JPH0214685B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0214685B2 JPH0214685B2 JP54043135A JP4313579A JPH0214685B2 JP H0214685 B2 JPH0214685 B2 JP H0214685B2 JP 54043135 A JP54043135 A JP 54043135A JP 4313579 A JP4313579 A JP 4313579A JP H0214685 B2 JPH0214685 B2 JP H0214685B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light source
- light
- spherical aberration
- mask
- lens
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 43
- 230000004075 alteration Effects 0.000 claims description 30
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 10
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 9
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 229920005439 Perspex® Polymers 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
Classifications
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F41—WEAPONS
- F41G—WEAPON SIGHTS; AIMING
- F41G3/00—Aiming or laying means
- F41G3/26—Teaching or practice apparatus for gun-aiming or gun-laying
- F41G3/2616—Teaching or practice apparatus for gun-aiming or gun-laying using a light emitting device
- F41G3/2622—Teaching or practice apparatus for gun-aiming or gun-laying using a light emitting device for simulating the firing of a gun or the trajectory of a projectile
- F41G3/265—Teaching or practice apparatus for gun-aiming or gun-laying using a light emitting device for simulating the firing of a gun or the trajectory of a projectile with means for selecting or varying the shape or the direction of the emitted beam
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Lenses (AREA)
- Telescopes (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光学装置に関するものであり、とくに
兵器効果シミユレータに用いる光学装置に関する
ものである。
兵器効果シミユレータに用いる光学装置に関する
ものである。
訓練のために兵器の模擬操作中に電磁波(とく
にレーザから)のビームを用いることは知られて
いる。ある種の装置(英国特許第1228143,
1228144,1439612,1451192号)では、照準合わ
せを行つてから、弾丸の発射時に兵器(たとえば
銃)と同じ向きに電磁波ビームが放射される。別
の種類の装置では(英国特許第1300941,1300942
号)、弾(たとえばミサイル)が実際の発射でた
どる弾道に絶えず交差するようにして電磁波ビー
ムが発射される。いずれの場合でも、弾が的の附
近に達した時にその弾が占める空間内の点に電磁
波ビームが向けられる結果となる。
にレーザから)のビームを用いることは知られて
いる。ある種の装置(英国特許第1228143,
1228144,1439612,1451192号)では、照準合わ
せを行つてから、弾丸の発射時に兵器(たとえば
銃)と同じ向きに電磁波ビームが放射される。別
の種類の装置では(英国特許第1300941,1300942
号)、弾(たとえばミサイル)が実際の発射でた
どる弾道に絶えず交差するようにして電磁波ビー
ムが発射される。いずれの場合でも、弾が的の附
近に達した時にその弾が占める空間内の点に電磁
波ビームが向けられる結果となる。
また、上記のような第1の種類の装置では、弾
が的から外れた場合に外れの種類(上、下、左、
右)についての情報を得るためにビームaを水平
方向と鉛直方向に走査することも知られている。
が的から外れた場合に外れの種類(上、下、左、
右)についての情報を得るためにビームaを水平
方向と鉛直方向に走査することも知られている。
これらの装置に対する1つの要求は、全体とし
て射距離とは独立している、あるいは少くとも射
距離には比例しないような「幅」をビームが有す
ることが理想的であることである(たとえば、射
距離が8倍の範囲で変化した時にビーム幅の変化
が2倍以下)。この場合に「幅」という用語は、
輝度(すなわち、ビーム中のエネルギー密度)が
ある所定のしきい値を有する2つの点におけるビ
ームの横方向の拡がりを意味するものであり、こ
れら2つの点の間においては輝度はこのしきい値
またはこのしきい値より高く、2つの点の外側で
は輝度はこの値より低い。射距離とは無関係に弾
の(一定)殺傷範囲を表すにはビームの幅が一定
であることが望ましい。
て射距離とは独立している、あるいは少くとも射
距離には比例しないような「幅」をビームが有す
ることが理想的であることである(たとえば、射
距離が8倍の範囲で変化した時にビーム幅の変化
が2倍以下)。この場合に「幅」という用語は、
輝度(すなわち、ビーム中のエネルギー密度)が
ある所定のしきい値を有する2つの点におけるビ
ームの横方向の拡がりを意味するものであり、こ
れら2つの点の間においては輝度はこのしきい値
またはこのしきい値より高く、2つの点の外側で
は輝度はこの値より低い。射距離とは無関係に弾
の(一定)殺傷範囲を表すにはビームの幅が一定
であることが望ましい。
本発明の目的は、従来の装置と比較して、ビー
ム幅が射距離に関係する度合の小さい電磁波ビー
ムを供給する光学装置を提供することである。
ム幅が射距離に関係する度合の小さい電磁波ビー
ムを供給する光学装置を提供することである。
本発明によれば、少なくとも1つの機能レンズ
素子群が最小化されないように選択された球面収
差を有するようなレンズ系と、所定の寸法と所定
の形を有し、所定の照度分布を与えるように構成
された可視光または、例えば赤外線のような近可
視光の光源と、レンズ系の光軸を横切つて光源と
レンズ系との間に配置され、光源から放たれる光
線の空間伝播分布を制御するための制御要素とを
備える光学装置が得られる。
素子群が最小化されないように選択された球面収
差を有するようなレンズ系と、所定の寸法と所定
の形を有し、所定の照度分布を与えるように構成
された可視光または、例えば赤外線のような近可
視光の光源と、レンズ系の光軸を横切つて光源と
レンズ系との間に配置され、光源から放たれる光
線の空間伝播分布を制御するための制御要素とを
備える光学装置が得られる。
含まれる球面収差は重要である。各機能レンズ
素子群は球面収差が最小となるように調節される
ことはなく、また、装置内のいずれの場所でも球
面収差は全く補償されない。
素子群は球面収差が最小となるように調節される
ことはなく、また、装置内のいずれの場所でも球
面収差は全く補償されない。
光源はレーザまたはレーザ・スタツク(たとえ
ばひ化ガリウム系の)構成され、前記所定の照度
分布を与える要素を含む。この要素は光積分器と
光拡散器を有し、これらの光積分器と光拡散器は
前記寸法と前記形を決定することもできる。ある
いは、前記寸法と前記形はレーザまたはレーザス
タツクの形状構成により、またはそれとマスクと
の組合わせにより決定することもできる。また可
視光または赤外線等の近可視光の光源であれば、
いずれの光源であつてもレンズに対して適用する
ことができるため、用いることができる。
ばひ化ガリウム系の)構成され、前記所定の照度
分布を与える要素を含む。この要素は光積分器と
光拡散器を有し、これらの光積分器と光拡散器は
前記寸法と前記形を決定することもできる。ある
いは、前記寸法と前記形はレーザまたはレーザス
タツクの形状構成により、またはそれとマスクと
の組合わせにより決定することもできる。また可
視光または赤外線等の近可視光の光源であれば、
いずれの光源であつてもレンズに対して適用する
ことができるため、用いることができる。
制御要素はマスク、たとえば穴あきマスクある
いは可変密度マスクを備える。
いは可変密度マスクを備える。
機能レンズ素子群の球面収差の大きさと符号を
適切に選択することにより、および制御要素を適
切に選択することによつて、この装置により発生
される光ビームの照度分布を操作することが可能
である。たとえば、単純な円対称のレンズから横
断面がほぼ長方形で、幅がほぼ一様のビームのよ
うな円対称でないビームを発生することが可能で
ある。
適切に選択することにより、および制御要素を適
切に選択することによつて、この装置により発生
される光ビームの照度分布を操作することが可能
である。たとえば、単純な円対称のレンズから横
断面がほぼ長方形で、幅がほぼ一様のビームのよ
うな円対称でないビームを発生することが可能で
ある。
本発明の第2の面によれば可視光または近可視
光の光源と、光源の実効寸法と実効形状を決定
し、所定の照度分布を与えるように構成された要
素と、レンズ系の光軸を横切つて光源とレンズ系
との間に配置され、光源から放たれる光線の空間
伝播分布を制御するための制御要素と、第1の機
能レンズ素子群とを備え、この第1の機能レンズ
素子群においては、第1の素子が適度の負倍率と
最小でない負の球面収差とを有し、第2の素子が
前記負の倍率よりも絶対値が大きい正の倍率と前
記負の球面収差よりも絶対値が小さい正の球面収
差とを有することを特徴とする光学装置が得られ
る。
光の光源と、光源の実効寸法と実効形状を決定
し、所定の照度分布を与えるように構成された要
素と、レンズ系の光軸を横切つて光源とレンズ系
との間に配置され、光源から放たれる光線の空間
伝播分布を制御するための制御要素と、第1の機
能レンズ素子群とを備え、この第1の機能レンズ
素子群においては、第1の素子が適度の負倍率と
最小でない負の球面収差とを有し、第2の素子が
前記負の倍率よりも絶対値が大きい正の倍率と前
記負の球面収差よりも絶対値が小さい正の球面収
差とを有することを特徴とする光学装置が得られ
る。
また、本発明の第3の面によれば、可視光また
は近可視光の光源と、この光源の実効寸法と実効
形状を決定し、かつ所定の照度分布を与えるよう
に構成された要素と、レンズ系の光軸を横切つて
光源とレンズ系との間に配置され、光源から放た
れる光線の空間伝播分布を制御するための制御要
素と、全面的な最小化されない正の球面収差およ
び正の倍率を有する第1の機能レンズ素子群と、
全面的な正の球面収差と正の倍率とを有する第2
の機能的なレンズ素子群とを備えることを特徴と
する光学装置が得られる。
は近可視光の光源と、この光源の実効寸法と実効
形状を決定し、かつ所定の照度分布を与えるよう
に構成された要素と、レンズ系の光軸を横切つて
光源とレンズ系との間に配置され、光源から放た
れる光線の空間伝播分布を制御するための制御要
素と、全面的な最小化されない正の球面収差およ
び正の倍率を有する第1の機能レンズ素子群と、
全面的な正の球面収差と正の倍率とを有する第2
の機能的なレンズ素子群とを備えることを特徴と
する光学装置が得られる。
以下、図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。
る。
以下に説明する本発明は兵器効果シミユレータ
に用いるレーザビームを提供するものである。こ
のシミユレータの有効範囲は通常は数百メートル
から数キロメートルである。ビームはたとえば戦
車乗員または手持ち式ミサイルの発射員の訓練中
に、弾やミサイルを表すために用いられる。的に
はそれに入射する光ビームを検出して、それを指
示するための光検出器が設けられる。たとえば、
弾の命中および的の近くへの着弾を行わせたり、
ミサイルの飛行をシミユレートするためにビーム
を正確に用いる方法につては、前記英国特許明細
書に詳しく開示されている。
に用いるレーザビームを提供するものである。こ
のシミユレータの有効範囲は通常は数百メートル
から数キロメートルである。ビームはたとえば戦
車乗員または手持ち式ミサイルの発射員の訓練中
に、弾やミサイルを表すために用いられる。的に
はそれに入射する光ビームを検出して、それを指
示するための光検出器が設けられる。たとえば、
弾の命中および的の近くへの着弾を行わせたり、
ミサイルの飛行をシミユレートするためにビーム
を正確に用いる方法につては、前記英国特許明細
書に詳しく開示されている。
ビームは各辺の寸法が数メートルのほぼ長方形
の横断面を有することが望ましい。この寸法は最
小射程と最大射程の間であまり大幅に変つてはな
らない。そのようなビームを発生する簡単なコリ
メータは直径が数メートルのレンズを必要とする
が、たとえば最大射程で希望の幅まで拡がり、近
距離では幅の狭いビームを発生するように構成さ
れたレンズでははるかに小型であることに注意さ
れたい。
の横断面を有することが望ましい。この寸法は最
小射程と最大射程の間であまり大幅に変つてはな
らない。そのようなビームを発生する簡単なコリ
メータは直径が数メートルのレンズを必要とする
が、たとえば最大射程で希望の幅まで拡がり、近
距離では幅の狭いビームを発生するように構成さ
れたレンズでははるかに小型であることに注意さ
れたい。
まず第1図を参照して、本発明の光学装置の第
1の実施例は、レーザ11を有する光源10と、
光積分器12と、光拡散器13とを含む。レーザ
11は数個のひ化ガリウム接合ダイオード・レ…
ザ素子を含み、それらの素子の発光部から光積分
器12の一端の長方形の領域まで光フアイバが延
びている。光積分器12は光フアイバの内面全反
射で個々の光フアイバの中を伝わつてきた光線を
混合するように機能する。光積分器12は横断面
が正方形または長方形の細くて短かいガラス棒か
ら作られ、その端部は第2図に示すようにその長
手軸に対して互いに90度だけよじられている。ひ
化ガリウムレーザ自体から発生されるビームは扇
状であり、1つの平面内では大きな角度で拡がる
が、その平面に直交する平面内での拡がり角度は
小さい。光積分器12をよじることにより、発生
されたレーザ光の角度発散のこのような非対称性
は小さくなる。
1の実施例は、レーザ11を有する光源10と、
光積分器12と、光拡散器13とを含む。レーザ
11は数個のひ化ガリウム接合ダイオード・レ…
ザ素子を含み、それらの素子の発光部から光積分
器12の一端の長方形の領域まで光フアイバが延
びている。光積分器12は光フアイバの内面全反
射で個々の光フアイバの中を伝わつてきた光線を
混合するように機能する。光積分器12は横断面
が正方形または長方形の細くて短かいガラス棒か
ら作られ、その端部は第2図に示すようにその長
手軸に対して互いに90度だけよじられている。ひ
化ガリウムレーザ自体から発生されるビームは扇
状であり、1つの平面内では大きな角度で拡がる
が、その平面に直交する平面内での拡がり角度は
小さい。光積分器12をよじることにより、発生
されたレーザ光の角度発散のこのような非対称性
は小さくなる。
光積分器12の他端部12aから出た光は光拡
散器13を通る。光積分器12の他端部12aの
横断面は正方形で、大きさは通常0.1mm×0.16mm
である。光拡散器13はシヨツト・ブラストされ
たパースペツクス樹脂で作られ、端面12aがレ
ンズにより装置内で結像させることができる光源
10の唯一の部分であるようにするために含ませ
られる。拡散器13がないと光積分器12の内部
の反射(一種の鏡の間効果)のために、レーザ1
1の近くの光積分器12の端部の平面内の点に望
ましくない映像が現われるおそれがある。それに
より装置からのビーム中にホツト・スポツト(高
密度の点)が生ずる。
散器13を通る。光積分器12の他端部12aの
横断面は正方形で、大きさは通常0.1mm×0.16mm
である。光拡散器13はシヨツト・ブラストされ
たパースペツクス樹脂で作られ、端面12aがレ
ンズにより装置内で結像させることができる光源
10の唯一の部分であるようにするために含ませ
られる。拡散器13がないと光積分器12の内部
の反射(一種の鏡の間効果)のために、レーザ1
1の近くの光積分器12の端部の平面内の点に望
ましくない映像が現われるおそれがある。それに
より装置からのビーム中にホツト・スポツト(高
密度の点)が生ずる。
拡散器13を出た光は組合わせレンズ15の前
方のマスク14を通る。
方のマスク14を通る。
この組合わせレンズ15は凹凸レンズ16と、
その後の平凸レンズ17との2つのレンズより成
る。平凸レンズ17の曲率は大きな(正)倍率
(ジオプトリで測つて)と、最小に近い(正の)
球面収差を有する。ように選ばれる。また、凹凸
レンズ16は中間(負の)倍率と、比較的大きな
(負の)球面収差を有するように選ばれる。した
がつて、レンズ16と17は全体として中間の値
(正で収束)の倍率と、最小でない負の球面収差
とを有する機能群を構成する。これは、球面収差
をなくすか、あるいは他の収差を最小にするので
あれば少くとも球面収差を最小にするようにレン
ズ素子を選択する正統的な光学機器のやり方とは
反対である。
その後の平凸レンズ17との2つのレンズより成
る。平凸レンズ17の曲率は大きな(正)倍率
(ジオプトリで測つて)と、最小に近い(正の)
球面収差を有する。ように選ばれる。また、凹凸
レンズ16は中間(負の)倍率と、比較的大きな
(負の)球面収差を有するように選ばれる。した
がつて、レンズ16と17は全体として中間の値
(正で収束)の倍率と、最小でない負の球面収差
とを有する機能群を構成する。これは、球面収差
をなくすか、あるいは他の収差を最小にするので
あれば少くとも球面収差を最小にするようにレン
ズ素子を選択する正統的な光学機器のやり方とは
反対である。
その結果、第1図の代表的な2本の光線で示さ
れているように、光軸に対して小さな角度をなし
て拡散器13の中心から出た光線18は組合わせ
レンズの中心部を通り、光軸に対して小さな角度
(ほぼ平行)を続けるように屈折させられる。し
かし、光軸に対して大きな角度をなす光線19
(この光線は通常の収束レンズでは光軸に平行と
なるように屈折させられる)は、光軸に少し近づ
く向きに屈折させられるだけであるから、大きく
発散する光路をたどる。そのために、光源から遠
く離れた場所ではビームは光軸に対して小さな角
度で拡散器13から出た光線18だけで構成され
ることになる。最大距離(すなわち、それ以上で
は照度があるしきい値Tをこえるようなビームを
横切つて測定した距離)におけるビームの幅W
(と高さ)は、端面12aの幅(と高さ)および
組合わせレンズ15の倍率により制御される。
れているように、光軸に対して小さな角度をなし
て拡散器13の中心から出た光線18は組合わせ
レンズの中心部を通り、光軸に対して小さな角度
(ほぼ平行)を続けるように屈折させられる。し
かし、光軸に対して大きな角度をなす光線19
(この光線は通常の収束レンズでは光軸に平行と
なるように屈折させられる)は、光軸に少し近づ
く向きに屈折させられるだけであるから、大きく
発散する光路をたどる。そのために、光源から遠
く離れた場所ではビームは光軸に対して小さな角
度で拡散器13から出た光線18だけで構成され
ることになる。最大距離(すなわち、それ以上で
は照度があるしきい値Tをこえるようなビームを
横切つて測定した距離)におけるビームの幅W
(と高さ)は、端面12aの幅(と高さ)および
組合わせレンズ15の倍率により制御される。
近い場所(レンジの下端部)では、光線18は
細くて強いビームを生ずる(第4図)。しかし、
拡散する光線19が光線18の周囲で余分の放射
エネルギーを与えるから、照度は希望の幅Wを横
切るしきい値Tよりも高いままである。第4図に
示すように、近い場所でのビームの照度はビーム
の中心におけるTよりも十分に高い。しかし、こ
れは重要ではない。照度が希望の幅Wにまたがつ
てしきい値T以下であつてはならないことが必要
なだけである。
細くて強いビームを生ずる(第4図)。しかし、
拡散する光線19が光線18の周囲で余分の放射
エネルギーを与えるから、照度は希望の幅Wを横
切るしきい値Tよりも高いままである。第4図に
示すように、近い場所でのビームの照度はビーム
の中心におけるTよりも十分に高い。しかし、こ
れは重要ではない。照度が希望の幅Wにまたがつ
てしきい値T以下であつてはならないことが必要
なだけである。
前記したように、遠い場所でのビームの幅と高
さは、中心部の光線18が端面12aの概略の映
像を生ずるから、端面12aの形に関連する。し
かし、近い場所では端の光線19もビームの構成
にあずかる。これらの端の光線はレンズ15の円
対称の球面収差により制御されるから、横断面が
円形のビームを発生する傾向がある。これを避け
るためにマスク14を用いて、端の光線19によ
り発生されるビームの形を希望するほぼ長方形と
する。
さは、中心部の光線18が端面12aの概略の映
像を生ずるから、端面12aの形に関連する。し
かし、近い場所では端の光線19もビームの構成
にあずかる。これらの端の光線はレンズ15の円
対称の球面収差により制御されるから、横断面が
円形のビームを発生する傾向がある。これを避け
るためにマスク14を用いて、端の光線19によ
り発生されるビームの形を希望するほぼ長方形と
する。
最も簡単な場合には、マスク14は、第5図に
示すように、長方形の穴20をあけた板で構成で
きる。しかし、近い場所でより本当の長方形状の
ビームを発生するために、第6図に示すようなも
つと複雑な形を用いることが可能である。
示すように、長方形の穴20をあけた板で構成で
きる。しかし、近い場所でより本当の長方形状の
ビームを発生するために、第6図に示すようなも
つと複雑な形を用いることが可能である。
可変密度マスクを用いてビームの形をもつと厳
密に制御することもできる。その可変密度マスク
ではその中の小さな各領域内での光の減衰が完全
透過と完全しや断との中間の値を有する。マスク
14として使用できる可変密度マスクの1つの可
能なパターンを第7図に示す。この可変密度マス
クは各点に希望の密度を有する写真感光乳剤を塗
布されたガラス板で構成できる。このマスクの光
透過領域21は中央の透明な部分22と、照射さ
れるビームの所要の隅の部分に対応する4つの透
明なアーム23とを有する。このマスクの上部と
下部には、縁部が低密度で、中心部25へ近づく
につれて密度が次第に高くなる円弧状の領域24
が設けられる。また、マスクの各側面には高密度
の細長い領域が設けられる。
密に制御することもできる。その可変密度マスク
ではその中の小さな各領域内での光の減衰が完全
透過と完全しや断との中間の値を有する。マスク
14として使用できる可変密度マスクの1つの可
能なパターンを第7図に示す。この可変密度マス
クは各点に希望の密度を有する写真感光乳剤を塗
布されたガラス板で構成できる。このマスクの光
透過領域21は中央の透明な部分22と、照射さ
れるビームの所要の隅の部分に対応する4つの透
明なアーム23とを有する。このマスクの上部と
下部には、縁部が低密度で、中心部25へ近づく
につれて密度が次第に高くなる円弧状の領域24
が設けられる。また、マスクの各側面には高密度
の細長い領域が設けられる。
可変密度マスクは、たとえば、寸法と間隔が
種々であるドツトを適切なパターンとなるように
してコンピユータ制御プロツタで描くことにより
作られたマスクから、写真技術によつて作ること
ができる。あるいは、1つの密度の領域の形を持
つた部分を、その密度に適切な一様な寸法と間隔
を有する予めドツトがプリントされているシート
から切り抜き、それから隣りの領域に必要な密度
を有するドツトがプリントされているシートから
切り抜かれた他の部分の上に重ねて所要のマスタ
を作ることもできる。
種々であるドツトを適切なパターンとなるように
してコンピユータ制御プロツタで描くことにより
作られたマスクから、写真技術によつて作ること
ができる。あるいは、1つの密度の領域の形を持
つた部分を、その密度に適切な一様な寸法と間隔
を有する予めドツトがプリントされているシート
から切り抜き、それから隣りの領域に必要な密度
を有するドツトがプリントされているシートから
切り抜かれた他の部分の上に重ねて所要のマスタ
を作ることもできる。
マスク14の機能はその平面中を通る光線の透
過の空間分布を制御することである。穴があけら
れているマスクの場合には(第5,6図)、透過
の可能な値としては完全透過と零透過の2つがあ
る。可変密度マスクの場合には中間透過値が可能
である。
過の空間分布を制御することである。穴があけら
れているマスクの場合には(第5,6図)、透過
の可能な値としては完全透過と零透過の2つがあ
る。可変密度マスクの場合には中間透過値が可能
である。
マスクとその形およびレンズ15の球面収差値
との選択は場合に応じて異なる。
との選択は場合に応じて異なる。
次に第8図を参照する。この図には比較的一定
な幅のビームを発生するために、収差の小さい良
く修正された対物レンズ(図示せず)とともに用
いる、本発明の光学装置の第2の実施例を示す。
な幅のビームを発生するために、収差の小さい良
く修正された対物レンズ(図示せず)とともに用
いる、本発明の光学装置の第2の実施例を示す。
この光学装置は第1図に示す光源10に類似の
光源100を含み、この光源から出た光は長方形
の穴を有するマスク101を通つて、2枚の収束
レンズ103,104より成る第1の機能群10
2に入射する。これらのレンズ103,104の
曲率は、機能群102の倍率を正とするととも
に、適度の正の球面収差を持たせるように選択さ
れる。第2のレンズ104から出た光は2枚のフ
イールドレンズ106,107より成る第2の機
能群105に入射する。この第2の機能群も大き
な正の球面収差を有し、レンズ106の面は対物
レンズの焦点面108の附近で機能群102に隣
接する。
光源100を含み、この光源から出た光は長方形
の穴を有するマスク101を通つて、2枚の収束
レンズ103,104より成る第1の機能群10
2に入射する。これらのレンズ103,104の
曲率は、機能群102の倍率を正とするととも
に、適度の正の球面収差を持たせるように選択さ
れる。第2のレンズ104から出た光は2枚のフ
イールドレンズ106,107より成る第2の機
能群105に入射する。この第2の機能群も大き
な正の球面収差を有し、レンズ106の面は対物
レンズの焦点面108の附近で機能群102に隣
接する。
光源100の与えられた点から出て光軸に対し
て小さな角度を成す光線109のような光線は、
機能群102によつて焦点面108に収束させら
れる。しかし、光軸に対して大きな角度を成すよ
うにして光源100から出た光線110は、機能
群102の正の球面収差のために大きく屈折させ
られ、機能群102と105の中間の面に収束さ
せられる。いいかえれば、この光線110は焦点
面108には収束させられない。そのために、焦
点面108上における輝度分布は光軸の一方の側
から他方の側へかけて第9図に示すようなものと
なり、レーザ光源100の収束された映像である
非常に明るい中心部と、大きく屈折させられた光
線110により生じた、前記中心部を囲む光の輪
とが生ずる。
て小さな角度を成す光線109のような光線は、
機能群102によつて焦点面108に収束させら
れる。しかし、光軸に対して大きな角度を成すよ
うにして光源100から出た光線110は、機能
群102の正の球面収差のために大きく屈折させ
られ、機能群102と105の中間の面に収束さ
せられる。いいかえれば、この光線110は焦点
面108には収束させられない。そのために、焦
点面108上における輝度分布は光軸の一方の側
から他方の側へかけて第9図に示すようなものと
なり、レーザ光源100の収束された映像である
非常に明るい中心部と、大きく屈折させられた光
線110により生じた、前記中心部を囲む光の輪
とが生ずる。
第8図からわかるように、光線110は光軸に
対してかなり大きな角度をなして焦点面108に
達する。したがつて、フイールドレンズ106,
107の目的はそれらの光線110が対物レンズ
に到達できるほど十分にそれらの光線を屈折させ
ることである。機能群105の正の球面収差は、
光軸からの距離が大きくなるにつれて実効倍率が
高くなるようなフイールドレンズを用いることに
より、これを容易にするように選択される。
対してかなり大きな角度をなして焦点面108に
達する。したがつて、フイールドレンズ106,
107の目的はそれらの光線110が対物レンズ
に到達できるほど十分にそれらの光線を屈折させ
ることである。機能群105の正の球面収差は、
光軸からの距離が大きくなるにつれて実効倍率が
高くなるようなフイールドレンズを用いることに
より、これを容易にするように選択される。
第2の実施例を組込んだ完全な装置を第10図
に示す。この図は各部品の相対的な配置を示すだ
けであることに注意すべきである。焦点面108
から出るように示されている光線は、実際には第
2の機能群105から出るものである。それらの
光線の間隔は非常に拡大して描いてある。111
は対物レンズであり、A,B,Cは装置からそれ
ぞれ6,3,1Kmの距離の場所に光軸から等距離
の点に設けられた検出器を示す。良く修正されて
いるレンズ111の焦点面内の1点からの光線は
互いにほぼ平行となつてレンズから出ることは良
く知られている。したがつて、検出器Aはレンズ
111から平行光線だけを受けるから、この検出
器Aは焦点面108中のA′点からの光線だけを
受ける。同様に、検出器B,Cは焦点面108内
の点B′,C′から出た光線だけをそれぞれ受ける。
レンズ103,104の曲率は、点B′,C′におけ
る輝度がA′点における輝度のそれぞれ1/4,1/36
であるような輝度分布(第9図)を与えるように
選択される(実際にはそれらの分数値は、長距離
の時に大気による大きな吸収を補償するために、
これらの理論値よりも小さくなる)。したがつて、
検出器A,B,Cにおける照度は同じとなる。検
出器Cにおける照度が近い場所のビーム(一部は
マスク101の寸法により制御される)の縁部を
定めるしきい値であるとすると、検出器A,Bも
同様にビームの縁部にあたることになる(光軸か
ら同じ距離にあるから)。したがつて、ビームの
幅(しきい値の照度を受ける点の間で光軸を横切
る距離)は距離によらず比較的一定である。
に示す。この図は各部品の相対的な配置を示すだ
けであることに注意すべきである。焦点面108
から出るように示されている光線は、実際には第
2の機能群105から出るものである。それらの
光線の間隔は非常に拡大して描いてある。111
は対物レンズであり、A,B,Cは装置からそれ
ぞれ6,3,1Kmの距離の場所に光軸から等距離
の点に設けられた検出器を示す。良く修正されて
いるレンズ111の焦点面内の1点からの光線は
互いにほぼ平行となつてレンズから出ることは良
く知られている。したがつて、検出器Aはレンズ
111から平行光線だけを受けるから、この検出
器Aは焦点面108中のA′点からの光線だけを
受ける。同様に、検出器B,Cは焦点面108内
の点B′,C′から出た光線だけをそれぞれ受ける。
レンズ103,104の曲率は、点B′,C′におけ
る輝度がA′点における輝度のそれぞれ1/4,1/36
であるような輝度分布(第9図)を与えるように
選択される(実際にはそれらの分数値は、長距離
の時に大気による大きな吸収を補償するために、
これらの理論値よりも小さくなる)。したがつて、
検出器A,B,Cにおける照度は同じとなる。検
出器Cにおける照度が近い場所のビーム(一部は
マスク101の寸法により制御される)の縁部を
定めるしきい値であるとすると、検出器A,Bも
同様にビームの縁部にあたることになる(光軸か
ら同じ距離にあるから)。したがつて、ビームの
幅(しきい値の照度を受ける点の間で光軸を横切
る距離)は距離によらず比較的一定である。
第1図に示す光学装置のように、光軸上の照度
は、とくに検出器Cの距離において、しきい値を
こえるが、幅が制御されるビームの発生において
はほとんど重要ではない。このビームではビーム
の縁部における照度が重要なパラメータである。
は、とくに検出器Cの距離において、しきい値を
こえるが、幅が制御されるビームの発生において
はほとんど重要ではない。このビームではビーム
の縁部における照度が重要なパラメータである。
光積分器12と拡散器13はある場合には用い
なくともよい。その場合には、光源からのビーム
の寸法、形および照度分布は、レーザの構成また
はレーザの直前のマスクにより決定できる。
なくともよい。その場合には、光源からのビーム
の寸法、形および照度分布は、レーザの構成また
はレーザの直前のマスクにより決定できる。
第1図は本発明の装置の一実施例の光線図、第
2図は第1図に示す光積分器の概略斜視図、第3
図は第1図の装置により発生されたビームの遠距
離における照度分布図、第4図はビームの近距離
における照度分布図、第5,6,7図は第1図の
装置で用いるマスクの各種の例を示す平面図、第
8図は本発明の装置の第2の実施例の光線図、第
9図は第8図の平面−における光の輝度分布
図、第10図は第8図に示す装置を使用している
時の光線図である。 10,100…光源、12…光積分器、13…
拡散器、14…マスク、15,102,105…
組合わせレンズ、16,17,103,104,
106,107…レンズ。
2図は第1図に示す光積分器の概略斜視図、第3
図は第1図の装置により発生されたビームの遠距
離における照度分布図、第4図はビームの近距離
における照度分布図、第5,6,7図は第1図の
装置で用いるマスクの各種の例を示す平面図、第
8図は本発明の装置の第2の実施例の光線図、第
9図は第8図の平面−における光の輝度分布
図、第10図は第8図に示す装置を使用している
時の光線図である。 10,100…光源、12…光積分器、13…
拡散器、14…マスク、15,102,105…
組合わせレンズ、16,17,103,104,
106,107…レンズ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 少くとも1つの機能レンズ素子群15;10
2が最小化されずに選択された球面収差を有する
ようなレンズ系と、所定の寸法と所定の形を有
し、所定の照度分布を与えるように構成された可
視光または近可視光の光源10;100と、前記
レンズ系の光軸を横切つて前記光源と前記レンズ
系との間に配置され、前記光源から放たれる光線
の空間伝播分布を制御するための制御要素14;
101とを備えることを特徴とする光学装置。 2 特許請求の範囲第1項に記載の装置におい
て、光源はレーザすなわちレーザ・スタツク1
1;100を備えることを特徴とする装置。 3 特許請求の範囲の第2項または第3項に記載
の装置において、光源は前記所定の照度分布を与
える要素を含むことを特徴とする装置。 4 特許請求の範囲の第3項に記載の装置におい
て、前記所定の照度分布を与える要素は光積分器
12と拡散器13とを含むことを特徴とする装
置。 5 特許請求の範囲の第4項に記載の装置におい
て、前記積分器と前記拡散器は前記寸法と前記形
を決定することを特徴とする装置。 6 特許請求の範囲の第1〜5項のいずれかに記
載の装置において、前記制御要素はマスクを備え
ることを特徴とする装置。 7 特許請求の範囲の第6項に記載の装置におい
て、前記マスクは穴あきマスクであることを特徴
とする装置。 8 特許請求の範囲の第6項に記載の装置におい
て、前記マスクは可変密度マスクであることを特
徴とする装置。 9 可視光または近可視光の光源11と、光源の
実効寸法と実効形状を決定し、所定の照度分布を
与えるように構成された要素12,13と、前記
レンズ系の光軸を横切つて前記光源と前記レンズ
系との間に配置され、前記光源から放たれる光線
の空間伝播分布を制御するための制御要素14
と、第1の機能レンズ素子群15とを備え、この
第1の機能レンズ素子群においては、第1の素子
16が適度の負倍率と最小でない負の球面収差と
を有し、第2の素子17が前記負の倍率よりも絶
対値が大きい正の倍率と前記負の球面収差よりも
絶対値が小さい正の球面収差とを有することを特
徴とする光学装置。 10 可視光または近可視光の光源100と、こ
の光源の実効寸法と実効形状を決定し、かつ所定
の照度分布を与えるように構成された要素と、前
記レンズ系の光軸を横切つて前記光源と前記レン
ズ系との間に配置され、前記光源から放たれる光
線の空間伝播分布を制御するための制御要素10
1と、全面的な最小化されない正の球面収差およ
び正の倍率を有する第1の機能レンズ素子群10
2と、全面的な正の球面収差と正の倍率とを有す
る第2の機能的なレンズ素子群105とを備える
ことを特徴とする光学装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| GB1406278 | 1978-04-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54151856A JPS54151856A (en) | 1979-11-29 |
| JPH0214685B2 true JPH0214685B2 (ja) | 1990-04-09 |
Family
ID=10034314
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4313579A Granted JPS54151856A (en) | 1978-04-11 | 1979-04-11 | Optical device |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4339177A (ja) |
| JP (1) | JPS54151856A (ja) |
| DE (1) | DE2913401A1 (ja) |
| FR (1) | FR2422975B1 (ja) |
| GB (2) | GB2020060B (ja) |
| IT (1) | IT1112470B (ja) |
| SE (1) | SE7903164L (ja) |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4327972A (en) | 1979-10-22 | 1982-05-04 | Coulter Electronics, Inc. | Redirecting surface for desired intensity profile |
| DE3240360A1 (de) * | 1982-11-02 | 1984-05-03 | M. Hensoldt & Söhne Wetzlar Optische Werke AG, 6330 Wetzlar | Vorrichtung zur erzeugung eines lichtbuendels, das ueber einen vorgegebenen entfernungsbereich einen vorbestimmten mindestwert der energiedichte im strahlenquerschnitt hat |
| US4537475A (en) * | 1983-04-01 | 1985-08-27 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Scattering apodizer for laser beams |
| GB2139614B (en) * | 1983-05-13 | 1987-02-04 | Glaverbel | Method and apparatus for cutting glass |
| DE3507007A1 (de) * | 1985-02-27 | 1986-08-28 | Precitronic Gesellschaft für Feinmechanik und Electronic mbH, 2000 Hamburg | Vorrichtung zum ueben des richtens mit einer schusswaffe |
| DE68924303T2 (de) * | 1988-06-14 | 1996-02-29 | Nippon Electric Co | Optische Kopfanordnung. |
| US5221975A (en) * | 1991-11-12 | 1993-06-22 | Eastman Kodak Company | High resolution scanner |
| WO1995000813A1 (en) * | 1993-06-25 | 1995-01-05 | The Commonwealth Of Australia | Maw flight line test set |
| AU687824B2 (en) * | 1993-06-25 | 1998-03-05 | Commonwealth Of Australia, The | Maw flight line test set |
| JPH07308788A (ja) * | 1994-05-16 | 1995-11-28 | Sanyo Electric Co Ltd | 光加工法及び光起電力装置の製造方法 |
| US6396647B1 (en) * | 2000-04-03 | 2002-05-28 | Raytheon Company | Optical system with extended boresight source |
| SE519186C2 (sv) * | 2000-12-15 | 2003-01-28 | Saab Ab | Skjutsimulatorer |
| JP2002279680A (ja) * | 2001-03-21 | 2002-09-27 | Konica Corp | 光ピックアップ装置、光ピックアップ装置の集光光学系及び光情報記録再生方法、 |
| SG143981A1 (en) * | 2001-08-31 | 2008-07-29 | Semiconductor Energy Lab | Laser irradiation method, laser irradiation apparatus, and method of manufacturing a semiconductor device |
| US7387922B2 (en) * | 2003-01-21 | 2008-06-17 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Laser irradiation method, method for manufacturing semiconductor device, and laser irradiation system |
| US9316462B2 (en) | 2005-08-01 | 2016-04-19 | Cubic Corporation | Two beam small arms transmitter |
| US8827707B2 (en) * | 2005-08-01 | 2014-09-09 | Cubic Corporation | Two beam small arms transmitter |
| GB2470964B (en) * | 2009-06-12 | 2014-04-09 | Thales Holdings Uk Plc | Rifle mounted optical unit |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2185221A (en) * | 1940-01-02 | nakken | ||
| US1562757A (en) * | 1922-03-15 | 1925-11-24 | John M Hammond | Method and apparatus for producing halftone dot images |
| US3302016A (en) * | 1964-08-21 | 1967-01-31 | Textron Electronics Inc | Optical collimating system |
| DE1603664A1 (de) * | 1967-12-27 | 1971-08-05 | Helmut Weniger | Spielzeug-Handfeuerwaffe |
| US3843235A (en) * | 1968-09-14 | 1974-10-22 | Minolta Camera Kk | Image forming optical system wherein defocus images are improved |
| US3615433A (en) * | 1968-10-29 | 1971-10-26 | Sylvania Electric Prod | Feedback image enhancement process |
| DE2041211C3 (de) * | 1970-08-19 | 1973-10-18 | Matth. Hohner Ag, 7218 Trossingen | Vorrichtung zur Beleuchtung einer Fläche mit intensitätsmoduliertem Licht |
| GB1451192A (en) * | 1972-08-18 | 1976-09-29 | Solartron Electronic Group | Weapon training systems |
| DE2620173A1 (de) * | 1976-05-07 | 1977-11-10 | Storz Karl | Strahlungsblende |
| JPS5313933A (en) * | 1976-07-26 | 1978-02-08 | Hitachi Ltd | Optical system |
| DE2727841C2 (de) * | 1977-06-21 | 1985-01-31 | Precitronic Gesellschaft für Feinmechanik und Electronik mbH, 2000 Hamburg | Laserlichtsender, insbesondere für Schußsimulationszwecke |
-
1979
- 1979-04-04 US US06/027,140 patent/US4339177A/en not_active Expired - Lifetime
- 1979-04-04 DE DE19792913401 patent/DE2913401A1/de not_active Ceased
- 1979-04-06 FR FR7908711A patent/FR2422975B1/fr not_active Expired
- 1979-04-09 IT IT21694/79A patent/IT1112470B/it active
- 1979-04-10 SE SE7903164A patent/SE7903164L/ not_active Application Discontinuation
- 1979-04-11 JP JP4313579A patent/JPS54151856A/ja active Granted
- 1979-04-11 GB GB7912871A patent/GB2020060B/en not_active Expired
- 1979-06-04 GB GB7919468A patent/GB2021283B/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2021283B (en) | 1982-07-14 |
| FR2422975A1 (fr) | 1979-11-09 |
| JPS54151856A (en) | 1979-11-29 |
| FR2422975B1 (fr) | 1985-10-25 |
| SE7903164L (sv) | 1979-10-12 |
| GB2021283A (en) | 1979-11-28 |
| GB2020060B (en) | 1982-10-06 |
| US4339177A (en) | 1982-07-13 |
| DE2913401A1 (de) | 1979-10-25 |
| GB2020060A (en) | 1979-11-07 |
| IT1112470B (it) | 1986-01-13 |
| IT7921694A0 (it) | 1979-04-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0214685B2 (ja) | ||
| US6102552A (en) | Laser-array based digital illuminator | |
| US7234265B1 (en) | Internal red dot sight | |
| AU751365B2 (en) | Firing simulator | |
| CN112888972B (zh) | 用于激光散射、偏转和操纵的系统和方法 | |
| CN103486906A (zh) | 一种激光、红外点源和红外成像的复合目标模拟器 | |
| US6914731B2 (en) | Firing simulator | |
| Ragazzoni et al. | Ingot laser guide stars wavefront sensing | |
| US4446363A (en) | Target for optically activated seekers and trackers | |
| CN103018908B (zh) | 一种激光发射装置 | |
| AU2002222866A1 (en) | Firing simulator | |
| US7174077B1 (en) | Fiber coupled laser diodes with even illumination pattern | |
| US10197677B1 (en) | Laser spot tracking receiver | |
| US11774323B1 (en) | System and method for creating a collimated space for a high fidelity simulator | |
| RU2146036C1 (ru) | Прицельное устройство | |
| EA052567B1 (ru) | Система и способы рассеяния, отклонения и управления лазерными пучками | |
| EP0457884A1 (en) | A device for indicating the hit of a light beam emitted from a test weapon | |
| DE1289801B (de) | Sonnensimulator zur Pruefung grossflaechiger Objekte in einer Testkammer |