JPH02128576U - - Google Patents

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JPH02128576U
JPH02128576U JP3534389U JP3534389U JPH02128576U JP H02128576 U JPH02128576 U JP H02128576U JP 3534389 U JP3534389 U JP 3534389U JP 3534389 U JP3534389 U JP 3534389U JP H02128576 U JPH02128576 U JP H02128576U
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terminal
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Description

【図面の簡単な説明】
第１図は本考案による集積回路試験方式の一実
施例を示す回路図、第２図は従来のＩＣＴ対応の
バイパス信号試験回路である。 １……入力端子、２……入力バツフアー、３…
…試験用入力バツフアー、４……テストモード端
子、５……テストモード用入力バツフアー、６…
…集積回路、７……論理切換選択素子、８……出
力バツフアー、９……試験用入力バツフアー、１
０……出力端子、１１……比較器（Ｅｘ−ＮＯＲ
ゲート）、１２……ＮＡＮＤゲート、１３……試
験出力バツフアー、１４……試験出力端子。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 集積回路の入力端子からの信号と出力端子から
    の信号を比較し、その不一致を検出する比較器と
    、比較器からの出力に基いて集積回路端子部分の
    不良を検出する手段とを有することを特徴とする
    集積回路試験装置。
JP3534389U 1989-03-28 1989-03-28 Pending JPH02128576U (ja)

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JP3534389U JPH02128576U (ja) 1989-03-28 1989-03-28

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JP3534389U JPH02128576U (ja) 1989-03-28 1989-03-28

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JPH02128576U true JPH02128576U (ja) 1990-10-23

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Family Applications (1)

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JP3534389U Pending JPH02128576U (ja) 1989-03-28 1989-03-28

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JP (1) JPH02128576U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0543400U (ja) * 1991-11-06 1993-06-11 株式会社東芝 Ａｓｉｃの出力バツフア故障検出回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0543400U (ja) * 1991-11-06 1993-06-11 株式会社東芝 Ａｓｉｃの出力バツフア故障検出回路

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