JPH02121124A

JPH02121124A - 光メモリ装置

Info

Publication number: JPH02121124A
Application number: JP63274096A
Authority: JP
Inventors: Akira Takahashi; 明高橋; Kenji Ota; 賢司太田; Tetsuya Inui; 哲也乾; Toshinobu Saegusa; 理伸三枝; Kazuo Ban; 和夫伴; Junji Hirokane; 順司広兼
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1988-10-28
Filing date: 1988-10-28
Publication date: 1990-05-09
Anticipated expiration: 2012-10-27
Also published as: JP2667685B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、光メモリ装置、特に光メモリ装置におけるト
ラッキング誤差の検出に関するものである。

〔従来の技術〕

光ディスク、光磁気ディスク等の光メモリ装置における
記録ビットはその面積が１μｍ”程度と小さいため、光
ビームのアクセスには高精度な制御が必要となる。従来
、データ記録用の光ディスクの分野では、トラッキング
サーボには連続溝方式とサンプル方式が使用されている
。

その内、連続溝方式は、第１１図に示すように、基板１
上にグループ２を設け、このグループ２で生じる光の回
折現象を利用して、光ビームの位置ずれを検出するもの
である。

すなわち、図示しないレーザ光源等からの光がハーフミ
ラ−３、対物レンズ４を介して基板１上のグループ２に
照射される。グループ２からの反射光は対物レンズ４、
ハーフミラ−３を経て２分割式光検出器５に入射され、
２分割式光検出器５の各検出部５ａ・５ｂから出力され
る信号の差が差動増幅器６で増幅されることにより、ト
ラッキング誤差検出信号が得られる。

一方、サンプル方式では、第１２図に示すように、基板
７上にトラッキング誤差検出用の１対のピット８・９を
データビット１０・１０・・・が配列された、矢印Ｂが
通過するトラック中央に対してトラックと垂直方向にお
ける反対側に等距離だけ離して設け、ピット８・９から
の再生信号の振幅強度を比較し、例えば、第１３図（ａ
）に示すようにピット８からの再生信号の振幅強度ＳＩ
′がピット９からの再生信号の振幅強度３２′より大き
い場合は、光ビームは矢印Ａに沿ってピット８寄りの位
置をアクセスしたものとみなし、第１３図（ｂ）に示す
ように、ピット８・９からの再生信号の振幅強度Ｓ＋’
Ｓｚが等しい場合は、光ビームは矢印Ｂに沿ってトラッ
ク中央をアクセスしたものとみなし、第１３図（Ｃ）に
示すように、ピット９からの再生信号の振幅強度Ｓ！”
がピット８からの再生信号の振幅強度Ｓ、”より大きい
場合は、光ビームは矢印Ｃに沿ってビット９寄りの位置
をアクセスしたものとみなすようにしている。なお、ピ
ット８・９の対はトラック上に多数組設けられている。

第１４図に示すように、上記サンプル方式においては、
基板７上のピット８・９からの反射光が対物レンズ４、
ハーフミラ−３を介して順次光検出器１１に入射する。

それに伴って、ピット８・９からの再生信号の振幅強度
に応じた信号が光検出器１１から波形整形回路１２を介
して順次シフトレジスタ１３に送られ、それらの差がタ
イミング発生ｒ＆１４からの信号に基づいて差動増幅器
１５により増幅されてトラッキング誤差検出信号とされ
る。

〔発明が解決しようとする課題］ところで、第１１図に示した上記連続溝方式においては
、光ビームが適性位置、つまり、トラックの中央をアク
セスしていても基板１が傾斜していれば、トラッキング
誤差信号が“０″にはならないので、トラッキング誤差
信号のみでは、光ビームの位置がずれているのか、基板
１が傾斜している・のかの判別ができないという問題を
有していた。そのため、この連続溝方式では、基板１の
傾きに対する許容値が小さくなる。

一方、第１２図〜第１４図に示す上記サンプル方式にお
いては、基板７が傾斜してもトラッキング誤差信号は発
生しにくいものの、正確なトラッキング誤差の検出を行
うためにはピット８・９の幅、深さ等の形状精度が要求
されるとともに、サンプリングによって再生信号を検出
するものであるから、光ビームがピット８・９を通過す
る時刻が予め定められており、従って、１対のピット８
９と、他の対のピット８・９との間の相対的な位置精度
を高くする必要があるので、基板７の製造コストが高騰
するという不具合があった。

〔課題を解決するための手段〕

本発明に係る光メモリ装置は、上記の課題を解決するた
めに、基板上に１対のトラッキング誤差検出部が光ビー
ムのアクセス方向に所定の間隔を隔てて設けられるとと
もに、少なくとも一方のトラッキング誤差検出部が光ビ
ームのアクセス方向に対して傾斜させられていることを
特徴とするものである。

〔作　用〕

上記の構成によれば、基板上に設けられた１対のトラッ
キング誤差検出部のうち少な（とも一方のトラッキング
誤差検出部が光ビームのアクセス方向に対して傾斜させ
られているので、光ビームのアクセスにより片側のトラ
ッキング誤差検出部から再生信号が出力される時刻と、
他側のトラッキング誤差検出部から再生信号が出力され
る時刻との間の経過時間、換言すれば、１対のトラッキ
ング誤差検出部からの再生信号の位相差は光ビームのア
クセス位置がトラックの中央からのトラックと直交する
方向へのずれ量に応じて変化する。

従って、１対のトラッキング誤差検出部からの各再生信
号の位相差を求めることにより、トラッキング誤差を検
出することができる。

そして、この場合、光検出器としては２分割式のもので
はなく、１体式のものを使用できるので、基板が傾斜し
てもトラッキング誤差検出信号には大、きな影響は生じ
ない。又、１対のトラッキング誤差検出部からの再生信
号の位相差に基づいてトラッキング誤差を得るようにし
たので、例えばトラッキング誤差検出部がピット又はグ
ループ等である場合も、それらの幅、深さ等の変化によ
る影響が少なくなり、それにより、正確なトラッキング
誤差の検出が行えるようになる。

更に、対応する１対のトラッキング誤差検出部間の位置
精度は要求されるものの、１対のトラッキング誤差検出
部と他の対のトラッキング誤差検出部との間の位置精度
は上記従来のサンプル方式はど高くする必要がないので
、光メモリ装置を安価に製造する上で有利となる。

〔実施例１］本発明の一実施例を第１図乃至第３図に基づいて説明す
れば、以下の通りである。

第１図に示すように、光メモリ装置における基板２１上
には矢印Ｂが通過するトラックの中央に沿って複数のデ
ータビット２２・２２・・・が形成され、かつ、それら
の間におけるトラックの中央に一方のトラッキング誤差
検出部としてのほぼ円形の基準ピット２３が形成されて
いる。

又、基準ピット２３からトラックの延びる方向である光
ビームのアクセス方向に所定の間隔を隔てて、他方のト
ラッキング誤差検出部としての長尺の傾斜ピット２４が
設けられている。この傾斜ピット２４は光ビームのアク
セス方向、つまり、トラックの方向に対して傾斜した方
向に延びる溝部として形成されている。傾斜ピット２４
は矢印Ｂが通過するトラックの中央を中心にトラックと
垂直な方向の両側にほぼ等距離だけ延びている。

これにより、後述する再生装置における光ビームが、矢
印Ｂに沿ってトラックの中央をアクセスした場合は、第
２図中（ｂ）で示すように、基準ピット２３からの再生
信号が出力されてから傾斜ピット２４からの再生信号が
出力されるまでの時間間隔はＬｏとなる。

一方、光ビームがトラックの中央からトラックと垂直な
方向の一側にずれた矢印Ａに沿ってアクセスした場合は
、第２図中（ａ）で示すように、基準ピット２３からの
再生信号が出力される時刻は光ビームがトラックの中央
をアクセスした場合と同じであるが、傾斜ピット２４か
らの再生信号が出力される時刻は光ビームがトラックの
中央をアクセスした場合より遅れるので、基準ピット２
３からの再生信号が出力されてから傾斜ピット２４から
の再生信号が出力されるまでの時間間隔りはｔｏよりΔ
ｔだけ長くなる。

又、光ビームがトラックの中央からトラックと垂直な方
向の他側に同一距離だけずれた矢印Ｃに沿ってアクセス
した場合は、第２図中（Ｃ）に示すように、傾斜ピット
２４からの再生信号が出力される時刻は光ビームがトラ
ックの中央をアクセスした場合より早くなり、従って、
基準ピット２３からの再生信号が出力されてから傾斜ピ
ット２４からの再生信号が出力されるまでの時間間隔ｔ
′はｔｏよりΔｔだけ短くなる。

このように、基準ピット２３からの再生信号が出力され
てから傾斜ピット２４からの再生信号が出力されるまで
の時間間隔が上記の時間間隔ｔ０より長いか短いかによ
り、換言すれば、基準ピット２３と傾斜ピット２４から
の再生信号の位相差により、光ビームがトラックの中央
からいずれの側にずれているかが検出でき、かつ、基準
ピット２３からの再生信号が出力されてから傾斜ピット
２４からの再生信号が出力されるまでの実際の時間間隔
と光ビームがトラックの中央をアクセスした場合の上記
時間間隔Ｌ０との差を求めることにより、光ビームのト
ラック中央からの変位量を知ることができる。

以下、光メモリ装置上の情報を再生する再生装置につき
述べる。

第３図において、トラッキング誤差の検出に際しては、
図示しないレーザ光源等からハーフミラ−２５及び対物
レンズ２６を介して基板２１に光ビームが照射され、基
板２１上の基準ピット２３および傾斜ピット２４からの
反射光が対物レンズ２６及びハーフミラ−２５を介して
順次光検出器２７に入射される。

これにより、基準ピット２３及び傾斜ピット２４か・ら
の各反射光に対応する光検出器２７からの信号が波形整
形回路２８を介して順次時間間隔検出器２９に入力され
る。そして、タイミング発生器３０からのタイミング信
号に基づいて時間間隔検出器２９において基準ピット２
３から再生信号が出力されてから傾斜ピット２４から再
生信号が出力されるまでの時間間隔が検出されることに
よリ、トラッキング誤差検出信号が得られる。

〔実施例２〕次に、第４図及び第５図に基づいて第２実施例を説明す
る。

この第２実施例は、第４図に示すように、基板２１上に
第１実施例と同様に、トラッキング誤差検出部としての
第１の基準ビット３１及び傾斜ビット３２を形成すると
ともに、光ビームのアクセス方向に見て傾斜ビット３２
の後方に、第１の基準ビット３１と傾斜ピット３２間の
間隔と等間隔を隔ててトラッキング誤差検出部としての
第２の基準ビット３３を設けたものである。

そして、第２実施例では、第１の基準ビット３１からの
再生信号が出力されてから傾斜ビット３２からの再生信
号が出力されるまでの時間間隔と、傾斜ビット３２から
の再生信号が出力されてから第２の基準ビット３３から
の再生信号が出力されるまでの時間間隔とを比較するこ
とにより、トラッキング誤差の検出を行うようにしてい
る。

すなわち、光ビームが矢印已に沿ってトラックの中央を
アクセスした場合には、第５図中（ｂ）に示すように、
第１の基準ビット３１からの再生信号が出力されてから
傾斜ビット３２からの再生信号が出力されるまでの時間
間隔ｔｌと、傾斜ビット３２からの再生信号が出力され
てから第２の基準ビット３３からの再生信号が出力され
るまでの時間間隔ｔ２とは等しくなる。

これに対し、光ビームがトラックの中央からトラックと
垂直な方向の一側にずれた矢印Ａに沿ってアクセスした
場合は、第５図中（ａ）に示すように、第１の基準ビッ
ト３１からの再生信号が出力されてから傾斜ビット３２
からの再生信号が出力されるまでの時間間隔ｔＩ′が、
傾斜ビット３２からの再生信号が出力されてから第２の
基準ビット３３からの再生信号が出力されるまでの時間
間隔ｔ２′より長くなり、一方、光ビームがトラックの
中央からトラックと垂直な方向の他側にずれた矢印Ｃに
沿ってアクセスした場合は、第５図中（Ｃ）に示すよう
に、第１の基準ビット３１からの再生信号が出力されて
から傾斜ビット３２からの再生信号が出力されるまでの
時間間隔ｔ。

が、傾斜ビット３２からの再生信号が出力されてから第
２の基準ビット３３がらの再生信号が出力されるまでの
時間間隔ｔ２”より短くなる。

なお、以上の実施例では、トラッキング誤差検出部とし
て１又は複数の基準ビットと１つの傾斜ビットとを設け
た場合について述べたが、第６図に示すように、それに
代えて、矢印りで示す光ビームのアクセス方向に対して
互いに逆向きに傾斜した１対の傾斜ビット３４・３５を
設け、傾斜ビット３４から再生信号が出力されてから傾
斜ビット３５から再生信号が出力されるまでの経過時間
に基づいてトラッキング誤差を検出するようにしても良
い。

又、同様の考え方により、第７図に示すように、光磁気
ディスクにおいて、記録ビット３６・３６・・・（便宜
上ハツチングで示す）が形成されたグループ３７に互い
に逆向きに傾斜する、トラッキング誤差検出部としての
１対の傾斜部３７ａ・３７ｂを形成し、傾斜部３７ａ・
３７ｂがら再生信号が出力される時間間隔に基づいてト
ラッキング誤差の検出を行うこともできる。

次に、光ビームのアクセス方向に対する傾斜ビット又は
グループの好適な傾斜角度を演算により求めた結果につ
き述べる。

第８図（ａ）に示すように、長尺のｆ頃斜ビット３８の
幅を０．６μｍ、深さを１１００ｎとし、光ビームのア
クセス方向、つまり、トラック方向に対する傾斜角度θ
を４５°として、光ビームが傾斜ビット３８を通過する
際の強度の変化を算出した結果を第８図（ｂ）に示す。

但し、第８図（ｂ）中油線Ｉは、第８図（ａ）中に矢印
Ｅで示す如く光ビームがトラックの中央を通過する場合
の強度・の変化を、曲線■は、矢印Ｆの如く光ビームが
トラックの中央から一例に０．２５μｍずれた位置を通
過する場合の強度の変化を、曲線■は、矢印Ｇの如く光
ビームがトラックの中央がら一側に０．　５μｍずれた
位置を通過する場合の強度の変化を表している。なお、
縦軸の強度は相対値である。

上述の場合、第８図（ｂ）から明らかなように、曲線■
における強度のピーク位置は曲線■におけるピーク位置
に対し０．５μｍずれている。従って、光ビームのトラ
ックと直交する方向へのずれΔＸに対する強度のピーク
位置のずれΔｙの比は１：１である。なお、一般に、傾
斜ビット３８がトラックに対し角度θだけ傾斜している
場合、Δｙ／Δｘ＝ｃ　ｏ　ｓθ／　ｓ　ｉ　ｎθとな
る。Δｙ／ΔＸはトラッキング誤差の検出感度に比例す
るため、θが小さくなるに伴って感度は上昇する。

ところで、角度θが小さい場合の再生波形は、第８図（
ｂ）のものと比較して横軸方向に引き延ばされるのみで
、波形そのものは同一である。従って、ピーク位置検出
のための微分回路は、時定数をｃｏｓθ／　ｓ　ｉ　ｎ
θに比例させて大きくすれば良い。

但し、θが過度に小さくなると、傾斜ビット３日が長く
なるため、データ領域が不足しがちになるという不具合
が生じるので、θの値には下限が存在する。

通常、トラックがディスクを１周する範囲内でのトラッ
キング誤差検出用のビットの個数は１０００〜２０００
個である。従って、径が９０ｍｍ又は１３０ｍｍ程度の
ディスクでは８０〜１５０μｍ当たりに１個のトラッキ
ング誤差検出用ビットが設けられる。この８０〜１５０
μｍのうちの１０％をトラッキング誤差検出に使用する
ものと仮定すると、トラッキング誤差検出用ピット（又
はグループ）の長さはトラックの方向に８〜１５μｍと
なる。従って、トラックのピッチを１．６μｍとすると
、θの下限値は１１〜６．１°となる。

一方、θを大きくすると、光ビームがビットを通過する
時間は減少して１μｓｅｃのオーダとなるが、これでは
トラッキング誤差をトラックピッチの１／２０程度に抑
えるには１／２０μｓｅｃの時間計測精度が必要となる
。θ＝４５°で５ｏｎｓｅｃ程度となるので、実用的な
時間計測分解能を１ｏｎｓｅｃとすると、θ＝８１．９
＠となる。以上の結果から、傾斜ピット３８の傾斜角度
θの実用的な範囲は６〜８０″程度となる。

なお、以上では一方のトラッキング誤差検出部として傾
斜ピット３８を使用した場合を説明したが、それに代え
て、第９図（ａ）に示すように、一方のトラッキング誤
差検出部として、直径が０．６μｍ、深さが１１００ｎ
のビット４０をトラックの中心に位置するように配置し
、かつ、ビット４０と同−径及び同−深さのビット４１
を、ビット４０に対してトラック方向とトラックに垂直
な方向の一方側にそれぞれ０．５μｍずつずらしてビッ
ト４０に対し斜め４５″の角度を成すように配置し、更
に、図示しないが、ビット４０・４１と同−径及び同−
深さを有する今１つのビットをビット４０に対してトラ
ック方向とトラックに垂直な方向の他方側にそれぞれ０
．５μｍずつずらしてビット４０に対し斜め４５″の角
度を成すように配置した場合も傾斜ピット３８を使用し
た場合と同等の効果があることが演算により求められた
。

第９図（ｂ）に光ビームが第９図（ａ）の矢印Ｅに沿っ
てトラックの中央を通過した場合と、矢印Ｆに沿ってト
ラックの中央からトラックと垂直な方向の一側に０．２
５μｍずれた位置を通過した場合と、矢印Ｇに沿ってト
ラックの中央からトラックと垂直な方向の一側に０．５
μｍずれた位置を通過した場合のそれぞれの光ビームの
強度の変化を曲線Ｉ〜■で表す。この場合も第８図（ｂ
）とほぼ同様の結果が得られている。

又、第１０図（ａ）に示すように、ビット４０・４１及
び図示しない上記今１つのビットに代えて、反射光量が
部分的に異なる相変化型光ディスクにおける３個のビッ
ト４２・４３（２個のみ図示）を、ビット４２がトラッ
クの中央に位置するよう・に斜め４５″′に配置したも
のを一方のトラッキング誤差検出部として使用した場合
も、第１０図（ｂ）の如く、ビット４０・４１及び図示
しない今１つのビットを配置した場合とほぼ同様の結果
が得られた。但し、上記の相変化型光ディスクにおいて
、ビット４２・４３及び図示しない今１つのビットの部
位での反射率は“０”、それ以外の部位では“１″とし
た。なお、第８図（ｂ）〜第１０図（ｂ）に結果を表示
した演算は、いずれも光ビームの波長λ−７８０ｎｍ、
開ロ数ＮＡ＝０．５３、光ビームのビーム径＝１．３μ
ｍ（１／ｅ２）の条件で行った。

次に、光メモリ装置上で、上述したような基準ビット及
び傾斜ビット、グループの傾斜部等からなるトラッキン
グ誤差検出部が設けられている位置を検出するために設
定されるサーボパターンにつき説明する。

トラッキング誤差の検出に前述したサンプル方式を使用
する場合、変調には、通常、４／１５変調方式が用いら
れる。この変調方式は、１バイト＝８ビツトの情報を光
メモリ装置上の１５チヤンネルビツトに変換するもので
あり、第１５ビツト目は必ず“０”とされる。そして、
残りの１４チヤンネルビツトが偶数ビットと奇数ビット
とに分割され、それぞれが元データ８ビット中の上位４
ビツトと下位４ビツトとに割り当てられる。この際、偶
数及び奇数に分割された各７チヤンネルビント中常に２
ビツトのみが゛ビ°とされ、残りの５ビツトが“０”と
される。

その場合、変換後のパターンは偶数及び奇数の各７チヤ
ンネルビツトにつき、７Ｃ２＝　７　Ｘ　６÷２＝２１
通り、全体では、２１Ｘ２１＝４４１通りとなる。一方
、元データは８ビツト、つまり、２”＝２５６通りであ
るから、４４１−２５６−１８５通りの余分なパターン
が存在することになる。従って、余分なパターンの中か
ら選択した特定のパターンをトラッキング誤差検出部の
設けられた位置を示すサーボパターンとして使用するの
が１つの方法となる。なお、４／１５変調方式以外の各
変調方式でも元データより多数のパターンが得られるも
のであるから、いずれの変調方式でも余分のパターンの
中からサーボパターンを選択することができる。

次に、サーボパターンの他の例につき述べる。

一般に、変調に際しては、変調後のパターンの再生が容
易となるように、”０１０１０１・・・°°の如くの最
短ビットが出ないように、又、逆に、】１１１・・パも
しくは“’ｏ　ｏ　ｏ　ｏ・・パのように、“０゛又は
“１°”が連続しないように変調後のパターンが選択さ
れる。従って、１００００・・・０１”の如くに、“１
゛と°１１１”の間で、通常のパターンには存在しない
ビット数だけ０′を連続させたパターンを形成して、サ
ーボパターンとして使用することができる。

例えば、４／１５変調方式では１６〜１９チャンネルビ
ット程度“０”を連続させれば良い。又、８ビツトを１
０チヤンネルビツトに変換する８／１０変調方式では、
変調後のパターンで“０”又は“ｌ”が連続するのは４
ビツト以下であるから、サーボパターンとしては“０゛
′を５ビツト以上連続させたものを使用すれば良く、２
／７変調方式では′°０”又はｕ　１　＋＋が連続する
のは２〜７ビツトであるから、サーボパターンとしては
“０″を８ビツト以上連続させたものを使用すれば良い
。

〔発明の効果〕

本発明に係る光メモリ装置は、以上のように、基板上に
１対のトラッキング誤差検出部が光ビームのアクセス方
向に所定の間隔を隔てて設けられるとともに、少なくと
も一方のトラッキング誤差検出部が光ビームのアクセス
方向に対して傾斜させられている構成である。

これにより、基板上に設けられた１対のトラッキング誤
差検出部のうち少なくとも一方のトラッキング誤差検出
部が光ビームのアクセス方向に対して傾斜させられてい
るので、光ビームのアクセスにより片側のトラッキング
誤差検出部から再生信号が出力される時刻と、他側のト
ラッキング誤差検出部から再生信号が出力される時刻と
の間の経過時間、換言すれば、１対のトラッキング誤差
検出部からの再生信号の位相差は光ビームのアクセス・
位置がトラックの中央からのトラックと直交する方向へ
のずれ量に応じて変化する。従って、１対のトラッキン
グ誤差検出部からの各再生信号の位相差を求めることに
より、トランキング誤差を検出することができる。

そして、この場合、光検出器としては２分割式のもので
はなく、１体弐のものを使用できるので、基板が傾斜し
てもトラッキング誤差検出信号には大きな影響は生じな
い。又、１対のトラッキング誤差検出部からの再生信号
の位相差に基づいてトラッキング誤差を得るようにした
ので、例えばトラッキング誤差検出部がピット又はグル
ープ等である場合も、それらの幅、深さ等の変化による
影響を少なくして正確なトラッキング誤差の検出が行え
るようになる。

【図面の簡単な説明】

第１図乃至第３図は本発明の第１実施例を示すものであ
って、第１図は光メモリ装置の基板を示す概略正面図、
第２図は基準ピットからの再生信号が出力されてから傾
斜ピットからの再生信号が出力されるまでの時間間隔を
示すタイムチャート、第３図は光メモリ装置から情報の
再生を行う再生装置の概略構成図、第４図及び第５図は
第２実施例を示すものであって、第４図は光メモリ装置
の基板を示す概略正面図、第５図は基準ピットがらの再
生信号が出力されてから傾斜ピットからの再生信号が出
力されるまでの時間間隔を示すタイムチャート、第６図
及び第７図はそれぞれ変形例を示す概略正面図、第８図
（ａ）はトラッキング誤差検出部としての傾斜ピットを
示す概略正面図、第８図（ｂ）は光ビームが傾斜ピット
を通過する際の再生信号の強度の変化を示すグラフ、第
９図（ａ）はトラッキング誤差検出部としての２個のピ
ットを示す概略正面図、第９図（ｂ）は光ビームが２個
のピットを通過する際の再生信号の強度の変化を示すグ
ラフ、第１０図（ａ）はトラッキング誤差検出部として
の２個のピットを示す概略正面図、第１０図（ｂ）は光
ビームが２個のピットを通過する際の再生信号の強度の
変化を示すグラフ、第１１図は第１従来例における再生
装置を示す概略構成図、第１２図は第２従来例における
基板を示す概略正面図、第１３図は第２従来例において
トラッキング誤差検出用ピットからの再生信号の振幅を
示すタイムチャート、第１４図は第２従来例における再
生装置を示す概略構成図である。２１は基板、２３・３１・３３は基準ピット（トラッキ
ング誤差検出部）、２４・３２・３４・３５は傾斜ピッ
ト（傾斜したトラッキング誤差検出部）、３７ａ・３７
ｂは傾斜部（傾斜したトラッキング誤差検出部）である
。第４図第５図時間

Claims

【特許請求の範囲】

１、基板上に１対のトラッキング誤差検出部が光ビーム
のアクセス方向に所定の間隔を隔てて設けられるととも
に、少なくとも一方のトラッキング誤差検出部が光ビー
ムのアクセス方向に対して傾斜させられていることを特
徴とする光メモリ装置。