JPH02165037A - クロマトスキャナ - Google Patents
クロマトスキャナInfo
- Publication number
- JPH02165037A JPH02165037A JP32287388A JP32287388A JPH02165037A JP H02165037 A JPH02165037 A JP H02165037A JP 32287388 A JP32287388 A JP 32287388A JP 32287388 A JP32287388 A JP 32287388A JP H02165037 A JPH02165037 A JP H02165037A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sample
- slit
- spectrometer
- measurement
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/5907—Densitometers
- G01N21/5911—Densitometers of the scanning type
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は薄層クロマトプレートや電気泳動ゲルを試料と
し、試料上を光学的に走査して測定を行なう二次元クロ
マトスキャナに関するものである。
し、試料上を光学的に走査して測定を行なう二次元クロ
マトスキャナに関するものである。
（従来の技術）
二次元クロマトスキャナでは、試料上での入射光の照射
点を移動させる方式がある。そのような方式のクロマト
スキャナの一例を第４図に示す。
点を移動させる方式がある。そのような方式のクロマト
スキャナの一例を第４図に示す。
光源及び分光器２と測定試料４の間にスリット円盤６を
設け、分光器の出口スリットによって出力光８を細長い
帯状のものとする。スリット円盤６にはその出力光８の
一部を通過させるスリット１０を設け、スリット１０を
通過した光を試料４に投影させる。スリット円ＩＪ１６
の回転に伴なってスリット１０が移動し、照射点８ａも
矢印で示されるように試料４上で移動する。
設け、分光器の出口スリットによって出力光８を細長い
帯状のものとする。スリット円盤６にはその出力光８の
一部を通過させるスリット１０を設け、スリット１０を
通過した光を試料４に投影させる。スリット円ＩＪ１６
の回転に伴なってスリット１０が移動し、照射点８ａも
矢印で示されるように試料４上で移動する。
照射点８ａが移動することにより、試料４上の試料スポ
ットによる反射光、透過光又は蛍光を光検出器によって
検出し、試料の同定や定量がなされる。
ットによる反射光、透過光又は蛍光を光検出器によって
検出し、試料の同定や定量がなされる。
照射点８ａが第５図（Ａ）に示されるように移動すると
、試料スポット１２が存在するときに、同図（Ｂ）に示
されるよ・うに反射光又は透過光の光強度が変化する。
、試料スポット１２が存在するときに、同図（Ｂ）に示
されるよ・うに反射光又は透過光の光強度が変化する。
試料からの反射光、透過光又は蛍光を検出するために、
通常は光電子増倍管が使用される。光電子増倍管では光
源光量の変動などにより検出出方が変化するのを避ける
ために、ダイノードフィードバック回路が設けられる。
通常は光電子増倍管が使用される。光電子増倍管では光
源光量の変動などにより検出出方が変化するのを避ける
ために、ダイノードフィードバック回路が設けられる。
もし、スリット円盤６を一方向に回転させるとすれば、
スリット１０が分光器出力光８の範囲から外れると試料
４に入射する光がなくなり、光電子増倍管の受光量が０
になる。その結果、ダイノードフィードバックによって
光電子増倍管の負高圧が最高電圧になってしまい、光電
子増倍管に悪影響がでる。そのため、スリット円盤６に
よって照射点８ａを移動させるクロマトスキャナでは、
スリット円盤６を一方向に回転させず、スリット１ｏが
分光器出力光８の範囲から出ないようにスリット円ｆｆ
１６を往復回転させている。
スリット１０が分光器出力光８の範囲から外れると試料
４に入射する光がなくなり、光電子増倍管の受光量が０
になる。その結果、ダイノードフィードバックによって
光電子増倍管の負高圧が最高電圧になってしまい、光電
子増倍管に悪影響がでる。そのため、スリット円盤６に
よって照射点８ａを移動させるクロマトスキャナでは、
スリット円盤６を一方向に回転させず、スリット１ｏが
分光器出力光８の範囲から出ないようにスリット円ｆｆ
１６を往復回転させている。
（発明が解決しようとする課題）
スリット円盤６を往復回転させると、一方向に回転させ
る場合に比べてずっと遅い速度でしか回転させることが
できず、したがって照射点８ａの走査速度が遅くなる。
る場合に比べてずっと遅い速度でしか回転させることが
できず、したがって照射点８ａの走査速度が遅くなる。
本発明は、測定位置を変化させるためのスリット円盤に
対応する回転盤を一方向に回転させ、しかもダイノード
フィードバックによって光電子増倍管に悪影響が出ない
方式のクロマトスキャナを提供することを目的とするも
のである。
対応する回転盤を一方向に回転させ、しかもダイノード
フィードバックによって光電子増倍管に悪影響が出ない
方式のクロマトスキャナを提供することを目的とするも
のである。
（課題を解決するための手段）
本発明では測定光である分光器出力光の一部のみを遮り
、その遮られた部分が試料上で移動することにより試料
を光学的に走査するようにし、試料には常に一定量以上
の測定光が照射されるようにして光電子増倍管への入射
光量が０にならないようにする。
、その遮られた部分が試料上で移動することにより試料
を光学的に走査するようにし、試料には常に一定量以上
の測定光が照射されるようにして光電子増倍管への入射
光量が０にならないようにする。
そのため、本発明では、従来のスリット円盤に対応する
回転盤に、試料に照射される測定光の一部のみを遮る遮
蔽部を設け、この回転盤を一方向に回転させる。
回転盤に、試料に照射される測定光の一部のみを遮る遮
蔽部を設け、この回転盤を一方向に回転させる。
（作用）
測定光の一部のみを遮る構成にすると、試料には残りの
測定光が常に入射し、光検出器には常に一定量以上の光
量が入射するので、光電子増倍管のダイノードフィード
バック回路による負高圧出力も常に一定電圧以下に維持
される。
測定光が常に入射し、光検出器には常に一定量以上の光
量が入射するので、光電子増倍管のダイノードフィード
バック回路による負高圧出力も常に一定電圧以下に維持
される。
回転盤を一方向に回転させても、一定量以上の光量が試
料に入射する点に変わりはないので、回転盤を高速回転
させることができる。
料に入射する点に変わりはないので、回転盤を高速回転
させることができる。
（実施例）
第１図は一実施例を概略的に表わしたものである。第４
図と同じ部分には同じ記号を使用する。
図と同じ部分には同じ記号を使用する。
光源及び分光器２には光源として例えば可視領域を測定
するためのタングステンランプと紫外領域を測定するた
めの重水素ランプが備えられており、いずれかのランプ
を選択して分光器に入射させるようになっている。分光
器には回折格子が設けられており、分光されて単一波長
となった光が出口スリットによって細長い出力光８とな
って試料４に照射される。
するためのタングステンランプと紫外領域を測定するた
めの重水素ランプが備えられており、いずれかのランプ
を選択して分光器に入射させるようになっている。分光
器には回折格子が設けられており、分光されて単一波長
となった光が出口スリットによって細長い出力光８とな
って試料４に照射される。
光源及び分光器２と試料４の間には回転盤１４が設けら
れている。回転盤１４は例えば石英ガラス板に金属薄板
の遮蔽部１６を貼りつけたものである。遮蔽部１６は分
光器出力光８の一部のみを遮る大きさに形成されている
。
れている。回転盤１４は例えば石英ガラス板に金属薄板
の遮蔽部１６を貼りつけたものである。遮蔽部１６は分
光器出力光８の一部のみを遮る大きさに形成されている
。
回転盤１４を通過した分光器出力光８は、遮蔽部１６が
分光器出力光８の範囲内にあるときにはその一部が遮ら
れた形状となり、遮蔽部１６が分光器出力光８から外れ
たときには分光器出力光８の全てが試料４に照射される
。
分光器出力光８の範囲内にあるときにはその一部が遮ら
れた形状となり、遮蔽部１６が分光器出力光８から外れ
たときには分光器出力光８の全てが試料４に照射される
。
第２図により本実施例の動作を説明する。
回転盤１４を一方向に回転させると、照射光８ｂのうち
の遮蔽部分１８が矢印方向に一方向に移動する。照射光
８ｂの範囲内に試料スポット１２があるときは、試料上
の照射光８ｂは、一部が試料スポット１２によって吸収
されて反射又は透過し、又は試料スポット１２から蛍光
を発して検出器の光電子増倍管に入射する。
の遮蔽部分１８が矢印方向に一方向に移動する。照射光
８ｂの範囲内に試料スポット１２があるときは、試料上
の照射光８ｂは、一部が試料スポット１２によって吸収
されて反射又は透過し、又は試料スポット１２から蛍光
を発して検出器の光電子増倍管に入射する。
遮蔽された部分１８が移動することによって、光電子増
倍管の光検出強度は第２図（Ｂ）に示されるように変化
する。この光検出信号では、遮られた部分１８が照射光
８ｂに現われていない状態の光強度Ｉｏを基準とし、遮
られた部分１８が照射光８ｂに現われているときの光強
度工がＩｏから減少している部分を検出することにより
、従来の第゛５図（Ｂ）の検出信号のデータ処理回路と
同じデータ処理回路を用いて試料測定を行なうことがで
きる。
倍管の光検出強度は第２図（Ｂ）に示されるように変化
する。この光検出信号では、遮られた部分１８が照射光
８ｂに現われていない状態の光強度Ｉｏを基準とし、遮
られた部分１８が照射光８ｂに現われているときの光強
度工がＩｏから減少している部分を検出することにより
、従来の第゛５図（Ｂ）の検出信号のデータ処理回路と
同じデータ処理回路を用いて試料測定を行なうことがで
きる。
回転盤１４において、遮蔽部１６の形状は図のようなも
のに限らない。例えば、分光器出力光８が回転盤１４の
半径方向になるように配置し、遮蔽部１６が回転角に比
例して中心からの距離の増分が表われる螺旋状にするこ
ともできる。
のに限らない。例えば、分光器出力光８が回転盤１４の
半径方向になるように配置し、遮蔽部１６が回転角に比
例して中心からの距離の増分が表われる螺旋状にするこ
ともできる。
また、遮蔽部１６は１個に限らず、２個以上にしてもよ
い。
い。
第３図に一実施例における信号処理系を示す。
２０は光電子増倍管であり、ダイノードフィードバック
回路を備えて光源光量の変動などを補正するようになっ
ている。光電子増倍管２０の出力信号はプリアンプ２２
で増幅されて、差動増幅器２４の反転入力画に入力され
ている。プリアンプ２２の出力信号はまた、スイッチ２
６を経て増幅器２８に入力され、その増幅器２８の入力
端子にはコンデンサ３ｏが接続されている。増幅器２８
とコンデンサ３０でサンプルホールド回路を構成してい
る。増幅器２８の出力信号は差動増幅器２４の非反転入
力側に入力されている。スイッチ２６は回転盤１４の回
転駆動用パルスモータの駆動回路からの信号により、又
は回転盤１４の回転位置を検出する別途設けたセンサか
らの信号により制御され、遮蔽部１６が分光器出力光８
の外側にあるときにスイッチ２６がオンになり、遮蔽部
１６が分光器出力光８の範囲内にあるときにスイッチ２
６がオフになる。
回路を備えて光源光量の変動などを補正するようになっ
ている。光電子増倍管２０の出力信号はプリアンプ２２
で増幅されて、差動増幅器２４の反転入力画に入力され
ている。プリアンプ２２の出力信号はまた、スイッチ２
６を経て増幅器２８に入力され、その増幅器２８の入力
端子にはコンデンサ３ｏが接続されている。増幅器２８
とコンデンサ３０でサンプルホールド回路を構成してい
る。増幅器２８の出力信号は差動増幅器２４の非反転入
力側に入力されている。スイッチ２６は回転盤１４の回
転駆動用パルスモータの駆動回路からの信号により、又
は回転盤１４の回転位置を検出する別途設けたセンサか
らの信号により制御され、遮蔽部１６が分光器出力光８
の外側にあるときにスイッチ２６がオンになり、遮蔽部
１６が分光器出力光８の範囲内にあるときにスイッチ２
６がオフになる。
３２は透過率を吸光度に変換する吸光度変換器であり、
３４はデータ処理部である。吸光度変換器３２から後の
構成は従来からも用いられているものである。データ処
理部３４には、例えばスポット検出・積算部３６、スポ
ット面積算出部３８、濃度変換部４０及びスポット濃度
算出部４２などが含まれている。
３４はデータ処理部である。吸光度変換器３２から後の
構成は従来からも用いられているものである。データ処
理部３４には、例えばスポット検出・積算部３６、スポ
ット面積算出部３８、濃度変換部４０及びスポット濃度
算出部４２などが含まれている。
次に第３図の信号処理系の動作を説明する。
回転！１４が回転し、遮蔽部１６が分光器出力光８の範
囲から外れているときに、スイッチ２６がオンになって
サンプルホールド回路２８．３０には第２図（Ｂ）の基
準レベル■０が保持される。
囲から外れているときに、スイッチ２６がオンになって
サンプルホールド回路２８．３０には第２図（Ｂ）の基
準レベル■０が保持される。
遮蔽部１６が分光器出力光８の範囲内に入ってくると、
スイッチ２６はオフになり、測定信号（第２図（Ｂ）の
工）は差動増幅器２４の反転入力側に入力され、差動増
幅器２４の非反転入力側にはサンプルホールド回路２８
．３０からの基準レベル■０が入力されて、引き算され
、透過率が吸光度変換器３２に送られる。
スイッチ２６はオフになり、測定信号（第２図（Ｂ）の
工）は差動増幅器２４の反転入力側に入力され、差動増
幅器２４の非反転入力側にはサンプルホールド回路２８
．３０からの基準レベル■０が入力されて、引き算され
、透過率が吸光度変換器３２に送られる。
第３図の信号処理系で、データ処理部３４での処理を例
えばマイクロコンピュータを用いてデジタル的に行なう
ようにしてもよい。また、プリアンプ２２より後の回路
を全てマイクロコンピュータに置き換えてデジタル的に
行なうようにしてもよい。
えばマイクロコンピュータを用いてデジタル的に行なう
ようにしてもよい。また、プリアンプ２２より後の回路
を全てマイクロコンピュータに置き換えてデジタル的に
行なうようにしてもよい。
（発明の効果）
本発明では回転盤に測定光の一部のみを遮る遮蔽部を設
けたので、光強度の検出に光電子増倍管を使用した場合
に、常に一定量以上の測定光が存在するので、ダイノー
ドフィードバック回路によっても負高圧が過大な電圧に
ならない。そのため、回転盤を往復運動ではなく、一方
向に回転させることができるようになり、試料スポット
の走査速度を高めることができる。
けたので、光強度の検出に光電子増倍管を使用した場合
に、常に一定量以上の測定光が存在するので、ダイノー
ドフィードバック回路によっても負高圧が過大な電圧に
ならない。そのため、回転盤を往復運動ではなく、一方
向に回転させることができるようになり、試料スポット
の走査速度を高めることができる。
第１図は一実施例を示す概略斜視図、第２図（Ａ）は一
実施例の測定動作を示す図、同図（Ｂ）は一実施例の測
定波形を示す図、第３図は一実施例における信号処理系
を示すブロック図、第４図は従来のクロマトスキャナを
示す概略斜視図、第５図（Ａ）は同従来例の測定動作を
示す図、・同図（Ｂ）は同従来例の測定波形を示す図で
ある。 ２・・・・・・光源及び分光器、８・・・・・・分光器
出力光、４・・・・・・試料、８ｂ・・・・・・照射光
、１６・・・・・・遮蔽部。 特許出願人 株式会社島津製作所
実施例の測定動作を示す図、同図（Ｂ）は一実施例の測
定波形を示す図、第３図は一実施例における信号処理系
を示すブロック図、第４図は従来のクロマトスキャナを
示す概略斜視図、第５図（Ａ）は同従来例の測定動作を
示す図、・同図（Ｂ）は同従来例の測定波形を示す図で
ある。 ２・・・・・・光源及び分光器、８・・・・・・分光器
出力光、４・・・・・・試料、８ｂ・・・・・・照射光
、１６・・・・・・遮蔽部。 特許出願人 株式会社島津製作所
Claims (1)
- （１）回転盤を通過した測定光を試料に照射し、回転盤
を回転させて試料上の測定位置を変化させながら光学的
な測定を行なうクロマトスキャナにおいて、前記回転盤
には試料に照射される測定光の一部のみを遮る遮蔽部を
設け、前記回転盤を一方向に回転させることを特徴とす
るクロマトスキャナ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32287388A JPH02165037A (ja) | 1988-12-20 | 1988-12-20 | クロマトスキャナ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32287388A JPH02165037A (ja) | 1988-12-20 | 1988-12-20 | クロマトスキャナ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02165037A true JPH02165037A (ja) | 1990-06-26 |
Family
ID=18148563
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32287388A Pending JPH02165037A (ja) | 1988-12-20 | 1988-12-20 | クロマトスキャナ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02165037A (ja) |
-
1988
- 1988-12-20 JP JP32287388A patent/JPH02165037A/ja active Pending
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