JPH0212616A - 焦点制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） この発明は、光学装置のフォーカス状態を検出するため
の装置に係り、より詳細には情報記録媒体に情報を記録
する又は記録された情報を情報記録媒体から読出す為の
光ビームを情報記録媒体上にフォーカスさせる装置に関
する。

（従来の技術） 近年、文書などの画像情報を記録し、必要に応じてその
画像情報を検索してハードコピー或いはソフトコピーと
して再生し得る光デイスク装置のような画像情報記録再
生装置が開発されている。

光デイスク装置においては、集束性の光ビームが円盤状
記録媒体、即ち光ディスクに向けて照射されて情報が記
録又は再生される。すなわち、記録時においては、光ビ
ームが照射されることによって記録面上には状態変化が
起こされ、その結果情報は例えばピットとして光ディス
クに記録される。

また再生時においては定常光ビームが情報記録媒体上に
照射され、記録情報に応じて光ビームはビットで強度変
調される。変調された光ビーム強度を処理して情報が再
生される。記録及び再生の際、光ディスクが線速一定に
回転され、光ビームを光ディスクに向けるための光学ヘ
ッドが光デイスク上の半径方向に直線移動される。

光学ヘッドは、光学ディスク上にレーザ光を集束させる
対物レンズを備え、対物レンズは所定領域に正確に集光
ビームを照射するためにその光軸方向に移動可能に支持
されている。焦点制御系の可動機構によって対物レンズ
が光軸方向に移動されて対物レンズが合焦状態に維持さ
れ、対物レンズからの光ビームが光ディスクに集束され
る。対物レンズを合焦状態に維持させるために記録媒体
上における焦点ずれ状態が検出されその検出結果が対物
レンズの移動機構にフィードバックされる。

この焦点ずれの検出方法としてウェッジプリズム法が知
られている。

ウェッジプリズム法において、フォー力ッシング状態に
応じて情報記録媒体から出射された光ビームは集光レン
ズを経てウェッジプリズムで２つのビームに分岐される
。その際、２つの光ビームは入射ビームの光軸に対して
特定角度で互いに異なる方向に出射される。分岐された
光ビームはそれぞれ所定位置に配置された２つの検出器
上に照射され電気信号に変換される。電気信号は所定の
方法で処理され、フォー力ッシングエラーに応じた電流
が対物レンズ駆動用のボイスコイルに供給される。ボイ
スコイルに電流が供給されることによって対物レンズが
駆動され、光ビームが情報記録媒体上に合焦される。

（発明が解決しようとする課題） ウェッジプリズム法を用いた焦点制御においては、光ビ
ームはウェッジプリズムで入射光軸に対して特定角度で
互いに異なる方向に出射する２つのビームに分岐される
。このため２つのビームを検出する２つの検出器の間隔
は、ウェッジプリズムと検出器の間の光軸方向の距離に
大きく依存する。

正確なフォー力ッシング制御を達成するにはウェッジプ
リズムの取付は位置に応じて検出器間隔が調整されなけ
ればならない。

この発明は、情報記録媒体上のフォーカス状態を検出す
るための、新たな焦点制御装置を提供することを目的と
する。

また、この発明は光学部品の光軸方向の位置ずれによっ
ておこる検出器間隔の位置調整の問題を解決し、それに
よって組立てや調整の容易な焦点この発明によれば、光
ビームを記録媒体上に集束するための集束手段と、前記
記録媒体からの光ビームの光軸に対して互いに異なる角
度に傾けて配置され光ビームの一部を遮光すると共に互
いに略平行な第１及び第２の光ビームに分岐する第１及
び第２の平行平板と、前記記録媒体に対する前記集束手
段の位置を調整する前記第１及び第２の光ビームに応答
する手段を具備する焦点制御装置が提供される。

（実施例） この発明の一実施例を図面を参照しながら以下に説明す
る。

第１図は、この発明の焦点制御装置が組込まれる光デイ
スク装置の平面図を示している。第１図において光ディ
スク（記録媒体）１は、ガラス或いは、プラスチック、
ス等の円盤状の基板上に情報記録膜としてテルル或いは
、ビスマス等の金属被膜がコーティングされて形成され
る。円盤状の基板上には、トラッキングガイド領域を定
めるグループ５が同心円状に形成されている。光ディス
ク１に対向して光学ヘッド３が設けられ、記録、再生及
び検索時には、光ディスク１が光学ヘッド３に対して線
速一定で回転駆動される。第１図において記録領域を規
定するグループ５はＺ方向に延出されている。

光学ヘッド３は光源としての半導体レーザ１１を備え、
半導体レーザ１１からは発散性のレーザビームＬが発生
される。レーザビームＬは情報を光ディスク１の記録膜
に書込む記録時には書込むべき情報に応じてその光強度
が変調されて発生され、又情報を光ディスク１の記録膜
から読み出す再生時には一定の強度で発生される。この
半導体レーザ１１から発生された発散性のレーザビーム
しはコリメータレンズ１３によって平行光束に変換され
てハーフプリズム１４に導かれる。ハーフプリズム′１
４に導かれたレーザビームしは、ハーフプリズム１４を
通過して対物レンズ１６に入射され、対物レンズ１６に
よってレーザビームＬは、光ディスク１の記録膜に向け
て集束される。

対物レンズ１６は、その先軸方向及び光軸と直交する面
内方向で移動可能に支持される。対物レンズ１６が光軸
上の最適位置即ち、合焦位置に配置されると、この対物
レンズ１６から発せられた集束性のレーザビームＬのビ
ームウェストが光ディスク１の記録膜の表面上に投射さ
れ、それによって最少ビームスポットが光ディスク１の
記録膜の表面上に形成される。一方、対物レンズ１６が
光軸と直交する面内（記録膜面に平行な面内）で最適位
置即ち、合トラック位置に配置されると光デイスク１上
に形成されるビームスポットが記録領域として定められ
たトラック上に正確に形成され、それによってトラック
がレーザビームで追跡される。この２つの状態（合焦状
態・合トラック状態）が保たれることによって情報の書
込み及び読出しが可能となる。即ち、記録時には強度変
調されたレーザービーＡによって記録膜にビット等の状
態変化が起こされ、再生時には一定強度のレーザビーム
がトラック内のビット等で形成された記録領域で強度変
調されて反射される。

光ディスク１の記録膜で反射された発散性のレーザビー
ムしは、合焦時において対物レンズ１６によって平行光
束に変換され、再びハーフプリズム１４に戻される。ハ
ーフプリズム１４で反射されたレーザビームしは集束用
の球面凸レンズ１７を透過されその光軸上に配置された
第１及び第２の光屈折体１８．１９に入射される。第１
及び第２の光屈折体１８．１９は入射される光ビームの
光路上に配置され光軸を境に先ビームを２本の平行な第
１の光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２に分岐する。

分岐された光ビームＬ１及びＬ２はそれぞれ光検出器２
０上に照射される。光検出器２０に照射された光ビーム
Ｌ１及びＬ２は各光検出領域で電気信号に変換されて所
定の方法で処理される。特定の信号処理方法によって駆
動回路４４からフォー力ッシングエラー信号が発生され
、その発生された信号に応じてボイスコイル８に電流が
供給されて対物レンズ１６がその先軸方向に駆動されて
光ビームの焦点が制御される。また駆動回路４５からト
ラッキングエラー信号が発生される。そのトラッキング
信号に応じてボイスコイルモータ８に電流が供給されて
光学ヘッド３が対物レンズ１６の光軸に垂直な面内で移
動され、それによって所定のトラフ、りが光ビームによ
って一追跡される。更に光検出領域で検出された信号は
信号処理回路４３で処理されて読取り信号として利用さ
れる。

第２図を参照して第１及び第２の光屈折体１８．１９の
機能を詳細に説明する。第１及び第２の光屈折体１８．
１９は例えばガラス板で構成され、好ましくは同一の厚
さを有する略平行平板形状に形成されている。各平行平
板はＸ−Ｚ平面に平行な側面を有し、その側面は互いに
入射ビームの光軸に接するように配置される。更にその
第１及び第２の平行平板１８．１９の入射面及び出射面
は光軸に垂直な平面に対して所定の角度を有するように
配置され、好凄しくはその２つの平行平板１８．１９は
光軸に対して互いに異なる方向に等しい角度で配置され
ている。これによって入射光ビームは後に述べるような
光デイスク上のグループ５の影が投影される方向（Ｙ方
向）に垂直なＸ方向の線に沿って分割される。第１及び
第２の平行平板１８．１９のそれぞれの入射面及び出射
面が傾けられることによって、平行平板１８及び１９を
通過した光ビームは、互いに入射光ビームＬの光軸に対
して略平行で且つ所定の間隔りを有する第１の光ビーム
Ｌ１及び第２の光ビームＬ２に分岐される。この発明に
おいては、各平行平板１８；１９光軸に接する側面と出
射面との形成するコーナーは平行平板の長袖方向に沿っ
て平行に除去されて切欠面２８．２９が形成されている
。

この切欠面２８．２９は、入射される光ビームＬのうち
その中央部のＸ方向に延出する特定幅の帯領域の光ビー
ムを遮蔽し、帯領域の光ビームが検出器上に照射されな
いように意図されている。そのため検出器２“０上に投
影されるビームスポットの面積は切欠面２８．２９によ
って実質的に規定される。換言すると、平行平板１８．
１９からはその断面形状が略半円形状の光ビームＬ１、
Ｌ２が出射され、それに応じて検出器上には略半円形状
の２つの像が投影される。これらの投影される略半円像
の弦、すなわち半円形状像の直線部分の位置は切欠面２
８．２９と出射面との接する縁２８Ａ、２９Ａの位置に
よって実質的に規定されている。このように第１及び第
２の光屈折体１８．１９から出射される光ビームＬ１、
Ｌ２は切欠面２８．２９から出射される特定幅の帯領域
の光ビームが除かれて検出器２０上に照射される。第１
の光ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２の間隔りは、第
１の平行平板１８及び第２の平行平板１９の屈折率ｎ１
厚さ及び平行平板１８．１９のなす角度θに依存する。

この関係は第３Ａ図及び第３Ｂ図に示される。

第３Ａ図は第１及び第２の平行平板１８．１９から入射
光ビームＬの光軸に対して略平行に出射される第１の光
ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２の光路を示して戸る
。この図において平行平板１８．１９は同一の厚さを有
する同一の材料で形成される。平行平板１８．１９の厚
さｔ１平行平板１８．１つの屈折率ｎ、２枚の平行平板
１８．１９のなす角度をθと仮定すると、光ビームＬ１
及び光ビームＬ２のＸ方向の間隔りは、角度θが比較的
小さい範囲では（１−１／ｎ）θｔと近似的に表わされ
る。そのため光ビームのＸ方向の間隔りは、集光レンズ
１７、平行平板１８．１９、及び光検出器２０の相互距
離には依存しない。

また、第３Ｂ図は入射光線が誤って光軸に対して角度δ
を有して前記２つのガラス板１８．１９に入射された際
に発生される２つに分岐された光ビームＬ１、Ｌ２のＸ
方向の間隔りのずれを示す。

光軸に対して角度δを有して入射された場合、平行平板
１９によるずれ量は、（１−１／ｎ）δｔだけ増加され
、平行平板１８によるずれ量は、（１−１／ｎ）δｔだ
け減少される。そのため２つの光ビームのＸ方向の間隔
りは、２つのガラス板のなす角θが比較的小さい範囲で
は角度δに依存しない。このようにこの発明の平行平板
１８．１９から出射される光ビームＬ１、Ｌ２の間隔り
は、各光学部品の光軸方向のずれに影響されずに略一定
に保たれる。そのため組立て及び調整の容易な焦点制御
装置が擺供される。

上に述べた光屈折体としての平行平板１８．１９を透過
されて分岐された第１の光ビームＬ１及び第２の光ビー
ムＬ２の入射される光検出器２０は、第６図に示されて
いる。

第６図に示されるように、光検出器２０は第１の光屈折
体１８を通過して照射された光を電気信号に変換する光
検出領域２ＯＡ、２０Ｂ、２０Ｈ。

２０１及び光屈折体１９を通過して照射された光を電気
信号に変換する光検出領域２０Ｃ，２０Ｄ。

２０Ｆ、２０Ｇの８つの検出領域から構成されている。

光検出領域は、先非検出領域としてＸ方向の分割線２１
．２２によって縦方向に２分割され、またＹ方向の分割
線２３〜２５によって横方向に４分割される。分割線２
３と２４との間隔は、略平行に分岐された光ビームの間
隔りと等しく形成されている。また分割線２３乃至２５
は、光ディスクから回折されて投影されるグループ５の
影の延出する方向（Ｙ方向）と平行になるように予め設
定されている。この分離された検出領域２０Ａ〜２０１
の出力は、焦点補正、トラッキング補正、及び情報再生
に利用される。

対物レンズ１６が光ディスクに対し合焦位置にある場合
は、光検出器には第４Ｂ図に示すような像が投影される
。第１の光屈折体１８を通過した光ビームは光検出領域
２ＯＡ、２０Ｂ、２０Ｈ。

２０１に略半円像として投射される。他方、光屈折体１
９を通過した光ビームは光検出領域２０Ｃ。

２０Ｄ、２０Ｆ、２０Ｇに反対向きの略半円像として投
影される。これらの各半円像は第１及び第２の光屈折体
１８．１９の出射面を通過された光ビームによって形成
される。言替えると、各平行平板１８．１９の各切欠面
２８．２９から出射される光ビームは検出器２０上に照
射されない。そのため検出器２０上に照射される各半円
形像の弦、すなわち半円形像の直線部分は切欠面２８．
２９の各縁２８Ａ、２９Ａに応じて規定される。例えば
対物レンズ１６が情報記録媒体１の記録面に対して合焦
位置にある場合、光検出器２０に投影される各半円像の
弦と弦との間隔、すなわち平行平板１８．１９の切欠面
２８．２９によって遮蔽される光ビームの中央部の帯領
域の検出領域上での幅Ｗは所定の幅Ｗ２に定められる。

また同時に合焦状態の各略半円形状のビームスポットが
照射される光検出領域は、左右に等しい光強度のビーム
が照射されるように先非検出領域としての分割線２１及
び２２によって分離されている。言替えるならば、第７
Ａ図に示されるように光検出領域２０Ａ〜２０１の出力
をそれぞれ■〜■とすると、分割線２１及び２２の位置
は、合焦時においてＦ、Ｅ信号が０に等しくなる位置、
即ちＦ−Ｅ（フォーカッタングエラーｆｆ１号）　−［
（■＋■＋■＋■）−（■十■＋■＋■））−〇の条件
を満たすように設定される。

合焦時における光ビームのスポットサイズ及び検出器の
構成が上に述べたように設定することによって、フォー
カスのずれに相当する信号が光検出器から発生される。

例えば対物レンズ１６が光ディスクに対し合焦位置から
離れた場合、光ディスクからはわずかに収束された先ビ
ームが平行平板１８．１９に入射される。そのため検出
器上には第４Ａ図に示されるような像が投影される。す
なわち検出器上には合焦時よりも小さい像が形成される
。同時に光ビームが切欠面２８．２９で除かれることに
よって特定幅の帯領域の遮蔽されたビームスポットが検
出器上に投影される。このとき遮蔽された帯領域の幅Ｗ
１は合焦時の幅Ｗ２よりも狭く形成される。

また時光検出領域で検出されるフォーカッシングエラー
信号はＦ、Ｅ＞０となる。

逆に対物レンズ１６が光ディスクに対し合焦位置よりも
近づいた場合、光ディスクからはわずかに発散された光
ビームが平行平板１８．１９に入射される。そのため検
出器上には第４Ｃ図に示されるような像が投影される。

すなわち検出器上には、合焦時よりも大きい像が形成さ
れる。同時に光ビームが切欠面２８．２９で除かれるこ
とによって特定幅の帯領域の遮蔽されたビームスポット
が検出器上に投影される。遮蔽された帯領域の幅Ｗ３は
合焦時の幅Ｗ２よりも広く形成される。また時光検出領
域で検出されるフォー力ッシングエラー信号はＦ、Ｅ＜
０となる。

この発明の平行平板１８．１９に設けられた切欠面２８
．２９の利点は下記に記載される。例えば、切欠面２８
．２９を設けない単なる平行平板１８．１９が光ビーム
の光路上に配置されるとき、平行平板１８．１９に入射
された光ビームは全て検出器２０上に照射される。この
ため検出器上に投影される各半円形像の弦の位置は、合
焦状態であるとないとに係わらず常に一定位置に保たれ
る。

上に述べたように光ディスクに対する対物レンズ１６の
位置は光検出領域２ＯＡ、２０Ｂ、２０Ｆ。

２０Ｇから発生される電気信号と、光検出領域２０Ｃ，
２０Ｄ、２０Ｈ，２０１から発生される電気信号の差信
号をフィードバックさせることによって調整される。差
信号は一般的に検出領域上に投射されたビームスポット
の面積比に比例して変化される。そのため単に平行平板
を配置した場合には同じ非合焦状態であっても対物レン
ズ１６が合焦位置から離れたときの検出感度と、近づい
たときの検出感度とは非対称で実質的に異なっている。

これに対して切欠面２８．２９を形成した平行平板１８
．１９においては、切欠面２８．２９から出射される光
ビームを除く光ビームが検出器２０上に照射される。そ
のため検出器２０上にはその中央部の帯領域が幅Ｗで遮
蔽された略半円形状のビームスポットが形成される。こ
の帯領域の幅Ｗは上にも述べたようにフォーカス状態に
応じて変化される。そのため非合焦状態のうち特に対物
レンズ１６が合焦位置から離れたときの検出感度が向上
され、それによって合焦位置から離れたときと、近づい
たときとで対称的な感度特性が得られる。

一方、トラッキングガイドに利用される光デイスク１上
の案内溝５の回折によって生ずる暗部は、第５Ａ図乃至
第５Ｃ図に示されるように光検出領域の分割線２３及び
２４に対して平行に現われる。

第７Ｂ図に示すように、トラック位置のずれは光検出領
域２０Ａ〜２０１の出力信号■〜■に対して、トラッキ
ングエラー信号（Ｔ、Ｅ）−＋（■＋■＋■＋■）−（
■＋■＋■＋■））、即ち光検出領域２ＯＡ、２０１，
２０Ｃ，２’ＯＧの検出信号の加算結果と、光検出領域
２０Ｂ、２０Ｈ。

２０Ｄ、２０Ｆの検出信号の加算結果との差信号すなわ
ちトラック位置のずれ信号に応じて光学ヘッドの位置が
光ディスクに平行な平面上で調整される。

次に、第８図を参照して光検出器で検出された電気信号
の処理回路について説明する。光検出領域２ＯＡ及び２
０Ｇの出力は増幅回路３１Ａに供給される。光検出領域
２０Ｄ及び２０Ｈの出力は増幅回路３１Ｂに供給される
。光検出領域２０Ｃ及び２０Ｉの出力は増幅回路３１Ｃ
に供給される。光検出領域２０Ｂ及び２０Ｆの出力は増
幅回路３１Ｄにそれ供給される。各増幅器３１Ａ〜３１
Ｄに供給された各信号はそれぞれ増幅されて加算回路３
６に供給される。加算回路３６で加算された信号は情報
再生信号として図示しない制御回路に供給される。増幅
回路３１Ａからの信号は加算回路３２及び３４に供給さ
れる。増幅回路３１Ｂからの信号は加算回路３３及び３
５に供給される。増幅回路３１Ｃからの信号は加算回路
３３及び３４に供給される。増幅回路３１Ｄからの信号
は加算回路３２及び３５に供給される。

加算回路３２の出力及び加算回路３３の出力はフォーカ
ッシング制御信号をボイスコイルに供給するために利用
される。すなわち加算回路３２の出力は比較回路４１の
反転入力端に供給され、加算回路３３の出力は比較回路
４１の非反転入力端に供給される。比較回路４１におい
て光検出領域２ＯＡ、２０Ｇ、２０Ｂ、２０Ｆの検出信
号の加算結果と光検出領域２０Ｃ，２０１，２０Ｄ。

２０Ｈの検出信号の加算結果とは比較され、その差信号
に応じた出力即ち、フォーカス制御信号が駆動回路４４
にフィードバックされる。駆動回路４４にフィードバッ
クされるフォーカスずれ検出信号に応じて対物レンズ１
６をその先軸方向に駆動するコイル（図示しない）に電
流が供給される。

供給された電流に応じて対物レンズ１６が駆動されて焦
点ぼけが補正される。

加算回路３４の出力及び加算回路３５の出力は、トラッ
キング制御信号をボイスコイルに供給するために利用さ
れる。すなわち加算回路３４の出力は比較回路４２の反
転入力端に供給され、上記加算回路３５の出力は比較回
路４２の非反転入力端に供給される。

比較回路４２において、上記光検出領域２０Ａ５“２０
Ｇ、２０Ｃ１２０１の検出出力の加算結果及び光検出領
域２０Ｂ、２０Ｆ、２０Ｄ、２０Ｈの検出出力の加算結
果とは比較され、その差に応じた出力即ち、トラッキン
グずれ検出信号が駆動回路４５にフィードバックされる
。駆動回路４５にフィードバックされるトラッキング制
御信号に応じて対物レンズ１６をその先軸に垂直な平面
内で駆動するコイルに（図示しない）電流が供給される
。これにより対物レンズ１６が駆動されてトラッキング
ずれが補正される。

加算回路３６の出力は信号処理回路４３に供給される。

信号処理回路４３で処理された信号は検索信号として情
報再生に利用される。

上述した焦点制御装置においては、半導体レーザ１１か
ら発生された発散性のレーザビームしは、コリメータレ
ンズ１３によって平行光束に変換され、ハーフプリズム
１４に導かれる。このハーフプリズム１４に導かれたレ
ーザ光りは、このハーフプリズム１４を通過した後に対
物レンズ１６に入射される。入射された光ビームは対物
レンズ１６によって光ディスク１の記録膜に向けて集光
される。情報の記録においては、光デイスク１上へ強光
度の変調されたレーザビーム（記録ビーム）が照射され
ることにより光デイスク１上のトラックにピットが形成
される。情報の再生においては、弱光度の定常レーザビ
ーム（再生ビーム光）が光デイスク１上に照射されビッ
トによって強度変調される。この再生ビームに対する光
ディスク１からの反射光は対物レンズ１６によって平行
光束に変換されて再びハーフプリズム１４に戻される。

そして、ハーフプリズム１４で反射されたし−ザビーム
Ｌは球面凸レンズ１７を通過されて第１及び第２の光屈
折体１８．１９に入射される。

第１及び第２の光屈折体１８．１９に入射された光ビー
ムは互いに略平行な第１の光ビームＬ１及び第２の光ビ
ームＬ２に分岐されて光検出器２０の光検出領域２ＯＡ
、２０Ｂ、２０１，２０Ｈ及び光検出領域２０Ｃ，２０
Ｄ、２０Ｇ、２０Ｆ上に照射される。その結果、照射光
に応じた信号が光検出領域２０Ａ〜２０夏から出力され
、それらの信号が増幅回路３１Ａ〜３１Ｄに供給される
。

このような状態におけるフォーカシング動作について説
明する。すなわち、上記増幅回路３１Ａ、３１Ｄからの
信号は加算回路３２に供給される。

上記増幅回路３１Ｂ、３１Ｃからの信号は、加算回路３
３に供給される。光検出領域２０Ａ１２０Ｇ、２’ＯＢ
、２０Ｆからの検出信号は加算回路３２で加算されて比
較回路４１へ供給される。

光検出領域２０Ｃ，２０１，２０Ｄ、２０１（からの検
出信号は加算回路３３で加算されて比較回路４１に供給
される。これにより比較回路４１は、上記光検出領域２
ＯＡ、２０Ｇ、２０Ｂ、２０Ｆの検出信号の加算結果と
上記光検出領域２０Ｃ１２０１，２０Ｄ、２０Ｈの検出
信号の加算結果とが比較され、その差信号つまり焦点制
御信号が駆動回路４４に供給される。駆動回路４４に供
給された焦点制御信号に応じてコイル（図示しない）に
電流が供給される。供給された電流に応じて対物レンズ
１６が光軸方向に駆動されて先ビームのフォーカス状態
が制御される。

またトラッキング動作について説明する。すなわち上記
増幅回路３１Ａ、３１Ｃからの信号は加算回路３４に供
給される。増幅回路３１８１３１Ｄからの信号は加算回
路３５に供給される。

光検出領域２ＯＡ、２０Ｇ、２０Ｃ，２０Ｉからの信号
は加算回路３４で加算されて比較回路４２に供給される
。光検出領域２０Ｂ、２０Ｆ。

２０Ｄ、２０Ｈからの検出信号は加算回路３５で加算さ
れて比較回路４２に供給される。これにより上記光検出
領域２ＯＡ、２０Ｇ、２０Ｃ。

２０１の検出信号の加算結果と上記検出領域２０Ｂ、２
０Ｆ、２０Ｄ、２０Ｈの検出信号の加算結果とは比較回
路４２で比較されてその差に応じた出力つまりトラッキ
ング制御信号が駆動回路４５にフィードバックされる。

トラッキング制御信号に応じて駆動回路４５からコイル
（図示しない）に電流が供給される。、供給された信号
によって対物レンズ１６はその光軸に垂直な平面上で駆
動され光ビームのトラッキング位置が制御される。

次に情報の再生について説明する。情報の再生において
は半導体レーザ１１から一定の弱光度のレーザビームＬ
が発生され、記録された情報に応じて再生ビーム光全体
は強度変調されて光検出器に入射される。光検出器の光
検出領域２０Ａ〜２０１の出力は増幅回路３１Ａ、３１
Ｂ、３１Ｃ。

３１Ｄに供給される。増幅回路３１Ａ、３１８１３１Ｃ
，３１Ｄの総出力が信号処理回路４３で処理されること
によって記録されたデータは再生される。

上に述べたこの発明の一実施例には、焦点制御、トラッ
ク位置制御及び信号検出を同一の検出器を用いて検出す
ることのできる８分割の検出器が記述されている。しか
しこの検出器は８分割の検出器に限る必要はない。例え
ばフォーカス状態を単に検出するためには、８分割の検
出器に設けた非検出領域としての分割線２３．２４を除
いた４分割の光検出器が利用されてもよい。またこの発
明においては１．検出感度を向上させるために第１の光
ビームＬ１及び第２の光ビームＬ２に対して各々光検出
器が設けられているが、原理的には光ビームの一方だけ
が検出されてもよい。

上に述べた実施例において、光屈折体は概略的には平行
平板形状を有するガラス仮１８．１９で形成され、その
側面と出射面との形成するコーナーに平行平板の長軸に
沿って斜めに除去されて切欠面２８．２９が形成されて
いる。切欠面２８．２９は入射される光ビームの略中央
部の特定領域を遮蔽し、それによって検出器で良好な高
感度検出がなされるように意図されている。そのため平
行平板１８．１９の切欠面２８．２９の形状は同様の効
果を示す範囲で変更されてもよい。また特定領域の光ビ
ームを遮蔽するために他の方法が使用されてもよい。更
に光屈折体の配置に伴う検出器の配置も変更可能である
。例えば、実施例においては２つの光屈折体が入射光ビ
ームの光軸上に対称的に配置されている。しかしながら
、もし２つの光屈折体が入射光ビームの光軸上に対称的
に配置されないとしても検出器の配置及び検出器上の分
割線２１〜２５の位置を予め定めておくことで同様の検
出が可能である。

（発明の効果） この発明においては、第１及び第２の光屈折体から出射
される光ビームの間隔りが各光学部品の光軸のずれに影
響されずに略一定に保たれる。そのため組立て及び調整
の容易な焦点制御装置が提供される。また第１及び第２
の光屈折体に入射される光ビームのうち切欠面から出射
される中央部の帯領域の光ビームは遮光されることによ
って、合焦位置から離れたときと近づいたときとで対称
的な感度特性を示す高感度な焦点制御装置が提供される
。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の焦点制御装置を備える光学ヘッドの
概略構成を示す図、第２図はこの発明の焦点制御装置の
要部を示す斜視図、第３Ａ図及び第３Ｂ図は光軸上に配
置された２つの平行平成と分岐される２つの光ビームの
光軸のずれとの関係を示す側面図、第４Ａ図乃至第４Ｃ
図は光ビームの合焦状態及び非合焦状態を示す８分割光
検出器の正面図、第５Ａ図乃至第５Ｃ図は光ビームの合
トラック状態及び非合トラック状態を示す８分割光検出
器の正面図、第６図は８分割光検出器の正面図、第７Ａ
図及び第７Ｂ図は光検出器で検出された信号の処理方法
を示す電気回路図、第８図は光検出器で検出される全信
号の処理方法を示す電気回路図である。 １・・・光ディスク、３・・・光学ヘッド、１】・・・
半導体レーザ、１３・・・コリメータレンズ、１４・・
・ハーフプリズム、１６・・・対物レンズ、１７・・・
球面凸レンズ、１８・・・第１の光屈折体（第１の平行
平板）、１９・・・第２の光屈折体（第２の平行平板）
２０・・・光検出器、２０Ａ〜２０１・・・光検出領域
、２１〜２５・・・分割線、２８．２９・・・切欠面、
２８Ａ、２９Ａ・・・縁、３１Ａ〜３１Ｄ・・・増幅回
路、３２〜３６・・・加算回路、４１．４２・・・比較
回路、４３・・・信号処理回路、４４．４５・・・駆動
回路出願人代理人　弁理士　鈴江武彦

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、光ビームを記録媒体上に集束するための集束手段と
   、 前記記録媒体からの光ビームの光軸に対して互いに異な
   る角度に傾けて配置され、光ビームの一部を遮光すると
   共に互いに略平行な第１及び第２の光ビームに分岐する
   第１及び第２の平行平板と、前記記録媒体に対する前記
   集束手段の位置を調整する前記第１及び第２の光ビーム
   に応答する手段を具備することを特徴とする焦点制御装
   置。