの小さな容量のメモリ
ーを使用することができる。S用のメモリーの各アドレ
スには例えは8ビツトのものが使用できるが、R,E。
T用のメモリーとしては例えば16ビツト(Nの大きさ
に依存する)ものが必要となる。このアルゴリズムでは
、ビット数の小さくてよいS用のメモリーを大きくして
、その代りにビット数の大きい他のメモリーを小さくし
たから、全体としてメモリーの容量を大幅に小さくする
ことができる。したがって、第8図のメモリーの容量は
、第3図のものに比べてはるかに小さくすることができ
、装置の簡素化には大きな効果がある。
に依存する)ものが必要となる。このアルゴリズムでは
、ビット数の小さくてよいS用のメモリーを大きくして
、その代りにビット数の大きい他のメモリーを小さくし
たから、全体としてメモリーの容量を大幅に小さくする
ことができる。したがって、第8図のメモリーの容量は
、第3図のものに比べてはるかに小さくすることができ
、装置の簡素化には大きな効果がある。
なお、上記2つの方法における正の奇数Nは、診断に必
要な画像精度を得るためには10画素/ mm程度が好
ましく、その場合には601〜11、好ましくは301
〜39の範囲の大きさがよい。
要な画像精度を得るためには10画素/ mm程度が好
ましく、その場合には601〜11、好ましくは301
〜39の範囲の大きさがよい。
上記2つのアルゴリズムは、いずれも信号をデジタル処
理する方式を利用しているものであるが、各走査点での
信号を主走査方向にアナログ的に積分し、その積分値を
メモリーに記憶して、これを数値積分しても同様に非鮮
鋭マスク内の全ての走査点の信号を加算することでSu
sを得ることができる。この場合にはデジタル回路では
なく、画素毎にアナログ値を積分して加算するため、N
個のアナログ積分回路が必要になるが、以下の方法を用
いれば積分器を1個まで減少することができ、有利であ
る。
理する方式を利用しているものであるが、各走査点での
信号を主走査方向にアナログ的に積分し、その積分値を
メモリーに記憶して、これを数値積分しても同様に非鮮
鋭マスク内の全ての走査点の信号を加算することでSu
sを得ることができる。この場合にはデジタル回路では
なく、画素毎にアナログ値を積分して加算するため、N
個のアナログ積分回路が必要になるが、以下の方法を用
いれば積分器を1個まで減少することができ、有利であ
る。
すなわち、各走査点のアナログ出力Sorgを2分し、
一方を遅延回路(遅延時間(T)は1画素の走査時間(
τ)×非鮮鋭マスクの主走査方向の画素数(N)すなわ
ちT−τXN)を通して両者を差信号演算回路に入力し
てその差信号演算回路の出力(Sorg −TSorg
)を積分してなる値を得る方法も採用できる。この値
は第2図、第3図のC1,Jに相当するもので、これを
副走査方向にデジタル計算で加算すれば、Tol、が得
られ、これから非鮮鋭マスク信号Susを求めることが
できる。これも高速で簡単に計算ができる方法であり、
アナログ方式の方法としては適している。
一方を遅延回路(遅延時間(T)は1画素の走査時間(
τ)×非鮮鋭マスクの主走査方向の画素数(N)すなわ
ちT−τXN)を通して両者を差信号演算回路に入力し
てその差信号演算回路の出力(Sorg −TSorg
)を積分してなる値を得る方法も採用できる。この値
は第2図、第3図のC1,Jに相当するもので、これを
副走査方向にデジタル計算で加算すれば、Tol、が得
られ、これから非鮮鋭マスク信号Susを求めることが
できる。これも高速で簡単に計算ができる方法であり、
アナログ方式の方法としては適している。
なお、非鮮鋭マスク信号5us(Iハは、1つの走査点
(i、j)を中心として、 N1−1 N1−1 のマスクの範囲内の走査点での信号S1jについてのみ
計算されるものであるから、画像の端部の走査点を中心
とした非鮮鋭マスク信号は、その端部外の信号がないた
め求めることができない。
(i、j)を中心として、 N1−1 N1−1 のマスクの範囲内の走査点での信号S1jについてのみ
計算されるものであるから、画像の端部の走査点を中心
とした非鮮鋭マスク信号は、その端部外の信号がないた
め求めることができない。
この端部の処理の方法としては、最外周のSIJの値が
外方へ無限に拡がっていると仮定して、メモリーに最外
周の値を記憶し、この値を端部外の信号として利用する
のが効果上自然であり、有利である。あるいは、最外周
の外は黒または白として処理してもよいし、黒と白の間
の一定の中間値としてもよい。
外方へ無限に拡がっていると仮定して、メモリーに最外
周の値を記憶し、この値を端部外の信号として利用する
のが効果上自然であり、有利である。あるいは、最外周
の外は黒または白として処理してもよいし、黒と白の間
の一定の中間値としてもよい。
上記の方法では非鮮鋭マスクを1つだけ使って非鮮鋭マ
スク処理を行なっているが、大きさの異なる2つの非鮮
鋭マスクを使用して周波数強調に段階を持たせることも
可能である。この場合は演算式 %式%) で表わされる演算を行なうことになるが、この式を書き
直せば、 S ’ =Sorg+(β+α) (Sorg−(βSus 1 + asus Z )1
β+α とも表わすことができ、演算としては前述の演算に類す
る演算を行なっていることに相当する。非鮮鋭マスク5
uslよりもS us2が小さく、強調係数αが正のと
きは、変調伝達関数のグラフは強調する周波数のうち高
い部分に付加的なピークを持った形となり、αが負のと
きは強調する周波数のうち高い部分が段階的に低くなっ
た形となる。前者は骨部、血管造影、胃二重造影等に特
に適し、後部は胸部断層、胆のう造影、肝臓造影、腹部
単純撮影2頭部等に特に適している。
スク処理を行なっているが、大きさの異なる2つの非鮮
鋭マスクを使用して周波数強調に段階を持たせることも
可能である。この場合は演算式 %式%) で表わされる演算を行なうことになるが、この式を書き
直せば、 S ’ =Sorg+(β+α) (Sorg−(βSus 1 + asus Z )1
β+α とも表わすことができ、演算としては前述の演算に類す
る演算を行なっていることに相当する。非鮮鋭マスク5
uslよりもS us2が小さく、強調係数αが正のと
きは、変調伝達関数のグラフは強調する周波数のうち高
い部分に付加的なピークを持った形となり、αが負のと
きは強調する周波数のうち高い部分が段階的に低くなっ
た形となる。前者は骨部、血管造影、胃二重造影等に特
に適し、後部は胸部断層、胆のう造影、肝臓造影、腹部
単純撮影2頭部等に特に適している。
なお、前述の説明でオリジナル画像信号Sorgとは、
対数変換等の帯域圧縮、非線形補正を行なった後の信号
を意味する場合も含む。実用的には光検出器の出力を信
号処理するものであるから、対数変換等の帯域圧縮をす
るのが望ましい。原理的には、光検出器の出力をそのま
まSorgとしてその後の処理をすることも可能である
ことは言うまでもない。また、このマスクの計算は、理
論的には、エネルギーの平均を出すべきものであるが、
本発明者の実験によればこの非鮮鋭マスク信号を求める
際には、対数圧縮した濃度に相当する値で平均値を出し
ても、結果は変わらなかった。これは処理上は実用的に
有利である。
対数変換等の帯域圧縮、非線形補正を行なった後の信号
を意味する場合も含む。実用的には光検出器の出力を信
号処理するものであるから、対数変換等の帯域圧縮をす
るのが望ましい。原理的には、光検出器の出力をそのま
まSorgとしてその後の処理をすることも可能である
ことは言うまでもない。また、このマスクの計算は、理
論的には、エネルギーの平均を出すべきものであるが、
本発明者の実験によればこの非鮮鋭マスク信号を求める
際には、対数圧縮した濃度に相当する値で平均値を出し
ても、結果は変わらなかった。これは処理上は実用的に
有利である。
以下、前述の非鮮鋭マスクによる演算処理について、第
1O図を参照して、更に詳細に説明する。
1O図を参照して、更に詳細に説明する。
第1O図(a)は、螢光体上の蓄積画像をIO画素/履
でサンプリングしたときの周期数応答性を示すものであ
る。この曲線は光検出器のアパーチュアとして、矩形状
アパーチュアを使用した場合には5ine曲線に、ガウ
ス分布状アパーチュアを使用した場合には、ガウス分布
状曲線になることが知られている。
でサンプリングしたときの周期数応答性を示すものであ
る。この曲線は光検出器のアパーチュアとして、矩形状
アパーチュアを使用した場合には5ine曲線に、ガウ
ス分布状アパーチュアを使用した場合には、ガウス分布
状曲線になることが知られている。
第1O図(b)は変調伝達関数が0.Olサイクル/m
の空間周波数のときに0.5以上で、かつ0.5サイク
ル/mmの空間周波数のときに0.5以下であるような
ものを用いた矩形状非鮮鋭マスクを示すものである。
の空間周波数のときに0.5以上で、かつ0.5サイク
ル/mmの空間周波数のときに0.5以下であるような
ものを用いた矩形状非鮮鋭マスクを示すものである。
これはIO画素/#で螢光体上の画像をサンプリングし
たとき、約63画素×63画素(これを「非鮮鋭マスク
のサイズN −634という)の単純加算平均をとって
非鮮鋭マスクを作成した場合を示すものである。これは
螢光体上の画像を6.3 #1IllX6.3mの大サ
イズ光ビームで走査したことと同等である。
たとき、約63画素×63画素(これを「非鮮鋭マスク
のサイズN −634という)の単純加算平均をとって
非鮮鋭マスクを作成した場合を示すものである。これは
螢光体上の画像を6.3 #1IllX6.3mの大サ
イズ光ビームで走査したことと同等である。
第10図(e)は(Sorg−9us )の演算後の変
調伝達関数を示すグラフである。
調伝達関数を示すグラフである。
第10図(d)の実線(1)は、演算結果であるS′を
示すものである。ここではβを「3」に固定している。
示すものである。ここではβを「3」に固定している。
上記演算の結果、強調された画像信号の変調伝達関数の
最大値(B)は零周波数付近での変調伝達関数(A)の
約4.6倍となっている。
最大値(B)は零周波数付近での変調伝達関数(A)の
約4.6倍となっている。
第1θ図(d)の点線(n)は5画素×5画素での平滑
化処理を第1O図(d)のS′に施した場合の変調伝達
関数を示すものである。
化処理を第1O図(d)のS′に施した場合の変調伝達
関数を示すものである。
第11A図〜第11D図は強調係数βをオリジナル画像
信号(Sorg)あるいは非鮮鋭マスク信号(Sus)
に応じて連続的に変化させた例を示すものである。
信号(Sorg)あるいは非鮮鋭マスク信号(Sus)
に応じて連続的に変化させた例を示すものである。
第11A図は、βを一定として平坦型、第11B図は単
調増加型(β′≧0)、第11C図及び第11D図はと
もにβ′く0となる場合を含むもので、第11C図は低
輝度強調型、第1LD図は中輝度強調型をそれぞれ示し
、これらには段状変化(曲線a)と曲線状変化(曲線b
)とがある。
調増加型(β′≧0)、第11C図及び第11D図はと
もにβ′く0となる場合を含むもので、第11C図は低
輝度強調型、第1LD図は中輝度強調型をそれぞれ示し
、これらには段状変化(曲線a)と曲線状変化(曲線b
)とがある。
第11B図の如く、βを単調増加により変化させること
により周波数強調で発生しやすい偽画像を防止すること
ができる。その−例として、バリウム造影剤を使った胃
(マーゲン)のX線画像を強調係数βを固定して前記周
波数処理を行なうと、多量に造影剤が入った広い−様な
低輝度領域の境界が必要以上に強調されて二重輪郭状の
偽画像が発生する。このかわりに強調係数βを可変、す
なわち造影剤が多量に入った低輝度域でβを小さくし、
胃小区などの高輝度域でβを大きくすれば前記二重輪郭
の発生を防止できる。また別の例として、胸部正面撮影
の場合、βを固定すると、背骨や心臓部分の低輝度域で
雑音が増大し、極端なときには細部が白く抜けたりする
(これは視覚的に非常に目立ち、診断性能に悪影響を及
ぼす)。同様に背骨や心臓部分の低輝度でβを小さくし
、肺野部分の高輝度域でβを大きくすれば、前記の雑音
や白抜けの増大を防止できる。
により周波数強調で発生しやすい偽画像を防止すること
ができる。その−例として、バリウム造影剤を使った胃
(マーゲン)のX線画像を強調係数βを固定して前記周
波数処理を行なうと、多量に造影剤が入った広い−様な
低輝度領域の境界が必要以上に強調されて二重輪郭状の
偽画像が発生する。このかわりに強調係数βを可変、す
なわち造影剤が多量に入った低輝度域でβを小さくし、
胃小区などの高輝度域でβを大きくすれば前記二重輪郭
の発生を防止できる。また別の例として、胸部正面撮影
の場合、βを固定すると、背骨や心臓部分の低輝度域で
雑音が増大し、極端なときには細部が白く抜けたりする
(これは視覚的に非常に目立ち、診断性能に悪影響を及
ぼす)。同様に背骨や心臓部分の低輝度でβを小さくし
、肺野部分の高輝度域でβを大きくすれば、前記の雑音
や白抜けの増大を防止できる。
第11c図の低輝度強調は、低輝度部の診断が特に重要
で、その低輝度部の領域が画像全体であまり大きな部分
を占めていないものの場合に適している。例えば血管造
影、リンパ管造影がこの場合に該当し、これらの放射線
画像では雑音が少々増大しても所望部の鮮鋭度が大幅に
向上する方が望ましいので、この低輝度強調によって診
断性能が大幅に向上する。
で、その低輝度部の領域が画像全体であまり大きな部分
を占めていないものの場合に適している。例えば血管造
影、リンパ管造影がこの場合に該当し、これらの放射線
画像では雑音が少々増大しても所望部の鮮鋭度が大幅に
向上する方が望ましいので、この低輝度強調によって診
断性能が大幅に向上する。
また第11D図の中輝度強調は、低輝度部と高輝度部が
画像全体のかなりの部分を占め、かっこの領域が診断上
重要でなく、中輝度部が特に診断上重要であるものの場
合に適している。例えば、胆のう造影、肝臓造影がこの
場合に該当し、これらの放射線画像では雑音やガス部が
強調されると診断の妨げになるので、これらの領域を除
いて診断の対象となる中輝度部のみを強調するのが望ま
しい。
画像全体のかなりの部分を占め、かっこの領域が診断上
重要でなく、中輝度部が特に診断上重要であるものの場
合に適している。例えば、胆のう造影、肝臓造影がこの
場合に該当し、これらの放射線画像では雑音やガス部が
強調されると診断の妨げになるので、これらの領域を除
いて診断の対象となる中輝度部のみを強調するのが望ま
しい。
前記の例のいずれの場合にも、強調係数βを小さい値に
固定して、周波数処理を行なえば、確かに種々の偽画像
は発生しないが、診断性能に重要な寄与をしている胃小
区や肺野の血管、造影された脈管もコントラストがあが
らず診断性能が向上しない。このように強調係数βを螢
光体上の画像の輝度に応じて連続的に変化させることに
より、偽画像の発生を防止しつつ、診断性能が向上した
画像が得られる。
固定して、周波数処理を行なえば、確かに種々の偽画像
は発生しないが、診断性能に重要な寄与をしている胃小
区や肺野の血管、造影された脈管もコントラストがあが
らず診断性能が向上しない。このように強調係数βを螢
光体上の画像の輝度に応じて連続的に変化させることに
より、偽画像の発生を防止しつつ、診断性能が向上した
画像が得られる。
第12図はβの増加のさせ方の一例を示すもので螢光体
上の画像のヒストグラムから、その最低輝度S。と最高
輝度S1を決定し、この間でほぼ線形にβを変えたもの
である。So、S、は処理したいX線画像の種類によっ
て決まるもので、例えば最低、最高輝度はそれぞれ積分
ヒストグラムが0〜10%、90〜100%のときの輝
度値としても良い。
上の画像のヒストグラムから、その最低輝度S。と最高
輝度S1を決定し、この間でほぼ線形にβを変えたもの
である。So、S、は処理したいX線画像の種類によっ
て決まるもので、例えば最低、最高輝度はそれぞれ積分
ヒストグラムが0〜10%、90〜100%のときの輝
度値としても良い。
第13図、第14図はそれぞれ、低輝度強調、中輝度強
調におけるβの変化のさせ方の一例を示すものである。
調におけるβの変化のさせ方の一例を示すものである。
第13図において、βは輝度AとBの間で最大値βma
xから最小値βminに減少している。すなわち、低輝
度領域(S akinからAまで)においては強調係数
を大きく (βmax ) L、高輝度領域(BからS
Lllaxまで)においては小さく (βm1n)し
ている。輝度Aは最小輝度(SmIn)に、最大輝度(
SIIlax)と最小輝度(Satin)との差(ΔS
)の0.2〜0.5倍を加えた大きさ[Sm1n +
(0,2〜0.5)ΔS]がよく、輝度Bは同じ<0.
7〜1倍を加えた大きさ[Dn+1n + (0,7〜
1)ΔD]がよい。
xから最小値βminに減少している。すなわち、低輝
度領域(S akinからAまで)においては強調係数
を大きく (βmax ) L、高輝度領域(BからS
Lllaxまで)においては小さく (βm1n)し
ている。輝度Aは最小輝度(SmIn)に、最大輝度(
SIIlax)と最小輝度(Satin)との差(ΔS
)の0.2〜0.5倍を加えた大きさ[Sm1n +
(0,2〜0.5)ΔS]がよく、輝度Bは同じ<0.
7〜1倍を加えた大きさ[Dn+1n + (0,7〜
1)ΔD]がよい。
第14図においては、βは輝度AとBの間で第1の最小
値(βm1ni)から最大値(βll1ax )まで増
大し、CとDの間で最大値(βWaX )から第2の最
小値(βm+1n2)まで減少する。すなわち、低輝度
領域(S mInからAまで)と高輝度領域(DからS
1iaxまで)においては強調係数を小さく (βm
1n1. βl1in 2) L、、、中輝度領域(
BからCまで)においては大きく(βff1ax )
している。
値(βm1ni)から最大値(βll1ax )まで増
大し、CとDの間で最大値(βWaX )から第2の最
小値(βm+1n2)まで減少する。すなわち、低輝度
領域(S mInからAまで)と高輝度領域(DからS
1iaxまで)においては強調係数を小さく (βm
1n1. βl1in 2) L、、、中輝度領域(
BからCまで)においては大きく(βff1ax )
している。
ここで第1の最小値(βl1ini)と第2の最小値(
βm+1n2)とは等しくてもよい。−点鎖線すの山型
の場合は、βは輝度AとEの間で増大し、EとDの間で
減少している。輝度Aは最小輝度(Smin )に、最
大輝度(SIllax)と最小輝度(SIIlln)と
の差(ΔS)のO〜0.2倍を加えた大きさ[Sm1n
+(0〜0.2 )ΔS〕、輝度Bは平均輝度 S 1n + S ll1ax あるいは統計的平均値)から前記差(ΔS)の0〜0.
2倍を引いた大きさ[5−(0〜0.2)ΔSコ、輝度
Eは平均輝度(S)、輝度Cは平均輝度に前記差(ΔS
)の0〜0.2倍を加えた大きさ[S+(0〜0.2)
ΔSコ、輝度りは最大輝度(S +HX)から前記差(
ΔS)の0〜0.2倍を引いた大きさ[Smax −(
0〜0.2 )ΔS]が、それぞれ望ましい。
βm+1n2)とは等しくてもよい。−点鎖線すの山型
の場合は、βは輝度AとEの間で増大し、EとDの間で
減少している。輝度Aは最小輝度(Smin )に、最
大輝度(SIllax)と最小輝度(SIIlln)と
の差(ΔS)のO〜0.2倍を加えた大きさ[Sm1n
+(0〜0.2 )ΔS〕、輝度Bは平均輝度 S 1n + S ll1ax あるいは統計的平均値)から前記差(ΔS)の0〜0.
2倍を引いた大きさ[5−(0〜0.2)ΔSコ、輝度
Eは平均輝度(S)、輝度Cは平均輝度に前記差(ΔS
)の0〜0.2倍を加えた大きさ[S+(0〜0.2)
ΔSコ、輝度りは最大輝度(S +HX)から前記差(
ΔS)の0〜0.2倍を引いた大きさ[Smax −(
0〜0.2 )ΔS]が、それぞれ望ましい。
なお、上記第13図、第14図演算においては、最大輝
度(Sa+ax)と最小輝度(Smin)はいずれも対
象とする実質的画像の中での最大、最小に対応するもの
で、画像以外の部分にはこれより大きい、あるいは小さ
い輝度が存在することもありうる。なお、場合によって
は単純に全画面中の最大、最小をとってもよい。
度(Sa+ax)と最小輝度(Smin)はいずれも対
象とする実質的画像の中での最大、最小に対応するもの
で、画像以外の部分にはこれより大きい、あるいは小さ
い輝度が存在することもありうる。なお、場合によって
は単純に全画面中の最大、最小をとってもよい。
なお本発明者等の実験では、螢光体上の画像のオリジナ
ル画像信号によってβを変化させた場合と、非鮮鋭マス
ク信号によってβを変化させた場合とで、その効果は路
間等であった。
ル画像信号によってβを変化させた場合と、非鮮鋭マス
ク信号によってβを変化させた場合とで、その効果は路
間等であった。
以上の如き、非鮮鋭マスクによる周波数強調処理に加え
て、階調処理を併用することもできる。
て、階調処理を併用することもできる。
階調処理を超低周波数処理前におこなう場合には、非線
形アナログ回路で階調処理してからA/D変換を行なう
。A/D変換後に行なう場合には、ミニコンピユータで
デジタル処理を行なうこともできる。また超低周波数処
理後ではデジタル処理を行なうか、D/A変換変換子ナ
ログ処理する。これらの周波数強調と必要により、階調
処理を行なったデータは、磁気テープに記録される。こ
の磁気テープのデータは、順次読み出され、D/A変換
器でアナログ信号に変換され、アンプで増幅された後、
CRTに入力されてCRT上で可視像として再生され、
CRT診断が可能となる。またこのデータは必要に応じ
てさらに記録用光源に入力される。この記録用光源から
発生した光は、レンズを通って記録材料例えば写真フィ
ルムに照射され、この写真フィルム上に放射線画像が再
生される。従ってその場合にはフィルム上の画像を観察
して診断を行なうこともできる。なお、CRTおよび写
真フィルムに画像を再生記録する際、入力走査時より高
いサンプリング周波数で記録すれば縮小画像が得られる
。例えば入力系ではlO画素/馴、出力系では20画素
/mnで走査すればl/2に縮小された画像となる。こ
のように172〜I/3に縮小した画像は診断に必要と
思われる周波数成分が視感度の最も高い周波数領域に近
くなるのでコントラストが視覚的により高くなったよう
に見えて非常に見易くなる。
形アナログ回路で階調処理してからA/D変換を行なう
。A/D変換後に行なう場合には、ミニコンピユータで
デジタル処理を行なうこともできる。また超低周波数処
理後ではデジタル処理を行なうか、D/A変換変換子ナ
ログ処理する。これらの周波数強調と必要により、階調
処理を行なったデータは、磁気テープに記録される。こ
の磁気テープのデータは、順次読み出され、D/A変換
器でアナログ信号に変換され、アンプで増幅された後、
CRTに入力されてCRT上で可視像として再生され、
CRT診断が可能となる。またこのデータは必要に応じ
てさらに記録用光源に入力される。この記録用光源から
発生した光は、レンズを通って記録材料例えば写真フィ
ルムに照射され、この写真フィルム上に放射線画像が再
生される。従ってその場合にはフィルム上の画像を観察
して診断を行なうこともできる。なお、CRTおよび写
真フィルムに画像を再生記録する際、入力走査時より高
いサンプリング周波数で記録すれば縮小画像が得られる
。例えば入力系ではlO画素/馴、出力系では20画素
/mnで走査すればl/2に縮小された画像となる。こ
のように172〜I/3に縮小した画像は診断に必要と
思われる周波数成分が視感度の最も高い周波数領域に近
くなるのでコントラストが視覚的により高くなったよう
に見えて非常に見易くなる。
本発明は上述の実施態様に限定されることなく、種々の
構成の変更が可能である。
構成の変更が可能である。
螢光体上の画像の読み出しは、螢光体を回転ドラムにセ
ットする方法、平面的に二次元走査する方法、あるいは
フライングスポットスキャナーのような電子走査による
ことができる。また非鮮鋭マスクの演算はA/D変換前
に主走査方向のみローパス・フィルターでアナログ信号
を非鮮鋭化して、副走査方向だけをデジタル処理により
行なうことができる。更に上記演算は前述の磁気テープ
にデータを全部記憶させてから、オフラインで処理して
も良いし、データをコアメモリーに一部記憶して順次オ
ンラインで処理してもよい。
ットする方法、平面的に二次元走査する方法、あるいは
フライングスポットスキャナーのような電子走査による
ことができる。また非鮮鋭マスクの演算はA/D変換前
に主走査方向のみローパス・フィルターでアナログ信号
を非鮮鋭化して、副走査方向だけをデジタル処理により
行なうことができる。更に上記演算は前述の磁気テープ
にデータを全部記憶させてから、オフラインで処理して
も良いし、データをコアメモリーに一部記憶して順次オ
ンラインで処理してもよい。
実施例
第1表に示す部位について合計200例の症例につき、
従来のX線写真フィルムに直接記録したものと、本発明
により螢光体から読み出し超低周波数処理を施して作成
した画像とを比較し、人体の主たる部位についての診断
性能の向上を調べた。
従来のX線写真フィルムに直接記録したものと、本発明
により螢光体から読み出し超低周波数処理を施して作成
した画像とを比較し、人体の主たる部位についての診断
性能の向上を調べた。
第 1 表
再生画像は、強調係数βを3に固定し、非鮮鋭マスクと
して矩形領域の画像信号を単純加算平均したものを用い
て矩形の辺方向の変調伝達関数が0.5となる空間周波
数fcをを6通りに変化させて作成した。
して矩形領域の画像信号を単純加算平均したものを用い
て矩形の辺方向の変調伝達関数が0.5となる空間周波
数fcをを6通りに変化させて作成した。
ここに診断性能の向上の有無および程度については、通
常の写真系の物理的評価値(たとえば、鮮鋭度、コント
ラスト、粒状性等)によって裏づけることは事実上不可
能であるため、4人の放射線区、12人の臨床医、およ
び4人の放射線技師の計20人の放射線読撮の専門家に
よる主観的評価に基いた。
常の写真系の物理的評価値(たとえば、鮮鋭度、コント
ラスト、粒状性等)によって裏づけることは事実上不可
能であるため、4人の放射線区、12人の臨床医、およ
び4人の放射線技師の計20人の放射線読撮の専門家に
よる主観的評価に基いた。
評価の基準は次のとおりとした。
+2= 従来のX線写真フィルム方式ではみえなかった
病変部が見えるようになったり、非常に診断がしにくい
病変部が見易くなり、診断性能が明らかに向上した。
病変部が見えるようになったり、非常に診断がしにくい
病変部が見易くなり、診断性能が明らかに向上した。
+1= 従来のX線写真フィルム方式では診断しにくい
病変部が見易くなり、診断性能が向上した。
病変部が見易くなり、診断性能が向上した。
0: 従来のX線写真フィルム方式に比べて、見易くは
なっているが、特に診断性能の向上は見られない。
なっているが、特に診断性能の向上は見られない。
−1; 診断性能が向上した領域もあるが、診断しにく
い領域も発生した。
い領域も発生した。
−2: 診断性能が向上した領域がなく、診断しにくい
領域が発生した。
領域が発生した。
第15図は、第1表に掲げた部位、症例合計200例に
ついての専門家の評価値を平均化した結果を示すもので
ある。第15図に示す曲線は、この平均した評価結果を
更に平均したものである。
ついての専門家の評価値を平均化した結果を示すもので
ある。第15図に示す曲線は、この平均した評価結果を
更に平均したものである。
第15図より、診断性能がとくに向上する空間周波数f
cの範囲は0.02〜0.15サイクル/#の範囲であ
ることが認められた。
cの範囲は0.02〜0.15サイクル/#の範囲であ
ることが認められた。
また、この実験を通じて、評価が最も良くなるfcの値
とその時の評価値は、換言すればピークの位置は、評価
者の好み、撮影部位、症例、撮影の目的(スクリーニン
グか精密検査かなど)、その他の臨床検査知見の有無等
によりかなり変化するが、本発明による処理の効果が認
められるfcの範囲は、あらゆる画像について比較的バ
ラツキが少ないことが判明した。
とその時の評価値は、換言すればピークの位置は、評価
者の好み、撮影部位、症例、撮影の目的(スクリーニン
グか精密検査かなど)、その他の臨床検査知見の有無等
によりかなり変化するが、本発明による処理の効果が認
められるfcの範囲は、あらゆる画像について比較的バ
ラツキが少ないことが判明した。
また第1表に示す代表的な症例計20列について、fc
を0.05サイクル/mll1に固定する一定B/Aを
柾々に変化させて、同様な方法により画像を作成し、放
射線読影の専門家計20人により同様な評価をおこなっ
た。
を0.05サイクル/mll1に固定する一定B/Aを
柾々に変化させて、同様な方法により画像を作成し、放
射線読影の専門家計20人により同様な評価をおこなっ
た。
その各症例についての評価の平均値を示したのが第16
図である。第16図の曲線aはオリジナル画像の信号に
よらずβを一定した場合、曲線すはオリジナル画像の信
号によって連続的に変化させた場合の最大となるB/A
の値での結果である。曲線aのβ一定の場合は、B/A
が6〜7以上になると偽画像が目立って評価が0以下に
なるが、β可変にすれば偽画像が除去されて1.5≦B
/A≦10の範囲で評価が0以上となった。他の種類の
症例についてもほぼ同様の診断性能の向上が見られた。
図である。第16図の曲線aはオリジナル画像の信号に
よらずβを一定した場合、曲線すはオリジナル画像の信
号によって連続的に変化させた場合の最大となるB/A
の値での結果である。曲線aのβ一定の場合は、B/A
が6〜7以上になると偽画像が目立って評価が0以下に
なるが、β可変にすれば偽画像が除去されて1.5≦B
/A≦10の範囲で評価が0以上となった。他の種類の
症例についてもほぼ同様の診断性能の向上が見られた。
なお、超低周波数の強調と他の処理(強調係数βの変化
、階調処理、縮小、平滑化処理)との組み合わせによる
診断性能の向上は、上述の種々の症例について実施し、
いずれも診断性能が更に向上するという結果を得ている
。
、階調処理、縮小、平滑化処理)との組み合わせによる
診断性能の向上は、上述の種々の症例について実施し、
いずれも診断性能が更に向上するという結果を得ている
。
上記した構成を有する本発明は、超低周波数領域からの
周波数応答を強調するものであるから、診断に重要な周
波数領域が大幅に強調される。したがってコントラスト
が向上して診断性能が向上する。また強調の程度を輝度
信号、形状等に応じて変えれば、偽画像の発生を防止し
、かつ診断に重要な疾患が見ずらくなるのを防止するこ
とができる。
周波数応答を強調するものであるから、診断に重要な周
波数領域が大幅に強調される。したがってコントラスト
が向上して診断性能が向上する。また強調の程度を輝度
信号、形状等に応じて変えれば、偽画像の発生を防止し
、かつ診断に重要な疾患が見ずらくなるのを防止するこ
とができる。
さらに、高周波成分を強調しないようにしたから雑音成
分が少な(なり、画像がなめらかになる。
分が少な(なり、画像がなめらかになる。
この結果、見やすい画像を得ることができる。
これらのすべての画像処理は、最終的には人間の視覚に
対する変調伝達関数の最適周波数に近づけるように配慮
されることにより、−層その効果を発揮するものであり
、このためには適宜の画像縮小が特に効果がある。
対する変調伝達関数の最適周波数に近づけるように配慮
されることにより、−層その効果を発揮するものであり
、このためには適宜の画像縮小が特に効果がある。
第1図は本発明によるX線画像の処理過程を示すフロー
シートである。 第2図は非鮮鋭マスク信号を算出する1つのアルゴリズ
ムを説明するため画像上の非鮮鋭マスク、画素等を示す
図である。 第3図は上記アルゴリズムを利用したときのメモリー容
量を示す図である。 第4図は上記アルゴリズムを利用した演算を行なう回路
の構成の例を示すブロック図である。 第5図および第6図は上記構成におけるメモリーの構成
の変更例を示す図である。 第7図および第9図は非鮮鋭マスク信号を算出するもう
1つのアルゴリズムを説明するため、画像上の非鮮鋭マ
スク、画素等を示す図である。 第8図はこのアルゴリズムを利用したときのメモリーの
容量を示す図である。 第1O図は周波数強調のステップを示すグラフである。 第11図は強調係数βを輝度に応じて変化させる例を示
す図である。 第12図は強調係数βとオリジナル画像信号Sorgの
組合わせの一例を示すグラフである。 第13図及び第14図は強調係数βを画像信号により変
化させる具体的な方法の例を示す図である。 第15図は実施例における診断性能評価の結果を示すグ
ラフである。 第16図は強調されたコピー写真における最大の変調伝
達関数(B)と零空間周波数付近での変調伝達関数(A
)との比B/Aと、診断性能の評価との関係を示すグラ
フである。 第1図 第2図 第3図 1!I!:” 立夏IL 力nI:tflR+t*e!
+1゛ヱ走査乃向にl≠ぜ1画1眩 第 図 第 図 第 図 第 図 工 /112気数 (サイク1し/rnrn)第 図 org 第 図 腫 第 +14 図 第 1旧図 第 1c 図 第 D 図 β冨C0n5t β“2゜ β“S。 l!O 取キ 同時に出願審査請求書あり
シートである。 第2図は非鮮鋭マスク信号を算出する1つのアルゴリズ
ムを説明するため画像上の非鮮鋭マスク、画素等を示す
図である。 第3図は上記アルゴリズムを利用したときのメモリー容
量を示す図である。 第4図は上記アルゴリズムを利用した演算を行なう回路
の構成の例を示すブロック図である。 第5図および第6図は上記構成におけるメモリーの構成
の変更例を示す図である。 第7図および第9図は非鮮鋭マスク信号を算出するもう
1つのアルゴリズムを説明するため、画像上の非鮮鋭マ
スク、画素等を示す図である。 第8図はこのアルゴリズムを利用したときのメモリーの
容量を示す図である。 第1O図は周波数強調のステップを示すグラフである。 第11図は強調係数βを輝度に応じて変化させる例を示
す図である。 第12図は強調係数βとオリジナル画像信号Sorgの
組合わせの一例を示すグラフである。 第13図及び第14図は強調係数βを画像信号により変
化させる具体的な方法の例を示す図である。 第15図は実施例における診断性能評価の結果を示すグ
ラフである。 第16図は強調されたコピー写真における最大の変調伝
達関数(B)と零空間周波数付近での変調伝達関数(A
)との比B/Aと、診断性能の評価との関係を示すグラ
フである。 第1図 第2図 第3図 1!I!:” 立夏IL 力nI:tflR+t*e!
+1゛ヱ走査乃向にl≠ぜ1画1眩 第 図 第 図 第 図 第 図 工 /112気数 (サイク1し/rnrn)第 図 org 第 図 腫 第 +14 図 第 1旧図 第 1c 図 第 D 図 β冨C0n5t β“2゜ β“S。 l!O 取キ 同時に出願審査請求書あり
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)蓄積性螢光体を励起光で走査して、この螢光体材料
に記録されている放射線画像情報を読み出して電気信号
に変換した後、可視像として再生するに当り、各走査点
での超低空間周波数に対応する非鮮鋭マスク信号Sus
を求め、螢光体から読み出されたオリジナル画像信号を
Sorg、強調係数をβ、再生画像信号をS′としたと
きに、演算式S′=Sorg+β(Sorg−Sus) で表わされる演算を行なって、上記超低空間周波数以上
の周波数成分を強調する放射線画像処理方法において、 前記非鮮鋭マスク信号Susを、前記走査の主走査方向
に平行な2辺と、副走査方向に平行な2辺によって囲ま
れた矩形領域内の各走査点におけるオリジナル画像信号
Sorgを単純加算平均して求めることを特徴とする放
射線画像処理方法。 2)前記可視像がCRT上に再生されることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の放射線画像処理方法。 3)前記非鮮鋭マスク信号Susを得るための矩形の非
鮮鋭マスクが、その矩形の一辺の長さを60mm〜1.
2mmの範囲のものとする大きさであることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項または第2項記載の放射線画像
処理方法。 4)前記矩形の非鮮鋭マスクが、その矩形の一辺の長さ
を30mm〜4mmの範囲のものとする大きさであるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の放射線画像
処理方法。5)強調係数βが定数であることを特徴とす
る特許請求の範囲第1項または第2項記載の放射線画像
処理方法。 6)前記演算式によって強調された画像を与える系の最
大の変調伝達関数が、零空間周波数付近での変調伝達関
数の1.5〜6倍であることを特徴とする特許請求の範
囲第5項記載の放射線画像処理方法。 7)強調係数βをオリジナル画像信号または非鮮鋭マス
ク信号の値に応じて変化させることを特徴とする特許請
求の範囲第1項または第2項記載の放射線画像処理方法
。 8)前記演算式によって強調された画像を与える系の最
大の変調伝達関数が、零空間周波数付近での変調伝達関
数の1.5〜10倍であることを特徴とする特許請求の
範囲第7項記載の放射線画像処理方法。 9)超低空間周波数成分の強調と併せて、変調伝達関数
が0.5サイクル/mmの空間周波数のときに0.5以
上で、かつ5サイクル/mmの空間周波数のときに0.
5以下であるような平滑化処理を施すことを特徴とする
特許請求の範囲第1項乃至第8項記載の放射線画像処理
方法。 10)蓄積性螢光体を走査してこれに蓄積記録されてい
る放射線画像を輝尽発光させるための励起光源と、この
発光を検出して電気信号に変換する光検出器と、この光
検出器の出力を前記走査の主走査方向に平行な2辺と、
副走査方向に平行な2辺によって囲まれた矩形範囲に亘
って単純加算平均して超低空間周波数に対応する非鮮鋭
マスク信号Susを求める回路と、この非鮮鋭マスク信
号Sus、前記光検出器の出力であるオリジナル画像信
号Sorg、および強調係数βから、再生画像信号をS
′としたとき、演算式 S′=Sorg+β(Sorg−Sus) で表わされる演算を行なう演算装置を備えてなる放射線
画像処理装置。 11)前記演算装置が前記画像信号Sorg、又は前記
マスク信号Susの大きさに応じて前記強調係数βを増
減させる強調係数可変手段を備えていることを特徴とす
る特許請求の範囲第10項記載の放射線画像処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63253066A JPH021078A (ja) | 1988-10-07 | 1988-10-07 | 放射線画像処理方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63253066A JPH021078A (ja) | 1988-10-07 | 1988-10-07 | 放射線画像処理方法および装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15140079A Division JPS5675139A (en) | 1978-12-26 | 1979-11-22 | Radiation picture treating method and its device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH021078A true JPH021078A (ja) | 1990-01-05 |
Family
ID=17246019
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63253066A Pending JPH021078A (ja) | 1988-10-07 | 1988-10-07 | 放射線画像処理方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH021078A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5761334A (en) * | 1995-01-23 | 1998-06-02 | Fuji Photo Film Co.,Ltd. | Apparatus for computer aided diagnosis of medical images having abnormal patterns |
| JP2006167244A (ja) * | 2004-12-17 | 2006-06-29 | Kyushu Hitachi Maxell Ltd | 電気バリカン |
| US8024862B2 (en) | 2006-12-11 | 2011-09-27 | Panasonic Electric Works Co., Ltd. | Hair clipper |
| JP2011254214A (ja) * | 2010-06-01 | 2011-12-15 | Hoya Corp | 輪郭強調装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54151400A (en) * | 1978-05-19 | 1979-11-28 | Takeyasu Isaburou | Method of and device for synchronously flashing marker group |
-
1988
- 1988-10-07 JP JP63253066A patent/JPH021078A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54151400A (en) * | 1978-05-19 | 1979-11-28 | Takeyasu Isaburou | Method of and device for synchronously flashing marker group |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5761334A (en) * | 1995-01-23 | 1998-06-02 | Fuji Photo Film Co.,Ltd. | Apparatus for computer aided diagnosis of medical images having abnormal patterns |
| JP2006167244A (ja) * | 2004-12-17 | 2006-06-29 | Kyushu Hitachi Maxell Ltd | 電気バリカン |
| US8024862B2 (en) | 2006-12-11 | 2011-09-27 | Panasonic Electric Works Co., Ltd. | Hair clipper |
| JP2011254214A (ja) * | 2010-06-01 | 2011-12-15 | Hoya Corp | 輪郭強調装置 |
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