JPH0213373B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0213373B2 JPH0213373B2 JP57128396A JP12839682A JPH0213373B2 JP H0213373 B2 JPH0213373 B2 JP H0213373B2 JP 57128396 A JP57128396 A JP 57128396A JP 12839682 A JP12839682 A JP 12839682A JP H0213373 B2 JPH0213373 B2 JP H0213373B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- index mark
- optical disk
- signal
- output
- index
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
- G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
- G11B19/12—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing by sensing distinguishing features of or on records, e.g. diameter end mark
- G11B19/122—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing by sensing distinguishing features of or on records, e.g. diameter end mark involving the detection of an identification or authentication mark
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Security & Cryptography (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は光デイスクにレーザ光源を微小光スポ
ツトに絞つて信号を記録／再生する光学的情報記
録再生装置のためのデイスク回転位置検出装置に
かかり、特に溝状の位相構造で形成されたインデ
ツクスマークの検出装置に関する。
ツトに絞つて信号を記録／再生する光学的情報記
録再生装置のためのデイスク回転位置検出装置に
かかり、特に溝状の位相構造で形成されたインデ
ツクスマークの検出装置に関する。
従来例の構成とその問題点
光学情報記録再生装置としては、例えば光感応
性材料を塗布又は蒸着した光学デイスクを回転さ
せておき、前記光学デイスクにレーザー光源等か
らの光束を直径1μｍ以下に絞つた微小スポツト
光を照射し、その光出力強度を記録信号で変調す
ることによつて光学デイスク上に凹凸よる位相変
化などの屈折率変化あるいは濃淡変化、孔形成な
どによる反射率や透過率の変化などの光学的特性
変化として実時間でビデオ信号やデイジタル信号
等の記録が行なえ、かつ光学的特性変化を検出す
ることによつて記録した情報の再生が行なえる装
置が知られている。
性材料を塗布又は蒸着した光学デイスクを回転さ
せておき、前記光学デイスクにレーザー光源等か
らの光束を直径1μｍ以下に絞つた微小スポツト
光を照射し、その光出力強度を記録信号で変調す
ることによつて光学デイスク上に凹凸よる位相変
化などの屈折率変化あるいは濃淡変化、孔形成な
どによる反射率や透過率の変化などの光学的特性
変化として実時間でビデオ信号やデイジタル信号
等の記録が行なえ、かつ光学的特性変化を検出す
ることによつて記録した情報の再生が行なえる装
置が知られている。
かかる装置では、記録トラツクの高密度化、離
散的な部分書込みあるいは消去、振動の影響の除
去などを実現するたの一つの方法として、記録し
ようととするトラツクを溝状に予め光学デイスク
に形成したおき、この上に記録部材を塗布又は蒸
着して形成した光学デイスク構造が考えられてい
る。例えば、30cm直径のデイスクで20000〜40000
トラツクの同心円トツクの収容ができる。かかる
大容量の光学デイスクはTV画像のコマ数なら
20000〜40000コマが収納されることに相当するか
ら必要とする画像を取り出すために各トラツクに
番地情報が不可欠となる。
散的な部分書込みあるいは消去、振動の影響の除
去などを実現するたの一つの方法として、記録し
ようととするトラツクを溝状に予め光学デイスク
に形成したおき、この上に記録部材を塗布又は蒸
着して形成した光学デイスク構造が考えられてい
る。例えば、30cm直径のデイスクで20000〜40000
トラツクの同心円トツクの収容ができる。かかる
大容量の光学デイスクはTV画像のコマ数なら
20000〜40000コマが収納されることに相当するか
ら必要とする画像を取り出すために各トラツクに
番地情報が不可欠となる。
案内トラツク付光学デイスクは、各トラツクに
番地情報がデイスクの半径方向にデイスク中心に
対してある角をなす円弧状に整列形成されている
から、トラツクの番地情報部に情報が記録されな
いようにする必要がある。またTV画像からある
コマを抜きとつて記録する場合には、TV画像信
号の垂直同期信号と番地情報部品の位相を合わせ
て番地情報部位の終わりからTV画像信号が記録
されるように光学デイスクの回転を制御する必要
がある。この目的のために光学デイスクに回転始
端位置検出のためのインデツクスマークが必要で
ある。
番地情報がデイスクの半径方向にデイスク中心に
対してある角をなす円弧状に整列形成されている
から、トラツクの番地情報部に情報が記録されな
いようにする必要がある。またTV画像からある
コマを抜きとつて記録する場合には、TV画像信
号の垂直同期信号と番地情報部品の位相を合わせ
て番地情報部位の終わりからTV画像信号が記録
されるように光学デイスクの回転を制御する必要
がある。この目的のために光学デイスクに回転始
端位置検出のためのインデツクスマークが必要で
ある。
第１図は光デイスクの構造の一例である。第１
図において、光デイスク１は案内トラツク２と案
内トラツク２に付けられた番地領域２０とインデ
ツクストラツク３に形成されたインデツクスマー
ク４で構成されている。インデツクスマーク４は
番地領域２０と同一円弧角β上に位置し、番地領
域２０の位置検出と光デイスク１の回転位置検出
に使用される。
図において、光デイスク１は案内トラツク２と案
内トラツク２に付けられた番地領域２０とインデ
ツクストラツク３に形成されたインデツクスマー
ク４で構成されている。インデツクスマーク４は
番地領域２０と同一円弧角β上に位置し、番地領
域２０の位置検出と光デイスク１の回転位置検出
に使用される。
第２図は第１図に示したインデツクスマーク４
部の拡大斜視図である。このインデツクスマーク
４は光デイスク１の円弧角βだけ案内トラツクと
同じ溝で構成されている。一般にインデツクスマ
ーク４は凹凸のピツト列を数100〜数1000本の案
内トラツクの集まりで造る。
部の拡大斜視図である。このインデツクスマーク
４は光デイスク１の円弧角βだけ案内トラツクと
同じ溝で構成されている。一般にインデツクスマ
ーク４は凹凸のピツト列を数100〜数1000本の案
内トラツクの集まりで造る。
第３図は上記インデツクスマーク４を検出する
ためのインデツクスマーク検出装置の一例であ
る。また第４図は第３図に記入した番号１００〜
１０３の信号の波形図である。
ためのインデツクスマーク検出装置の一例であ
る。また第４図は第３図に記入した番号１００〜
１０３の信号の波形図である。
第３図において、光デイスク１はモータ６によ
り一定回転数で回転されている。インデツクスマ
ーク検出器７はオプテイカリフレクテイブセンサ
で、発光素子から出射した光ビームを光デイスク
１のインデツクストラツク３上に集光し、その反
射光を光電変換する受光素子で構成されている。
インデツクスマーク４は光を散乱するので、イン
デツクスマーク検出器７の受光素子に入射する反
射光量が減少することで検出される。インデツク
スマーク検出器７の出力は増幅器８で増幅後、帯
域フイルタ９を経てコンバレータ１０でパルス整
形される。増幅器８の出力１００は光デイスク１
の面振れや表面反射率の変動によつて第４図に
示すような振幅変化が生じるので、帯域フイルタ
９で帯域制限してこの変動成分を除いている。帯
域フイルタ９の出力１０１は第４図に示すよう
に上記の変動成分が除かれており、コンパレータ
１０で電源１１の閾値電圧VRで２値化される。
コンパレータ１０の出力１０３を第４図に示
す。
り一定回転数で回転されている。インデツクスマ
ーク検出器７はオプテイカリフレクテイブセンサ
で、発光素子から出射した光ビームを光デイスク
１のインデツクストラツク３上に集光し、その反
射光を光電変換する受光素子で構成されている。
インデツクスマーク４は光を散乱するので、イン
デツクスマーク検出器７の受光素子に入射する反
射光量が減少することで検出される。インデツク
スマーク検出器７の出力は増幅器８で増幅後、帯
域フイルタ９を経てコンバレータ１０でパルス整
形される。増幅器８の出力１００は光デイスク１
の面振れや表面反射率の変動によつて第４図に
示すような振幅変化が生じるので、帯域フイルタ
９で帯域制限してこの変動成分を除いている。帯
域フイルタ９の出力１０１は第４図に示すよう
に上記の変動成分が除かれており、コンパレータ
１０で電源１１の閾値電圧VRで２値化される。
コンパレータ１０の出力１０３を第４図に示
す。
光デイスク１は基材としてPMMAなどのアク
リル樹脂が使われる。このため光デイスク１は傷
がつきやすく、上述のインデツクスマーク検出に
おいて傷によるパルスが生じて、うまくインデツ
クスマークが検出できなくなることがある。第１
図の番号５ａ，５ｂ，５ｃはインデツクストラツ
ク３上についた傷で、第４図の，にインデツ
クストラツク上の傷による信号の様子を示す。こ
の傷は、第４図のコンパレータ出力１０３にパ
ルス５ｂ，５ｃのようになつて現われ、インデツ
クスマーク再生が不完全なものとなつてしまう。
リル樹脂が使われる。このため光デイスク１は傷
がつきやすく、上述のインデツクスマーク検出に
おいて傷によるパルスが生じて、うまくインデツ
クスマークが検出できなくなることがある。第１
図の番号５ａ，５ｂ，５ｃはインデツクストラツ
ク３上についた傷で、第４図の，にインデツ
クストラツク上の傷による信号の様子を示す。こ
の傷は、第４図のコンパレータ出力１０３にパ
ルス５ｂ，５ｃのようになつて現われ、インデツ
クスマーク再生が不完全なものとなつてしまう。
発明の目的
本発明の目的は、上述した光デイスクに生じた
傷の影響を受けずに、安定かつ正確にインデツク
スマークを再生する検出装置を提供するものであ
る。
傷の影響を受けずに、安定かつ正確にインデツク
スマークを再生する検出装置を提供するものであ
る。
発明の構成
本発明は、インデツクスマークの反射光量変化
検出信号を２値化する２値化手段と、前記２値化
手段の２値化信号の前縁からクロツク信号をカウ
ントし、２値化信号の後縁によりリセツトするカ
ウンタと、前記カウンタのカウントアツプ信号に
よりセツトされ、前記２値化信号の後縁によりリ
セツトされるセツトリセツト手段を設け、前記セ
ツトリセツト手段の出力によりインデツクスマー
ク検出信号を得るようにして、インデツクスマー
ク再生を安定、正確に行なうものである。
検出信号を２値化する２値化手段と、前記２値化
手段の２値化信号の前縁からクロツク信号をカウ
ントし、２値化信号の後縁によりリセツトするカ
ウンタと、前記カウンタのカウントアツプ信号に
よりセツトされ、前記２値化信号の後縁によりリ
セツトされるセツトリセツト手段を設け、前記セ
ツトリセツト手段の出力によりインデツクスマー
ク検出信号を得るようにして、インデツクスマー
ク再生を安定、正確に行なうものである。
実施例の説明
以下本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。第５図は本発明のインデツクスマーク検出装
置の一実施例である。第５図において、第３図と
同一の番号は同じブロツクと信号である。第６図
は第５図の信号１０３〜１０６のタイミングチヤ
ートである。
る。第５図は本発明のインデツクスマーク検出装
置の一実施例である。第５図において、第３図と
同一の番号は同じブロツクと信号である。第６図
は第５図の信号１０３〜１０６のタイミングチヤ
ートである。
第５図において、１２はカウンタ、１３はクロ
ツク発生回路、１４はデコーダ、１５はセツト−
リセツトラツチ（Ｓ−Ｒラツチ）である。コンパ
レータ出力１０３はカウンタ１２のクリア端子へ
入力され、コンパレータ出力１０３が“Ｈ”のと
きクロツク発生回路１３のクロツク出力１０４を
計数する。カウンタ１２はコンパレータ出力１０
３が“Ｌ”のとき直接クリアされる。コンパレー
タ出力１０３が“Ｈ”の期間が第６図に示す時間
Ｔ以上あれば、カウンタ１２がカウントアツプし
てデコーダ１４のデコード出力１０５を出力して
Ｓ−Ｒラツチ１５をセツトする。
ツク発生回路、１４はデコーダ、１５はセツト−
リセツトラツチ（Ｓ−Ｒラツチ）である。コンパ
レータ出力１０３はカウンタ１２のクリア端子へ
入力され、コンパレータ出力１０３が“Ｈ”のと
きクロツク発生回路１３のクロツク出力１０４を
計数する。カウンタ１２はコンパレータ出力１０
３が“Ｌ”のとき直接クリアされる。コンパレー
タ出力１０３が“Ｈ”の期間が第６図に示す時間
Ｔ以上あれば、カウンタ１２がカウントアツプし
てデコーダ１４のデコード出力１０５を出力して
Ｓ−Ｒラツチ１５をセツトする。
一方、Ｓ−Ｒラツチ１５のリセツト端子にはコ
ンパレータ出力１０３が接続されており、Ｓ−Ｒ
ラツチ１５はコンパレータ出力１０３が“Ｌ”で
リセツトされる。したがつて、Ｓ−Ｒラツチ１５
のラツチ出力１０６は第６図に示すようにイン
デツクスマーク４のパルス後縁部と一致したパル
スとなる。
ンパレータ出力１０３が接続されており、Ｓ−Ｒ
ラツチ１５はコンパレータ出力１０３が“Ｌ”で
リセツトされる。したがつて、Ｓ−Ｒラツチ１５
のラツチ出力１０６は第６図に示すようにイン
デツクスマーク４のパルス後縁部と一致したパル
スとなる。
カウンタ１２はコンパレータ出力１０３でパル
ス幅が時間Ｔ以上の幅のパルスの場合にデコード
出力１０５を出力するまで計数するのであつて、
第６図の傷によるパルス５ｂ，５ｃなどはデコ
ーダ出力１０５を出力するだけの幅がないので出
力されない。しかもコンパレータ出力１０３のパ
ルス後縁部とラツチ出力１０６のそれは一致する
ので、ラツチ出力１０６にインデツクスマーク４
の信号情報が再生されている。光デイスクの傷は
光の散乱を増やす方向に生じるため、インデツク
スマーク４に生じた傷であつても第４図の５ａ
に示したごとく、振幅が増加する方向（反射光量
がへる方向）に作用し、決して振幅の減る方向に
は出ないので、カウンタ１２がインデツクスマー
ク４の傷でリセツトされてラツチ出力１０６が出
力されないといつた誤動作を生じることはない。
ス幅が時間Ｔ以上の幅のパルスの場合にデコード
出力１０５を出力するまで計数するのであつて、
第６図の傷によるパルス５ｂ，５ｃなどはデコ
ーダ出力１０５を出力するだけの幅がないので出
力されない。しかもコンパレータ出力１０３のパ
ルス後縁部とラツチ出力１０６のそれは一致する
ので、ラツチ出力１０６にインデツクスマーク４
の信号情報が再生されている。光デイスクの傷は
光の散乱を増やす方向に生じるため、インデツク
スマーク４に生じた傷であつても第４図の５ａ
に示したごとく、振幅が増加する方向（反射光量
がへる方向）に作用し、決して振幅の減る方向に
は出ないので、カウンタ１２がインデツクスマー
ク４の傷でリセツトされてラツチ出力１０６が出
力されないといつた誤動作を生じることはない。
また許容される傷は上述の時間Ｔ以下の幅であ
れば完全に除去できる。クロツク１０４はモータ
６の回転ジツターより十分小さいクロツク周期に
選らべばよい。
れば完全に除去できる。クロツク１０４はモータ
６の回転ジツターより十分小さいクロツク周期に
選らべばよい。
発明の効果
以上の説明で明らかなように、本発明によれ
ば、２値化手段、カウンタおよびセツトリセツト
手段を用いて、インデツクスマークの反射光量変
化検出信号を２値化し、この２値化信号のパルス
幅が所定の長さ以上のときだけ前記２値化信号の
後縁を検出するようにしたことにより、光学デイ
スクのインデツクストラツクに生じた傷があつて
も、ある幅（上述の例では時間Ｔ）以下であれば
完全にこれを除去した、光デイスクの回転位置を
検出するため凹凸の位相溝構造で形成されたイン
デツクスマークを再生できる。また、インデツク
スマーク自身の傷に対しても傷によつてインデツ
クスマーク検出器への反射光はインデツクスマー
クと同様に減少するので、誤動作することはな
い。このように傷があつても安定にインデツクス
マークを再生することが可能となる。
ば、２値化手段、カウンタおよびセツトリセツト
手段を用いて、インデツクスマークの反射光量変
化検出信号を２値化し、この２値化信号のパルス
幅が所定の長さ以上のときだけ前記２値化信号の
後縁を検出するようにしたことにより、光学デイ
スクのインデツクストラツクに生じた傷があつて
も、ある幅（上述の例では時間Ｔ）以下であれば
完全にこれを除去した、光デイスクの回転位置を
検出するため凹凸の位相溝構造で形成されたイン
デツクスマークを再生できる。また、インデツク
スマーク自身の傷に対しても傷によつてインデツ
クスマーク検出器への反射光はインデツクスマー
クと同様に減少するので、誤動作することはな
い。このように傷があつても安定にインデツクス
マークを再生することが可能となる。
第１図は光デイスクの外観構造を示す図、第２
図はインデツクスマークの拡大斜視図、第３図は
インデツクスマーク検出装置の一例を示すブロツ
ク図、第４図は第３図の各部の信号波形図、第５
図は本発明のインデツクスマーク検出装置の一実
施例を示すブロツク図、第６図は第５図の各部の
信号のタイミングチヤートである。 １……光デイスク、２……案内トラツク、３…
…インデツクストラツク、４……インデツクスマ
ーク、５ａ，５ｂ，５ｃ……傷、７……インデツ
クスマーク検出器、１０……コンパレータ、１２
……カウンタ、１３……クロツク発生回路、１４
…デコーダ、１５……セツト−リセツトラツチ。
図はインデツクスマークの拡大斜視図、第３図は
インデツクスマーク検出装置の一例を示すブロツ
ク図、第４図は第３図の各部の信号波形図、第５
図は本発明のインデツクスマーク検出装置の一実
施例を示すブロツク図、第６図は第５図の各部の
信号のタイミングチヤートである。 １……光デイスク、２……案内トラツク、３…
…インデツクストラツク、４……インデツクスマ
ーク、５ａ，５ｂ，５ｃ……傷、７……インデツ
クスマーク検出器、１０……コンパレータ、１２
……カウンタ、１３……クロツク発生回路、１４
…デコーダ、１５……セツト−リセツトラツチ。
Claims (1)
- １ 光デイスクの回転位置を検知するためのイン
デツクスマークを凹凸の位相溝構造で形成し、前
記インデツクスマークを反射光量変化で検出して
光デイスクの回転位置を検出する光デイスクイン
デツクスマーク検出装置であつて、前記インデツ
クスマークの反射光量変化検出信号を２値化する
２値化手段と、前記２値化手段の２値化信号の前
縁からクロツク信号をカウントし、２値化信号の
後縁によりリセツトするカウンタと、前記カウン
タのカウントアツプ信号によりセツトされ、前記
２値化信号の後縁によりリセツトされるセツトリ
セツト手段を設け、前記セツトリセツト手段の出
力によりインデツクスマーク検出信号を得るよう
にした光デイスクインデツクスマーク検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57128396A JPS5919242A (ja) | 1982-07-22 | 1982-07-22 | 光デイスクインデツクスマ−ク検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57128396A JPS5919242A (ja) | 1982-07-22 | 1982-07-22 | 光デイスクインデツクスマ−ク検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5919242A JPS5919242A (ja) | 1984-01-31 |
| JPH0213373B2 true JPH0213373B2 (ja) | 1990-04-04 |
Family
ID=14983765
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57128396A Granted JPS5919242A (ja) | 1982-07-22 | 1982-07-22 | 光デイスクインデツクスマ−ク検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5919242A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61107539A (ja) * | 1984-10-31 | 1986-05-26 | Hitachi Ltd | 光学デイスク装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54138606U (ja) * | 1978-03-20 | 1979-09-26 |
-
1982
- 1982-07-22 JP JP57128396A patent/JPS5919242A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5919242A (ja) | 1984-01-31 |
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