JPH02108000A - 小断面及び方向可変のx線又はガンマビームを形成する装置 - Google Patents
小断面及び方向可変のx線又はガンマビームを形成する装置Info
- Publication number
- JPH02108000A JPH02108000A JP1222765A JP22276589A JPH02108000A JP H02108000 A JPH02108000 A JP H02108000A JP 1222765 A JP1222765 A JP 1222765A JP 22276589 A JP22276589 A JP 22276589A JP H02108000 A JPH02108000 A JP H02108000A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- diaphragm body
- slit
- diaphragm
- slits
- ray beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/06—Diaphragms
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—HANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
- G21K1/04—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—HANDLING OF PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
- G21K1/04—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers
- G21K1/043—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers changing time structure of beams by mechanical means, e.g. choppers, spinning filter wheels
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Pathology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、放射ビームを供給するX線源又はガン?源と
、放射ビームからX線ビームを形成し直線スリン]・を
設けた固定のダイヤフラム部及び回転軸の周りに回転し
その外面に螺旋状スリットを設けた円筒状の第1のダイ
ヤフラム本体とよりなる、小さな断面を有し方向を可変
するX線ビーム又はガンン線ビーム(11)を形成する
装置に係る。
、放射ビームからX線ビームを形成し直線スリン]・を
設けた固定のダイヤフラム部及び回転軸の周りに回転し
その外面に螺旋状スリットを設けた円筒状の第1のダイ
ヤフラム本体とよりなる、小さな断面を有し方向を可変
するX線ビーム又はガンン線ビーム(11)を形成する
装置に係る。
かかる装置は、医学応用ではヨーロッパ出願第7402
1号公開明細書及び産業応用では西ドイツ出願第344
3095号公開明1itiにより知られている。。
1号公開明細書及び産業応用では西ドイツ出願第344
3095号公開明1itiにより知られている。。
これでは、ダイヤフラム本体番よ、放射吸収物質の中空
筒状体により形成され、その周囲には、2つの互いにず
れた螺旋状に延在するスリットが設けられている。平行
線のビームが、その円筒軸に垂直な方向にこのダイヤフ
ラム本体に入射する場合、X線ビームが2つのスリット
を通る一点がある。
筒状体により形成され、その周囲には、2つの互いにず
れた螺旋状に延在するスリットが設けられている。平行
線のビームが、その円筒軸に垂直な方向にこのダイヤフ
ラム本体に入射する場合、X線ビームが2つのスリット
を通る一点がある。
ダイヤフラム本体が回転する場合、この点は周期的に動
くX線ビームがダイヤフラム本体の後から現われるJ:
う軸に沿っておく。この周期的に変位するX線ビームは
、医学又は産業的検査に用いられつる。固定ダイヤフラ
ム部は、所定の方法でX線ビームが変位する方向に垂直
にX線を制限するのに役立つ、。
くX線ビームがダイヤフラム本体の後から現われるJ:
う軸に沿っておく。この周期的に変位するX線ビームは
、医学又は産業的検査に用いられつる。固定ダイヤフラ
ム部は、所定の方法でX線ビームが変位する方向に垂直
にX線を制限するのに役立つ、。
実際にxIIは、拡散線のビームを放射するX線管によ
り形成される。しかし、拡散放射ビームにおいて、X線
ビームの強度はエツジに向って減少する。己れは、スリ
ン1〜を適切な形状とすることにより、また直線スリッ
ト及び放射源により形成された面に正確に平行に延在す
る代わりに、ダイヤフラム本体の回転軸は、放射の拡散
、つまり放射源とダイヤフラム本体の回転軸との間の距
離に依存する角に関する角を覆うことを確実にすること
により、少なくとも部分的に防止できる。
り形成される。しかし、拡散放射ビームにおいて、X線
ビームの強度はエツジに向って減少する。己れは、スリ
ン1〜を適切な形状とすることにより、また直線スリッ
ト及び放射源により形成された面に正確に平行に延在す
る代わりに、ダイヤフラム本体の回転軸は、放射の拡散
、つまり放射源とダイヤフラム本体の回転軸との間の距
離に依存する角に関する角を覆うことを確実にすること
により、少なくとも部分的に防止できる。
従って、かかるダイヤフラム本体は、膨大な費用をか【
ノて製造でき、放射源と回転軸との間の所定の距離に対
してだけに適合する。
ノて製造でき、放射源と回転軸との間の所定の距離に対
してだけに適合する。
本発明の一つの目的は、異なる方法で柱役する一部ビー
ムを発生する上記種類の装置を捉供することである3゜ この目的は、ダイヤフラム本体がその長さの少なくとも
一部に亘って少なくても略半円形断面を有するという本
発明によって達成される、。
ムを発生する上記種類の装置を捉供することである3゜ この目的は、ダイヤフラム本体がその長さの少なくとも
一部に亘って少なくても略半円形断面を有するという本
発明によって達成される、。
従って、本発明によって、第1のダイヤフラム本体の螺
旋状スリン1〜及び固定ダイヤフラム部の直線状スリッ
トの協働で、X線ビームが(拡散)X線ビームから形成
される3、X線ビームの現出点は、第1のダイヤフラム
本体の回転により変位され、周期的に動くX線ビームと
なる。X線は、ダイヤフラム本体に対向して位置する2
つのスリットを介する代わりに、一つのスリットで現出
するので、X線ビームの強度は、ダイヤフラム本体の縁
部に向って減少しない。従って、スリン1〜に所定の形
状を与え又は直線状スリットに関して限定された方法で
配置する必要はない。
旋状スリン1〜及び固定ダイヤフラム部の直線状スリッ
トの協働で、X線ビームが(拡散)X線ビームから形成
される3、X線ビームの現出点は、第1のダイヤフラム
本体の回転により変位され、周期的に動くX線ビームと
なる。X線は、ダイヤフラム本体に対向して位置する2
つのスリットを介する代わりに、一つのスリットで現出
するので、X線ビームの強度は、ダイヤフラム本体の縁
部に向って減少しない。従って、スリン1〜に所定の形
状を与え又は直線状スリットに関して限定された方法で
配置する必要はない。
固定のダイヤフラム部のスリットとダイヤフラム本体と
の協働は、台形断面を有するX線ビームを決定する。し
かし、方向に依存しない空間解像度を生じる正方形(又
は円形)断面を得ることが望ましい。2つのスリットの
同じ幅に対して、正方形断面の近似は、2つのスリット
が互いに交差する角度が大きくなるにつれ、さらによく
なる3゜交差のより大きな角度は、大きな直径と小さな
軸長を有するダイヤ−ノラム本体を用いることにより達
成されうる。しかし、多くの応用に対して、比較的大き
な偏光角はX線ビームに対して要求され、ダイヤスラム
本体の対応する軸長を意味する;固有的に大きな容量の
数、多くの応用に対して大きな直径は望ましくない。
の協働は、台形断面を有するX線ビームを決定する。し
かし、方向に依存しない空間解像度を生じる正方形(又
は円形)断面を得ることが望ましい。2つのスリットの
同じ幅に対して、正方形断面の近似は、2つのスリット
が互いに交差する角度が大きくなるにつれ、さらによく
なる3゜交差のより大きな角度は、大きな直径と小さな
軸長を有するダイヤ−ノラム本体を用いることにより達
成されうる。しかし、多くの応用に対して、比較的大き
な偏光角はX線ビームに対して要求され、ダイヤスラム
本体の対応する軸長を意味する;固有的に大きな容量の
数、多くの応用に対して大きな直径は望ましくない。
比較的大きな軸長と比較的小さな直径を有するダイヤス
ラム本体の場合に魅力的な断面を19る為、本発明の別
な実施例では、複数の螺旋状円周スリットが、nいに軸
方向に超えるよう第1のダイヤフラム本体に設けられる
3、第1のダイヤフラム本体のn個のスリットの場合、
各スリットはダイヤスラム本体の長さの甲に1/nだけ
延在し、これによりダイヤフラム部のダイヤスラム本体
の螺旋状スリットの投影は、比較的に大きな角度で毎回
そごに設けられたスリットを交差し、魅力的な断面形状
となる。
ラム本体の場合に魅力的な断面を19る為、本発明の別
な実施例では、複数の螺旋状円周スリットが、nいに軸
方向に超えるよう第1のダイヤフラム本体に設けられる
3、第1のダイヤフラム本体のn個のスリットの場合、
各スリットはダイヤスラム本体の長さの甲に1/nだけ
延在し、これによりダイヤフラム部のダイヤスラム本体
の螺旋状スリットの投影は、比較的に大きな角度で毎回
そごに設けられたスリットを交差し、魅力的な断面形状
となる。
n個の螺旋状スリットは、ダイヤスラム本体の半回転に
応じて、初めに近くにあるX線ビームにより占められる
位置に移動するnX線ビームを形成する。異なる応用に
対して、例えばX線ビームにより形成された拡散放射が
測定される応用では、西ドイツ出願第3443095号
公開明細書に記載されている如く、甲−のX線ビームの
使用のみが、望まれる。
応じて、初めに近くにあるX線ビームにより占められる
位置に移動するnX線ビームを形成する。異なる応用に
対して、例えばX線ビームにより形成された拡散放射が
測定される応用では、西ドイツ出願第3443095号
公開明細書に記載されている如く、甲−のX線ビームの
使用のみが、望まれる。
この目的に対して適当な本発明の別な実施例は、その長
手の少なくとも一部に亘って半円形部を有する第2のダ
イヤスラム本体が設けられており、2つのダイ17ノラ
ム本体は一7Uが他方を包囲するように同軸に配置され
ており、第1のダイヤフラム本体はスリットの数の関数
として♀い速度で回転し、第2のダイヤスラム本体の周
囲の孔の配置と形状は、使用できるビームが毎回スリッ
トの唯一つ(例えば9b)を通って現われるようになさ
れていることを特徴とする。
手の少なくとも一部に亘って半円形部を有する第2のダ
イヤスラム本体が設けられており、2つのダイ17ノラ
ム本体は一7Uが他方を包囲するように同軸に配置され
ており、第1のダイヤフラム本体はスリットの数の関数
として♀い速度で回転し、第2のダイヤスラム本体の周
囲の孔の配置と形状は、使用できるビームが毎回スリッ
トの唯一つ(例えば9b)を通って現われるようになさ
れていることを特徴とする。
本発明による本実施例の最も簡単な例では、螺旋状のス
リットが第2のダイヤフラム本体に単一の孔として設け
られており、そのスリットは第1のダイヤフラム本体の
スリットより実質的に広く、少なくとも約180°の円
周に亘って延在する。従って、スリットは、第2のダイ
ヤフラム本体の半回転生順次に横切られ、X線ビームは
連続的に一方から他方に動く。第1のダイヤフラム本体
の回転数が、第2のダイヤスラム本体より大きいので、
第1のダイヤフラム本体の1つのスリットは、スリット
又はダイヤフラム本体が放射源に面する時横断され、隣
りのスリブl−は、それ又はダイヤスラム本体が放射源
から遠い場合に横断される。形成されるX線ビームは、
第2の場合より第1の場合の方がより広く、ダイヤスラ
ム本体の直径が放射源からのその距離に関して大きくな
るにつれ、その差はより大きくなる。。
リットが第2のダイヤフラム本体に単一の孔として設け
られており、そのスリットは第1のダイヤフラム本体の
スリットより実質的に広く、少なくとも約180°の円
周に亘って延在する。従って、スリットは、第2のダイ
ヤフラム本体の半回転生順次に横切られ、X線ビームは
連続的に一方から他方に動く。第1のダイヤフラム本体
の回転数が、第2のダイヤスラム本体より大きいので、
第1のダイヤフラム本体の1つのスリットは、スリット
又はダイヤフラム本体が放射源に面する時横断され、隣
りのスリブl−は、それ又はダイヤスラム本体が放射源
から遠い場合に横断される。形成されるX線ビームは、
第2の場合より第1の場合の方がより広く、ダイヤスラ
ム本体の直径が放射源からのその距離に関して大きくな
るにつれ、その差はより大きくなる。。
上記状態が本発明の更に他の実施例で満たされない場合
、X線ビームが交Hに広くなったり、狭くなったりする
のを防ぐため、n個の孔が第2のダイヤフラム本体に設
けられる1、ここで、nは第1のダイヤスラム本体のス
リブ]〜の数であり、孔は円周上互いに180°/nの
角度ずれており、それらの軸位置は毎回放射が関連する
孔を介してスリット通過するよう毎回−のスリブ1への
軸位置に対応する。
、X線ビームが交Hに広くなったり、狭くなったりする
のを防ぐため、n個の孔が第2のダイヤフラム本体に設
けられる1、ここで、nは第1のダイヤスラム本体のス
リブ]〜の数であり、孔は円周上互いに180°/nの
角度ずれており、それらの軸位置は毎回放射が関連する
孔を介してスリット通過するよう毎回−のスリブ1への
軸位置に対応する。
第1図中参照番号1は、破線により示されたX線ビーム
2を放射するX線管(図示せず)の焦点を示す。XwA
ビーム2は半円断面を有する中空円筒により形成された
ダイヤフラム本体3に入射する。、その端面で、ダイヤ
フラム本体は円形ディスク4により支持される。ディス
ク4はモータ(図示せず)により回転軸5の周りに回転
可能であり、軸5に中空円筒3の内面の湾曲の中心があ
る。破線6で示される如く、ディスク4は軸方向には動
かない。これは、例えばX線源に接続されたハウジンク
(図示せず)に配置された各ベアリングの軸5の周りに
回転可能であるようディスク4を軸支するようことによ
り達成される。
2を放射するX線管(図示せず)の焦点を示す。XwA
ビーム2は半円断面を有する中空円筒により形成された
ダイヤフラム本体3に入射する。、その端面で、ダイヤ
フラム本体は円形ディスク4により支持される。ディス
ク4はモータ(図示せず)により回転軸5の周りに回転
可能であり、軸5に中空円筒3の内面の湾曲の中心があ
る。破線6で示される如く、ディスク4は軸方向には動
かない。これは、例えばX線源に接続されたハウジンク
(図示せず)に配置された各ベアリングの軸5の周りに
回転可能であるようディスク4を軸支するようことによ
り達成される。
ダイヤフラム本体はX線が実質的に完全に吸収されるよ
うな材料から作られ、そのような厚さを有する。ダイヤ
フラム本体の厚さ及び材料は、X線の強度に依存する。
うな材料から作られ、そのような厚さを有する。ダイヤ
フラム本体の厚さ及び材料は、X線の強度に依存する。
120kvのX線管電圧に対して、タングステン又はタ
ンゲスアン合金から成り、1.5.の厚さを有するダイ
ヤフラム本体は、実質的に完全にX線を吸収する。1本
体3の厚さは、次の関係から生じる値dmに制限される
。
ンゲスアン合金から成り、1.5.の厚さを有するダイ
ヤフラム本体は、実質的に完全にX線を吸収する。1本
体3の厚さは、次の関係から生じる値dmに制限される
。
dm=w/jan (β/2)、
ここで、βがX線ビームの偏向角、WはX線ビームの幅
である。1例えば23°の偏向角に対して、w= 0.
5am+、 dm = 2.45 mである。
である。1例えば23°の偏向角に対して、w= 0.
5am+、 dm = 2.45 mである。
ダイヤフラム本体3は、ダイヤフラム本体の一角(上布
)を反対の角(1左)に接続する螺旋状スリット9を設
けられている3、スリットの幅は、形成されるべきX線
ビームの寸法に適合される。
)を反対の角(1左)に接続する螺旋状スリット9を設
けられている3、スリットの幅は、形成されるべきX線
ビームの寸法に適合される。
ダイヤフラム本体の反対側(焦点1から見て)で、直線
状スリットよりなる固定ダイヤフラムが配置されている
。放射源1.ダイヤフラム本体3゜及びダイヤフラム7
は、ダイヤフラム本体の回転軸5がスリット8の中心線
及び焦点1により決まる平面に位置し、ダイヤフラム7
により決まる平面に平行に延在するように互いに配置さ
れていることが望ましい。焦点1は、面が回転軸に関し
て垂直に延在するダイヤスラム本体3及びダイヤフラム
面7の対称面に出来るだ番プ配置されるべきである。
状スリットよりなる固定ダイヤフラムが配置されている
。放射源1.ダイヤフラム本体3゜及びダイヤフラム7
は、ダイヤフラム本体の回転軸5がスリット8の中心線
及び焦点1により決まる平面に位置し、ダイヤフラム7
により決まる平面に平行に延在するように互いに配置さ
れていることが望ましい。焦点1は、面が回転軸に関し
て垂直に延在するダイヤスラム本体3及びダイヤフラム
面7の対称面に出来るだ番プ配置されるべきである。
X線ビーム2は、交差のこの点の周りの所定の領域にお
けると同様、スリン]−が回転軸5及び焦点1により画
成される面により交差される領域でダイヤスラム本体の
スリット9を通る。しかし、ダイヤフラム面7は、交差
の点から現われるX線ビームだけを伝送し、スリットか
らのこのビームの両側に現われるX線を実質的に抑圧し
、これにより、該面の上及び干で、それで小さな断面(
ペンシルビーム)を有するX線ビーム11がスリット8
から現われる。
けると同様、スリン]−が回転軸5及び焦点1により画
成される面により交差される領域でダイヤスラム本体の
スリット9を通る。しかし、ダイヤフラム面7は、交差
の点から現われるX線ビームだけを伝送し、スリットか
らのこのビームの両側に現われるX線を実質的に抑圧し
、これにより、該面の上及び干で、それで小さな断面(
ペンシルビーム)を有するX線ビーム11がスリット8
から現われる。
矢印10により示された方向に軸5の周りにダイヤフラ
ム本体が回転するのに応じて、その而とスリット9の間
の交差の点は、右に変位され、それにより、XIi!ビ
ーム8はスリットの直線端部に達するまで右に進む。ダ
イヤスラム本体がさらに回転した時、X線ビームは、先
ずスリット9の左端を横切り、続いて右に動き、これに
よりダイヤフラム本体が一定速度で回転する際X線ビー
ムの周期的のこぎり波状動作がなされる。
ム本体が回転するのに応じて、その而とスリット9の間
の交差の点は、右に変位され、それにより、XIi!ビ
ーム8はスリットの直線端部に達するまで右に進む。ダ
イヤスラム本体がさらに回転した時、X線ビームは、先
ずスリット9の左端を横切り、続いて右に動き、これに
よりダイヤフラム本体が一定速度で回転する際X線ビー
ムの周期的のこぎり波状動作がなされる。
動作の終り端(右)及び新たな始まり端(左)との間の
時間間隔は、一方ではダイヤフラム本体のスリット9に
より示される円周角に依存し、他方では本体自身の断面
により示される弧に依存する。この間隔が短かいと、弧
は180°よりやや大きいだけであり、ダイヤフラム本
体の周りのスリット9により示される角度は180°で
なければならない。弧は正確に180°に作られる必要
はない。
時間間隔は、一方ではダイヤフラム本体のスリット9に
より示される円周角に依存し、他方では本体自身の断面
により示される弧に依存する。この間隔が短かいと、弧
は180°よりやや大きいだけであり、ダイヤフラム本
体の周りのスリット9により示される角度は180°で
なければならない。弧は正確に180°に作られる必要
はない。
な「なら、ダイヤフラムのエツジが回転軸5及び焦点1
により画成される角度位置を占めるダイヤフラム本体の
角度位置において、X線はダイヤ・フラム本体を通過す
る際スリット7から現われるからである。その結果、ダ
イヤスラム本体の円形断面の弧が、180°よりやや大
ぎくな1ノればならflこれによりスリットは、X線ビ
ーム8がスリットを横断する位置に達するまで、ダイヤ
フラム本体7により焦点1からいつもシールドされる。
により画成される角度位置を占めるダイヤフラム本体の
角度位置において、X線はダイヤ・フラム本体を通過す
る際スリット7から現われるからである。その結果、ダ
イヤスラム本体の円形断面の弧が、180°よりやや大
ぎくな1ノればならflこれによりスリットは、X線ビ
ーム8がスリットを横断する位置に達するまで、ダイヤ
フラム本体7により焦点1からいつもシールドされる。
スリット9は螺旋形を有し、即ちピッチは円筒体の全長
に亘って一定であるとする。しかし、多くの揚台、ビー
ムがエツジより中央でより早く(又はより遅く)動くこ
とが望ましい。かかる実施例は第2図に示され、ここで
は固定ダイヤフラム7とダイヤフラム7の側から見たダ
イヤフラム本体3を示す。スリットのピッチ(軸方向に
見た)はエツジより中央で大きく現われる。従って、ダ
イヤフラム本体の一定回転速度の場合、X線ビームはエ
ツジより中心でよりψく動く。
に亘って一定であるとする。しかし、多くの揚台、ビー
ムがエツジより中央でより早く(又はより遅く)動くこ
とが望ましい。かかる実施例は第2図に示され、ここで
は固定ダイヤフラム7とダイヤフラム7の側から見たダ
イヤフラム本体3を示す。スリットのピッチ(軸方向に
見た)はエツジより中央で大きく現われる。従って、ダ
イヤフラム本体の一定回転速度の場合、X線ビームはエ
ツジより中心でよりψく動く。
第3図は、スリット9が2つの段付曲線9a及び9bに
より形成された実施例を示し、幅対高さの比は、全ての
段について同じであり、ダイヤフラム本体の長さと円周
との比に対応する。本実施例で、形成されたX線ビーム
は連続的には動かず、間歇的に動く。これは種々の応用
、例えば、最初のビームの強度(検査領域の他側での)
が隣り合って、配置された複数の検出器により測定され
る応用に対して利点がある。
より形成された実施例を示し、幅対高さの比は、全ての
段について同じであり、ダイヤフラム本体の長さと円周
との比に対応する。本実施例で、形成されたX線ビーム
は連続的には動かず、間歇的に動く。これは種々の応用
、例えば、最初のビームの強度(検査領域の他側での)
が隣り合って、配置された複数の検出器により測定され
る応用に対して利点がある。
ダイヤフラム本体が一部ユニットを形成する場合、ダイ
ヤフラム本体の断面の弧で示される角度は、スリットに
より示される円周角より常に大きくなければならない(
機械的理由で)。これは、X線ビームの消滅(右端で)
及びその再出現(左端で)の間の詩間経過の間隔を延ば
す。さらに、明白に第3図に示す如く段状が必要とされ
る場合、一体のダイヤフラム本体にスリットを形成する
ことは比較的複雑である1゜ これらの欠点は、スリットにより分離された2つの整合
部からダイヤフラム本体を製造することにより避けるこ
とができ、それらの端ではディスクに設けられたセグメ
ント状溝に挿入されることによりディスク4に強固に接
続される。スリット9の所望のコースは、ダイヤスラム
本体を形成する2つの部分の対向面を適宜に製造するこ
とにより比較的に簡単に実現できる。
ヤフラム本体の断面の弧で示される角度は、スリットに
より示される円周角より常に大きくなければならない(
機械的理由で)。これは、X線ビームの消滅(右端で)
及びその再出現(左端で)の間の詩間経過の間隔を延ば
す。さらに、明白に第3図に示す如く段状が必要とされ
る場合、一体のダイヤフラム本体にスリットを形成する
ことは比較的複雑である1゜ これらの欠点は、スリットにより分離された2つの整合
部からダイヤフラム本体を製造することにより避けるこ
とができ、それらの端ではディスクに設けられたセグメ
ント状溝に挿入されることによりディスク4に強固に接
続される。スリット9の所望のコースは、ダイヤスラム
本体を形成する2つの部分の対向面を適宜に製造するこ
とにより比較的に簡単に実現できる。
ダイヤフラム板7のスリット9の中心投影(焦点1から
の如く)は90’以外の角度でスリット8と交差するの
で、X線ビーム11の断面は、たとえスリット8及び9
の幅が同じでも、それに垂直な方向よりスリットの方向
上より大きい。この差は、ダイヤフラム本体3の直径が
より小さく、その長さがより大きくなるにつれより大き
くなる6゜より明瞭な横方向の限定は、焦点1及びスリ
ット8により決定される平面から軸5を傾けることによ
り達成され、つまり、これにより、ダイヤフラム本体の
右側は持ち上げられ、左側が下げられる。これは、従っ
てスリット9及びスリット8の中心投影間の角面がより
大ぎいからであり、それによりX線ビーム11は横方向
に多少より厳密に決定される6、シかし、ダイヤフラム
本体3の弧は、所定の位置にダイヤフラム本体をバイパ
スする間X線がスリットに達するのを避ける為、180
°を越えてさらに長くさるへきである。
の如く)は90’以外の角度でスリット8と交差するの
で、X線ビーム11の断面は、たとえスリット8及び9
の幅が同じでも、それに垂直な方向よりスリットの方向
上より大きい。この差は、ダイヤフラム本体3の直径が
より小さく、その長さがより大きくなるにつれより大き
くなる6゜より明瞭な横方向の限定は、焦点1及びスリ
ット8により決定される平面から軸5を傾けることによ
り達成され、つまり、これにより、ダイヤフラム本体の
右側は持ち上げられ、左側が下げられる。これは、従っ
てスリット9及びスリット8の中心投影間の角面がより
大ぎいからであり、それによりX線ビーム11は横方向
に多少より厳密に決定される6、シかし、ダイヤフラム
本体3の弧は、所定の位置にダイヤフラム本体をバイパ
スする間X線がスリットに達するのを避ける為、180
°を越えてさらに長くさるへきである。
第4図は、ダイヤフラム本体の同じ長さ及び同じ直径に
対して、形成されたX線ビーム11の実質的によりよい
横方向の限定を生ずる望ましい実施例を示す。唯一つの
ダイヤフラム本体の代りに、放射源1及びダイヤフラム
部7の間で、第1のダイヤフラム本体3及び第2のダイ
ヤフラム本体12が配置される。これら本体は一方が他
方を包囲するように同軸に配置される。2つのダイヤフ
ラム本体は、例えば50mになるそれらの長さに少なく
とも一部に亘って半円形断面を有する。、第1図に示す
装置の如く、放射源1及びダイヤフラム装置の間で、ダ
イヤフラム装置をバイパスする間に放射が発生するのを
妨げるダイヤフラム(凶暴せ!r)が配置される。
対して、形成されたX線ビーム11の実質的によりよい
横方向の限定を生ずる望ましい実施例を示す。唯一つの
ダイヤフラム本体の代りに、放射源1及びダイヤフラム
部7の間で、第1のダイヤフラム本体3及び第2のダイ
ヤフラム本体12が配置される。これら本体は一方が他
方を包囲するように同軸に配置される。2つのダイヤフ
ラム本体は、例えば50mになるそれらの長さに少なく
とも一部に亘って半円形断面を有する。、第1図に示す
装置の如く、放射源1及びダイヤフラム装置の間で、ダ
イヤフラム装置をバイパスする間に放射が発生するのを
妨げるダイヤフラム(凶暴せ!r)が配置される。
第2のダイヤフラム本体12を包囲する第1のダイヤフ
ラム本体3は、第7図の開発と同様第5図に示す。この
第1のダイヤフラム本体は、例えば0.4.の幅を有す
る5つのスリット9a…9eからなる。しかし、異なる
数のスリットが設けられてもよく、この場合この数は奇
数でなければならない。第7図示す如く、スリット9a
…90は全て同じで、一定のピッチを有する。横方向に
夫々のスリットは、半円形断面の領域の長さの175以
上延在する。所定のオーバラップは、従って軸方向のス
リットにより占められる領域の間に存在し、つまり一つ
のスリットは隣りのスリンI〜がまだ完全に終っていな
い時に始まる。1従って、X線ビームの偏向角内で構造
により決まる位置が照射されないことが避けられる。第
1の円筒3を通る断面は、正確に180°の円の弧を示
す。スリットがダイヤフラム本体をスライスしないのを
確実する為、それらは、第7図に示す如く、180°よ
り少し小さな円周の角に口って延在す6.1第6図及び
第8図は、夫々平面図及び展開図にホされた内部の第2
のダイヤフラム本体12が第1のダイヤフラム本体のス
リットの数に対応する数の台形アパーチャに13a…1
3eからなる:従・〕てこの例では、5つの孔がある。
ラム本体3は、第7図の開発と同様第5図に示す。この
第1のダイヤフラム本体は、例えば0.4.の幅を有す
る5つのスリット9a…9eからなる。しかし、異なる
数のスリットが設けられてもよく、この場合この数は奇
数でなければならない。第7図示す如く、スリット9a
…90は全て同じで、一定のピッチを有する。横方向に
夫々のスリットは、半円形断面の領域の長さの175以
上延在する。所定のオーバラップは、従って軸方向のス
リットにより占められる領域の間に存在し、つまり一つ
のスリットは隣りのスリンI〜がまだ完全に終っていな
い時に始まる。1従って、X線ビームの偏向角内で構造
により決まる位置が照射されないことが避けられる。第
1の円筒3を通る断面は、正確に180°の円の弧を示
す。スリットがダイヤフラム本体をスライスしないのを
確実する為、それらは、第7図に示す如く、180°よ
り少し小さな円周の角に口って延在す6.1第6図及び
第8図は、夫々平面図及び展開図にホされた内部の第2
のダイヤフラム本体12が第1のダイヤフラム本体のス
リットの数に対応する数の台形アパーチャに13a…1
3eからなる:従・〕てこの例では、5つの孔がある。
多孔は、第1のダイヤフラム本体3の中心投影が、第1
のダイヤフラム本体(軸り向に)のスリットと少なくと
も客しい長さを右する領域に亘って軸り向に延在する。
のダイヤフラム本体(軸り向に)のスリットと少なくと
も客しい長さを右する領域に亘って軸り向に延在する。
名札13a…13eは、例えば36°を介して、第1の
ダイヤスラム本体のスリット9a…9eにより示された
円周角の115より広い円周角度に亘って延在する。孔
は、180°15、即ち36°だけ円周上ずれている1
、スリット9aに関連した孔13aは、Oから36°の
角度範囲に亘って延在する。第2のスリット6bに関連
した孔13bは、72から108°の角度範囲に亘って
延在し、スリット9Cに関連した第3の孔13cは、 144から1806の角度範囲に亘って延在する。孔1
3dは、36から72°の角度範囲に亘り、孔13eは
108から144°の角度範囲に亘る。外側の孔13a
及び13cの領域にある部分14及び15は、周囲から
孔をクローズオフする。
ダイヤスラム本体のスリット9a…9eにより示された
円周角の115より広い円周角度に亘って延在する。孔
は、180°15、即ち36°だけ円周上ずれている1
、スリット9aに関連した孔13aは、Oから36°の
角度範囲に亘って延在する。第2のスリット6bに関連
した孔13bは、72から108°の角度範囲に亘って
延在し、スリット9Cに関連した第3の孔13cは、 144から1806の角度範囲に亘って延在する。孔1
3dは、36から72°の角度範囲に亘り、孔13eは
108から144°の角度範囲に亘る。外側の孔13a
及び13cの領域にある部分14及び15は、周囲から
孔をクローズオフする。
ダイヤフラム本体3及び12の外径は、夫々例えば12
.5mm及び8.4#に達し、スリン1〜又はアパチャ
が設けられる軸方向の長さは、約50履である。なお、
第4.5,6.7.8図は、ダイヤフラム本体を各回毎
に示しであることに注意のこと。
.5mm及び8.4#に達し、スリン1〜又はアパチャ
が設けられる軸方向の長さは、約50履である。なお、
第4.5,6.7.8図は、ダイヤフラム本体を各回毎
に示しであることに注意のこと。
動作中、ダイヤスラム本体は同方向に回転し、第1のダ
イヤフラム本体の角速度は、第2のダイヤフラムの角速
度の5倍の速さである。、これは、共通駆動モータに接
続された歯つき部分(図示せず)のダイヤフラム本体の
端面を設けることにJ、り達成され、従ってギヤ比は2
つのダイXツノラム本体に対して選ばれる1、従ってで
の代わり、各ダイヤスラム本体に対して、別体のステッ
ピングモータが設けられてもよく、第1のダイヤスラム
本体用モータは同じステップ幅に対し5倍人きい駆動パ
ルスを受け、又はステップ幅を5倍人きい場合同じ数の
パルスを受ける。
イヤフラム本体の角速度は、第2のダイヤフラムの角速
度の5倍の速さである。、これは、共通駆動モータに接
続された歯つき部分(図示せず)のダイヤフラム本体の
端面を設けることにJ、り達成され、従ってギヤ比は2
つのダイXツノラム本体に対して選ばれる1、従ってで
の代わり、各ダイヤスラム本体に対して、別体のステッ
ピングモータが設けられてもよく、第1のダイヤスラム
本体用モータは同じステップ幅に対し5倍人きい駆動パ
ルスを受け、又はステップ幅を5倍人きい場合同じ数の
パルスを受ける。
動作中の所定の時点で、スリット9a…9eはダイヤフ
ラム部7に面し、焦点スポットは、図面の面に垂直に延
びる回転軸5を含む面に配置されるとする。この場合、
X線ビームは、孔13b。
ラム部7に面し、焦点スポットは、図面の面に垂直に延
びる回転軸5を含む面に配置されるとする。この場合、
X線ビームは、孔13b。
ダイヤフラム部7のスリット9b及びスリット8を通過
出来る。全ての他のスリン1へ(より正確に言えば、源
1及び軸5により決定される面に位置するこれらのスリ
ットの一部)は、ダイヤフラム本体12によりシールド
される。回転の影響下で、スリット9bの交差の点及び
該平面は右にシフトされ、つまりX線ビームは右に移動
し、孔13bはスリット9bの端部が達するまで同時に
上方に動く。従って、X線ビームは]度孔13bの1・
側領域から現われる1゜ スリット9bの端部が、この方法で達した場合、スリッ
ト9bを通るビームは、別な回転により妨げられ、第1
のダイヤフラム本体3の前歯(回転の方向に関し)は、
該平面を交差する。その後、放射は、別なスリットを通
り、すなわちその関連する孔が、本実施例で最後に照射
された円周方向の孔に続くスリットは、スリット9e及
び孔13eである。しかし、放射源1に面し、即ち、そ
れはスリット9bが以前に軸5の他端に位置する時、放
射源と軸5の間に位置する。かくて、同じスリット幅に
対して、X線ビームの断面は増す1.形成されたX線ビ
ームの幅を変えると、放射源1及び軸5の間の距離が例
えば12.5#I#Iのダイヤフラム本体3の外径の場
合に110#に達する場合、妨害効果が生ずる。
出来る。全ての他のスリン1へ(より正確に言えば、源
1及び軸5により決定される面に位置するこれらのスリ
ットの一部)は、ダイヤフラム本体12によりシールド
される。回転の影響下で、スリット9bの交差の点及び
該平面は右にシフトされ、つまりX線ビームは右に移動
し、孔13bはスリット9bの端部が達するまで同時に
上方に動く。従って、X線ビームは]度孔13bの1・
側領域から現われる1゜ スリット9bの端部が、この方法で達した場合、スリッ
ト9bを通るビームは、別な回転により妨げられ、第1
のダイヤフラム本体3の前歯(回転の方向に関し)は、
該平面を交差する。その後、放射は、別なスリットを通
り、すなわちその関連する孔が、本実施例で最後に照射
された円周方向の孔に続くスリットは、スリット9e及
び孔13eである。しかし、放射源1に面し、即ち、そ
れはスリット9bが以前に軸5の他端に位置する時、放
射源と軸5の間に位置する。かくて、同じスリット幅に
対して、X線ビームの断面は増す1.形成されたX線ビ
ームの幅を変えると、放射源1及び軸5の間の距離が例
えば12.5#I#Iのダイヤフラム本体3の外径の場
合に110#に達する場合、妨害効果が生ずる。
X線ビームの上記拡大を避【ノる為に、X線はダイヤス
ラム本体の前縁が1及び5により決まる平面の下に位置
するまでスイッチオフされる1、スイッチオフは、ダイ
ヤスラム本体5に接続された角度検出器(図示t!!r
)により制御される、。
ラム本体の前縁が1及び5により決まる平面の下に位置
するまでスイッチオフされる1、スイッチオフは、ダイ
ヤスラム本体5に接続された角度検出器(図示t!!r
)により制御される、。
ダイヤスラム本体3の前縁が上記の面を通って上方向に
延びる場合、孔13Cの上縁もこの面に位置する。この
孔は、続いてスリット9Cを開放し、このスリットを介
して現われるX線ビームは再び右に動く。軸方向にスリ
ット9a…9eが上記の如くオーバラップするため、X
線ビームは、平面に関連して、スリット9bの端部に達
した際現われる同じ位置、或いはそれよりほんの少し左
に現われる。その結果、オーバラップ領域におCノるX
線ビームの使用は、スリット9bの端部及びスリット9
Cの始端のX線が足されるので、この領域の外側より高
くなる。1しかし、この効果は、X線ビームのこの位置
で角度検出器により限定された場合補償され、対象(図
示せず)により伝送され又分散されたX線を検出する検
出装置(図示せず)の測定値に、適宜の重みづけ係数を
掛ける。
延びる場合、孔13Cの上縁もこの面に位置する。この
孔は、続いてスリット9Cを開放し、このスリットを介
して現われるX線ビームは再び右に動く。軸方向にスリ
ット9a…9eが上記の如くオーバラップするため、X
線ビームは、平面に関連して、スリット9bの端部に達
した際現われる同じ位置、或いはそれよりほんの少し左
に現われる。その結果、オーバラップ領域におCノるX
線ビームの使用は、スリット9bの端部及びスリット9
Cの始端のX線が足されるので、この領域の外側より高
くなる。1しかし、この効果は、X線ビームのこの位置
で角度検出器により限定された場合補償され、対象(図
示せず)により伝送され又分散されたX線を検出する検
出装置(図示せず)の測定値に、適宜の重みづけ係数を
掛ける。
続いて、X線ビームはスリット9cにより決定される領
域を左から右に動く。
域を左から右に動く。
続いて、X線は、再びスイッヂオノされ、その後孔13
d及びスリット9dが竹動状態になる。
d及びスリット9dが竹動状態になる。
しかし、孔13Cとが以前に軸5の他側(放射源1に関
して)に位置していたなら、次に孔13dは軸5と、放
射源1の間に位置する。、従ってダイヤスラム本体3の
孔13dの投影は増すが、形成されたX線ビームの断面
は専らスリット9a…9e及びスリット8の1つの寸法
により決められるので、妨害効果は有さない。13a…
13eは、スリットの1つを通る放射を許容する役をす
るだけである。
して)に位置していたなら、次に孔13dは軸5と、放
射源1の間に位置する。、従ってダイヤスラム本体3の
孔13dの投影は増すが、形成されたX線ビームの断面
は専らスリット9a…9e及びスリット8の1つの寸法
により決められるので、妨害効果は有さない。13a…
13eは、スリットの1つを通る放射を許容する役をす
るだけである。
X線ビームは又スリット9dにより決められる範囲を横
断した後、スリット9eは、X線のスイッチオノの後、
半回転して動性状態になり;続いてスリット9aが動作
状態になり、以上同様である。従って、5回の順次の回
転内で、放射源により放出されたX線ビームは、スリッ
トを設りたダイヤフラム本体3の領域を一度横断する1
、それらが、隣りの孔に関して円周上180°/ n
fれており、軸方向にスリットの寸法に適合されている
限りにおいて、ダイヤスラム本体12の孔は、他のh法
でその円周に亘って分布される。しかし、空間的に順次
の領域は、X線ビームにより時間的に順次に横断されな
い:即らその代り、ビームは例えばス]〜リップ9Cか
らストリップ9Cへ或いは同様にジャンプする。
断した後、スリット9eは、X線のスイッチオノの後、
半回転して動性状態になり;続いてスリット9aが動作
状態になり、以上同様である。従って、5回の順次の回
転内で、放射源により放出されたX線ビームは、スリッ
トを設りたダイヤフラム本体3の領域を一度横断する1
、それらが、隣りの孔に関して円周上180°/ n
fれており、軸方向にスリットの寸法に適合されている
限りにおいて、ダイヤスラム本体12の孔は、他のh法
でその円周に亘って分布される。しかし、空間的に順次
の領域は、X線ビームにより時間的に順次に横断されな
い:即らその代り、ビームは例えばス]〜リップ9Cか
らストリップ9Cへ或いは同様にジャンプする。
第1のダイヤスラム本体3の直径の放射源1及び回転軸
5の間の距離に対する割合が小さければ小さい程、上記
X線ビームの交nの拡大及び狭小が顕著でなくなる。X
線ビームのかかる「呼吸」が許容されうる場合、ダイヤ
スラム本体3の各半回転毎に放射源1をM0仙とする必
要はない。この場合、第6図及び第8図に示す第2のダ
イヤスラム本体も用いられ、X線ビームは、従って、ス
リット9aからスリット 9 dに更にスリット9b等
にジャンプをする。、シかし、第2のダイヤフラム本体
12は、実質的により単純な構造でよい。
5の間の距離に対する割合が小さければ小さい程、上記
X線ビームの交nの拡大及び狭小が顕著でなくなる。X
線ビームのかかる「呼吸」が許容されうる場合、ダイヤ
スラム本体3の各半回転毎に放射源1をM0仙とする必
要はない。この場合、第6図及び第8図に示す第2のダ
イヤスラム本体も用いられ、X線ビームは、従って、ス
リット9aからスリット 9 dに更にスリット9b等
にジャンプをする。、シかし、第2のダイヤフラム本体
12は、実質的により単純な構造でよい。
この場合に第8図で左上から右下へ延在する単一の螺旋
状の広いスリットを設番ノるだけで十分である。スリッ
トの幅は、X線ビームがスリット9a…9eの1つの中
で動くのを可能にする為十分でなければならないが、1
及び5により決められる而の2つのスリン1〜が同時に
X線にさらされる程大きくてはいけない。この場合、第
1のダイヤフラム孔も、偶数のスリットを設けられても
よい。
状の広いスリットを設番ノるだけで十分である。スリッ
トの幅は、X線ビームがスリット9a…9eの1つの中
で動くのを可能にする為十分でなければならないが、1
及び5により決められる而の2つのスリン1〜が同時に
X線にさらされる程大きくてはいけない。この場合、第
1のダイヤフラム孔も、偶数のスリットを設けられても
よい。
2つのダイヤフラム本体の直径を、スリットを有する第
1のダイヤフラム本体が第2のダイヤフラム本体内に位
置するように、選ぶことも可能である。連続的にX線が
印加される場合、X線ビームの上記[呼吸1は、強調さ
れない;しかし、X線が各半回転復電にスイッチオノさ
れる時、スリットから現われるX線ビームがよく限定さ
れるので、第4図に示す逆転装置(外側の第1のダイヤ
フラム本体)を選ぶのは一般的により効果的である。
1のダイヤフラム本体が第2のダイヤフラム本体内に位
置するように、選ぶことも可能である。連続的にX線が
印加される場合、X線ビームの上記[呼吸1は、強調さ
れない;しかし、X線が各半回転復電にスイッチオノさ
れる時、スリットから現われるX線ビームがよく限定さ
れるので、第4図に示す逆転装置(外側の第1のダイヤ
フラム本体)を選ぶのは一般的により効果的である。
第1図は本発明による第1実施例を示す図、第2図は第
1実施例のグイレフラム本体及びダイヤフラム部を示す
図、第3図は第2実施例のダイヤフラム本体及びダイヤ
フラム部を示す図、第4図は所望の実施例の断面図、第
5図及び第6図は大々第4図に示した実施例の第1及び
第2のタイ−7ノラム本体の平面図、第7図及び第8図
は大々第1及び第2のダイヤスラム本体の開発4示す図
て゛ある。 1…X線管の交点、2,11…X線ビーム、3…ダイヤ
スラム本体、4…円形ディスク、5…回転軸、6…破線
、7…ダイヤフラム、8…スリット、9…螺旋状スリッ
ト110…回転方向、 12…第2のダイヤフラム本体
、13…台形孔。
1実施例のグイレフラム本体及びダイヤフラム部を示す
図、第3図は第2実施例のダイヤフラム本体及びダイヤ
フラム部を示す図、第4図は所望の実施例の断面図、第
5図及び第6図は大々第4図に示した実施例の第1及び
第2のタイ−7ノラム本体の平面図、第7図及び第8図
は大々第1及び第2のダイヤスラム本体の開発4示す図
て゛ある。 1…X線管の交点、2,11…X線ビーム、3…ダイヤ
スラム本体、4…円形ディスク、5…回転軸、6…破線
、7…ダイヤフラム、8…スリット、9…螺旋状スリッ
ト110…回転方向、 12…第2のダイヤフラム本体
、13…台形孔。
Claims (10)
- (1)放射ビームを供給するX線源又はガンマ源(1)
と、放射ビームからX線ビームを形成し、直線スリット
(8)を設けた固定のダイヤフラム部(7)及び回転軸
(5)の周りに回転しその外面に螺旋状スリット(9)
を設けた円筒状の第1のダイヤフラム本体(3)とより
なり、ダイヤフラム本体(3)はその長手の少なくとも
一部に亘って略半円筒断面を有することを特徴とする、
小さな断面を有し方向を可変するX線ビーム又はガンマ
線ビーム(11)を形成する装置。 - (2)ダイヤフラム本体(3)の回転軸(5)は、放射
源(1)及び直線状スリット(8)により決められる平
面に位置することを特徴とする請求項1記載の装置。 - (3)螺旋状スリット(9)は、ダイヤフラム本体(3
)(第2図)の長さに亘つて可変するピッチを有するこ
とを特徴とする請求項1及び2のうちいずれか1項記載
の装置。 - (4)スリットは段状(第3図)であることを特徴とす
る請求項1乃至3のうちいずれか1項記載の装置(第3
図)。 - (5)複数の螺旋状スリット(9a…9e)が第1のダ
イヤフラム本体の軸方向を互いに続いていることを特徴
とする請求項1乃至4のうちいずれか1項記載の装置。 - (6)少なくても1つの孔からなり、その長手の少なく
とも一部に亘って半円形部を有する第2ダイヤフラム本
体(12)が設けられており、2つのダイヤフラム本体
(3、12)は一方が他方を包囲するように同軸に配置
されており、第1のダイヤフラム本体(3)はそれに設
けられたスリットの数の関数として第2のダイヤフラム
本体(12)より早い速度で回転し、第2のダイヤフラ
ム本体の周囲の孔の配置と形状は、使用できるビームが
毎回スリットの唯一つ(例えば9b)を通つて現われる
ようになされていることを特徴とする請求項5記載の配
置。 - (7)第1のダイヤフラム本体(3)が第2のダイヤフ
ラム本体(12)を包囲していることを特徴とする請求
項6記載の装置。 - (8)第1のダイヤフラム本体(3)が放射源(1)及
びダイヤフラム部(7)の間に配置されていることを特
徴とする請求項1乃至7のうちいずれか1項記載の装置
。 - (9)第2のダイヤフラム本体に、n個の孔(13a…
13e)が設けられており、ここでnは第1のダイヤフ
ラム本体のスリットの数であり、孔は円周上互いに18
0°/nの角度ずれており、それらの軸位置は、放射が
毎回スリットの1つ(例えば、8b)及び関連したアパ
ーチャ (13b)を通過するよう各スリット(9a…9e)の
軸位置に対応することを特徴とする請求項5又は7記載
の装置。 - (10)第2のダイヤフラム本体(12)に、第1のダ
イヤフラム本体のスリットより実質的に広く、少なくと
も約180°の円周角に亘って、延在する螺旋状スリッ
トの形の単一の孔が設けられていることを特徴とする請
求項5記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3829688.8 | 1988-09-01 | ||
| DE3829688A DE3829688A1 (de) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | Anordnung zur erzeugung eines roentgen- oder gammastrahls mit geringem querschnitt und veraenderlicher richtung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02108000A true JPH02108000A (ja) | 1990-04-19 |
Family
ID=6362068
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1222765A Pending JPH02108000A (ja) | 1988-09-01 | 1989-08-29 | 小断面及び方向可変のx線又はガンマビームを形成する装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4995066A (ja) |
| EP (1) | EP0357146A3 (ja) |
| JP (1) | JPH02108000A (ja) |
| DE (1) | DE3829688A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003514245A (ja) * | 1999-11-03 | 2003-04-15 | パーキネルマー ディテクション システムズ インク | 回転シリンダ型の複式ビーム変成器 |
Families Citing this family (32)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3908966A1 (de) * | 1989-03-18 | 1990-09-20 | Philips Patentverwaltung | Anordnung zur erzeugung eines roentgen- oder gammastrahls mit geringem querschnitt und veraenderbarer lage |
| US5493596A (en) * | 1993-11-03 | 1996-02-20 | Annis; Martin | High-energy X-ray inspection system |
| SE9401300L (sv) * | 1994-04-18 | 1995-10-19 | Bgc Dev Ab | Roterande cylinderkollimator för kollimering av joniserande, elektromagnetisk strålning |
| FR2764199B1 (fr) * | 1997-06-06 | 1999-07-16 | Arplay | Systeme de collimation pour la radiotherapie externe notamment dans la dmla |
| DE69924001T2 (de) | 1998-11-30 | 2006-02-09 | American Science & Engineering, Inc., Billerica | Röntgenstrahluntersuchungssystem mit kegel- und bleistiftstrahlen aus einer gemeinsamen quelle |
| RU2168229C1 (ru) * | 1999-10-13 | 2001-05-27 | Акционерное общество открытого типа "Московский радиотехнический завод" | Устройство формирования заданного спектра рентгеновского излучения |
| EP1392167B1 (en) * | 2001-04-03 | 2007-10-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Computed tomography apparatus |
| RU2256905C2 (ru) * | 2003-03-24 | 2005-07-20 | Мирочник Эммануил Абрамович | Комплекс рентгенографической инспекции |
| DE102005048519A1 (de) * | 2005-10-06 | 2007-04-19 | BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung | Brennpunktorientierte Blende |
| US8576982B2 (en) | 2008-02-01 | 2013-11-05 | Rapiscan Systems, Inc. | Personnel screening system |
| US8995619B2 (en) | 2010-03-14 | 2015-03-31 | Rapiscan Systems, Inc. | Personnel screening system |
| US8638904B2 (en) | 2010-03-14 | 2014-01-28 | Rapiscan Systems, Inc. | Personnel screening system |
| CN102116747B (zh) * | 2009-12-30 | 2014-04-30 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种背散射成像用射线束的扫描装置和方法 |
| CN102893341A (zh) * | 2010-03-14 | 2013-01-23 | 拉皮斯坎系统股份有限公司 | 波束形成装置 |
| CN102478529A (zh) * | 2010-11-25 | 2012-05-30 | 上海英迈吉东影图像设备有限公司 | X射线飞点的形成装置和方法 |
| CN102565110B (zh) * | 2010-12-31 | 2015-04-01 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种背散射成像用射线束的扫描装置和方法 |
| KR102179573B1 (ko) * | 2012-07-05 | 2020-11-16 | 아메리칸 사이언스 앤 엔지니어링, 인크. | 가변 각도 시준기 |
| CN102901741B (zh) * | 2012-09-28 | 2015-07-15 | 貊梁 | 一种x射线飞点扫描发生器 |
| US9208918B2 (en) * | 2012-11-16 | 2015-12-08 | Neurologica Corp. | Computerized tomography (CT) imaging system with multi-slit rotatable collimator |
| US20140270091A1 (en) * | 2013-03-14 | 2014-09-18 | Lee L. Nemeth | Rotating drum collimator |
| KR20160130482A (ko) | 2014-03-07 | 2016-11-11 | 라피스캔 시스템스, 인코포레이티드 | 초광대역 검출기 |
| US11280898B2 (en) | 2014-03-07 | 2022-03-22 | Rapiscan Systems, Inc. | Radar-based baggage and parcel inspection systems |
| EP3115771B1 (en) * | 2014-03-07 | 2018-04-11 | Powerscan Company Limited | Flying spot forming apparatus |
| LT3146527T (lt) * | 2014-05-22 | 2022-02-25 | Australian Nuclear Science & Technology Organisation | Gama spindulių vizualizavimas |
| WO2016008856A1 (en) * | 2014-07-15 | 2016-01-21 | Koninklijke Philips N.V. | Projection data acquisition apparatus |
| JP2017537399A (ja) | 2014-11-25 | 2017-12-14 | ラピスカン システムズ、インコーポレイテッド | インテリジェントセキュリティ管理システム |
| MX387585B (es) | 2015-01-20 | 2025-03-11 | American Science & Eng Inc | Punto focal dinámicamente ajustable. |
| CN105987920B (zh) * | 2015-02-11 | 2019-10-08 | 北京君和信达科技有限公司 | 一种飞点形成装置及设计方法 |
| EP3520120A4 (en) | 2016-09-30 | 2020-07-08 | American Science & Engineering, Inc. | X-RAY RADIATION SOURCE FOR TWO-DIMENSIONAL SCANNING RADIATION |
| US10948614B2 (en) | 2018-11-01 | 2021-03-16 | H3D, Inc. | Imaging system with one or more mask units and corresponding method of recording radiation |
| FR3115452B1 (fr) * | 2020-10-26 | 2024-06-21 | Thales Sa | Dispositif de radiologie à sources et détecteur disposés en hélice |
| GB2625481B (en) | 2021-11-04 | 2026-04-15 | Rapiscan Holdings Inc | Targeted collimation of detectors using rear collimators |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4399550A (en) * | 1981-02-27 | 1983-08-16 | General Electric Company | Spinning filter for X-ray apparatus |
| DE3135421A1 (de) * | 1981-09-07 | 1983-03-24 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Roentgenuntersuchungsgeraet |
| US4745631A (en) * | 1982-12-27 | 1988-05-17 | North American Philips Corp. | Flying spot generator |
| US4592083A (en) * | 1984-03-27 | 1986-05-27 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | High speed x-ray shutter |
| DE3443095A1 (de) * | 1984-11-27 | 1986-05-28 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Anordnung zur untersuchung eines koerpers mit gamma- oder roentgenstrahlung |
| GB2170980B (en) * | 1985-02-07 | 1988-05-25 | Steve Webb | Ct scanner and detector therefor |
-
1988
- 1988-09-01 DE DE3829688A patent/DE3829688A1/de not_active Withdrawn
-
1989
- 1989-08-29 US US07/400,188 patent/US4995066A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-08-29 JP JP1222765A patent/JPH02108000A/ja active Pending
- 1989-08-30 EP EP19890202193 patent/EP0357146A3/de not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003514245A (ja) * | 1999-11-03 | 2003-04-15 | パーキネルマー ディテクション システムズ インク | 回転シリンダ型の複式ビーム変成器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4995066A (en) | 1991-02-19 |
| DE3829688A1 (de) | 1990-03-15 |
| EP0357146A3 (de) | 1991-03-27 |
| EP0357146A2 (de) | 1990-03-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4995066A (en) | Device for forming an X-ray or gamma beam of small cross-section and variable direction | |
| JP2940556B2 (ja) | X線、ガンマ線発生装置 | |
| US7324623B2 (en) | Computed tomography scanner with large gantry bore | |
| US4315146A (en) | Process and apparatus for scatter reduction in radiography | |
| JP4216078B2 (ja) | パルス運動量移動スペクトルを決定するコンピュータ断層撮影装置 | |
| JP3735066B2 (ja) | 回転シリンダ型の複式ビーム変成器 | |
| JP2914891B2 (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置 | |
| US4266136A (en) | Tomography wherein signal profiles derived from an out-fanning beam of penetrating radiation can be reconstructed corresponding with parallel incident rays | |
| EP1324697B1 (en) | Ct scanner for time-coherent large coverage | |
| JP2012504442A (ja) | コンピュータトモグラフィーx線イメージングを実行するための方法およびデバイス | |
| US20070183560A1 (en) | Method for producing projective and tomographic phase contrast images with the aid of an x-ray system | |
| US20050100126A1 (en) | Computed tomography with z-axis scanning | |
| US5469486A (en) | Projection domain reconstruction method for helical scanning computed tomography apparatus with multi-column detector array employing overlapping beams | |
| US6275561B1 (en) | Computer tomagraphy method with helicoidal scanning of an examination area | |
| WO2001006931A1 (en) | Volumetric ct image reconstruction | |
| JP2000051198A (ja) | 円錐状放射線ビ―ム及び螺旋状走査軌道を用いるコンピュ―タ断層撮影装置 | |
| JP6649410B2 (ja) | X線ビームを生成し、かつ、コリメートするためのシステム | |
| CN100407994C (zh) | 计算的层析x射线成像装置 | |
| EP1941457B1 (en) | Imaging method and device with dual reading scanner | |
| IL156350A (en) | Collimation system for dual slice ebt scanner | |
| EP3215016B1 (en) | Computed tomography apparatus and associated method | |
| US4578801A (en) | Radiography | |
| CN114727793B (zh) | 用于产生3d x射线图像的3d x射线设备和方法 | |
| JP2006513764A (ja) | 非対称コーンビーム | |
| US20120082291A1 (en) | Method And CTDevice For Computer Tomographic Spiral Scanning Of A Patient |