JPH02154516A - 出力回路 - Google Patents
出力回路Info
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- JPH02154516A JPH02154516A JP63308398A JP30839888A JPH02154516A JP H02154516 A JPH02154516 A JP H02154516A JP 63308398 A JP63308398 A JP 63308398A JP 30839888 A JP30839888 A JP 30839888A JP H02154516 A JPH02154516 A JP H02154516A
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- JP
- Japan
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- transistor
- gate
- mos
- voltage
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- Manipulation Of Pulses (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、低電圧信号をレベルシフトして高電圧出力信
号として出力する高耐圧の出力回路に関する。
号として出力する高耐圧の出力回路に関する。
(従来の技術)
一般に、エレクトロ・ルミネッセンス(E L)・デイ
スプレィやプラズマ・デイスプレィ・パネル(FDP)
等の発光型デイスプレィの駆動用集積回路(IC)は、
高い駆動電圧を必要とするため、高耐圧の駆動用ICが
使用されている。この高耐圧の駆動用ICにおける出力
回路では、高耐圧に加えてスイッチング時間の短縮、消
費電流の低減化が要求されている。このため、CMO8
(相補性絶縁ゲート型)素子と高耐圧素子、例えばDM
OS (Double DiffusedMO8)素
子とを1チツプ上に混載し、CMOSレベルの入力信号
をレベルシフトした高電圧信号をプッシュプル型の出力
段から出力するようにしている。
スプレィやプラズマ・デイスプレィ・パネル(FDP)
等の発光型デイスプレィの駆動用集積回路(IC)は、
高い駆動電圧を必要とするため、高耐圧の駆動用ICが
使用されている。この高耐圧の駆動用ICにおける出力
回路では、高耐圧に加えてスイッチング時間の短縮、消
費電流の低減化が要求されている。このため、CMO8
(相補性絶縁ゲート型)素子と高耐圧素子、例えばDM
OS (Double DiffusedMO8)素
子とを1チツプ上に混載し、CMOSレベルの入力信号
をレベルシフトした高電圧信号をプッシュプル型の出力
段から出力するようにしている。
第4図は上記したような駆動用ICに使用される従来の
出力回路を示している。即ち、駆動信号入力(In)ノ
ードには、CMOSインバータIVの入力端子および基
板・ソース相互が接地電位Vssに接続されたNチャネ
ルDMOSトランジスタDM3のゲートが接続されてい
る。CMOSインバータIVは、低電圧電源Vddと接
地電位VSSとの間にPチャネルMO8トランジスタP
1とNチャネルMOSトランジスタN1とが直列に接続
され、そのゲート相互が前記駆動信号人力ノードに接続
されている。NチャネルDMOSトランジスタDM3の
ドレインには、2コレクタ構造のPNP トランジスタ
P2のベースおよび第1のコレクタが接続されており、
このPNP トランジスタP2のエミッタは高電圧電源
Vccに接続されている。PNP l−ランジスタP2
の第2のコレクタと接地電位Vssとの間には、基板・
ソース相互が接続された出力プルダウン用のNチャネル
DMO8+−ランジスタDM2が接続されており、この
NチャネルのDMOSトランジスタDM2のゲートはC
MOSインバータIVの出力端子に接続されている。
出力回路を示している。即ち、駆動信号入力(In)ノ
ードには、CMOSインバータIVの入力端子および基
板・ソース相互が接地電位Vssに接続されたNチャネ
ルDMOSトランジスタDM3のゲートが接続されてい
る。CMOSインバータIVは、低電圧電源Vddと接
地電位VSSとの間にPチャネルMO8トランジスタP
1とNチャネルMOSトランジスタN1とが直列に接続
され、そのゲート相互が前記駆動信号人力ノードに接続
されている。NチャネルDMOSトランジスタDM3の
ドレインには、2コレクタ構造のPNP トランジスタ
P2のベースおよび第1のコレクタが接続されており、
このPNP トランジスタP2のエミッタは高電圧電源
Vccに接続されている。PNP l−ランジスタP2
の第2のコレクタと接地電位Vssとの間には、基板・
ソース相互が接続された出力プルダウン用のNチャネル
DMO8+−ランジスタDM2が接続されており、この
NチャネルのDMOSトランジスタDM2のゲートはC
MOSインバータIVの出力端子に接続されている。
また、PNP トランジスタP2の第2のコレクタには
、出力プルアップ用のNチャネルDMOSトランジスタ
DM]のゲートが接続されており、このNチャネルDM
OSトランジスタDMIのドレインは高電圧電源vCC
に接続され、基板・ソース相互が駆動信号出力(Out
)ノードに接続されている。そして、この出力プルアッ
プ用のNチャネルDMOSトランジスタDMIのゲート
とドレインとの間にツェナー・ダイオードZ1のカッド
・アノード間が接続されている。
、出力プルアップ用のNチャネルDMOSトランジスタ
DM]のゲートが接続されており、このNチャネルDM
OSトランジスタDMIのドレインは高電圧電源vCC
に接続され、基板・ソース相互が駆動信号出力(Out
)ノードに接続されている。そして、この出力プルアッ
プ用のNチャネルDMOSトランジスタDMIのゲート
とドレインとの間にツェナー・ダイオードZ1のカッド
・アノード間が接続されている。
上記構成の出力回路においては、CMOSレベルの駆動
信号入力Inが高レベル“H”の時、DMOSトランジ
スタDM3がオンになり、このオン電流によりPNP
トランジスタP2がオンになる。このPNPトランジス
タP2のオン電流によりツェナー・ダイオードZ1にツ
ェナー電圧Vzが発生して出力プルアップ用のDMOS
トランジスタDMIに所要のゲート・ソース間電圧が印
加され、このDMOSトランジスタDMIがオンになっ
てOut端子の容量負荷等を充電し、出力Outの電位
を高電圧電源レベル(V ccレベル)にプルアップす
る。
信号入力Inが高レベル“H”の時、DMOSトランジ
スタDM3がオンになり、このオン電流によりPNP
トランジスタP2がオンになる。このPNPトランジス
タP2のオン電流によりツェナー・ダイオードZ1にツ
ェナー電圧Vzが発生して出力プルアップ用のDMOS
トランジスタDMIに所要のゲート・ソース間電圧が印
加され、このDMOSトランジスタDMIがオンになっ
てOut端子の容量負荷等を充電し、出力Outの電位
を高電圧電源レベル(V ccレベル)にプルアップす
る。
なお、この時、駆動信号入力Inの″H″レベルにより
CMOSインバーターVのPチャネルMO3トランジス
タP1およびNチャネルMOSトランジスタN1が対応
してオフおよびオンになり、このCMOSインバーター
VのVSSレベルの出力信号により出力プルダウン用の
DMOSトランジスタDM2がオフになっている。
CMOSインバーターVのPチャネルMO3トランジス
タP1およびNチャネルMOSトランジスタN1が対応
してオフおよびオンになり、このCMOSインバーター
VのVSSレベルの出力信号により出力プルダウン用の
DMOSトランジスタDM2がオフになっている。
上記とは逆に、CMOSレベルの駆動信号入力Inが低
レベル“L”の時、DMOSトランジスタDM3がオフ
になり、PNPトランジスタP2がオフになり、出力プ
ルアップ用のDMOSトランジスタDMIはオフになる
。これに対して、駆動信号入力Inの“L”レベルによ
りCMOSインバータIVのPチャネルMO8トランジ
スタP1およびNチャネルMO8トランジスタN1が対
応してオンおよびオフになり、このCMOSインバータ
IVのVddレベルの出力信号により出力プルダウン用
のDMOSトランジスタDM2がオンになり、Out端
子の容量負荷等の電荷を放電し、出力Outの電位をV
SSレベルにプルダウンする。
レベル“L”の時、DMOSトランジスタDM3がオフ
になり、PNPトランジスタP2がオフになり、出力プ
ルアップ用のDMOSトランジスタDMIはオフになる
。これに対して、駆動信号入力Inの“L”レベルによ
りCMOSインバータIVのPチャネルMO8トランジ
スタP1およびNチャネルMO8トランジスタN1が対
応してオンおよびオフになり、このCMOSインバータ
IVのVddレベルの出力信号により出力プルダウン用
のDMOSトランジスタDM2がオンになり、Out端
子の容量負荷等の電荷を放電し、出力Outの電位をV
SSレベルにプルダウンする。
しかし、上記構成の出力回路においては、出力プルダウ
ン用のDMOSトランジスタDM2をCMOSインバー
タIVからのCMOSレベルの出力により駆動している
ので、以下に述べるような問題がある。即ち、このDM
OSトランジスタDM2のドレイン電流をId、ゲート
・ソース間電圧をV CS、閾値電圧をVTH1定数を
Aで表わすと、 I d = A (VGS−VTH) 2
−−−−−− (1)の関係がある。ここで、閾値
電圧VTRは例えば1.4■であり、出力プルダウン用
のDMOSトランジスタDM2のゲート・ソース間電圧
VGSがCMOSレベルのH”レベル(例えば3.5v
〜5V)のように小さいので、そのドレイン電流Idは
閾値電圧VTHに大きく依存し、プロセスのばらつきに
よる閾値電圧VT)lのばらつきによってドレイン電流
Idがばらつくので、スイッチング特性が安定に得られ
ないという問題があった。
ン用のDMOSトランジスタDM2をCMOSインバー
タIVからのCMOSレベルの出力により駆動している
ので、以下に述べるような問題がある。即ち、このDM
OSトランジスタDM2のドレイン電流をId、ゲート
・ソース間電圧をV CS、閾値電圧をVTH1定数を
Aで表わすと、 I d = A (VGS−VTH) 2
−−−−−− (1)の関係がある。ここで、閾値
電圧VTRは例えば1.4■であり、出力プルダウン用
のDMOSトランジスタDM2のゲート・ソース間電圧
VGSがCMOSレベルのH”レベル(例えば3.5v
〜5V)のように小さいので、そのドレイン電流Idは
閾値電圧VTHに大きく依存し、プロセスのばらつきに
よる閾値電圧VT)lのばらつきによってドレイン電流
Idがばらつくので、スイッチング特性が安定に得られ
ないという問題があった。
また、出力プルアップ用のDMOSトランジスタDMI
はゲート・ソース間電圧としてツェナー・ダイオードZ
1のツェナー電圧VZが印加されるので、その閾値電圧
をVTll、定数をAで表わすと、ドレイン電流Id’
は I d’ −A (Vz −VTH) 2− (2)
で表わされる。このツェナー電圧Vzが例えば10Vと
すると、これに比べて出力プルダウン用のDMO8トラ
ンジスタDM2のゲート・ソース間電圧vGSは非常に
小さいので、Id(Id’であり、またはVTRの変化
に対しIdの変化は少なくなる。
はゲート・ソース間電圧としてツェナー・ダイオードZ
1のツェナー電圧VZが印加されるので、その閾値電圧
をVTll、定数をAで表わすと、ドレイン電流Id’
は I d’ −A (Vz −VTH) 2− (2)
で表わされる。このツェナー電圧Vzが例えば10Vと
すると、これに比べて出力プルダウン用のDMO8トラ
ンジスタDM2のゲート・ソース間電圧vGSは非常に
小さいので、Id(Id’であり、またはVTRの変化
に対しIdの変化は少なくなる。
一方、駆動用ICの使い勝手を良くするために、駆動信
号出力Outの波形の立上がりと立下がりとを揃えるこ
とが要求されている。これは、Out端子の流出電流と
流入電流とを等しくする(Id’=Id)ことにより可
能となる。従来の回路にて、前記したId(Id’ の
関係をId’=Idとなるように補正し、出力プルダウ
ン用のDMOSトランジスタDM2のチャネル幅Wを出
力プルアップ用のDMO8トランジスタDMIのチャネ
ル幅W′よりも十分大きく設計することにより可能とな
るが、その分だけチップサイズの増大を招いてしまうと
いう問題がある。
号出力Outの波形の立上がりと立下がりとを揃えるこ
とが要求されている。これは、Out端子の流出電流と
流入電流とを等しくする(Id’=Id)ことにより可
能となる。従来の回路にて、前記したId(Id’ の
関係をId’=Idとなるように補正し、出力プルダウ
ン用のDMOSトランジスタDM2のチャネル幅Wを出
力プルアップ用のDMO8トランジスタDMIのチャネ
ル幅W′よりも十分大きく設計することにより可能とな
るが、その分だけチップサイズの増大を招いてしまうと
いう問題がある。
(発明が解決しようとする課題)
上記したように従来の出力回路は、駆動信号出力端子の
流出電流と流入電流とを等しくするためには出力プルダ
ウン用のDMO8I−ランジスタのチャネル幅を出力プ
ルアップ用のDMO5トランジスタのチャネル幅よりも
十分大きく設計しなければならず、その分だけチップサ
イズの増大を招いてしまい、しかも、出力プルダウン用
のDMO8トランジスタのドレイン電流がプロセスのば
らつきによる閾値電圧のばらつきに大きく依存してばら
つくので、そのスイッチング特性が安定に得られないと
いう問題がある。
流出電流と流入電流とを等しくするためには出力プルダ
ウン用のDMO8I−ランジスタのチャネル幅を出力プ
ルアップ用のDMO5トランジスタのチャネル幅よりも
十分大きく設計しなければならず、その分だけチップサ
イズの増大を招いてしまい、しかも、出力プルダウン用
のDMO8トランジスタのドレイン電流がプロセスのば
らつきによる閾値電圧のばらつきに大きく依存してばら
つくので、そのスイッチング特性が安定に得られないと
いう問題がある。
本発明の目的は、上記問題点を解決すべくなされたもの
で、出力プルダウン用のDMO8トランジスタのチャネ
ル幅を出力プルアップ用のDMOSトランジスタのチャ
ネル幅と同じに設計し、駆動信号出力端子の流出電流と
流入電流とを等しくすることが可能になり、出力用のM
O8I−ランジスタのドレイン電流がプロセスのばらつ
きによる閾値電圧のばらつきに殆んど依存しなくなり、
安定なスイッチング特性が得られると共にチップサイズ
の縮小化を図ることができる出力回路を提供することに
ある。
で、出力プルダウン用のDMO8トランジスタのチャネ
ル幅を出力プルアップ用のDMOSトランジスタのチャ
ネル幅と同じに設計し、駆動信号出力端子の流出電流と
流入電流とを等しくすることが可能になり、出力用のM
O8I−ランジスタのドレイン電流がプロセスのばらつ
きによる閾値電圧のばらつきに殆んど依存しなくなり、
安定なスイッチング特性が得られると共にチップサイズ
の縮小化を図ることができる出力回路を提供することに
ある。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明の出力回路は、ドレイン・ソース間が第1の電源
電位と出力端子との間に挿入された出力プルアップ用の
MOSトランジスタと、この出力プルアップ用のMOS
トランジスタのゲート豐ソース間に接続された第1の定
電圧素子と、前記出力端子と第2の電源電位との間にド
レイン・ラス間が挿入された出力プルダウン用のMOS
トランジスタと、この出力プルアップ用のMOSトラン
ジスタのゲート・ソース間に接続された第2の定電圧素
子と、前記出力プルアップ用のMOSトランジスタのゲ
ート電位および前記出力プルダウン用のMO8I−ラン
ジスタのゲート電位を別々に制御する制御回路とを具備
することを特徴とする。
電位と出力端子との間に挿入された出力プルアップ用の
MOSトランジスタと、この出力プルアップ用のMOS
トランジスタのゲート豐ソース間に接続された第1の定
電圧素子と、前記出力端子と第2の電源電位との間にド
レイン・ラス間が挿入された出力プルダウン用のMOS
トランジスタと、この出力プルアップ用のMOSトラン
ジスタのゲート・ソース間に接続された第2の定電圧素
子と、前記出力プルアップ用のMOSトランジスタのゲ
ート電位および前記出力プルダウン用のMO8I−ラン
ジスタのゲート電位を別々に制御する制御回路とを具備
することを特徴とする。
(作用)
制御回路によって出力プルアップ用のMOSトランジス
タのゲート電位および出力プルダウン用のMOSトラン
ジスタのゲート電位を別々に制御することにより、低電
圧信号により高耐圧用の出力プルアップ用のMOSトラ
ンジスタおよび出力プルダウン用のMOSトランジスタ
を、選択的にオン状態、または、それぞれオフ状態に設
定することか可能になる。この場合、出力用のMOSト
ランジスタのゲート・ソース間にそれぞれ定電圧素子に
よる電圧が印加されるので、それぞれのドレイン電流は
、大きくなると共にプロセスのばらつきによる閾値電圧
のばらつきに殆んど依存しなくなり、安定なスイッチン
グ特性が得られるようになる。
タのゲート電位および出力プルダウン用のMOSトラン
ジスタのゲート電位を別々に制御することにより、低電
圧信号により高耐圧用の出力プルアップ用のMOSトラ
ンジスタおよび出力プルダウン用のMOSトランジスタ
を、選択的にオン状態、または、それぞれオフ状態に設
定することか可能になる。この場合、出力用のMOSト
ランジスタのゲート・ソース間にそれぞれ定電圧素子に
よる電圧が印加されるので、それぞれのドレイン電流は
、大きくなると共にプロセスのばらつきによる閾値電圧
のばらつきに殆んど依存しなくなり、安定なスイッチン
グ特性が得られるようになる。
また、出力端子の流出電流と流入電流とを等しくする場
合、第1の定電圧素子および第1の定電圧素子の電圧を
ほぼ等しくすることにより、出力プルアップ用のMOS
トランジスタのドレイン電流と出力プルダウン用のMO
Sトランジスタのドレイン電流とがほぼ同じように大き
くなり、それぞれのMOSトランジスタのチャネル幅を
同じに設計しても、それぞれのドレイン電流がほぼ等し
くなるので、チップサイズの縮小化を図ることができる
。
合、第1の定電圧素子および第1の定電圧素子の電圧を
ほぼ等しくすることにより、出力プルアップ用のMOS
トランジスタのドレイン電流と出力プルダウン用のMO
Sトランジスタのドレイン電流とがほぼ同じように大き
くなり、それぞれのMOSトランジスタのチャネル幅を
同じに設計しても、それぞれのドレイン電流がほぼ等し
くなるので、チップサイズの縮小化を図ることができる
。
(実施例)
以下、図面を参照して本発明の一実施例を詳細に説明す
る。
る。
第1図は、CMO8素子と高耐圧素子、例えばDMO8
素子とを1チツプ上に混載した高耐圧の駆動用ICにお
ける出力回路を示している。即ち、第1の制御信号入力
(B)ノードには、基板・ソース相互が第2の電源電位
(例えば接地電位V ss)に接続されたNチャネルD
MOSトランジスタDM3のゲートが接続されている。
素子とを1チツプ上に混載した高耐圧の駆動用ICにお
ける出力回路を示している。即ち、第1の制御信号入力
(B)ノードには、基板・ソース相互が第2の電源電位
(例えば接地電位V ss)に接続されたNチャネルD
MOSトランジスタDM3のゲートが接続されている。
このDMOSトランジスタDM3のドレインには、マル
チコレクタ構造(本例では3コレクタ構造)のPNP
トランジスタP3のベースおよび第1のコレクタが接続
されており、このPNP l−ランジスタP3のエミッ
タは第1の電源電位(例えば高電圧電源V cc)に接
続されている。PNPトランジスタP3の第3のコレク
タには、出力プルアップ用のNチャネルDMOSトラン
ジスタDMIのゲートが接続されており、このDMO8
トランジスタDMIのドレインは高電圧電源VCCに接
続され、基板・ソース相互が駆動信号出力(Out)端
子に接続されている。そして、このDMOSトランジス
タDMIのゲートと接地電位VSSとの間には、基板・
ソース相互が接続されたNチャネルDMO3トランジス
タDM4が接続されており、このDMO8トランジスタ
DM4のゲートは第2の制御信号入力(A)ノードにゲ
ートが接続されている。
チコレクタ構造(本例では3コレクタ構造)のPNP
トランジスタP3のベースおよび第1のコレクタが接続
されており、このPNP l−ランジスタP3のエミッ
タは第1の電源電位(例えば高電圧電源V cc)に接
続されている。PNPトランジスタP3の第3のコレク
タには、出力プルアップ用のNチャネルDMOSトラン
ジスタDMIのゲートが接続されており、このDMO8
トランジスタDMIのドレインは高電圧電源VCCに接
続され、基板・ソース相互が駆動信号出力(Out)端
子に接続されている。そして、このDMOSトランジス
タDMIのゲートと接地電位VSSとの間には、基板・
ソース相互が接続されたNチャネルDMO3トランジス
タDM4が接続されており、このDMO8トランジスタ
DM4のゲートは第2の制御信号入力(A)ノードにゲ
ートが接続されている。
また、PNPトランジスタP3の第2のコレクタには基
板・ソース相互が接地電位VSSに接続された出力プル
ダウン用のNチャネルDMOSトランジスタDM2のゲ
ートが接続され、このDMO8トランジスタDM2のド
レインは駆動信号出力(Out)端子に接続されている
。そして、このDMO8I−ランジスタDM2のゲート
と接地電位Vssとの間には、NチャネルDMO3トラ
ンジスタDM5が接続されており、このDMOSトラン
ジスタDM5のゲートは第3の制御信号入力(A)ノー
ドにゲートが接続されている。
板・ソース相互が接地電位VSSに接続された出力プル
ダウン用のNチャネルDMOSトランジスタDM2のゲ
ートが接続され、このDMO8トランジスタDM2のド
レインは駆動信号出力(Out)端子に接続されている
。そして、このDMO8I−ランジスタDM2のゲート
と接地電位Vssとの間には、NチャネルDMO3トラ
ンジスタDM5が接続されており、このDMOSトラン
ジスタDM5のゲートは第3の制御信号入力(A)ノー
ドにゲートが接続されている。
また、出力プルアップ用のDMOSトランジスタDMI
のゲートとドレインとの間に、第1の定電圧素子として
例えばツェナー・ダイオードZ1のカソード・アノード
間が接続され、出力プルダラン用のDMOSトランジス
タDM2のゲートとドレインとの間に、第2の定電圧素
子として例えばツェナー・ダイオードZ2のカソード・
アノード間が接続されている。
のゲートとドレインとの間に、第1の定電圧素子として
例えばツェナー・ダイオードZ1のカソード・アノード
間が接続され、出力プルダラン用のDMOSトランジス
タDM2のゲートとドレインとの間に、第2の定電圧素
子として例えばツェナー・ダイオードZ2のカソード・
アノード間が接続されている。
次に、第1図の出力回路の動作を説明する。各制御信号
人力ノードには例えばCMOSレベルの低電圧の制御信
号B、Aおよびこれに相補的なAが入力し、高電圧電源
VccはCMOSレベルよりも十分に高い電圧が使用さ
れる。いま、制御信号BおよびAが高レベル“H“、制
御信号Aが低レベル″L”の時、DMO8I−ランジス
タDM3およびDM5がオンになり、DMOSトランジ
スタDM4がオフになる。従って、DMOSトランジス
タDM3のオン電流によりPNP トランジスタP3が
オンになり、このPNP トランジスタP3のオン電流
によりツェナー・ダイオードZ1にツェナー電圧が発生
して出力プルアップ用のDMO3トランジスタDMIに
所要のゲート・ソース間電圧が印加され、このDMO3
トランジスタDMIがオンになってOut端子の容量負
荷等を充電し、出力Outの電位を高電圧電源レベル(
Vccレベル)にプルアップする。
人力ノードには例えばCMOSレベルの低電圧の制御信
号B、Aおよびこれに相補的なAが入力し、高電圧電源
VccはCMOSレベルよりも十分に高い電圧が使用さ
れる。いま、制御信号BおよびAが高レベル“H“、制
御信号Aが低レベル″L”の時、DMO8I−ランジス
タDM3およびDM5がオンになり、DMOSトランジ
スタDM4がオフになる。従って、DMOSトランジス
タDM3のオン電流によりPNP トランジスタP3が
オンになり、このPNP トランジスタP3のオン電流
によりツェナー・ダイオードZ1にツェナー電圧が発生
して出力プルアップ用のDMO3トランジスタDMIに
所要のゲート・ソース間電圧が印加され、このDMO3
トランジスタDMIがオンになってOut端子の容量負
荷等を充電し、出力Outの電位を高電圧電源レベル(
Vccレベル)にプルアップする。
なお、この時、オン状態のDMO8トランジスタDM5
のドレイン電位は低くなっているので、このドレイン電
位がゲートに与えられる出力プルダウン用のDMO5ト
ランジスタDM2がオフになっている。
のドレイン電位は低くなっているので、このドレイン電
位がゲートに与えられる出力プルダウン用のDMO5ト
ランジスタDM2がオフになっている。
上記とは逆に、制御信号Aか低レベル“L“制御信号B
およびAが高レベル“H”の時、DMO5トランジスタ
DM5がオフになり、DMO5トランジスタDM3およ
びDM4かオンになる。従って、このオン状態のDMO
SトランジスタDM4のドレイン電位は低くなっている
ので、このドレイン電位がゲートに与えられる出力プル
アップ用のDMO8トランジスタDMIはオフになるが
、PNP トランジスタP3からの電流によりツェナー
・ダイオードZ2にツェナー電圧が発生して出力プルダ
ウン用のDMOSトランジスタDM2に所要のゲート・
ソース間電圧が印加され、このDMO5トランジスタD
M2がオンになってOut端子の容量負荷等の電荷を放
電し、出力Outの電位をVSSレベルにプルダウンす
る。
およびAが高レベル“H”の時、DMO5トランジスタ
DM5がオフになり、DMO5トランジスタDM3およ
びDM4かオンになる。従って、このオン状態のDMO
SトランジスタDM4のドレイン電位は低くなっている
ので、このドレイン電位がゲートに与えられる出力プル
アップ用のDMO8トランジスタDMIはオフになるが
、PNP トランジスタP3からの電流によりツェナー
・ダイオードZ2にツェナー電圧が発生して出力プルダ
ウン用のDMOSトランジスタDM2に所要のゲート・
ソース間電圧が印加され、このDMO5トランジスタD
M2がオンになってOut端子の容量負荷等の電荷を放
電し、出力Outの電位をVSSレベルにプルダウンす
る。
第1図の出力回路によれば、CMOSレベルの制御信号
入力をレベルシフトした高電圧信号をプッシュプル型の
出力段から出力することができる。この場合、出力プル
アップ用のDMOSトランジスタDMIたけでなく、出
力プルダウン用のDMOSトランジスタDM2のゲート
拳ソース間にも例えばIOV程度のツェナー電圧VZが
印加されるので、出力プルダウン用のDMOSトランジ
スタDM2のドレイン電流も前式(2)で表わされるよ
うになる。従って、出力プルアップ用のDMOSトラン
ジスタDMIのドレイン電流および出力プルダウン用の
DMOSトランジスタDM2のドレイン電流は、プロセ
スのばらつきによる閾値電圧のばらつきに殆んど依存し
なくなり、安定なスイッチング特性が得られるようにな
る。
入力をレベルシフトした高電圧信号をプッシュプル型の
出力段から出力することができる。この場合、出力プル
アップ用のDMOSトランジスタDMIたけでなく、出
力プルダウン用のDMOSトランジスタDM2のゲート
拳ソース間にも例えばIOV程度のツェナー電圧VZが
印加されるので、出力プルダウン用のDMOSトランジ
スタDM2のドレイン電流も前式(2)で表わされるよ
うになる。従って、出力プルアップ用のDMOSトラン
ジスタDMIのドレイン電流および出力プルダウン用の
DMOSトランジスタDM2のドレイン電流は、プロセ
スのばらつきによる閾値電圧のばらつきに殆んど依存し
なくなり、安定なスイッチング特性が得られるようにな
る。
また、Out端子の流出電流と流入電流とを等しくする
場合、出力プルアップ用のDMOSトランジスタDMI
のゲート・ソース間および出カブルダウン用のDMO8
トランジスタDM2のゲート・ソース間にほぼ同じツェ
ナー電圧Vzを印加することにより、出力プルダウン用
のDMOSトランジスタDM2のドレイン電流は出力プ
ルアップ用のDMO8トランジスタDMIのドレイン電
流とほぼ同じように大きくなってそのドレイン・ソース
間のオン抵抗が小さくなる。従って、この出力プルダウ
ン用のDMO8I−ランジスタDM2のチャネル幅を出
力プルアップ用のDMOSトランジスタDM1のチャネ
ル幅と同じに設計しても、出力プルアップ用のDMO3
トランジスタDMIのドレイン電流および出力プルダウ
ン用のDMO8トランジスタDM2のドレイン電流がほ
ぼ等しくなるので、チップサイズの縮小化を図ることが
できる。
場合、出力プルアップ用のDMOSトランジスタDMI
のゲート・ソース間および出カブルダウン用のDMO8
トランジスタDM2のゲート・ソース間にほぼ同じツェ
ナー電圧Vzを印加することにより、出力プルダウン用
のDMOSトランジスタDM2のドレイン電流は出力プ
ルアップ用のDMO8トランジスタDMIのドレイン電
流とほぼ同じように大きくなってそのドレイン・ソース
間のオン抵抗が小さくなる。従って、この出力プルダウ
ン用のDMO8I−ランジスタDM2のチャネル幅を出
力プルアップ用のDMOSトランジスタDM1のチャネ
ル幅と同じに設計しても、出力プルアップ用のDMO3
トランジスタDMIのドレイン電流および出力プルダウ
ン用のDMO8トランジスタDM2のドレイン電流がほ
ぼ等しくなるので、チップサイズの縮小化を図ることが
できる。
第2図は、他の実施例に係る出力回路を示しており、第
1図の出力回路と比べて、DMO8トランジスタDM3
の基板・ソース相互接続点と接地電位VSSとの間に第
1の定電流(11)源21および第2の定電流(I2)
源22を選択的に接続する切換回路20が設けられ、こ
の切換回路20の切換動作が例えば制御信号Bにより制
御されるように構成されている点が異なり、その他は同
じであるので第1図中と同一符号を付している。ここで
、11くI2である。
1図の出力回路と比べて、DMO8トランジスタDM3
の基板・ソース相互接続点と接地電位VSSとの間に第
1の定電流(11)源21および第2の定電流(I2)
源22を選択的に接続する切換回路20が設けられ、こ
の切換回路20の切換動作が例えば制御信号Bにより制
御されるように構成されている点が異なり、その他は同
じであるので第1図中と同一符号を付している。ここで
、11くI2である。
第2図の出力回路の基本的な動作は第1図の出力回路と
同様であるか、駆動信号出力OutがVCCレベルから
VSSレベルに下がる時は、出力プルダウン用のDMO
3トランジスタDM2のゲート・ソース間のツェナー・
ダイオードZ2に定電流を流してゲート・ソース間電圧
をVss電位からツェナー電圧Vzまで変化させればよ
いので、定電流11によりPNP l−ランジスタP3
を駆動して所定のオン電流を供給している。
同様であるか、駆動信号出力OutがVCCレベルから
VSSレベルに下がる時は、出力プルダウン用のDMO
3トランジスタDM2のゲート・ソース間のツェナー・
ダイオードZ2に定電流を流してゲート・ソース間電圧
をVss電位からツェナー電圧Vzまで変化させればよ
いので、定電流11によりPNP l−ランジスタP3
を駆動して所定のオン電流を供給している。
これに対して、駆動信号出力OutがVSSレベルから
Vccレベルに上がる時は、出力プルアップ用のDMO
8トランジスタDMIのゲート・ソース間のツェナー・
ダイオードZ1に定電流を流してゲート・ソース間電圧
をはVSS電位からVcc電位まで変化させると共にO
ut端子の容量負荷等を充電する必要があるので、定電
流■2によりPNP )−ランジスタP3を駆動して所
定のオン電流を供給している。
Vccレベルに上がる時は、出力プルアップ用のDMO
8トランジスタDMIのゲート・ソース間のツェナー・
ダイオードZ1に定電流を流してゲート・ソース間電圧
をはVSS電位からVcc電位まで変化させると共にO
ut端子の容量負荷等を充電する必要があるので、定電
流■2によりPNP )−ランジスタP3を駆動して所
定のオン電流を供給している。
第3図は、さらに他の実施例に係る出力回路を示してお
り、第1図の出力回路と比べて、出力プルアップ用のD
MO8トランジスタDMIの基板・ソース相互接続点と
駆動信号出力(Out)端子との間に逆電流防止用の高
耐圧用のダイオードDのアノード・カソード間が接続さ
れており、制御信号Aに代えて制御信号Cが与えられて
いる点が異なり、その他は同じであるので第1図中と同
一符号を付している。
り、第1図の出力回路と比べて、出力プルアップ用のD
MO8トランジスタDMIの基板・ソース相互接続点と
駆動信号出力(Out)端子との間に逆電流防止用の高
耐圧用のダイオードDのアノード・カソード間が接続さ
れており、制御信号Aに代えて制御信号Cが与えられて
いる点が異なり、その他は同じであるので第1図中と同
一符号を付している。
第3図の出力回路において、駆動信号出力Outがve
cレベルからVssレベルに下がる時の動作および駆動
信号出力OutがVSSレベルからVc’cレベルに上
がる時の動作は、制御信号Cを制御信号Aと同様に設定
すれば、第1図の出力回路と同様の動作が行われる。さ
らに、制御信号Bを“L”レベル、制御信号AおよびC
を“H” レベルにすれば、DMO8トランジスタDM
4およびDM5がそれぞ°れオンになるので、出力プル
アップ用のDMO8トランジスタDMIおよび出力プル
ダウン用のDMO8トランジスタDM2がそれぞれオフ
になり、Out端子が高インピーダンス状態になる。こ
の時、ダイオードDは、Out端子側からDMOSトラ
ンジスタDM4側への電流の逆流を防止する。
cレベルからVssレベルに下がる時の動作および駆動
信号出力OutがVSSレベルからVc’cレベルに上
がる時の動作は、制御信号Cを制御信号Aと同様に設定
すれば、第1図の出力回路と同様の動作が行われる。さ
らに、制御信号Bを“L”レベル、制御信号AおよびC
を“H” レベルにすれば、DMO8トランジスタDM
4およびDM5がそれぞ°れオンになるので、出力プル
アップ用のDMO8トランジスタDMIおよび出力プル
ダウン用のDMO8トランジスタDM2がそれぞれオフ
になり、Out端子が高インピーダンス状態になる。こ
の時、ダイオードDは、Out端子側からDMOSトラ
ンジスタDM4側への電流の逆流を防止する。
なお、本発明は種々の変形実施が可能であり、例えば上
記各実施例ではレベルシフト回路として高耐圧用のバイ
ポーラトランジスタP3を使用したが、これに代えて高
耐圧用のMOSトランジスタを使用してもよい。
記各実施例ではレベルシフト回路として高耐圧用のバイ
ポーラトランジスタP3を使用したが、これに代えて高
耐圧用のMOSトランジスタを使用してもよい。
[発明の効果]
上述したように本発明の出力回路によれば、出力プルダ
ウン用のMOSトランジスタのチャネル幅を出力プルア
ップ用のMO5+−ランジスタのチャネル幅と同じに設
計し、駆動信号出力端子の流出電流と流入電流とを等し
くすることが可能になり、しかも、出力用のMOSトラ
ンジスタのドレイン電流がプロセスのばらつきによる閾
値電圧のばらつきに殆んど依存しなくなるので、安定な
スイッチング特性が得られると共にチップサイズの縮小
化を図ることができる。
ウン用のMOSトランジスタのチャネル幅を出力プルア
ップ用のMO5+−ランジスタのチャネル幅と同じに設
計し、駆動信号出力端子の流出電流と流入電流とを等し
くすることが可能になり、しかも、出力用のMOSトラ
ンジスタのドレイン電流がプロセスのばらつきによる閾
値電圧のばらつきに殆んど依存しなくなるので、安定な
スイッチング特性が得られると共にチップサイズの縮小
化を図ることができる。
第1図は本発明の出力回路の一実施例を示す回路図、第
2図および第3図はそれぞれ本発明の出力回路の他の実
施例を示す回路図、第4図は従来の出力回路を示す回路
図である。 A、A、B、C・・・・・・制御信号入力、vcc・・
・・・・第1の電源電位(高電圧電源) Vss・・
・・・・第2の電源電位(接地電位) DMI〜DM
5・・・・・・DMOSトランジスタ、P3・・・・・
・PNP トランジスタ、Out・・・・・・駆動信号
出力、Zl・・・・・・第1の定電圧素子、Z2・・・
・・・第2の定電圧素子、D・・・・・・ダイオード。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 図 第 図 第 区
2図および第3図はそれぞれ本発明の出力回路の他の実
施例を示す回路図、第4図は従来の出力回路を示す回路
図である。 A、A、B、C・・・・・・制御信号入力、vcc・・
・・・・第1の電源電位(高電圧電源) Vss・・
・・・・第2の電源電位(接地電位) DMI〜DM
5・・・・・・DMOSトランジスタ、P3・・・・・
・PNP トランジスタ、Out・・・・・・駆動信号
出力、Zl・・・・・・第1の定電圧素子、Z2・・・
・・・第2の定電圧素子、D・・・・・・ダイオード。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 図 第 図 第 区
Claims (2)
- (1)ドレイン・ソース間が第1の電源電位と出力端子
との間に挿入された出力プルアップ用のMOSトランジ
スタと、 この出力プルアップ用のMOSトランジスタのゲート・
ソース間に接続された第1の定電圧素子と、 前記出力端子と第2の電源電位との間にドレイン・ソー
ス間が挿入された出力プルダウン用のMOSトランジス
タと、 この出力プルダウン用のMOSトランジスタのゲート・
ソース間に接続された第2の定電圧素子と、 前記出力プルアップ用のMOSトランジスタのゲート電
位および前記出力プルダウン用のMOSトランジスタの
ゲート電位を別々に制御する制御回路と を具備することを特徴とする出力回路。 - (2)前記出力プルアップ用のMOSトランジスタのソ
ースと前記出力端子との間に逆電流防止用素子が挿入さ
れていることを特徴とする請求項1記載の出力回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63308398A JPH02154516A (ja) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | 出力回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63308398A JPH02154516A (ja) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | 出力回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02154516A true JPH02154516A (ja) | 1990-06-13 |
Family
ID=17980584
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63308398A Pending JPH02154516A (ja) | 1988-12-06 | 1988-12-06 | 出力回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02154516A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004129101A (ja) * | 2002-10-07 | 2004-04-22 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 半導体集積回路装置 |
-
1988
- 1988-12-06 JP JP63308398A patent/JPH02154516A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004129101A (ja) * | 2002-10-07 | 2004-04-22 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 半導体集積回路装置 |
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