JPH02122761U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH02122761U JPH02122761U JP3196289U JP3196289U JPH02122761U JP H02122761 U JPH02122761 U JP H02122761U JP 3196289 U JP3196289 U JP 3196289U JP 3196289 U JP3196289 U JP 3196289U JP H02122761 U JPH02122761 U JP H02122761U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polishing
- guide ring
- reference surface
- disk
- detection means
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
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- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
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- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
Description
第１図はこの考案に係る研磨量自動制御装置の
一実施例を示す斜視図、第２図は研磨量自動制御
装置の断面図、第３図は研磨量自動制御装置の電
気回路図、第４図は研磨量自動制御装置を動作さ
せるためのフローチヤート図、第５図はマイクロ
メータから出てくる電気信号の変化を示す図、第
６図は研磨時間と研磨量の実測値の逐次変化と予
定研磨終了時間の計算結果を示す図、第７図は薄
膜磁気ヘツドの断面図、第８図は薄膜磁気ヘツド
と基板上の導電モニターとの位置関係を示す図、
第９図は櫛歯状デプスモニターと導電モニターに
よるデプス位置検出の方法を示す図、第１０図は
金属膜抵抗体と抵抗計モニターによるデプス位置
検出の方法を示す図である。 ２０……研磨盤、２１……ガイドリング、２３
……基準面、２４……研磨物、２６……やとい、
２７……基準面、２８，２９……マイクロメータ
、３０，３１……ローラ、５０……ＣＰＵ。
一実施例を示す斜視図、第２図は研磨量自動制御
装置の断面図、第３図は研磨量自動制御装置の電
気回路図、第４図は研磨量自動制御装置を動作さ
せるためのフローチヤート図、第５図はマイクロ
メータから出てくる電気信号の変化を示す図、第
６図は研磨時間と研磨量の実測値の逐次変化と予
定研磨終了時間の計算結果を示す図、第７図は薄
膜磁気ヘツドの断面図、第８図は薄膜磁気ヘツド
と基板上の導電モニターとの位置関係を示す図、
第９図は櫛歯状デプスモニターと導電モニターに
よるデプス位置検出の方法を示す図、第１０図は
金属膜抵抗体と抵抗計モニターによるデプス位置
検出の方法を示す図である。 ２０……研磨盤、２１……ガイドリング、２３
……基準面、２４……研磨物、２６……やとい、
２７……基準面、２８，２９……マイクロメータ
、３０，３１……ローラ、５０……ＣＰＵ。
Claims (1)
- 研磨盤と、基準面を有しこの基準面とは反対側
の面を前記研磨盤の研磨面に密接させて回転自在
に配設されたガイドリングと、同じく基準面を有
してこの基準面とは反対側の面に研磨物を固着し
て前記ガイドリングの中心孔に摺動自在に嵌合さ
れることにより、前記研磨物を前記研磨盤に密接
させるやといと、前記ガイドリングと前記やとい
の基準面にそれぞれ接触し、これら両者の高さを
検出する２つの検出手段と、これらの検出手段か
らの信号に基づいて前記研磨物の研磨量を計測し
前記研磨盤を制御する制御部とを備えたことを特
徴とする研磨量自動制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3196289U JPH02122761U (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3196289U JPH02122761U (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02122761U true JPH02122761U (ja) | 1990-10-09 |
Family
ID=31258217
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3196289U Pending JPH02122761U (ja) | 1989-03-20 | 1989-03-20 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02122761U (ja) |
-
1989
- 1989-03-20 JP JP3196289U patent/JPH02122761U/ja active Pending
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