JPH021267B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH021267B2 JPH021267B2 JP56199673A JP19967381A JPH021267B2 JP H021267 B2 JPH021267 B2 JP H021267B2 JP 56199673 A JP56199673 A JP 56199673A JP 19967381 A JP19967381 A JP 19967381A JP H021267 B2 JPH021267 B2 JP H021267B2
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- JP
- Japan
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- conductor
- voltage
- sensor
- measuring device
- electrode
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
- G01R15/14—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks
- G01R15/24—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices
- G01R15/241—Adaptations providing voltage or current isolation, e.g. for high-voltage or high-current networks using light-modulating devices using electro-optical modulators, e.g. electro-absorption
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、変電所等の高電圧電気機器の導体
電圧を測定する装置に関するものである。
電圧を測定する装置に関するものである。
従来のものは、計器用変圧器(PT)、コンデン
サ形計器用変圧器(PD)が主として使われてい
るが、大形、高価格等の欠点があり、新しい方式
が要望されている。その1方式として、電気光学
効果を有した素子を使い、光学的に電圧を測定す
る方式が研究されている。これは、中間電極を設
け、容量分圧により、高電圧導体の電圧を分圧
し、その分圧電圧を前記電気光学素子に印加する
方式であるが、多相の高電圧導体が接近している
場合、他相からの誘導により、正確に対象とする
高電圧導体の電圧を検出することができない。ま
た、単相の場合であつても、電気光学効果を有す
る素子には、磁気光学効果をも有するため、母線
電流による磁界の影響を受けるという欠点があつ
た。
サ形計器用変圧器(PD)が主として使われてい
るが、大形、高価格等の欠点があり、新しい方式
が要望されている。その1方式として、電気光学
効果を有した素子を使い、光学的に電圧を測定す
る方式が研究されている。これは、中間電極を設
け、容量分圧により、高電圧導体の電圧を分圧
し、その分圧電圧を前記電気光学素子に印加する
方式であるが、多相の高電圧導体が接近している
場合、他相からの誘導により、正確に対象とする
高電圧導体の電圧を検出することができない。ま
た、単相の場合であつても、電気光学効果を有す
る素子には、磁気光学効果をも有するため、母線
電流による磁界の影響を受けるという欠点があつ
た。
この発明は上記欠点を解消するためになされた
もので、センサを導体に接続された磁性体のシー
ルドの凹部に配置することによつて、母線電流の
影響も受けず、正確に対象とする高電圧導体の電
圧を測定する小形、低価格の装置を提供する。
もので、センサを導体に接続された磁性体のシー
ルドの凹部に配置することによつて、母線電流の
影響も受けず、正確に対象とする高電圧導体の電
圧を測定する小形、低価格の装置を提供する。
この発明の一実施例を図に示す。すなわち、図
は管状ガス絶縁電気機器に適用した場合のこの発
明の電圧センサを用いた構成図で、1,2は大地
電位と対向した対向電極である管状の金属容器、
3は絶縁スペーサ、4は被測定導体に接続された
導体、5は絶縁スペーサ3に埋込まれた導体、6
は導体5の一端に取付けられた金属容器2と対向
した凹形くぼみ、すなわち凹部6aを有する磁性
体から成るシールド電極、7は中間電極、8は偏
光子、リチウムナイオベート等の電気光学素子、
1/4波長板、検光子で構成された電圧センサ、9
は電圧センサ8に光を送受するための光フアイ
バ、10は光フアイバ9と接続部11で接続され
た引出し用光フアイバで、気密を保つよう構成さ
れている。12は保護被覆付の光フアイバ、13
は電圧センサ8に光を送り、被測定導体の電圧に
比例して強度変調された光を必要な電気量に変換
するための処理回路、14は電圧を表示するため
の表示器である。
は管状ガス絶縁電気機器に適用した場合のこの発
明の電圧センサを用いた構成図で、1,2は大地
電位と対向した対向電極である管状の金属容器、
3は絶縁スペーサ、4は被測定導体に接続された
導体、5は絶縁スペーサ3に埋込まれた導体、6
は導体5の一端に取付けられた金属容器2と対向
した凹形くぼみ、すなわち凹部6aを有する磁性
体から成るシールド電極、7は中間電極、8は偏
光子、リチウムナイオベート等の電気光学素子、
1/4波長板、検光子で構成された電圧センサ、9
は電圧センサ8に光を送受するための光フアイ
バ、10は光フアイバ9と接続部11で接続され
た引出し用光フアイバで、気密を保つよう構成さ
れている。12は保護被覆付の光フアイバ、13
は電圧センサ8に光を送り、被測定導体の電圧に
比例して強度変調された光を必要な電気量に変換
するための処理回路、14は電圧を表示するため
の表示器である。
次に動作を説明する。ガス絶縁電気機器は、基
準電位、たとえば、大地電位に保たれた管状の密
閉金属容器1,2内に、その基準電位に対して高
電位の電圧が印加されている導体4,5と絶縁性
能を高めるための絶縁ガス、例えば、SF6ガス
(図示せず)から構成される。前記導体5の一端
に電界強度を緩和した形状で、凹形の凹部6aを
有するシールド電極6が接続され、その中の電圧
センサ8には、中間電極7と導体9との間の電圧
が印加されるが、その電圧は、中間電極7と大地
電位である金属容器2間の浮遊静電容量と、中間
電極7とシールド電極6及び導体5間の浮遊静電
容量並びに電圧センサの自己静電容量との合成容
量との分圧により決定される。従つて、その分圧
電圧を検出することにより母線導体の電圧を測定
することができる。電気光学素子を用いた電圧測
定装置はすでによく知られているものであるの
で、ここでは説明を省略する。なお、光フアイバ
を用いるため、高電位部からの絶縁は確保され
る。ところで、多相の母線導体が金属容器1,2
内に収納されている場合(図では1相分しか図示
していない。)、他相からの静電誘導分は、凹形の
シールドのため、凹部6a内へは入つてこない。
また、母線導体に大電流が流れる場合(図の導体
4の延長側)、この電流による磁界は、シールド
電極6が磁性体から成るため、磁気シールドさ
れ、電圧センサ8には影響を及ぼさない。さら
に、密閉金属容器外に光信号を送受する際に、母
線導体を支持するために必要である絶縁スペーサ
に光フアイバを埋込む。この場合、母線導体近傍
では高温となるため、母線導体近傍の光フアイバ
9はテフロンジヤケツト等でできたものを使用
し、金属容器近傍で一般用光フアイバ10と接続
する。これは、テフロンでは絶縁スペーサ3間で
気密が十分保たれないため、金属容器近傍11を
ナイロンジヤケツト等にして気密を保つためであ
る。しかも引出し部で光フアイバが折れないよう
にするため引出し部近傍で保護被覆付の光フアイ
バ12で外部に引出す。
準電位、たとえば、大地電位に保たれた管状の密
閉金属容器1,2内に、その基準電位に対して高
電位の電圧が印加されている導体4,5と絶縁性
能を高めるための絶縁ガス、例えば、SF6ガス
(図示せず)から構成される。前記導体5の一端
に電界強度を緩和した形状で、凹形の凹部6aを
有するシールド電極6が接続され、その中の電圧
センサ8には、中間電極7と導体9との間の電圧
が印加されるが、その電圧は、中間電極7と大地
電位である金属容器2間の浮遊静電容量と、中間
電極7とシールド電極6及び導体5間の浮遊静電
容量並びに電圧センサの自己静電容量との合成容
量との分圧により決定される。従つて、その分圧
電圧を検出することにより母線導体の電圧を測定
することができる。電気光学素子を用いた電圧測
定装置はすでによく知られているものであるの
で、ここでは説明を省略する。なお、光フアイバ
を用いるため、高電位部からの絶縁は確保され
る。ところで、多相の母線導体が金属容器1,2
内に収納されている場合(図では1相分しか図示
していない。)、他相からの静電誘導分は、凹形の
シールドのため、凹部6a内へは入つてこない。
また、母線導体に大電流が流れる場合(図の導体
4の延長側)、この電流による磁界は、シールド
電極6が磁性体から成るため、磁気シールドさ
れ、電圧センサ8には影響を及ぼさない。さら
に、密閉金属容器外に光信号を送受する際に、母
線導体を支持するために必要である絶縁スペーサ
に光フアイバを埋込む。この場合、母線導体近傍
では高温となるため、母線導体近傍の光フアイバ
9はテフロンジヤケツト等でできたものを使用
し、金属容器近傍で一般用光フアイバ10と接続
する。これは、テフロンでは絶縁スペーサ3間で
気密が十分保たれないため、金属容器近傍11を
ナイロンジヤケツト等にして気密を保つためであ
る。しかも引出し部で光フアイバが折れないよう
にするため引出し部近傍で保護被覆付の光フアイ
バ12で外部に引出す。
なお、上記実施例はセンサとして電圧センサを
用いた場合について説明したが、中間電極を設け
ずまたセンサを導体から電気的に切り離し、セン
サを電界センサとして用いる場合にも適用でき
る。
用いた場合について説明したが、中間電極を設け
ずまたセンサを導体から電気的に切り離し、セン
サを電界センサとして用いる場合にも適用でき
る。
また、シールド電極を導体の端部に設けたもの
について説明したが、導体の中間部に設けてもセ
ンサを導体の磁界からシールドすることができ
る。
について説明したが、導体の中間部に設けてもセ
ンサを導体の磁界からシールドすることができ
る。
また、上記はガス絶縁電気機器に適用した例で
あるが、この発明はこれに限らず、気中絶縁形、
油絶縁形の電気機器にも適用できる。
あるが、この発明はこれに限らず、気中絶縁形、
油絶縁形の電気機器にも適用できる。
以上のようにこの発明によれば、凹形状の磁性
体からなるシールド電極を導体と接続してセンサ
を磁性体の凹部に配置して、センサが導体を流れ
る電流の影響を受けないようにしたので、高精度
である。
体からなるシールド電極を導体と接続してセンサ
を磁性体の凹部に配置して、センサが導体を流れ
る電流の影響を受けないようにしたので、高精度
である。
図はこの発明の一実施例の断面図である。図
中、1,2は金属容器、4,5は導体、6はシー
ルド電極、6aは凹部、8はセンサである。
中、1,2は金属容器、4,5は導体、6はシー
ルド電極、6aは凹部、8はセンサである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 開口部が大地電位の対向電極と対向した凹形
状の磁性体からなるシールド電極を課電される導
体に接続し、電界あるいは電圧に応じて光を変調
するセンサを上記シールド電極の凹部に配置した
ことを特徴とする電圧測定装置。 2 センサは電気光学効果を有する素子、偏光
子、1/4波長板及び検光子等で構成されたことを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電圧測定
装置。 3 センサは金属容器と導体との間に配置された
中間電極と、上記導体との間に設けられ上記中間
電極及び上記導体と電気的に接続されたことを特
徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項記載の
電圧測定装置。 4 対向電極は導体を収納した金属容器であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項ないし第3
項のいずれかに記載の電圧測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56199673A JPS5899762A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | 電圧測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56199673A JPS5899762A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | 電圧測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5899762A JPS5899762A (ja) | 1983-06-14 |
| JPH021267B2 true JPH021267B2 (ja) | 1990-01-10 |
Family
ID=16411711
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56199673A Granted JPS5899762A (ja) | 1981-12-09 | 1981-12-09 | 電圧測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5899762A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19634251A1 (de) * | 1996-08-26 | 1998-03-05 | Abb Patent Gmbh | Spannungswandler |
-
1981
- 1981-12-09 JP JP56199673A patent/JPS5899762A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5899762A (ja) | 1983-06-14 |
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