JPH0212025A - フーリエ変換赤外線分光計においてミラー位置を判定する方法及び装置 - Google Patents

フーリエ変換赤外線分光計においてミラー位置を判定する方法及び装置

Info

Publication number
JPH0212025A
JPH0212025A JP1081373A JP8137389A JPH0212025A JP H0212025 A JPH0212025 A JP H0212025A JP 1081373 A JP1081373 A JP 1081373A JP 8137389 A JP8137389 A JP 8137389A JP H0212025 A JPH0212025 A JP H0212025A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detector
count
control signal
mirror
moving mirror
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP1081373A
Other languages
English (en)
Inventor
Robert R Badeau
ロバート アール バドー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Thermo Electron Scientific Instruments LLC
Original Assignee
Nicolet Instrument Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nicolet Instrument Corp filed Critical Nicolet Instrument Corp
Publication of JPH0212025A publication Critical patent/JPH0212025A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/28Investigating the spectrum
    • G01J3/45Interferometric spectrometry
    • G01J3/453Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
    • G01J3/4535Devices with moving mirror
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
    • G01D5/266Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light by interferometric means
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Program-control systems
    • G05B19/02Program-control systems electric
    • G05B19/18Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form
    • G05B19/19Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form characterised by positioning or contouring control systems, e.g. to control position from one programmed point to another or to control movement along a programmed continuous path
    • G05B19/21Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of program data in numerical form characterised by positioning or contouring control systems, e.g. to control position from one programmed point to another or to control movement along a programmed continuous path using an incremental digital measuring device
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/34Director, elements to supervisory
    • G05B2219/34052Software counter
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00Program-control systems
    • G05B2219/30Nc systems
    • G05B2219/37Measurements
    • G05B2219/37275Laser, interferometer

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はフーリエ変換赤外線(FT I R)分光計に
関し、特に、FTIR光学システムの移動ミラーの位置
を精密に判定する回路に関する。
(従来技術とその問題点) マイケルソンフーリエ変tL/it外4m (FT I
 R)干渉計等の干渉計は、試料の材料を通過する例え
ば赤外線等の分析用輻射ビームの色々な波長の位相を変
えるために使われる移動ミラーをしはしば備えている。
掛かるマイゲルソン干渉計FTIR分光計システムの作
用は、該干渉計の移動ミラー位置の精密な判定に厳密に
依存する。干渉計の移動ミラーの運動は普通は干渉計の
解析用輻射ビーム平行に作用する位置決め用単色光ビー
ム(普通はレーザーからのビーム)により追跡され、こ
の単色光ビームも該干渉計に入る。該移動ミラーに関す
る位置情報は、該干渉計中を進む該単色光ビームが作る
縞を数えることから得られる。該単色光ビームは、該干
渉計を出て行(際に光電検出器に入射して、該ミラーが
動くに従って正弦波形の出力信号を発生させる様になっ
ている。該正弦波は、該ミラーが該単色ビームの光の波
長の四分の−動く毎にゼロクロスを持つ。そのゼロクロ
スを数えて、これを基準として用いてミラー位置を判定
する。
この、単色光ビームの縞を数える方法は、ミラーの位置
を非常に高い精度で判定出来るが、この方法は、発生さ
れた千を単位とする様な大きなカウント数を保持するた
めに大きな電子カウンターを必要とする。ミラー速度を
判定し、且つ、該ミラーを駆動するリニアーモーターを
制御するのに必要なタイミング情報と共にこれらの機能
を実施するには多量のハードウェアが必要である。
(発明の概要) 本発明においては、赤外線分光計において増色光ビーム
により生成された縞を、マイクロプロセッサを利用して
数えてミラー位置を判定する。カウントが生成される速
度が速過ぎる(カウント速度は1メガヘルツに近いこと
がある)ので、現在利用可能なマイクロプロセッサはこ
の用途には利用されていないが、本発明によれば、標準
的マイクロプロセッサでカウント数を監視することが出
来る。本発明によれば、別の、割合にビット容量の低い
カウンターを利用して、検出された縞を数え、位置の増
分指示器として作用させる。該マイクロプロセッサは、
該増分カウンターを読んで、該カウンターが最後に読ま
れた時から該ミラーがどれほど遠くまで移動したか判定
する。これを明確に行なうために、該増分カウンターが
該カウンターの最大カウント数の二分の−を上回るカウ
ント数まで進む前に該マイクロプロセッサは該増分カウ
ンターを読み出さなければならず、このことにより、該
カウンターが新しい点まで進んだのか後退したのか判定
出来ない様な該新しい点まで包み込む前に該カウンター
が読み出されることを保証する。例えば、8ビットアッ
プ/ダウンカウンタ−を該増分カウンターとして使用す
る場合、該カウンターがその最大カウント数の二分の−
を越えて進む前に該増分カウンターを読み出さなければ
ならないが、8ビットアフブ/ダウンカウンタ−の場合
、それは127である。従って、線検出器からの各パル
スをカウントするのに要する速度より127倍遅い速度
で該カウント数を監視しなければならない。
該マイクロプロセッサは、該増分カウンターからの情報
を使って、該ミラーの絶対位置を追跡するそのメモリー
内のレジスターを更新する。例えば、該カウンターが最
後に読み出された時から該ミラーが48カウントだけ前
進したとすると、該マイクロプロセッサは48カウント
を該絶対位置レジスターに加える。若し該ミラーが34
カウントだけ後退すれば、絶対位置レジスターから34
カウントが差し引かれる。該絶対位置レジスターは大き
くなければならず、しばしば20ビット以上であるが、
それは単に該マイクロプロセッサのメモリーの一部であ
ると思われるので、そのために余分のハードウェアを設
ける必要はない。
斯くして、本発明は、干渉計システムの移動ミラーの位
置をマイクロプロセッサで追跡するものであり、斯かる
追跡をハードウェアで行なった場合に従来得られていた
精度を犠牲にすることなく、斯かる追跡をソフトウェア
制御下で行なわせるものである。この結果は、ミラー位
置を追跡する従来システムにおいて必要とされたハード
ウェア量より相当少ないハードウェア量で達成される0
本発明は、従来FTIRシステムにおいて移動ミラーに
随伴していた位置検出器を不要にするものである。
本発明の他の目的、特徴、及び利点は、添付図面及び以
下の詳細の説明から明らかであろう。
(実施例) マイケルソン干渉計を利用した代表的FTIR分光計の
光学的構成が第1図に略図示されている。
斯かる干渉計システムは色々な幾何学的構成で実現する
ことの出来るものであり、第1図は、零発゛明を適用す
ることの出来る多様な幾何学的構成のうちの一つを例示
するものに過ぎないことが理解されねばならない。
赤外線源】Oから発する輻射はコリーメーターミラー1
2から反射され、該ミラーせ該輻射をビームにして、干
渉計ハウジング16内のビームスプリッタ14に向ける
。ビームスプリッタ14を通過したミラー12からの赤
外線は、ミラー12から到来するビームの光路中にある
反射ミラー18により反射される。該ミラー12及び1
8の間のビーム経路に垂直に、もう一つのビーム経路が
存在し、このビーム経路は、第1のビームからの赤外線
と、ビームスプリッタ14により移動ミラー20の力へ
部分的に反射される。赤外線とを再結合させることによ
り形成され、該移動ミラー20は該赤外線をビームスプ
リッタの方へ反射する。この経路は移動ミラー20と収
束ミラー22との間に延在している。移動ミラー20は
ビームスプリッタ14に対して直線上を接近、離間する
この運動は、ソレノイドアクチエエータ24によって直
線上を前進、後退させられるシャフト23に該移動ミラ
ー20を取り付けることにより達成される。
干渉計ハウジング16から発射された赤外線は、収束ミ
ラー22により反射され、試料チャンバ30を通過して
、収束ミラー32及び34に入射し、これにより検出器
36に収束される。移動ミラー20が移動すると、試料
チャンバ30を通過する赤外線ビームが変調され、ここ
で該ビームは選択的に試料に吸収されて、赤外線源10
からの赤外線に含まれている波長帯域内の色々な波長に
周期的にピーク及び谷を作り出す。該検出器からの時間
的に変化する電気信号の情報を適当なフーリエ解析で解
析して、試料チャンバ30に内蔵されている物質のスペ
クトル特性を示すことが出来る。
FTIR分光計により適当な周波数領域情報を精密に発
生させるためには、移動ミラー20の移動速度、及び位
置を知って、これらの変数を制御し、該ミラー位置を該
検出器からの信号と相関させることが出来なければなら
ない。この目的のために、レーザー干渉計システムを使
用して移動ミラー20の運動及び位置を検出する。この
システムは、二つの平行なチャネルにレーザービームを
発生させるレーザー38から成り、その出力は反射ミラ
ー40から反射されて干渉計ハウジング16に入る光路
内へ入る。第1図に破線で示された該レーザービームの
経路も、ビームスプリッタ14により分割され、ミラー
22に向かって干渉パターンを発生させる。該レーザー
干渉計出力は、該ミラー22の背後に位置する検出器4
2により検出される。移動ミラー20が移動するに従っ
て、分割されたレーザー光のビームは再結合されて建設
的に且つ破壊的に干渉し合って、該二つの平行なチャネ
ルのうちの一方から強度が周期的に変化する光ビームを
発生させ、これはレーザー検出器42で検出され、各周
期が該移動ミラーの直線移動距離の増分を表わす。レー
ザー検出器42により検出される光波の強度を表わす。
正弦波状に変化する信号は、ライン41で伝送され、ラ
イン58上にパルス出力信号を発生させる普通のゼロク
ロス検出回路45によりパルス列に変換される。
以下に更に説明する様に、第2の光検出器44が二つの
平行なチャネルのうちの第2のチャネルから再結合した
レーザービームを受光して、ライン43上に出力信号を
発生させ、この信号はゼロクロス検出回路46によりラ
イン62上のパルス列に変換される。
第2図及び第3図には、本発明のフーリエ変換赤外線(
FTIR)分光計における移動ミラーの位置を追跡する
ディジタル回路が示されている。
第2図は、FTIR分光計の移動ミラーの方向を識別す
る回路部分を示す。第2図の方向識別回路は二つのD型
フリップフロップ50.52を含む。
この両方のフリップフロップが高レベルに接続されたブ
リセント入力及びクリアー人力を持っている。レーザー
検出器42及びゼロクロス検出回路45はライン58に
方形波を出力し、この出力はフリップフロップ50のク
ロック入力に供給される。ライン58上の方形波の補信
号がインバーター60により形成されてフリップフロッ
プ52のクロック入力に供給される。第2レーザー検出
器44及びゼロクロス検出回路45は、ライン58上の
信号から位相が90°ずれた第2の方形波信号をライン
62上に発生させる。レーザー検出器44は二つのレー
ザーチャネルのうちの第2のチャネルからレーザービー
ムを受光し、このビームは八分の一波長板47を通され
、この仮は、この板47がなかった場合の該レーザービ
ームより八分の一サイクルだけ該レーザービームを遅ら
せる。
第2チヤネルのレーザーは板47を2回通過するので、
位相遅れは合成四分の一サイクル、即ち90°となる。
第2図及び第3図の回路は1゛稈度以上の位相差があれ
ば作動出来るが、ここに記載した90°の位相シフトが
最も大きなエラーマージンを与える。ライン62上の信
号はフリップフロップ50のデータ入力に供給され、イ
ンバーター64によりその補信号が作られてフリップフ
ロップ52のデータ入力に供給される。フリップフロッ
プ50の非反転出力及びライン58上の信号はNAND
ゲート66に供給される。フリップフロップ52の非反
転出力及びライン58からの反転信号は第2のNAND
ゲート68に供給される。NANDゲート66及びNA
NDゲート68からの出力はN A N Dゲート70
に供給される。
NANDゲート70からの出カフ2は移動ミラー20の
方向を表わすが、ライン72上の低レベル出力は該ミラ
ーが前進中であることを意味し、ライン72上の高レベ
ル出力は該移動ミラー20の後退運動を意味する。
第2図にも示されている様に、二つのD型フリップフロ
ップ74及び76のプリセット入力及びクリアー人力は
高レベルに接続されている。フリップフロップ74の非
反転出力はフリップフロップ76のクロック入力に供給
される。フリップフロップ76の反転出力はフリップフ
ロップ76のデータ入力に戻される。フリップフロップ
76の非反転出力と、レーザー検出器42からのライン
58上の信号とは、排他的ORゲート78に供給され、
その出力はフリップフロップ74のデータ入力に通じて
いる。10MHzクロック信号がクロック発振器(図示
せず)からフリップフロップ74のクロック入力に器さ
れ、システム同期化クロックとして作用する。フリップ
フロップ74の反転出力はライン80上に出力パルス列
を供給し、これは該システムクロックと同期化されてお
り、これらパルスは検出器42の出力信号がゼロクロス
する毎に発生する。
第3図に示されている様に、増分ミラー位置カウンター
用の回路は三つの同期4ビツト2進アツプ/ダウンカウ
ンタ−82,84,86を包含しており、その各々が、
そのクロック入力でライン80上の信号を受信する。カ
ウンター82.84.86のアップ/ダウン入力は、N
ANDゲート70からのライン72上の出力を受信する
。ライン72上の信号レベルが高い時にはカウンター8
2.84.86はカウントアツプし、ライン72上の信
号レベルが低い時には、カウンター82.84.86は
カウントダウンする。カウントが増大することは移動ミ
ラー20の前進運動を表わし、カウントが減少すること
は移動ミラー20の後退運動を表わす。カウンター82
.84.86は縦続接続されて合計12ビツトの容量を
作り出しており、カウンター82のリプルキャリー出力
はカウンター84のイネーブル入力に接続され、カウン
ター84のリプルキャリー出力はカウンター86のイネ
ーブル入力に接続されている。
カウンター82のイネーブル入力と、カウンター82.
84.86のプリロードビット入力は接地されており、
カウンター82.84.86のロード入力は高レベル電
位に接続されている。カウンター82及びカウンター8
4の四本の出力ラインはラッチ88の8個のデータ入力
に供給される。
カウンター86からの四本の出力ラインはラッチ90の
下位4ビツトのデータ入力に接続されている。ラッチ9
0の他の4個のデータ入力は接地されている。該回路は
ラッチ92も有し、これは200μ秒毎に状態を変える
信号をその上に有するライン94からその第1データビ
ツト入力を受信する。該第1データ入力ビツトから生じ
るラッチ92の非反転第1出力ピントはラッチ92の第
2データ入力に供給される。ラッチ92の第2データ入
力ビツトから生じる非反転第2出力ビツトは排他的OR
ゲート96の一人力に接続されている。該排他的ORゲ
ート96の他の入力は、200μ秒毎に状態を変えるラ
イン94上の信号を受信する。排他的ORゲート96の
出力はラッチ88及び90のクロック入力に供給される
。ラッチ92のクリアー人力は高レベル電位に接続され
ており、ラッチ92のクロック入力は10MHzクロッ
ク信号に接続されている。斯くして、う・ノチ92と排
他的ORゲート96との結合により、選択された幅の出
力パルスが排他的ORゲート96から200μ秒毎に出
力される。
ラッチ88及び90の出力は、μコンピューター100
に通じるデータバス98に接続されており、これは市販
されている色々なマイクロプロセッサ(例えば6800
0シリーズ)のうちの適当なものと、これに付随するR
AM及びROM (図示せず)とから成っている。アド
レスバス102は該μコンピューターからデコーダー群
104に通じている。接続線106はデコーダー群10
4からラッチ88及び90のイネーブル入力に通じ−C
いる。
該分光計が作動している時、レーザー検出器42.44
とゼロクロス検出器45.46とは、位相が互いに90
°ずれている方形波出力信号をライン58と62との上
に発生させる。フリップフロップ50及び52のプリセ
ット及びクリアーが高レベル状[(+V)に接続されて
いるので、該プリセット及びクリアーは不活性であり、
ライン58上のパルスの立ち上がりエツジでライン62
上の現在のレベルがフリップフロップ50の非反転出力
に転送される。フリップフロップ52において、ライン
62からの反転パルスは、ライン58上の反転信号の立
ち上がりエツジで非反転出力に転送される。NANDゲ
ート66.68.70の構成により、移動ミラー20が
前進している時には低レベルで移動ミラー20が後退し
ている時には高レベルである出力信号がライン72上に
出力される。
フリップフロップ74.76も不活性のプリセット及び
クリアーを持っている。フリップフロップ74.76は
ライン80上に信号を出力し、その信号は、ライン58
上の信号の周波数の2倍の周波数を有し、レーザー検出
器42からの信号がゼロクロスする毎にパルスを提供す
る。
ライン72上の出力はカウンター82.84.86に供
給され、出カフ2の状態は、移動ミラー20の方向に依
存して、カウンター82.84.86がカウントアツプ
しているかカウントダウンしているかを判定する。縦続
接続されているカウンター82.84.86は、ライン
80上のパルスを連続的にカウントする12ビツト容量
カウンターを構成する。該2進カウントはラッチ88及
び90に供給され、該ラッチが制御ライン106を通し
てマイクロコンピュータ−100からの指令によりイネ
ーブルされた時、該カウントはマイクロコンピュータ−
100に転送される。ラッチ88及び90の出力データ
は、排他的ORゲート96から200マイクロ秒間隔で
ラッチ88及び90にパルスが供給される毎に、更新さ
れる。
データバス98を通してマイクロコンピュータ−100
に送られたラッチカウントは、該カウンター82.84
.86がその全カウント数の二分の−を記録するのに必
要な時間より短い時間内で該マイクロコンピュータ−に
よって読まれなければならない0合計12ビット容量を
有する3個のカウンター82.84.86については、
最大カウント数は4095である。マイクロコンピュー
タ−100は、該ミラーがどの方向に移動しているのか
判別し、且つカウントが包みこんだ(ラップアランドし
た)か否か判定するために適当な時間間隔でカウント総
数を読む様に割り込み又はプログラムされねばならない
、!亥マイクロコンビエーターは、今、ライン80自体
の上の信号のパルスをカウントするのに要する速度より
2047倍遅い速度でカウントすることが出来る。従っ
て、マイクロコンピュータ−100の該移動ミラーの位
置を監視すると共に、移動ミラー20の操作、制御に関
わる他の作業を実行する時間を有する。
当該技術分野において知られている手段により、マイク
ロコンピュータ−100は、ミラー移動開始時機、移動
方向転換時機及び移動速度をハードウェアコントローラ
(図示せず)に指令することにより、移動ミラー20の
制御を管理する。マイクロコンピュータ−100は、実
時間で、該ノ1−ドウエアコントローラが使用するべき
利得を指定し、ディジタル−アナログ(DA)変換器(
図示せず)を介して、駆動電流を直接加えて移動ミラー
20にリセソトカと折り返し力とを作用させることが出
来る。
マイクロコンピュータ−100はカウンター82.84
.86からの情報を使って絶対位置レジスターをそのメ
モリー内に維持し、該絶対位置レジスターは固定点から
の移動ミラー20の位置を反映する。マイクロコンピュ
ータ−100の絶対位置レジスターは、データバス98
を通して送られたインクリメントされたラッチカウント
をマイクロコンピュータ−100が読む毎に、更新され
る。そのインクリメントされたラッチカウントは読まれ
て増分ラッチカウントの先の読みと比較され、この現在
の増分カウントと先のカウントとの差が、移動ミラー2
0の方向に応じて該絶対位置レジスターに加えられ又は
これから差し引かれる。第4図は該絶対位置レジスター
を更新するマ・イクロコンピューター100の動作のフ
ローチャートを示す。第4図のフローチャートで表わさ
れるプログラムはスタート110から始まり、オペレー
ターから外部コマンドによりマイクロコンピュータ−1
00供給されるインターラブド112を待って、絶対カ
ウントABSOLUTE CTRが、ラッチ88及び9
0に保持されているデータバス98によりマイクロコン
ピュータ−100に転送される増分カウントINCRE
MENTAL CTRに等しく成る様に114で状態を
初期化する。t14での第2初期状態は、マイクロコン
ピュータ−100が読んだ最後のカウント、LAST 
CTR1が該増分カウントと等しく成る様にセットされ
る状態である。116での第2のインターらぶとにより
繰り返しサイクルが開始され、最新の増分カウントがマ
イクロコンピュータ−100により読まれて118でl
NCCTRとして保存される。120で、最後のカウン
ト、即ち直前のカウント、が最新の増分から差し引かれ
、差DIFFを生じさせる。増分同期カウンター82.
84.86がゼロに戻り、最大ビット容量到達後もカウ
ントを継続しているかどうか、又はカウントがゼロ以下
にデクリメントされた後にカウンター82.84.86
が最大ビット容量に戻ったか否か判定するために、プロ
グラムは122で、最新の増分カウントと直前のカウン
トとの差が2047より大きいか否か質問するが、これ
は最大、ビット容量4095の二分の−を丁度上回る数
である。若しそうでなければ、プログラムは124で差
DIFFを絶対カウントに加え、116で次の割り込み
をする前に126で該カウントを最新の増分カウントl
NCCTRとして更新する。若しDIFFの絶対値が2
047より大きければ、プログラムは128でDIFF
がゼロより大きいか否かチエツクする。若しDIFFが
ゼロより大きければ、130でDIFFのイ直から40
95を差し引いて新しいDIFFを作り、次にこれを1
22へ送る。126で若しDIFFがゼロより小さけれ
ば、132でDIFFの値に4095を加えて新しいD
IFFを作り、次にこれを122へ送る。
カウンター82.84.86からマイクロコンピュータ
−100へのカウントの転送に関する別の実施例が第5
図に示されている。この実施例において、移動ミラーの
方向を表わす出カフ2はマイクロコンピュータ−100
と直接通信する。カウンター82.84.86は一方向
にのみカウントするので、マイクロコンピュータ−10
0は移動ミラー20の方向変化を遺跡し続けなければな
らない。これを達成するために、マイクロコンピュータ
−100は、移動ミラー20が方向を変える毎にライン
138で該カウンターに供給される信号で絶対位置レジ
スターを更新しカウンター82.84.86をクリアー
する。方向変化は該ミラーが割合に低い速度で移動して
いる時に限って生じるので、縞をカウントする速度がマ
イクロコンピュータ−100の処理速度を越えることは
なさそうである。
第6図は、上記のゼロクロス検出回路の例を示す。レー
ザー、検出器42により検出された光波の強度を表わす
正弦波状に変化する信号は、ライン41上で伝送される
。ライン41上の信号はバイポーラトリガー比較器14
2とバイポーラステアリング比較器144とに加えられ
る。バイポーラトリガー比較器142の第2人力は接地
されている。バイポーラステアリング比較器144は1
、帰還抵抗146及び148により提供されるバイポー
ラヒステリシスを有する。バイポーラトリガー比較器1
42はヒステリシスを持っていない。比較器142及び
144の出力はそれぞれライン150及び152で伝送
されてロジックレベル変換器154及び156 (第6
図に破線の箱で示されている)に入力される。変換器1
54及び156の機能は、比較器142及び144の出
力からのバイポーラスイングを、他のロジック回路と両
立可能なスイングに変換することである。変換器154
は高電位(+■)に接続されたライン150から延在す
る抵抗器158と、ダイオード159と、接地された、
ライン150から延在する抵抗器160とを有する。変
換器156は同様に抵抗器162、ダイオード164、
及び抵抗器166を備えている。比較器142からの変
換された出力信号はライン168で伝送され、比較器1
44からの変換された出力信号はライン170で伝送さ
れる。ライン168及び170は、排他的ORゲート1
72へ供給され、その出力はライン174で伝送されて
D型フリップフロップ1′16のための適切なりロック
信号を形成する。
ライン170はフリップフロップ176のデータ入力に
供給され、ライン58上のフリップフロップ176から
の出力は、該回路の、FTIR分光計の移動ミラー20
の方向を判別するための部分に入力されるパルス出力信
号である。ゼロクロス検出回路46は回路45と同一で
あり、ライン41ではなくてライン43上の信号を受信
して、ライン58ではなくてライン62上に出力する。
本発明は本書に記載し図示した特定の実施例に限定され
るものではなく、特許請求の範囲にの欄の記載内容に包
摂される変更形態をも包摂するものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明に従って利用することの出来る種類の
FTIR分光計の光路の略図である。 第2図は、本発明の回路の、移動ミラーの方向を判別す
る部分の回路略図である。 第3図は、本発明の増分ミラー位置カウンターの回路略
図である。 第4図は、絶対位置レジスターを更新するマイクロコン
ピュータ−の動作を表わすフローチャートである。 第5図は、本発明の増分ミラー位置カウンターの別の回
路略図である。 第6図は、本発明に使用することの出来る代表的ゼロク
ロス検出回路の回路略図である。 10・・・赤外線源 20・・・移動ミラー 16・・・干渉計ハウジング 42.44・・・光検出器 FIG、1 手 続 補 正 書 (方式) 1、事件の表示 平成1年特許願第81373号 3、補正をする者 事件との関係 出 願 人 4、代 理 人 5、補正命令の日付 平成1年7月4日 6、補正の対象 明細書 図面 (第4図) 7、補正の内容 別紙のとおり FIG、6

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)移動ミラーを有する干渉計と、該干渉計にレーザ
    ービームを向けるレーザーと、該干渉計から出てくるレ
    ーザー光の強度を検出するレーザー検出器と、該移動ミ
    ラーの位置に関する情報を利用して該移動ミラーの運動
    を制御すると共に該移動ミラーの位置を、該分光計内の
    赤外線検出器から得られる信号と相関させるマイクロコ
    ンピューターシステムとを包含する種類のフーリエ変換
    赤外線分光計において該移動ミラーの位置を判定するの
    に使う装置であって、 (a)該レーザー検出器及び該マイクロコンピューター
    に接続され、アップ制御信号又はダウン制御信号に応答
    して該レーザー検出器からのパルスをカウントアップ又
    はカウントダウンする様に成っていて、最大ビット容量
    を持っている増分カウンター手段であって、該カウンタ
    ー手段により維持されるカウントは、該カウンター手段
    の該最大ビット容量が超越された時にはゼロに戻り、該
    カウンター手段のカウントがゼロより低くデクリメント
    された時には該最大ビット容量へ復帰し、該カウンター
    手段の出力は該マイクロコンピューターシステムに接続
    されて該マイクロコンピューターシステムによってアク
    セスされる様に成っている増分カウンター手段と、 (b)該レーザー光検出器に接続され、該FTIR分光
    計における該移動ミラーの運動方向を判別し、該移動ミ
    ラーが一方向に運動している時には該増分カウンター手
    段にアップ制御信号を供給し、該移動ミラーが他の方向
    に運動している時には該増分カウンター手段にダウン制
    御信号を供給する手段とから成ることを特徴とする装置
  2. (2)該増分カウンター手段と該マイクロコンピュータ
    ーシステムとの間に接続され、制御信号に応答して、該
    制御信号に応答した該増分カウンター手段からの出力カ
    ウントをロードして保持するラッチ手段と、該ラッチ手
    段に接続されてイネーブル制御信号を該ラッチ手段に供
    給して、該増分カウンター手段がその最大カウント数の
    二分の一進むのに要する時間より短い時間で該増分カウ
    ンター手段から新しいデータを該ラッチ手段にロードさ
    せるタイミング制御手段とを含むことを特徴とする請求
    項(1)に記載の装置。
  3. (3)該増分カウンター手段と該マイクロコンピュータ
    ーシステムとの間に接続され、制御信号に応答して、該
    制御信号に応答した該増分カウンター手段からの出力カ
    ウントをロードして保持するラッチ手段と、該ラッチ手
    段に接続されて、該カウンター手段の最大ビット容量が
    超越された時又は該カウンター手段のカウントがゼロよ
    り低くデクリメントされた時にイネーブル制御信号に該
    ラッチ手段に供給して該増分カウンター手段から新しい
    データを該ラッチ手段にロードさせる制御信号とを含む
    ことを特徴とする請求項(1)に記載の装置。
  4. (4)該移動ミラーの方向を判別する該手段は、該マイ
    クロコンピューターシステムに接続されており、該増分
    カウンター手段は、一方向にのみカウントすることが出
    来、該増分カウンター手段は、該移動ミラーの方向が変
    化する毎にクリアーされ、該タイミング制御手段は、該
    移動ミラーが方向を変える時に別の制御信号を供給する
    ことを特徴とする請求項(2)に記載の装置。
  5. (5)該増分カウンター手段は縦続形態に接続された複
    数のアップ/ダウンカウンターを含み、最下位ビットカ
    ウンターを除いて、その各カウンターの最低位ビット入
    力は次の最下位ビットカウンターからオーバーフロービ
    ットを受信する様に接続されていることを特徴とする請
    求項(1)に記載の装置。
  6. (6)該レーザー検出器は二つの別々の検出器を含み、
    これら検出器は、互いに位相がずれている出力パルス信
    号を供給し、一方の検出器の出力は、該移動ミラーが一
    方向に移動している時には他方の検出器の出力より先行
    し、該移動ミラーが逆方向に移動している時には後行し
    、運動方向を判別する該手段は、該二つの検出器に接続
    されて、他方の検出器より先行しているパルス信号を供
    給している検出器がどちらの検出器であるかを判定して
    、第1の検出器が先行していれば高レベル出力信号を供
    給し、第2の検出器が先行していれば低レベル出力信号
    を供給することを特徴とする請求項(1)に記載の装置
  7. (7)該マイクロコンピューターはランダムアクセスメ
    モリーを有すると共に、該増分カウンター手段から得ら
    れた正又は負の新しい増分カウントと、そのメモリーの
    既存の内容との和の絶対位置カウントをそのメモリーに
    維持することを特徴とする請求項(1)に記載の装置。
  8. (8)該絶対位置カウントは、該マイクロコンピュータ
    ーが該増分カウンター手段にアクセスする時に更新され
    ることを特徴とする請求項(7)に記載の装置。
  9. (9)(a)移動ミラーを含むマイケルソン干渉計と、
    (b)該干渉計に光ビームを向ける位置決めレーザーと
    、 (c)該干渉計から出て行くレーザー光の強度を検出す
    るレーザー検出器と、 (d)該分光計から出て行く赤外線の強度を検出する赤
    外線検出器と、 (e)該移動ミラーの位置を記憶する絶対位置レジスタ
    ーをそのメモリーに有すると共に、該移動ミラーの位置
    に関する情報を利用して該移動ミラーの運動を制御する
    と共に該移動ミラーの位置を、該分光計の該赤外線検出
    器から得られる信号と相関させる様に成っているマイク
    ロコンピューターシステムと、 (f)該レーザー検出器及び該マイクロコンピューター
    に接続され、該レーザー検出器からのパルスをカウント
    する様に成っている共に、最大ビット容量を有し、その
    出力が該マイクロコンピューターシステムに接続されて
    該マイクロコンピューターシステムによりアクセスされ
    る様に成っている増分カウンター手段と、 (g)該レーザー光検出器に接続されて、該FTIR分
    光計における該移動ミラーの運動方向を判別し、該移動
    ミラーが一方向に運動している時にはアップ制御信号を
    供給し、該移動ミラーが他の方向に運動している時には
    ダウン制御信号を供給する手段と、 (h)該運動方向を判別する手段から該アップ制御信号
    及びダウン制御信号を受信し、該増分カウンター手段の
    カウントを該アップ制御信号及びダウン制御信号と整合
    させて、該マイクロコンピューターシステムの該絶対位
    置レジスターに維持されている該絶対位置カウントを適
    切にインクリメント又はデクリメントする手段と、から
    成ることを特徴とする赤外線分光計。
  10. (10)該増分カウンター手段と該マイクロコンピュー
    ターシステムとの間に接続され、制御信号に応答して、
    該制御信号に応答した該増分カウンター手段からの出力
    カウントをロードして保持するラッチ手段と、該ラッチ
    手段に接続されてイネーブル制御信号を該ラッチ手段に
    供給して、該増分カウンター手段がその最大カウント数
    の二分の一進むのに要する時間より短い時間で該増分カ
    ウンター手段から新しいデータを該ラッチ手段にロード
    させるタイミング制御手段とを含むことを特徴とする請
    求項(9)に記載の赤外線分光計。
  11. (11)該増分カウンター手段は該アップ制御信号又は
    ダウン制御信号に応答して最大ビット容量までカウント
    アップし、次にゼロに復帰するか又はゼロまでカウント
    ダウンし、次に最大ビット容量に復帰することを特徴と
    する請求項(9)に記載の赤外線分光計。
  12. (12)該増分カウンター手段と該マイクロコンピュー
    ターシステムとの間に接続され、制御信号に応答して、
    該制御信号に応答した該増分カウンター手段からの出力
    カウントをロードして保持するラッチ手段と、該ラッチ
    手段に接続されて、該カウンター手段の最大ビット容量
    が超越された時又は該カウンター手段のカウントがゼロ
    より低くデクリメントされた時にイネーブル制御信号を
    該ラッチ手段に供給して該増分カウンター手段から新し
    いデータを該ラッチ手段にロードさせる制御手段とを含
    むことを特徴とする請求項(11)に記載の赤外線分光
    計。
  13. (13)該移動ミラーの方向を判別する該手段は、該マ
    イクロコンピューターシステムに接続されており、該増
    分カウンター手段は、一方向にのみカウントすることが
    出来、該増分カウンター手段は、該移動ミラーの方向が
    変化する毎にクリアーされ、該タイミング制御手段は、
    該移動ミラーが方向を変える時に別の制御信号を供給す
    ることを特徴とする請求項(9)に記載の赤外線分光計
  14. (14)該増分カウンター手段は縦続形態に接続された
    複数のアップ/ダウンカウンターを含み、最下位ビット
    カウンターを除いて、その各カウンターの最低位ビット
    入力は次の最下位ビットカウンターからオーバーフロー
    ビットを受信する様に接続されていることを特徴とする
    請求項(11)に記載の赤外線分光計。
  15. (15)該レーザー検出器は二つの別々の検出器を含み
    、これら検出器は、互いに位相がずれている出力パルス
    信号を供給し、一方の検出器の出力は、該移動ミラーが
    一方向に移動している時には他方の検出器の出力より先
    行し、該移動ミラーが逆方向に移動している時には後行
    し、運動方向を判別する該手段は、該二つの検出器に接
    続されて、他方の検出器より先行しているパルス信号を
    供給している検出器がどちらの検出器であるかを判定し
    て、第1の検出器が先行していれば高レベル出力信号を
    供給し、第2の検出器が先行していれば低レベル出力信
    号を供給することを特徴とする請求項(9)に記載の装
    置赤外線分光計。
  16. (16)該マイクロコンピューターはランダムアクセス
    メモリーを有すると共に、該増分カウンター手段から得
    られた正又は負の新しい増分カウントと、そのメモリー
    の既存の内容との和の絶対位置カウントをそのメモリー
    に維持することを特徴とする請求項(9)に記載の赤外
    線分光計。
  17. (17)該絶対位置カウントは、該増分カウンター手段
    が該マイクロコンピューターによりアクセスする時に更
    新されることを特徴とする請求項(16)に記載の赤外
    線分光計。
  18. (18)フーリエ変換赤外線分光干渉計において移動ミ
    ラーの位置を追跡する方法であって、 (a)レーザーの光ビームを該干渉計内へ向け、(b)
    該干渉計から出て行くレーザー光のパルスをレーザー検
    出器で検出し、 (c)その検出されたレーザー光パルスから該移動ミラ
    ーの運動方向を判別して、該移動ミラーが一方向に運動
    している時にはアップ制御信号を発生させ、該移動ミラ
    ーが他の方向に運動している時にはダウン制御信号を発
    生させ、(d)該レーザー検出器に接続された増分カウ
    ンターで、該アップ制御信号又はダウン制御信号に応じ
    て、該レーザー検出器から検出されるパルスをカウント
    アップ又はカウントダウンし、該増分カウンター手段は
    最大ビット容量を持っており、該増分カウンター手段に
    維持されるカウントは、該カウンターの該最大ビット容
    量が超越された時にはゼロに復帰し、該カウンターのカ
    ウントがゼロより低くデクリメントされた時には該最大
    ビット容量数に復帰し、該カウンターは出力を発生させ
    、 (e)該マイクロコンピューターシステムのアクセスと
    アクセスとの間の時間が、該増分カウンターがその最大
    カウント数の二分の一進むのに要する時間より短くなる
    様な速度でマイクロコンピューターシステムにより該カ
    ウンターの出力にアクセスされる工程から成ることを特
    徴とする方法。
  19. (19)該マイクロコンピューターはランダムアクセス
    メモリーを有すると共に、該増分カウンター手段から得
    られた正又は負の新しい増分カウントと、そのメモリー
    の既存の内容との和の絶対位置カウントをそのメモリー
    に維持することを特徴とする請求項(18)に記載の方
    法。
  20. (20)該カウンターの出力が該マイクロコンピュータ
    ーによりアクセスされる時に該マイクロコンピューター
    の該絶対位置カウントを更新する工程を更に含むことを
    特徴とする請求項(19)に記載の方法。
JP1081373A 1988-03-31 1989-03-31 フーリエ変換赤外線分光計においてミラー位置を判定する方法及び装置 Pending JPH0212025A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US175513 1988-03-31
US07/175,513 US4847878A (en) 1988-03-31 1988-03-31 Method and apparatus for determining mirror position in a fourier-transform infrared spectrometer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0212025A true JPH0212025A (ja) 1990-01-17

Family

ID=22640508

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1081373A Pending JPH0212025A (ja) 1988-03-31 1989-03-31 フーリエ変換赤外線分光計においてミラー位置を判定する方法及び装置

Country Status (3)

Country Link
US (1) US4847878A (ja)
EP (1) EP0335533A3 (ja)
JP (1) JPH0212025A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004150979A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Yokogawa Electric Corp フーリエ変換型赤外線分光計

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0227226A (ja) * 1988-07-18 1990-01-30 Fuji Electric Co Ltd フーリエ変換分光器のデータ処理方式
US5021661A (en) * 1989-09-04 1991-06-04 Jeol Ltd. Time-resolved infrared spectrophotometer
JPH063401B2 (ja) * 1989-12-29 1994-01-12 株式会社島津製作所 干渉分光光度計
JPH03202729A (ja) * 1989-12-29 1991-09-04 Shimadzu Corp 干渉分光光度計の移動鏡駆動制御装置
US5153675A (en) * 1990-02-22 1992-10-06 Nicolet Instrument Corporation Modular optical system for Fourier transform infrared spectrometer
US5133598A (en) * 1990-03-02 1992-07-28 Nicolet Instrument Corporation Command servo for moving mirror of Michelson interferometer
JP2604052B2 (ja) * 1990-03-29 1997-04-23 アンリツ株式会社 光波長測定装置
US5270790A (en) * 1990-04-18 1993-12-14 Advantest Corporation Moving reflector driving part of a Michelson inteferometer
DE4104636A1 (de) * 1991-02-15 1992-08-20 Bran & Luebbe Polarisationsinterferometer mit schmalbandfilter
US5309217A (en) * 1991-04-27 1994-05-03 Bruker Analytische Messtechnik Fourier spectrometer
US5196902A (en) * 1991-10-09 1993-03-23 Advanced Fuel Research, Inc. Two-beam interferometer apparatus and method, and spectrometer utilizing the same
US5349438A (en) * 1991-10-09 1994-09-20 Advanced Fuel Research Inc. Structure for the dynamic support of a reflective element and interferometer comprising the same
US5239361A (en) * 1991-10-25 1993-08-24 Nicolet Instrument Corporation Dynamic mirror alignment device for the interferometer of an infrared spectrometer
US5519218A (en) * 1993-08-04 1996-05-21 Chang; On Kok Sample holder for spectroscopy
US5436454A (en) * 1993-10-15 1995-07-25 Nicolet Instrument Corporation Optical probe for remote attenuated total reflectance measurements
US7436234B1 (en) 1994-02-25 2008-10-14 Mks Instruments, Inc. Signal oversampling for improved S:N in reflector movement system
US5883712A (en) * 1997-05-21 1999-03-16 Nicolet Instrument Corporation Interferometer of an infrared spectrometer with dynamic moving mirror alignment
US7119904B2 (en) * 2004-01-13 2006-10-10 Thermo Electron Scientific Instruments Corporation Stabilized infrared source for infrared spectrometers
CN102591005B (zh) * 2011-01-13 2015-02-04 北京安南科技有限公司 一种用于傅立叶红外的干涉光调制的新型驱动装置
JP6195459B2 (ja) * 2013-03-19 2017-09-13 日本分光株式会社 干渉計用可動ミラーの速度制御装置、フーリエ変換分光光度計
CN107100680B (zh) * 2017-06-19 2019-06-21 电子科技大学 一种用于涡轮叶片表面光线采集的装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3409375A (en) * 1964-10-21 1968-11-05 Cutler Hammer Inc Gauging interferometer systems
US3549870A (en) * 1967-04-07 1970-12-22 Atomic Energy Commission System for computing and continuously displaying increments of movement of an object in useable units of measure
US4132940A (en) * 1975-04-04 1979-01-02 Nasa Apparatus for providing a servo drive signal in a high-speed stepping interferometer
DE2729617B2 (de) * 1977-06-30 1981-03-19 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Einrichtung zur fortlaufenden Ermittlung eines über eine Meßperiode konstanter Dauer gemittelten Wertes eines Verbrauchs
US4509044A (en) * 1981-05-13 1985-04-02 Nippon Seiki Kabushiki Kaisha Device which accurately displays changes in a quantity to be measured
US4429267A (en) * 1981-06-22 1984-01-31 Manhattan Engineering Company, Inc. Digital positioning systems having high accuracy
US4413908A (en) * 1982-03-05 1983-11-08 Bio-Rad Laboratories, Inc. Scanning interferometer control systems
US4799001A (en) * 1987-07-23 1989-01-17 Nicolet Corporation Start of scan circuit for FTIR spectrometer

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004150979A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Yokogawa Electric Corp フーリエ変換型赤外線分光計

Also Published As

Publication number Publication date
EP0335533A2 (en) 1989-10-04
US4847878A (en) 1989-07-11
EP0335533A3 (en) 1991-01-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0212025A (ja) フーリエ変換赤外線分光計においてミラー位置を判定する方法及び装置
US4799001A (en) Start of scan circuit for FTIR spectrometer
CA2050385C (en) Optical encoder
JPH0749207A (ja) 絶対干渉測定方法とこの方法に適したレーザー干渉装置
US5270790A (en) Moving reflector driving part of a Michelson inteferometer
US4132940A (en) Apparatus for providing a servo drive signal in a high-speed stepping interferometer
US4822164A (en) Optical inspection device and method
US5182613A (en) Position detecting apparatus generating periodic detection signals having equal third and fifth harmonic components
US5198873A (en) Encoder utilizing interference using multi-mode semiconductor laser
US5247342A (en) Light wavelength measuring apparatus including an interference spectroscopic section having a movable portion
EP0364984B1 (en) Interferometer using multi-mode semiconductor laser
JP2000304507A (ja) 回折格子の回折光干渉を用いた寸法測定装置
US4998798A (en) Encoder having long length measuring stroke
JPH0244173Y2 (ja)
Tank Pathlength alteration in an interferometer by rotation of a retroreflector
SU1441189A1 (ru) Измеритель длин волн
JP3216146B2 (ja) マイケルソン干渉計
JPH01109214A (ja) ロータリエンコーダ
During Real-time optical measurement of position
SU1357710A1 (ru) Устройство дл измерени малых зазоров между двум поверхност ми,одна из которых прозрачна
JP2537980B2 (ja) 速度検出方法
JP2667501B2 (ja) レーザ距離測定装置
SU1509625A1 (ru) Устройство дл измерени интенсивности линии в оптическом спектре
SU1469405A1 (ru) Мессбауэровский спектрометр с лазерным интерферометром
EP0394942A2 (en) A signal insertion processor and an encoder using the processor