JPH02118429A - 光源劣化検出回路 - Google Patents

光源劣化検出回路

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JPH02118429A
JPH02118429A JP27079988A JP27079988A JPH02118429A JP H02118429 A JPH02118429 A JP H02118429A JP 27079988 A JP27079988 A JP 27079988A JP 27079988 A JP27079988 A JP 27079988A JP H02118429 A JPH02118429 A JP H02118429A
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JP
Japan
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output signal
circuit
light source
value
light output
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Pending
Application number
JP27079988A
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English (en)
Inventor
Hiroichi Murase
村瀬 博一
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はオプトエレクトロニックデバイスを用いた光源
の光源劣化検出回路に関する。
〔従来の技術〕
例えば、発光ダイオードやレーザダイオード等のオプト
エレクトロニックデバイスを用いた光源の光源劣化検出
回路は、光源の出力レベルをフォトダイオード等の光検
出器で検出し、その平均レベルが予め定めた設定値を満
たすか否かで判断していた。また、光源の光出力を光出
力制御回路(APC回路)により一定に制御しているも
のである場合には、光源のバイアス電流値の増加量を検
出し、このバイアス電流値が所定の設定値の範囲内にあ
るか否かで光源の劣化を判定する回路構成がとられてい
た。
〔発明が解決しようとする課題〕
ところが、このような従来の光源劣化検出回路では、設
定値の選び方によって正確に光源劣化が検出できないこ
とがある。特にAPC回路を有するものである場合には
、光源の劣化したと判定するバイアス電流値の設定によ
っては、消光比が劣化し伝送特性に影響を与える場合で
あっても光源の劣化と判定しないことがある。逆に消光
比が十分大きく伝送特性上全く問題がなくても、バイア
ス電流が増加すれば光源の劣化と判定してしまうことも
ある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、光源の光出力信号のピーク値を検出するピー
ク値検出器と、光源の光出力信号の平均値を算出する平
均値検出回路と、光出力信号のピーク値と光出力信号の
平均値の差分が予め定めた設定値より小さい時は光源が
劣化したと判定する比較回路を設けたことを特徴とする
。
〔作用〕
光源の光出力信号のピーク値と光源の光出力信号の平均
値との差分により光源の消光比を判定するようにしてい
るので、光源の劣化が正確に判断できる。
〔実施例〕・ 以下、本発明の一実施例を第1図および第2図を参照し
て説明する。
第1図は本発明による光源劣化検出装置の一実施例を示
す回路図である。光源11より発せられる光出力信号を
光検出器12で検出し電気信号に変換する。電気信号に
変換された光出力信号は分岐回路13によって分岐され
、分岐された光出力信号の一方はピーク値検出回路14
に入力され、他方は平均値検出回路15に入力される。
ピーク値検出回路14は光出力信号のピーク値を検出す
るものであり、光出力信号の一周期中での最大値を検出
する。一方、平均値検出回路16は光出力信号の一周期
の平均値を算出するものである。ピーク値検出回路14
および平均値検出回路15の出力はともに差動回路16
に人力され、ここで光出力信号のピーク値と平均値との
差分が算出される。差動回路16の出力すなわち光出力
信号のピーク値と平均値との差分は比較回路17に人力
され、電圧設定端子18に設定した設定値と比較される
。そして、光出力信号のピーク値と平均値との差分がそ
の設定値より小さい時は劣化検出出力端子19から光源
11の劣化情報を出力する。
第2図は本発明の光源劣化装置の動作を示す特性図であ
る。第2図(a)は光源11の消光比が小さく光源11
が劣化している場合の光出力信号波形を示す。すなわち
、ピーク値VP と平均値Vとの差分が小さい場合を示
している。
これに対し、第2図(b)は光源11の消光比が大きく
とれている光源11が正常な状態の光検出器12の光出
力信号波形を示す。図かられかるように、ピーク値V、
と平均値Vイ との差分が大きい。
第2図(a)の場合は消光比が小さいので、伝送特性に
影響を与える。これは第2図(b)の場合に比べて2ピ
ーク値V、と平均値V。との比が小さくなっているから
である。
ここで、光源11が経時劣化により、正常な第2図(b
)の状態から第2図(a)の状態に変動したとすると、
差動回路16の出力は第2図(C)に示すように状態変
化した時点T、で変化する。つまり、VlからV2 に
変化し、変化後の差動回路16の出力v2 は電圧設定
端子18の設定値VTHに対して小さくなるので、比較
回路17の出力は第2図(d)に示すように、劣化検出
出力端子19の出力電圧が変化し、光源11の劣化情報
として出力する。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、光検出器で検出し
た光出力信号をピーク値検出回路と平均値検出回路に人
力し、それぞれの出力を差動回路に入力して、両者の差
分を取り出し、それを比較回路に入力して予め適切に設
定された設定値と比較するので、消光比の劣化した光源
の劣化を適性に判定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は本発
明の一実施例の動作特性を示す特性図である。 11・・・・・・光源、12・・・・・・光検出器、1
3・・・・・・分岐回路、14・・・・・・ピーク値検
出回路、15・・・・・・平均値検出回路、16・・・
・・・差動回路、17・・・・・・比較回路、18・・
・・・・電圧設定端子、19・・・・・・劣化検出出力
端子。 第 閏 第 2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 オプトエレクトロニックデバイスを用いた光源の光出力
    を検出する光検出器と、 この光検出器で得られた光出力信号のピーク値を検出す
    るピーク値検出器と、 前記光検出器で得られた光出力信号の平均値を算出する
    平均値検出回路と、 前記光出力信号のピーク値と前記光出力信号の平均値と
    の差分を算出する差動回路と、 この差動回路で得られた差分が予め定めた設定値より小
    さいときは前記光源が劣化したと判定する比較回路 とを備えたことを特徴とする光源劣化検出回路。
JP27079988A 1988-10-28 1988-10-28 光源劣化検出回路 Pending JPH02118429A (ja)

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JP (1) JPH02118429A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5572243A (en) * 1994-02-23 1996-11-05 Xerox Corporation Ink jet printer priming element

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5572243A (en) * 1994-02-23 1996-11-05 Xerox Corporation Ink jet printer priming element

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