JPH02108153U - - Google Patents

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JPH02108153U
JPH02108153U JP1729689U JP1729689U JPH02108153U JP H02108153 U JPH02108153 U JP H02108153U JP 1729689 U JP1729689 U JP 1729689U JP 1729689 U JP1729689 U JP 1729689U JP H02108153 U JPH02108153 U JP H02108153U
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JP
Japan
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test mode
signal
test
oscillation
microcomputer
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【図面の簡単な説明】
第１図は本考案のマイクロコンピユータのテス
ト回路を示す回路図、第２図は第１図で各種テス
トモードを実行するための各種データを示す特性
図である。 １，２…発振用端子、３…インバータ、８…内
部クロツク発生回路、１７…インバータ制御回路
、２２…ＡＮＤゲート、２３…テストモード制御
回路。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 発振回路が外部接続される一対の発振用端
    子と、該一対の発振用端子に、前記発振回路の一
    部として入出力端子が接続されるインバータと、
    一方の前記発振用端子に生じる発振信号に基づい
    て、マイクロコンピユータ内部の動作を制御する
    ための内部クロツクを発生する内部クロツク発生
    回路と、前記マイクロコンピユータを所定のテス
    トモードに制御するためのテストモード制御信号
    を発生するテストモード制御回路とを備えた、マ
    イクロコンピユータのテスト回路において、 前記テストモード制御回路に印加される、マイ
    クロコンピユータをテスト状態にするためのテス
    ト信号に基づい、前記インバータの動作を禁止さ
    せて前記発振回路による自走発振を禁止させるイ
    ンバータ制御回路と、 前記テスト信号に基づき、他方の前記発振用端
    子への入力が前記テストモード制御回路に印加さ
    れることを許可する発振用端子制御回路とを備え
    、 前記マイクロコンピユータのテスト時、該マイ
    クロコンピユータを所定のテストモードに設定す
    るためのテストモード設定信号を、他方の前記発
    振用端子に印加し、少なくとも前記テスト信号及
    び前記テストモード設定信号に基づき、前記テス
    トモード制御回路から所定のテストモード制御信
    号を発生することを特徴としたマイクロコンピユ
    ータのテスト回路。 (2) マイクロコンピユータのテスト時、前記テ
    スト信号、前記テストモード設定信号、及びリセ
    ツト端子に印加された信号を、前記テストモード
    制御回路に印加し、前記テストモード設定信号及
    び前記リセツト端子に印加された信号の組み合わ
    せ結果に基づき、前記テストモード制御回路から
    所定のテストモード制御信号を発生させることを
    特徴とした請求項(1)記載のマイクロコンピユー
    タのテスト回路。
JP1729689U 1989-02-16 1989-02-16 Pending JPH02108153U (ja)

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