JPH02109202A - セラミックインダクタ部品およびセラミックlc部品 - Google Patents

セラミックインダクタ部品およびセラミックlc部品

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JPH02109202A
JPH02109202A JP26123788A JP26123788A JPH02109202A JP H02109202 A JPH02109202 A JP H02109202A JP 26123788 A JP26123788 A JP 26123788A JP 26123788 A JP26123788 A JP 26123788A JP H02109202 A JPH02109202 A JP H02109202A
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JP
Japan
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ceramic
parts
external electrode
conductive paste
conductor layer
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JP26123788A
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English (en)
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Takeshi Nomura
武史 野村
Daisuke Ikeda
大輔 池田
Nobuo Kaihara
海原 伸男
Akio Okamura
岡村 昭雄
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TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、セラミックインダクタ部品およびセラミック
LC部品に関する。
〈従来の技術〉 積層セラミックインダクタ部品、積層セラミックLC部
品の内部導体層は、導電体材料にAgを用いた導電性ペ
ーストから形成される場合が多い。
このように導電体材料にAgを用いるのは、磁性層を形
成する磁性材料として、低温焼成用のNLCu−Znフ
ェライト等のIqi系フェライトが使用されていること
が多いが、このような場合高い品質係数が得られるから
である。
また、外部電極を形成する導電性ペーストの導電体材料
としては、Agに接着性を向上させるためにガラスフリ
ットを添加したものが主として用いられている。
〈発明が解決しようとする課題〉 し5かし7ながら、上記のように、外部電極に導電体材
料としてAgを用いた導電性ペーストを適用すると、内
部導体層にもAgを用いており、また内部導体層を焼結
した後、さらに外部電極を形成、焼成するため、化学的
活性は低く、内部導体層と夕(部電極とにおいて銀同志
の接続が悪くなり、Q値等の特性が悪化し、またそのベ
ラツキが多くなるという問題がある。
本発明は、内部導体層と外部電極との接続に優ね、特性
が高く、またそのバラツキの少ないセラミックインダク
タ部品およびセラミックL C,部品を提供することを
目的としている。
〈課題を解決するだめの手段〉 上記目的を達成するために、本発明のセラミックインダ
クタ部品およびセラミックr−c部品は、内部導体層と
磁性層と外部N極とを有するものであって、前記内部導
体層がAgを主体とする導電体材料を含有する導電性ペ
ーストから形成されたものであり、前記外部電極がAg
と、Agに対して1〜10wt、%のPdを含む導電性
材料を含有する導電性ベーストから形成されたものであ
る。
以下、本発明の構成について詳細に説明する。
本発明のセラミックインダクタ部品およびセラミックL
C部品における外部電極は、導電体材料としてAgを用
いた導電性ベーストから形成されるものであり、この場
合Agに対してPdを1〜LOwt%、好ましくけ2〜
6wt%添加するのがよい。
このような添加量とすることによって、カーケンドール
効果により内部導体層のAgと外部電極のPdとの間の
合金反応が生じる。
1wt、%未満となるとPd添加の効果がなくなり、特
性が低下し、そのバラツキが多くなる。
また1、0wt%をこえると焼結が回置されて外部電極
としたときの膜密度が低下し、物性が低F L、、その
バラツキが増大する。
添加するPdは、Pd単体の形であっても、焼成後Pd
となる酸化物であってもよい。 また、有機金属化合物
、レジネートであってもよい。
また、導電体材料のAgは、Ag単体あるいは焼成後A
 gとなる酸化物、有機金属化合物、レジネートであっ
てもよい。
本発明においては、内部導体層の導電体ペーストにA 
gを主体どする導電体材料を用い、かつ外部電極の導電
性ペーストにも上述のようにAgを導電体材料として用
いるものである。
このように内部導体層にAgを主体とする導電体材料を
用いるのは、後述するように、焼成温度の関係で磁性層
にNLCu系のフェライトが好ましく用いられるが、そ
のような場合Agを主体とする導電体材料とすることに
より、高い品質係数が得られるからである。
内部導体層における導電体材料は、Agを主体とするも
のであれば特に制限はなく、Ag41体、Ag合金のい
ずれであってもよい。 Ag合金の場合は、Agが95
wt、%以上含有されることが好ましく、具体的にはA
gCu。
Ag−Pd等が挙げられる。 上記において、Agの一
部は酸化銀であってもよい。
上記において、導電性ベースト中に含有さ11るAg等
の導電体材料の形状には特に制限はなく、球状、リン片
状またはそれらの形状が混合したものであってもよい。
外部電極または内部導体層を形成する導電性ペーストは
、上記のような導電体材料を有機質ビヒクル中に分散さ
せたものである。
有機質ビヒクルは、バインダーおよび溶剤を含有するも
のである。
バインダーとしては、例えばエチルセルロース、アクリ
ル樹脂、ブヂラール樹脂等公知のものはいずれも使用可
能である。
バインダー含有量は2〜5wt%程度であることが好ま
しい。
溶剤としては、例えばテルピネオール、ブチルカビトー
ル、ケロシン等公知のものはいずれも使用可能である。
溶剤含有量は20〜50wt%程度とすることが好まし
い。 この他、総計10wt%程度以下の範囲で、必要
に応じ、ソルビタン脂肪酸ニスデル、グリセリン脂肪酸
エステル等の分散剤や、ジブチルフタレート、ジブチル
フタレート、ブチルフタリルグリコール酸ブチル等の可
塑剤や、デラミ防止、焼結抑制等の目的で、誘電体、磁
性体、絶縁体等の各種セラミック粉体等を添加すること
もできる。
また、導電性ペーストには、ガラスフリットが含有され
てもよい。
特に、外部電極を形成する導電性ペーストの場合ill
、接着性向上のために、ガラスフリットが含有されるこ
とが好ましい。
ガラスフリットとしては、平均粒径10〜50叩程度の
ホウケイ酸ガラスを用いることが好ましく、ペースト中
の含有量は2〜20wt%程度であることが好ましい。
本発明の外部電極は、後述のセラミックインダクタ部品
やセラミックT、C部品への適用例に示すように、好ま
しくは転写法等の印刷法により形成し、550〜750
℃で5〜30分程度焼成して得られる。
本発明の外部電極を適用したセラミックインダクタ部品
としては、例えば第1図に示すように積層セラミックイ
ンダクタ10が挙げられる。
積層セラミックインダクタ10は、従来のものと同様、
内部巻線5、磁性層6および1対の外部電極41.45
を有する。
この場合外部電極41.45に本発明の外部電極が適用
される。 また、内部巻線5に前記の内部導体層が適用
される。
積層セラミックインダクタ10の磁性層6の材質として
は、スピネル構造を有する各種スピネルソフトフェライ
トを用いることができるが、焼成温度の関係でNLCu
系のフェライ]・を用いることが好ましい。
N 1−Cu系のフェライトは、低温焼成材料であり、
このような磁性層を用いたとき、本発明のセラミックイ
ンダクタは焼成時液相の生成が無く、しかも電気抵抗の
点で、より優れたものとなる。
低温焼成可能なフェライトとしては、N1−C,uフェ
ライトの他、Ni−Znフェライト、NLCu−Znフ
ェライト等がある。 この場合、Niの含有量は、Ni
Oに換算して45〜55mof2%が好ましく、このN
iの一部をCuおよび/またはZnが40moρ%程度
以下置換してもよい。
この他、Co、Mn等が全体の5wt%程度以下含有さ
れれいてもよい。 さらにCa、Si、Bi、■、Pb
等が1wt%程度以下含有されていてもよい。
このような、フェライト系の磁性層6は、本発明におけ
る内部巻線を形成する導電性ペーストと600〜100
0℃、特に800〜1000℃の焼成温度にて同時焼成
可能である。
積層セラミックインダクタ10は、従来公知の構造とす
ればよく、外形は通常はぼ直方体状の形状とする。 そ
して第1図に示されるように、内部巻線5は磁性層6内
にて、通常スパイラル状に配置され、その両端部は各外
部電極41、.45に接続されている。
このような場合、内部巻線5の巻線パターン、すなわち
閉磁路形状は種々のパターンとすることができ、またそ
の巻数も用途に応じ適宜選択すればよい。 また、積層
セラミックインダクタ10の各種の寸法等には制限はな
く、用途に応じ適宜選択すればよい。
なお、内部巻線5の厚さは、通常5〜30−程度、また
、巻線ピッチは通常40〜100g111程度とする。
 外部電極41.45の厚さは通常50〜500IIJ
11とする。
また、外部電極41.45の形成方法としては、転写法
を用いることが好ましい。
なお、外部電極41.45は、単独の電極層から形成さ
第1てもよいが、電極層の上に被覆層を設けた多層構造
とすることが好ましい。 被覆層は、Cu、Ni、Sn
あるいはハンダ等から形成さ2]ることか好まし、い。
  このような被覆層は、ハンダ付けの際のハンダ濡れ
性、ハンダ耐熱性を向上させる。
このような積層セラミックインダクタ10を製造するに
は従来公知の印刷法を用いればよい。
フェライトペーストは、次のようにして作製する。
まず、所定量のNi01ZnO1CuO1Fez Oz
等のフェライト原料粉末を所定量ボールミル等により湿
式混合する。 用いる各粉末の粒径は01〜10μs程
度とする。
こうし、て湿式混合したものを、通常スプレードライヤ
ーにより乾燥し、その後仮焼する。
こわを通常は、ボールミルで粉体粒径0,01〜0,1
声程度の粒径となるまで湿式粉砕し、スプレードライヤ
ーにより乾燥する。
得られた混合フェライト粉末をエチルセルロース等のバ
インダーとテルピネオール、ブチルカルピトール等の溶
媒中に溶かしてベース!・とする。
なお、ペースト中には各種ガラスや酸化物を含有させる
ことができる。
このような積層セラミックインダクタ10は、外部電極
4.1 、4.5にハンダ付等を行なうことにより、プ
リント基板上等に搭載され、各種電子機器等に使用され
る。
以上では、積層セラミックインダクタを例にしたが、積
層セラミックトランスの場合も本質的に同様であり、用
いる各種材料および製造工程に違いはない。
第2図には、本発明の積層セラミック+−C部品の1例
が示される。
第2図のLC複合部品100は、積層セラミックインダ
クタ10と積層セラミックコンデンサ11とを一体化し
たものである。 インタj フタ10は、所定のパターンに形成した内部巻線5を介
在させながら、6H性層6を積層したものである。 ま
た、このインダクタ10に積19! 一体止されるコン
デンサ11は、内部電極21.25を介してセラミック
の誘電体層3を積層し、たものである。
このような積層セラミックLC複合部品100のインダ
クタ10は、前述の第1図に示さ、!lる積層セラミッ
クインダクタ10と同様のものである。
〈実施例〉 以下、本発明を実施例によって具体的に説明する。
実施例1 球状のAg粉末(平均粒径2戸)に対して表1に示すよ
うに球状のPd粉末(平均粒径0、:3戸)添加したも
の1重量部に対し□、ホウク゛イ酸ガラスフリット0.
1重量部、テルピネ−シール02重量部、エチルセルロ
ース0.03重量部およびブチルカルピトール0.2重
量部を加えて外部電極用導電性ペーストとした。
また、Ag粉末(平均粒径2戸)1重量部に対し、テル
ピネオール0.2重量部、エチルセルロース003重量
部およびブチルカルピトール0.1重量部を加えて内部
導体用導1!付ペーストとじた。
次に、フェライト原料として、粒径0.1〜10戸程度
のNi01Cu、O,ZnOおよびFe20mの粉体を
用い、これをボールミルを用いて湿式混合し、ついで、
この湿式混合物をスプレードライヤーにより乾燥し、7
50℃にて仮焼し、顆粒どして、これをボールミルにて
粉砕したのちスプレードライヤーで乾燥し、平均粒径0
. 1)IJllの粉体とした。
次いで、この粉体を所定量のエチルセルロスとともにテ
ルピネオール中に溶解し、ヘンシェルミキサーで混合し
、NLCu−Znフェライトのフェライトペーストを作
製しこのQ値からQ値の平均値であるXと標準偏肉部導
体用導電性ペーストとフェライトペーストを印刷積層後
、焼成した。
焼成温度は850℃、焼成時間は2時間とし5、焼成雰
囲気は空気中とした。
次いで上記の各種外部電極用導電性ペーストで転写法に
より外部電極を形成し、600 ’Cで10分間焼成し
た。
このようにして4.5mmX3.2mmX1mmの第1
図に示されるようなセラミックインダクタサンプルを作
製した。
各フェライト層の厚さは40戸、内部巻線の厚さは20
押、その線巾は300M、コイルは長径2.5mm、短
径1..3mmの楕円形としlこ。
これらのインダクタンスサンプルについて、10 M 
HzにおけるQ値を測定した。 この場合それぞれ、3
0個のサンプルについて測定し差0を求め、3σ/Xの
値からQ値のバラツキについて調べた。
Xおよび3 a / xの値について表1に示す。
表 (比 較) (本発明) (本発明) (本発明) (本発明) (本発明) (比 較) 表1の結果より、 る。
本発明の効果は明らかであ 〈発明の効果〉 本発明の外部電極は、化学的活性が高く内部導体層との
接続に優れる。
従って、このような外部電極をセラミックインダクタ部
品およびセラミックLC部品に適用するどQ値等電気特
性に優れ、しかもそのバラツA−が少な(なる。
符号の説明 10・・・積層セラミックインダクタ 100・・・積層セラミックLC部品 5・・・内部巻線 6・・・磁性体 ・14図面の簡単な説明 第1図6j、本発明の厚膜部品が積層セラミックインダ
クタであるときの1例を示すものであって、その一部を
切欠いて示す平面図である。
第2図は、本発明の厚膜部品が積層セラミック■、C部
品であるときの1例を示すものであって、その一部を切
欠いて示す斜視図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)内部導体層と磁性層と外部電極とを有するセラミ
    ックインダクタ部品およびセラミックLC部品において
    、前記内部導体層がAgを主体とする導電体材料を含有
    する導電性ペーストから形成されたものであり、前記外
    部電極がAgと、Agに対して1〜10wt%のPdを
    含む導電性材料を含有する導電性ペーストから形成され
    たものであることを特徴とするセラミックインダクタ部
    品およびセラミックLC部品。
JP26123788A 1988-10-17 1988-10-17 セラミックインダクタ部品およびセラミックlc部品 Pending JPH02109202A (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020034963A (ko) * 2000-11-01 2002-05-09 무라타 야스타카 전자부품 및 그 제조방법
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