JPH02108918A - 測定値発生器の欠陥検出回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、試験のために試験信号を測定値発生器回路に
送り込む誘導又は容量側定値発生器用の測定値発生器の
欠陥検出回路に関する。

〔従来の技術〕 この種の測定値発生器欠陥検出回路は、測定値発生器が
安全性の点で重要な装置に使用される場合には常に必要
である。これは特に、固着防止された車両用制動装置に
測定値発生器を使用する際にもあてはまる。このような
制動装置には通常、車輪速度の検出のために誘導測定値
発生器が使用される。このような測定値発生器は高い汚
損及び振動負担にさらされているから、これらの測定値
発生器は比較的故障しやすい。

このような測定値発生器の故障は、固傍防止された制動
装置の欠陥のある調整を回避するために、絶対に検知さ
れ得なければならない。

ドイツ連邦共和国特許出ｍ公開第３１２６１０２号明細
書から、固着防止調整装置用の欠陥検出回路は公知であ
る。この欠陥検出回路は車両の停止中に固着防止調整回
路を検査する。このために安全回路は既存の４つの車輪
速度測定値発生器をすべて遮断する０次いでそれぞれの
調整回路対に同じ試験信号が供給される。これらの同じ
試験信号は両方の調整回路対のそれぞれを通過する。欠
陥検出＠路は、出力＠側で各調整回路対に生ずる信号を
互いに比較する。この欠陥検出回路は、機能を果たす能
力のある調整回路において、発生する信号が同じである
という前提から出発している。それに反してこれらの信
号列の不一致が検知できたらすぐに警報又は切換信号が
発生される。車輪速度ｌ！！Ｉ定値発生器自体の試験は
行なわれない。

ドイツ連邦共和国特許出願公開第３２３４６３７号明細
書から、制動滑り調整装置用の欠陥検出回路が公知であ
り、この欠陥検出回路では、車輪の停止中に無安定マル
チバイブレータによって測定値発生器も監視される。そ
の際、健全な測定値発生器が接続されている場合は周波
数の低い固有周波数振動が生じ、しかしこの固有周波数
振動は短絡又は断線による測定値発生器の欠陥の際に止
まる。それによって、作動能力のある他の測定値発生器
回路との信号列の偏差が生じ、この偏差は欠陥と認めら
れる。この回路は比較的費用をかけて構成されている。

〔発明が解決しようとする諜顆〕

本発明の基礎になっている課題は、冒頭に挙げた種類の
欠陥検出回路を改良して、どの測定値発生器回路も同様
な回路に関係なく個々に、しかも最も簡単な構成のもと
に監視することができるようにすることである。

〔課題を解決するための手段〕

この課題は本発明によれば、測定値発生器を通過する試
験信号の走行時間が時間測定装置によって評価可能であ
ることによって解決される。

本発明のそれ以外の構成及び有利な実施例は、特許請求
の範囲の実施態様項に記載されている。

必要なことは、時間差測定装置と接続可能である誘導又
は容量測定値発生器であることだけである。なぜならば
測定値発生器のインピーダンスが欠陥検出のために利用
されるからである。

測定値発生器の欠陥検出回路は測定値発生器回路内の断
線欠陥及びすべての短絡欠陥を検知する。

特に、本発明による測定値発生器欠陥検出回路の簡単な
構成も有利である。測定値発生器は通常、インダクタン
ス又はコンデンサとして構成されているから、これらの
測定値発生器は既に、必要な時限素子の一部を形成して
おり、この時限素子は、測定値発生器部分のない別の測
定値発生器回路部分に対して試験パルスの走行時間遅れ
を生ぜしめる。従って、測定値発生器の欠陥検出回路を
実現するためには通常、時間測定回路だけが付加的に必
要であるにすぎない。

〔実施例〕

図面に示されている実施例について本発明の詳細な説明
する。

第１図は、誘導測定値発生器と、試験信号発生器と、付
加的な時限素子と、時間差測定装置と、遮断兼表示装置
とを持つ欠陥検出回路の概略的回路構成を示している。

誘導測定値発生器はインダクタンスｌとして示されてい
る。この測定値発生器は第１の接続導線２を介してコン
デンサ４と接続されている。

この場合、測定値発生器１はコンデンサ４と相まって同
時に時限素子である。測定値発生器！は第１の接続導線
２を介して、遅延時間Ｔ１を持つ第１の時限素子５とも
接続されている。この第１の時限素子５は出力端側で時
間測定回路７の入力端と接続されている０時間差測定装
置７の出力端から信号導線８が増幅回路９へ導かれてお
り、この増幅回路の出力端は遮断装置１０及び通報装置
１１を付勢する。

測定値発生器ｌは更に第２の接続導線３に接続されてお
り、この接続導線は測定値発生器！を、導線１３を介し
て試験信号発生器１２と接続している。この試験信号発
生器の端子は、遅延時間Ｔ２を持つ第２の時限素子６へ
も導かれており、この時限素子は出力端側で時間差測定
装置７と接続されている。

試験信号発生器１２は電子回路として構成されており、
この回路は所定の時間間隔を置いて試験信号を発生する
。これらの試験信号は、測定値発生器ｌが発生する有効
パルスに影響を及ぼさないように、選ばれる。なぜなら
ば欠陥検出回路は固着防止装置の作動中にも測定値発生
器回路を監視するからである。これらの試験パルスは第
２の接続導線３に送り込まれかつ測定値発生器１のイン
ダクタンス及び通に接続されたコンデンサ４を通過する
。その際、コンデンサ４に時間のずれた電圧パルスが発
生する。これらの電圧パルスは同時に第１の時限素子５
にも発生する。この種の時限素子５はセンサパルスをＭ
ｉ波するために使われかつＲＣ９子から成り、このＲＣ
素子は出力端において更に電圧パルスの時間のずれを生
ぜしめる。この電圧パルスは時間差測定装置７の入力端
２３へ達する。

第２の接続導線３に送り込まれる測定パルスは、同時に
第２の時限素子６にも印加している。

両方の時限素子５，６は同じに構成されているから、第
２の時限素子における時間遅れは第１の時限素子５の場
合と同じである。試験パルスは第２の時限素子６により
同様に時間をずらされるが、しかしこれらの試験パルス
は健全な測定値発生器１では一層早く時間差測定装置７
へ達する。この時間差測定装置は両方の受信時点を互い
に比較しかつこれらの受信時点の時間のずれを検知する
。この時間のずれは所定の値を下回ってはならないが、
しかし他の値を越えてもいけない８時間のずれが所定の
許容範囲にある場合に初めて測定値発生器回路は正常で
あると評価される。

それに反して接続導線のうちの１つが断線されている場
合は、時間のずれは許容範囲を越える。このような場合
に時間差測定装置７は欠陥信号を発生し、この欠陥信号
は出力端側で増幅回路９を介して遮断装置１０及び通報
装置１１を付勢する。遮断装置１０により、固着防止さ
れた制動装置の回路を遮断することができる０通報装Ｆ
ｉｌｌにより、同時にこのような車両の運転者に欠陥を
通報することができる。

更に、測定値発生器ｌ又は接続導線２，３に短絡がある
こともあり得る。このような場合に、試験信号は測定値
発生器ｌのインダクタンス及び付属のコンデンサ４によ
り影響を及ぼされないので、試験信号は必要な時間間隔
を置いて時間差測定装置７により検出されることはない
。

しかし受信された試験信号の間に必要な時間間隔がない
場合は、時間差測定装置７は欠陥信号を生ぜしめ、この
欠陥信号は、上述したように、遮断及び通報を行なう。

本発明による監視回路によれば、測定値発生器の作動中
に簡単なやり方で監視を行なうことができる。このため
に、大体において付加的な部品はほとんど必要でない、
必要なコンデンサ４は大抵フィルタコンデンサとして存
在しており、このフィルタコンデンサは測定値発生器信
号の外乱パルスを抑制する。更に、通常は時限素子５も
信号フィルタとして存在する。従ってこの欠陥検出回路
を実現するために、時間差測定回路及び試験信号発生器
回路だけしか必要でない、しかしこれらの＠路は集積回
路によりコスト的に有利に実現可能である。

マイクロプロセッサ方式の、固着防止された制動装置の
調整回路を考察すると、マイクロブ第２図に欠陥検出回
路の接続図が示されており、この接続図は、固着防止さ
れた制動装置にある誘導測定値発生器用の試験開閉回路
を示している。この試験開閉回路は大体において測定値
発生器回路及び試験信号の供給回路から成る。

この試験回路は誘導測定値発生器ｌを含んでいる。この
測定値発生器ｌはコンデンサ４と接続されており、この
コンデンサは高域フィルタとして使われる。同時にＲＣ
素子５が接続されており、このＲＣ素子は信号フィルタ
でもあり、又時限素子でもある。このＲＣ素子はシュミ
ットトリガ１５と接続されており、このシュミットトリ
ガは出力端側で時間差測定装置７を付勢する。

測定値発生器１の第２の端子は結合コンデンサ１６及び
同時に抵抗１７と接続されている。この結合コンデンサ
１６を介して供給回路が測定値発生器回路と接続されて
いる。この供給回路はパルス発生器としてのエミッタ回
路内のトランジスタ増幅器１８から成り、このトランジ
スタ増幅器は入力端側で制御パルス端子１９と接続され
ている。この制御パルス端子１９から導線２０を介して
、時限素子としての第２のＲＣ素子６を持つ測定値発生
器回路の他方の分校が分岐し、このＲＣ素子はシュミッ
トトリガ２１を介して時間差測定装置７へ至る。

上述した第２図による欠陥検出回路は大体において、第
１図の接続図に基づいて説明された回路のように動作す
る。第２図による欠陥検出回路は、試験パルス用の信号
増幅を挿入したことで異なるだけである。この場合、信
号増幅回路は試験信号端子１９を介して立置＝付勢され
る。増幅された試験信号は結合コンデンサ１６を介して
測定値発生器回路に供給される。　ＲＣ素子５．６に生
ずる試験電圧パルスは両方のシュミットトリガ１５．２
１へ供給される。これらのシュミットトリガは電圧ピー
クから増幅された方形パルスを形成し、これらの方形パ
ルスは時間差測定回路７におけるディジタル評価を可能
にする。

測定値発生器用のこの皿の欠陥検出回路は誘導測定値発
生器に限られずに、原則的には容量測定値発生器にも使
用可能である。このために、時限素子が適当に設訂され
ていることが必要であるにすぎない、なお、このような
欠陥検出回路は制動調整回路における使用に限られるの
ではなくて、測定値発生器が誘導又は容量素子から成る
すべての測定値発生器回路にも使用可能である。このよ
うな測定値発生器回路においては、付加的な時限素子が
存在することは必ずしも必要でない、いかなる場合にお
いても、測定値発生器のインピーダンス及び付加的な容
量又は誘導部品から形成される時限素子で十分である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による、時間差測定回路を持つ測定値発
生器欠陥検出回路の接続図、第２図は第１図の接続図の
詳細な構成図である。 ・・・測定値発生器、 時限素子、 ・時間差測定装置

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １　試験のために試験信号を測定値発生器回路に送り込
   む誘導又は容量測定値発生器（１）用の測定値発生器の
   欠陥検出回路において、測定値発生器を通過する試験信
   号の走行時間が時間測定装置によつて評価可能であるこ
   とを特徴とする、測定値発生器の欠陥検出回路。 ２　時間差測定装置（７）が、この時間差測定装置によ
   り、少なくとも２つの異なる試験路を通過する試験信号
   の走行時間差が検出可能であるように、構成されており
   、この試験信号が、一方では測定値発生器（１）を介し
   て、他方では直接又は時限素子（５）を介して時間差測
   定装置（７）へ達するように、測定値発生器回路に供給
   可能であり、この時間差測定装置（７）が、所定の走行
   時間差を上回る又は下回る際に警報又は切換信号が発生
   されるように、構成されていることを特徴とする、請求
   項１に記載の測定値発生器の欠陥検出回路。 ３　測定値発生器（１）が車輪の速度検知のための誘導
   棒状センサであり、この棒状センサがコンデンサ（４）
   と接続されかつこのコンデンサと共に時限素子を形成し
   ていることを特徴とする、請求項１及び２のうち１つに
   記載の測定値発生器の欠陥検出回路。 ４　測定値発生器回路が付加的な時限素子（５、６）を
   含んでおり、少なくとも第１の時限素子（５）が測定値
   発生器（１）と時間差測定装置（７）との間に配置され
   かつ少なくとも第２の時限素子（６）が信号供給点と時
   間差測定装置（７）との間に配置されていることを特徴
   とする、請求項１ないし３のうち１つに記載の測定値発
   生器の欠陥検出回路。 ５　時間差測定装置（７）が、第１の試験信号入力端（
   ２２）で受信された試験信号により作動せしめられるよ
   うに構成されており、この時間差測定装置が、第２の試
   験信号入力端（２３）で受信された試験信号の時間差を
   検出しかつ所定の時間差を上回る又は下回る際に出力信
   号を形成し、この出力信号が欠陥表示のために又は測定
   値発生器回路の遮断のために使われることを特徴とする
   、請求項１ないし４のうち１つに記載の測定値発生器の
   欠陥検出回路。 ６　回路が集積開閉回路として構成されていることを特
   徴とする、請求項１ないし５のうち１つに記載の測定値
   発生器の欠陥検出回路。 ７　回路の機能が、固着防止された制動装置の調整回路
   のマイクロプロセッサにより付加的に実行されることを
   特徴とする、請求項１ないし６のうち１つに記載の測定
   値発生器の欠陥検出回路。