JPH02147964A - マイクロ波電界分布の測定方法 - Google Patents

マイクロ波電界分布の測定方法

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JPH02147964A
JPH02147964A JP30249888A JP30249888A JPH02147964A JP H02147964 A JPH02147964 A JP H02147964A JP 30249888 A JP30249888 A JP 30249888A JP 30249888 A JP30249888 A JP 30249888A JP H02147964 A JPH02147964 A JP H02147964A
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JP
Japan
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electric field
applicator
microwave
distribution
tube
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JP30249888A
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English (en)
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Masazumi Taura
昌純 田浦
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野〕 マイクロ波を用いた加熱、乾燥、熱処理用のアプリケー
タ内、例えば電子レンジのオーブンの電界分布のAPI
定に関する。
[従来の技術] マイクロ波の電界分布を測定する為の従来の方法を第2
図圃を参照して説明する。
アプリケータ23内の電界分布を測定する場合アプリケ
ータ23内にビーカー28に水を入れたものを配置する
。マイクロ波を照射すると、マイクロ波は水の吸収され
昇温する。一定時間、マイクロ波を照射し、昇温した水
の温度を測定し、電界の分布を得ていた。なお、第2図
において、21は発振器、22は導波管、24は窓を示
す。
[発明が解決しようとする課rJ] 従来の方法では、概略の電界分布しか測定できず、また
、アプリケータ内の壁の近くの分布等は、測定困難であ
った。さらに50〜500Wで誤差は5%程度であった
本発明の課題は上記の問題点を解決し、アプリケータ内
の電界分布をより精密に且つ、非接触で測定でき、また
、経時変化も測定することができるマイクロ波電界分布
の測定方法を提供しようとするものである。
[課題を解決するための手段] 本発明によるマイクロ波電界分布の測定方法は、ガスを
封入したガラス管を電界中に配置し、マイクロ波電界に
よるグロー放電からの発光強度を計1定することにより
、電界分布を測定することを特徴とする特 [作用コ 本発明によれば、アプリケータ内に配置されたガス封入
管内のガスがマイクロ波の電界の作用によりグロー放電
を起こし光を発する。この光の強度を測定することによ
り、アプリケータ内の電界分布を知ることができる。こ
の測定方法に利用できるガス封入管は希ガス(He、N
e、Ar等)や、他のガス(H2、Nz 、02 )を
、10mTo r r〜100To r rの圧力で封
入したもので、ガスの種類、圧力、電界強度により、発
光強度が異なることを利用したものである。第3図にH
eを封入した時のマイクロ波電界の強度と、発光強度の
関係を示したものである。同一ガスを同一圧力により封
入した管をアプリケータ内に配置することにより、マイ
クロ波の電界強度を測定することができる。
また、水のマイクロ波吸収による昇温を利用する従来法
においては、100cc程度の水が必要となる。(例え
ば42Wのとき100ccの水を用いると100秒の加
熱で10℃の昇温を測定することになる)。これに対し
本発明方法によれば、気体封入管は100mmφX10
0mmf!程度にできるため、空間分解能も上がり、ま
た壁に近づけることも可能である。
[実施例] 第1図は本発明方法を実施するのに用いられる装置の一
実施例の概略図である。マイクロ波は、発信器1より発
し、導波管2によりアプリケータ3に導かれ、アプリケ
ータ3内に置がれた被加熱物に吸収される。このアプリ
ケータ3内の電界分布を測定する為に、ガス封入管7を
配置し、封入管7内のガスがマイクロ波電界により放電
し、発した光をアプリケータの窓4を通して、ビデオカ
メラ5で撮影する。撮影画面中の封入管の色及び輝度の
分布により、マイクロ波の電界分布を得る。
6はビデオモニタを示す。
[発明の効果] 以上詳述した如く、本発明による電界aIlj定法によ
ればアプリケータ内のマイクロ波電界を精密に且つ、非
接触で測定でき、また経時変化も411定することかで
き、さらに、例えば10〜500Wで誤差が2〜3%で
あるので、アプリケータの設計に非常に存効な手段とな
りうる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明方法を実施するのに用いられる装置の
一実施例を示す概略図、第2図は従来の電界#l−1定
方法を説明するための概略図、第3図はマイクロ波の電
界強度とHe封入管の発光強度の関係を示す図である。 1・・・マイクロ波発振器、2・・・導波管、3・・・
アプリケータ(オーブン)、4・・・窓、5・・・ビデ
オカメラ、6・・・ビデオモニタ、7・・・ガス封入管
。 第1図 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第2図 マイクロ波吸収 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ガスを封入したガラス管を、電界中におき、管内のガス
    放電よりの発光強度を測定することにより、電界強度を
    測定することを特徴とするマイクロ波電界分布の測定方
    法。
JP30249888A 1988-11-30 1988-11-30 マイクロ波電界分布の測定方法 Pending JPH02147964A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000050249A (ko) * 2000-05-30 2000-08-05 신이균 정전기 측정시스템
ES2254035A1 (es) * 2005-11-07 2006-06-01 Grifols, S.A. "procedimiento y aparato para evaluar el grado de vacio en cuerpos cerrados de paredes transparentes".
KR100627026B1 (ko) * 2005-02-18 2006-09-25 자동차부품연구원 차량용 실시간 정전기 측정장치

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000050249A (ko) * 2000-05-30 2000-08-05 신이균 정전기 측정시스템
KR100627026B1 (ko) * 2005-02-18 2006-09-25 자동차부품연구원 차량용 실시간 정전기 측정장치
ES2254035A1 (es) * 2005-11-07 2006-06-01 Grifols, S.A. "procedimiento y aparato para evaluar el grado de vacio en cuerpos cerrados de paredes transparentes".
EP1783477A3 (en) * 2005-11-07 2016-01-06 Grifols, S.A. Process and apparatus for evaluating the degree of vacuum in closed bodies with transparent walls

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