JPH02156391A - 薄片層内の平坦な物品を計数するための方法及び装置 - Google Patents

薄片層内の平坦な物品を計数するための方法及び装置

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JPH02156391A
JPH02156391A JP1255118A JP25511889A JPH02156391A JP H02156391 A JPH02156391 A JP H02156391A JP 1255118 A JP1255118 A JP 1255118A JP 25511889 A JP25511889 A JP 25511889A JP H02156391 A JPH02156391 A JP H02156391A
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layer
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ultrasound
individual
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JP1255118A
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Hanspeter Duss
ハンシュペーテル ドゥス
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Grapha Holding AG
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    • G06M7/08Counting of objects carried by a conveyor wherein the direction of movement of the objects is changed at the station where they are sensed
    • G06M7/10Counting of flat overlapped articles, e.g. of cards
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65HHANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
    • B65H2301/00Handling processes for sheets or webs
    • B65H2301/50Auxiliary process performed during handling process
    • B65H2301/54Auxiliary process performed during handling process for managing processing of handled material
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06MCOUNTING MECHANISMS; COUNTING OF OBJECTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は薄片層内の平坦な物品、例えば印刷用紙、雑誌
及び新聞を計数するための方法に関する。
本発明は更に、この方法を実施するための装置に関する
このような種類の公知の方法と装置においては、エネル
ギ源として、例えば赤外線光源又はレーザー光源のよう
な光源が用いられ、移動する薄片層に適宜の光線が当て
られ、薄片層の個別物品からの反射が検出且つ解析され
て、薄片層内で移送される個別物品の計数が行われる。
しかしながら、印刷物又はその他の平坦な物品は異なる
反射特性を有しているので、計数ミスの恐れがある。更
に、外部光線又は用紙処理において常に発生する塵芥に
よって、公知の計数装置の信頼性が損なわれ、その計数
精度が低下することがある。更に又、印刷物の公知の計
数方法では、場合によっては、突き出したり折れ曲がっ
たシートによって、誤った計数結果を招くことがある。
本発明は、光線及び塵芥の状態にかかわりなく信頼性の
ある計数精度を確保し得る前記の種類の方法及び該方法
を実施するための装置を提供することを目的としている
本発明の上記の目的は、特許請求の範囲第1乃至6項に
記載された本発明に基づく特徴によって、達成される。
移動する薄片層に超音波を当てることによって、それに
続く超音波反射の解析の際、薄片層内を移動する平坦な
物品の様々な反射力に対する計数精度を損なう悪影響及
び超音波を当てられる物品表面に対する時間的に変化す
る外部光線による悪影響をなくすることができる。
薄片層が超音波エネルギ源の作用領域を通過する際、各
々の個別物品に時間的な間隔を置いて繰り返し超音波パ
ルスを当てることが好適である。
それによって、超音波放射源から薄片層までの各超音波
パルスの伝播時間及び薄片層から超音波受信機へ反射さ
れる超音波パルスの反響の伝播時間が測定され、且つ引
き続き、前記個別物品を計数する目的でその存在を確認
するため、下にある各個別物品の測定値及び当該の個別
物品の測定値及び時間的に先行する個別物品の測定値が
相互に比較され且つ解析され得る。
好適には、放射エネルギ源から薄片層までの各超音波パ
ルスの伝播時間、及び、互いに傾いた二つの方向で薄片
層から二つの超音波受信機へ反射される反響の伝播時間
が測定且つ解析される。
この処理の際、音響探索器を用いて、二つの異なる地点
から、移動する薄片層の二つの異なる表面プロフィルが
連続的に生成される。
それによって、薄片層内のそのつど隣接する冊子上に載
置された平坦な物品の狭い側(重ね目)は、薄片層内を
移動する平坦な物品の広い側のプロフィルの検出ととも
に、物品の端部の折れ曲がりや突き出したシートのよう
な偽の縁と確実に区別することができ、従って個別物品
の計数のために正しく検出され得る。
次に、本発明の実施例を、添付図面を参照して、詳細に
説明する。
第1図に示すように、滑り板1上で、搬送面3を形成す
る2つの平行な、互いに間隔を隔てたエンドレスの搬送
ベルト2が滑動する。図示した実施例では、搬送ベルト
2上で、薄片層内の印刷物が撤退方向4に搬送される。
薄片層は、実際的に不可避である空隙5によって、2つ
の部分6と6′とに区分されている。
搬送ベルト2の上方には、超音波送信機7が配置されて
おり、超音波送信機7は薄片層6及び6′に対して絞り
8によって集束された形態で、軸9の方向に超音波を当
てる。超音波送信機7は、同じハウジング内に超音波受
信機7′を備えており、超音波受信機7′は軸線9に沿
って薄片層6.6′から反射された超音波を受信し、且
つこれに対応する受信信号を発するように構成されてい
る。超音波送信機7及び超音波受信機7′の軸線9にお
いては、滑り面1は開口部10を備えており、この開口
部は更に、超音波送信機7から更に離れており、滑り面
1に固定され、且つ反射基準面11を形成している角部
材12を備えている。
薄片層6及び6′が通過する際、超音波送信機7から放
射されて、薄片層内に配置された印刷物の広い側とほぼ
垂直に延びる超音波は、前記印刷物によって、あるいは
、薄片層内に空隙5がある場合には開口部10の基準面
11によって、反射され、その際、軸線9に沿って戻る
超音波反響が超音波受信機7′によって検出され、且つ
電気信号として制御装置13を介してデータ解析装置1
4へ伝送される。制御装置13は、適宜の制御信号によ
って、超音波送信機7が連続的に超音波パルスを発する
ようにさせ、超音波送信機7から、印刷物の通過の際に
複数の超音波パルスが発されるように構成されている。
図示した印刷物の重ね目方向、即ち各重ね目の上縁方向
(一般的には印刷物の上縁の向き)には、超音波送信機
7の後方に(薄片層が逆向きの場合には、前方に)第2
の超音波受信機15が配設され、その受信軸線16は薄
片層6の領域で超音波送信器の軸線9と交差し、且つ、
その受信軸線16は、そのつど前記領域にある薄片層6
の印刷物の重ね目17の方向を向いている。それによっ
て、受信機I5は、超音波送信機7からパルス状に放射
され、軸線16において重ね目17により拡散する第2
の反響を検出する。超音波受信機15から検出された反
響は、これも又、電気信号として制御装置13を介して
データ解析装置14へと伝送される。
その後、データ解析装置14は、制御装置13を介して
、一方では超音波送信機7による超音波パルスのそのつ
どの放射の時間間隔をおき、他方では超音波受信機7′
もしくは15内での反古の発生の時間間隔をおいて、超
音波受信機7′及び15の電気反響パルスを受信する。
データ解析装置14は、次のように構成されている。即
ち、その情報から、一方では、超音波送信機7から同じ
場所に位置する超音波受信機7′までの、又、他方では
、第2の超音波受信機15までの超音波パルスの音波の
伝播時間が、ひいては対応する間隔が計算できるように
なっている。
薄片層6.6′が超音波送信機7の作用領域を通過する
際の処理、及びデータ解析装置の機能を更に説明するた
め、つぎに第2図を参照する。第2図には超音波送信機
7から超音波受信機7′に戻るまでの、又、超音波受信
機15に戻るまでの、データ解析装置によって探査され
た間隔すなわち行程距離が概略的に示されている。この
図では、第1図の処理の時間的経過と直接垂直に一致さ
せるため、時間軸tと、距離軸dはやや変則的に配置さ
れている。従って、第2図では、時間軸tは右から左へ
(時間の進展に沿って)、又、距離軸は上から下へ(正
の距離値に沿って)延びている。
この場合、列d1の測定値は超音波受信機7′から受信
した反響信号に該当し、列d2の測定値は超音波受信機
15から受信した反響信号に該当する。
超音波受信機7′の軸線でもある超音波送信機7の軸線
9は撤退面3に垂直であるので、測定値列d1は第1図
に示した薄片層のプロフィルと基本的に対応する推移を
示す。この場合い、小さい十字で示された測定値dlは
、制御装置13により超音波送信機7から超音波パルス
が放射された時点において、データ解析装置14によっ
て算出された超音波送信機7から超音波受信機7′まで
の超音波の行程距離を示している。更に、第2図の測定
値列diから明らかなように、超音波送信機7の領域に
おいて薄片層6と6′との間に空隙がある場合には大幅
に高い測定値が得られる。何故ならば、この場合、超音
波パルスは、開口部10があるので、更に離れた位置に
ある角部材12の基準面11によって反射されるからで
ある。
測定値列d2の推移は、測定値d2が基本的にそのつど
、より小さい行程距離へと傾斜した直線上に位置してい
る個々の区分から構成されている。
これは、重ね目17が超音波送信機7の作用範囲にある
限り、超音波受信機15にとって各重ね目17は、超音
波送信機7から発される超音波パルスの拡散の源である
ことによるものである。薄片層6及び6′の搬送方向4
への連続的な前進に伴って、各重ね目、即ち、各超音波
拡散源は、連続的に受信fi15に接近するので、第2
図に示すように、測定値d2は、少なくともほぼ直線上
に位置するのである。
さて、連続的に得られる測定値d1及びd2から、薄片
層6及び6′内にそのつど個別物品、例えば印刷物が存
在し、計数すべきであるか否かの判断基準を形成するた
め、第1図のデータ解析装置14は次のような動作機能
を備えている。
■)データ解析装置14のそのつどの測定及び解析手順
の開始は、特定の時点t (n)に制御装置13によっ
て開放され、その際、制御装置13は対応する制御信号
によって超音波送信機7による超音波パルスも開放せし
める。
2)超音波受信fi?’及び15に到達する超音波反響
パルスの伝播時間が測定される。そこからデータ解析装
置14が対応する測定値di及びd2を前記時点t (
n)における行程距離として計算する。
3)データ解析装置14は、測定値d2がt(n)の時
点に存在するか否かを吟味する。否である場合は、デー
タ解析装置14は初期状態に戻る。
即ち、制御装置13によるつぎの制御信号の放出に際し
て測定及び解析行程が新たに開始される。
4)測定値d2がt (n)の時点に存在する場合には
、データ解析装置14は測定値d2がt(n)の時点で
測定値d2の前から二番目の直線g(n−1)に「適合
して」いるか否かを吟味する。この際留意すべき点は、
データ解析装置14は、そのつど重ね目17の測定値d
2から対応する直線gを算出し、且つ記憶し、その際、
直線g(n−1)は前から二番目の重ね目の測定値d2
に関し、又、直線g (n)は前の重ね目17に関する
直線であることである。更に「適合」という判断基準は
、t (n)の時点で当該測定値d2が特定の最大誤差
よりも小さい、言い換えると、特定の最大測定値偏差よ
りも小さい間隔dを有しているものとして理解される。
このような最大誤差としては、第2図に明示されている
ように、例えば時点t  (n)における測定値d2と
、最後の、即ち直前の直線g(n)との距離の半分と定
めることができる。
この意味において、時点t (n)での測定値d2が前
から二番目の直線g(n−1)と適合する場合は、デー
タ解析装置は初期状態に戻る。
即ち、既に3)項で述べたとおり、新たに手順が開始さ
れる。
5)この意味において、時点t (n)での測定値d2
が前から二番目の直線g(n−1)と適合しない場合に
は、データ解析装置14はt (n)の時点での測定値
d2が直前の直線g (n)と適合するか否かを吟味す
る。適合する場合には、データ解析装置は新たに初期状
態(開始)に戻る。
6)第2図の時点t (n)の時点の状態に対応するよ
うに否である場合は、データ解析装置14は新たな直線
g (n+1)を算出する。引き続き、データ解析装置
14は、前の直線g (n)が重ね目17から発したも
のであるか否かを吟味する。これに加えてデータ解析装
置14は、蓋然性テストを行う。即ち超音波受信i7′
、の対応する測定値d1があるか否かを吟味する。
ある場合には、データ解析装置14において個別物品、
即ち、例えば印刷物の冊子の計数が行われる。例えば、
第2図で空隙5がある場合のように、蓋然性テストの結
果が否である場合には、データ解析装置14は冊子を計
数せずに初期状態(開始)に戻る。
これまで述べてきたデータ解析装置14の制御装置13
と連携した動作手順によって、移動する薄片層6及び6
′の個別物品の確実性の高い、有効な計数が達成される
。このような動作手順は、データ解析装置14に適宜の
プログラム可能なマイクロプロセッサを備えることによ
って簡単に達成することができる。
超音波パルスの前述の反響探査測定のために、双方の超
音波受信機7′及び15のうちの一つだけを配設し、従
って双方の測定値打d1乃至d2のうちの一つだけを生
成して解析することも、それ自体としては考えられよう
。しかし、これは前記の第1図及び第2図で説明した装
置と比較して、それほどコスト節減にはならない。とこ
ろが、薄片層内の個別物品の計数の信頼性は大幅に低減
するであろう。
第1図に基づいて説明した装置及び第2図に基いて説明
した動作手順によって、好適に追加費用なしで薄片層6
及び6′の搬送方向4への搬送速度を測定することも可
能である。データ解析装置14内では測定値d2の直線
g (n −1)、 g(n)及びg (n+1)が算
出されるので、データ解析装置14内にはこれらの直線
の勾配に関する情報がある。従って、データ解析装置1
4は、これらの直線の勾配、即ち第2図に示した傾斜角
αもしくは傾斜角αの正接を計算することが出来る。タ
ンジェントαの値は薄片層の搬送速度と比例するのでデ
ータ解析装置の適宜の表示によって前記搬送速度をいつ
でも見ることができる。
これまで説明してきた方法と装置は、薄片層内の個別物
品の確実な計数のため、極めて広範な薄片層の速度、例
えば毎秒0乃至1(11)個の個別物品の通過速度の範
囲に利用することができる。超音波送信機7の超音波の
周波数は、好適には、40乃至1(11)KHzであり
、一方超音波パルスの周波数は、3(11)乃至1(1
1)0Hzである。第1図の装置に超音波受信機7′及
び15を配設する際に、薄片層6における軸線9もしく
は16の共通の交点から測定した超音波受信機7′ (
ひいては超音波送信機7)までの間隔は例えば5cfl
l乃至20cmであり、超音波受信機までの間隔は5 
cm乃至30c+nであることを更に指摘しておく。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による装置の実施例を示す概略構成図
である。 第2図は、2つの超音波受信機によって受信された移動
する薄片層のプロフィル測定値を示す線図である。 (符号の説明) 1・・・・滑り面 2・・・・搬送ベルト 3・・・・搬送面 4・・・・搬送方向 5・・・・空隙 6.6′・・・・薄片層 7・・・・超音波送信機 7′・・・・超音波受信機 8・・・・絞り 9・・・・軸線 0・・・・開口部 1・・・・基準面 2・・・・角部材 3・・・・制御装置 4・・・・データ解析装置 5・・・・第2の超音波受信機 6・・・・受信軸線 7・・・・重ね目

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)薄片層が波形エネルギを放射するエネルギ源の作
    用領域を縦方向に通過し、且つその表面に前記エネルギ
    が当てられ、且つ当てられたエネルギによってそのつど
    薄片層の各個別物品と連携して生成されるパラメタが個
    別物品の計数に利用される形式の薄片層内の平坦な物品
    、例えば印刷用紙、雑誌及び新聞を計数するための方法
    において、移動する薄片層には超音波が当てられること
    を特徴とする方法。
  2. (2)薄片層がエネルギ源の作用領域を通過する際に、
    各個別物品には時間間隔をおいて繰り返し超音波パルス
    が当てられ、更に各超音波パルスの放射エネルギ源から
    薄片層までの伝播時間、及び薄片層から少なくとも一つ
    の固定された超音波受信機へと反射される超音波パルス
    の反響の伝播時間が測定され、且つ引き続き前記個別物
    品を計数する目的でその存在を確認するため、下にある
    各個別物品の測定値及び当該個別物品の測定値及び時間
    的に先行する個別物品の測定値が相互に解析されること
    を特徴とする請求項(1)記載の方法。
  3. (3)放射エネルギ源から薄片層までの各超音波パルス
    の伝播時間及び互いに傾いた二つの方向で、薄片層から
    二つの超音波受信機へ反射される反響を伝播時間が測定
    且つ解析されることを特徴とする請求項(2)記載の方
    法。
  4. (4)エネルギ源からの超音波は軸線を中心として、好
    適には薄片層の面上に少なくともほぼ垂直に位置する軸
    線を中心として集束されて薄片層へと向けられることを
    特徴とする請求項(1)乃至(3)のいずれか1項に記
    載の方法。
  5. (5)エネルギ源から薄片層へと投射される超音波の軸
    方向の超音波パルスの反響の伝播時間及び薄片層の運動
    方向の軸線に対して傾斜した方向の別の反響が測定され
    且つ解析されることを特徴とする請求項(3)又は(4
    )記載の方法。
  6. (6)薄片層(6、6′)用の搬送装置(1、2)を備
    えた搬送面(3)と、制御装置(13)により操作可能
    であって、制御装置(13)の制御信号に応じて搬送面
    (3)の領域にパルス状に超音波を当てるための搬送面
    (3)の方向を向いた超音波送信機(7)と、前記搬送
    面(3)の領域を向いた少なくとも一つの超音波受信機
    (7′、15)と、制御信号に応じて各超音波受信機(
    7′、15)の信号を解析するためのデータ解析装置(
    14)とを備えたことを特徴とする請求項(1)記載の
    方法を実施するための装置。
  7. (7)前記搬送面(3)の領域を向いた二つの超音波受
    信機(7′、15)は、互いに間隔を隔てて配置されて
    いることを特徴とする請求項(6)記載の装置。
  8. (8)超音波送信機(7)及び各超音波受信機(7′)
    の中心軸線(9、16)は、搬送面(3)の前記領域と
    交差し、且つ搬送面(3)と垂直で、搬送方向と平行な
    面内に位置することを特徴とする請求項(6)又は(7
    )記載の装置。
  9. (9)超音波受信機の一つ(7′)の中心軸線は、超音
    波送信機(7)の中心軸線と一致することを特徴とする
    請求項(6)乃至(8)のいずれか1項に記載の装置。
  10. (10)前記領域内の搬送面(3)は、薄片層(6、6
    ′)の個別物品の少なくとも一つが欠落しているときに
    、その伝播時間が前記領域に存在する薄片層の個別物品
    からの反響の伝播時間と測定可能に異なっている超音波
    パルスの反響を確認可能であるように開口部(10)を
    有していることを特徴とする請求項(6)乃至(9)の
    いずれか1項に記載の装置。
  11. (11)データ解析装置(14)は、時間的推移及びそ
    れに伴う測定値の大きさを把握し且つ処理するための計
    数及び計算手段を備えていることを特徴とする請求項(
    6)記載の装置。
JP1255118A 1988-09-30 1989-09-29 薄片層内の平坦な物品を計数するための方法及び装置 Pending JPH02156391A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CH3654/88-2 1988-09-30
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ID=4260659

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US (1) US5005192A (ja)
EP (1) EP0361071B1 (ja)
JP (1) JPH02156391A (ja)
AT (1) ATE115313T1 (ja)
CH (1) CH676890A5 (ja)
DE (1) DE58908728D1 (ja)

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