JPH02167485A - 接続装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電気的接続技術、特に、半導体装置や電気部
品、電子機器等を選別装置のテスタ等に電気的に接続さ
せる技術に関し、例えば、半導体集積回路装置（以下、
ＩＣという。）の製造工程に使用されるｔＣハンドラに
おいて、ＩＣを電気的特性試験を実施するテスタに接続
するのに利用して有効なものに関する。

〔従来の技術〕

表面実装形パッケージを備えているＩＣとして、ＬＣＣ
（リードレス・チップ・キャリア）　・ＩＣがある。第
３図に示されているように、このＬＣＣ−ＩＣＩは平盤
形状に形成されたパッケージ２と、パッケージ内部のペ
レットに電気的に接続され、パッケージ２から露出され
ているアウタリード３群とを備えており、このアウタリ
ード３がパッケージ２の底面に形成されているメタライ
ズ部４と、パッケージ２の側面に没設された縦溝６内に
形成されているビア部５とにより構成されている。

このようなＬＣＣ−１，ＣＩについての選別検査を実行
する場合、第６図に示されているような接続装置が使用
される。この測子装置としての接続装置は、中空平盤形
状に形成されている外枠７と、外枠７の土壁に開設され
ている挿入口８と、外枠７の中空部において挿入口ＥＨ
こ対向するように整列されて植設されているコンタクト
部材９とを備えており、ＬＣＣ−ＩＣＩが挿入口８に挿
入された状態において、その挿入口８がパッケージ２の
側面に接触することにより、位置決めが確保さ採各コン
タクト部材９がアウタリード３におけるパッケージ２底
面のメタライズ部４にそれぞれ接触されるように構成さ
れている。

なお、ＩＣハンドラにおける測子装置（接続装置）技術
を述べである例としては、株式会社工業調査会発行「電
子材料１９８５年１］月号別冊」昭和６０年１１月２０
日　発行Ｐ２２２〜Ｐ２２６、実開昭６１−１３１６７
７号公報および実開昭６］−１３２７７４号公報、があ
る。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかし、第６図に示されているような接続装置において
は、コンタクト部材９とアウタリード３との整合が挿入
口８とパンケージ２との嵌合により確保されるようにな
っているため、挿入口８とパンケージ２との間に寸法的
余裕があり過ぎたり、挿入口８が使用により摩耗すると
、コンタクト部材９とアウタリード３との整合を確保す
ることができず、導通不良等が発生ずるという問題点が
あることが、本発明者↓こよって明らかにされた。

本発明の目的は、被接続物のアウタリードとコンタクト
部材とを確実に整合させることができる接続装置を提供
することにある。

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添イ」図面から明らかになるであろ
う。

すなわち、被接続物のアウタリードに接触して電気的に
接続されるコンタクト部材を備えている接続装置におい
て、このコンタクト部材に被接続物の底面においてアウ
タリードに接触する底面接触部と、被接続物の側面に接
触する側面接触部とを形成したものである。

〔作用〕

前記した手段によれば−コンタクト部材の側面接触部が
被接続物の側面に接触することにより、位置決めが確保
されるため、コンタクト部材を被接続物のアウタリード
に確実に整合させて接触させることができる。しかも、
コンタクト部材の摩耗が少なく、かつ、摩耗しても被接
続物の側面への接触は維持されるため、位置決め機能は
長期間保持することができる。

〔実施例■〕

第■図は本発明の一実施例である接続装置を示す縦断面
図、第２図はその作用を説明するための拡大部分縦断面
図、第３図はその一部省略斜視図である。

本実施例において、本発明に係る接続装置り。

はＬＣＣ・ＪＣＩを選別装置ムこおけるテスタ（図示せ
ず）に電気的に接続するものとして構成されており、第
３図に示されているように、その被接続物としてのＬＣ
Ｃ・ＩＣＬは略正方形の平盤形状に形成されたパッケー
ジ２を備えている。パッケージ２にはパッケージ２の内
部に封止されたペレット（図示せず）の集積回路を電気
的に引き出すためのアウタリード３が複数本、正方形の
四辺に配されて形成されており、アウタリード３はメタ
ライズ部４とビア部５とから構成されている。

メタライズ部４はパッケージ２の底面において各辺と直
角に配されて、金等のような導電性材料を用いて矩形形
状に形成されている。ビア部５はパンケージ２の側面に
おいて縦溝６の底部に形成されてメタライズ部４に接続
されており、縦溝６ば各メタライズ部４とそれぞれ接す
るように配されて、半円柱形の中空形状に没設されてい
る。

本実施例において、接続装置ＬＯは外枠１１を備えてお
り、外枠１１は合成樹脂等のような絶縁材料を用いられ
て、正方形の平盤中空形状に形成されている。外枠１１
の上面壁には挿入口１２がヘ　− 略中央部に配されて開設されており〜挿入口１２はＬＣ
Ｃ・ＩＣＩのパンケージ２と略等しい大きさの正方形形
状に形成されている。外枠１１の中空部内にはコンタク
ト部材１３が複数本、正方形の枠線上においてＬＣＣ−
ＩＣＬのアウタリード３にそれぞれ対応するように配さ
れて植設されており、コンタクト部材１３は適度な弾性
力を有する導電性材料を用いられ一体的に形成されてい
る。

各コンタクト部材１３は略Ｕ時形状に形成されている本
体部１４と、棒形状に形成されている端子部１５とを備
えており、本体部■４は開口側が中側を向くように横向
きに配され、端子部１５はその本体部■４における下側
部分の略中炎に垂直に突設されている。端子部１５は断
面正方形の棒形状に形成されており、外枠■１の下面壁
に下向きに突き出されている。端子部１５にはテスタの
リード線がそれぞれ接続されており（図示せず）〜各端
子部１５に接続されたリード線により各コンタクト部材
１３を通してＬＣＣ−ＩＣＩがテスタ↓こ接続されるこ
とになる。

コンタクト部材（３の本体部１４には底面接触部１６と
側面接触部１７とが内側先端部に形成されており、底面
接触部Ｌ６と側面接触部１７との間には切欠部１８が形
成されている。底面接触部１６は」二向きの突起形状に
突設されており、その上面がＬＣＣ−ＪＣＩのアウタリ
ード３にお番）るメタライズ部４に均一に接触するよう
に形成されている。側面接触部１７は横向きに配されて
指形状に突設されており、その先端部がＬＣＣ・ＩＣ１
の縦溝６に挿入し得るように形成されている。

切欠部Ｌ８は底面接触部１６と側面接触部１７との間に
凹字形状に形成されており、底面接触部１６と側面接触
部■７とにばね性をイ」与するようになっている。

次に作用を説明する。

テスタで電気的特性試験を受ける被測定物としてのＬＣ
Ｃ・１．　Ｃ１は、第１図に示されているように、コレ
ット１９によりその上面を真空吸着されて保持された状
態で、そのアウタリード３群を下向きにして挿入口１２
内に挿入されて行く。挿入口１２内に挿入されると、こ
の挿入口１２がＬＣＣ・ＩＣＩのパッケージ２と略等し
い大きさに開設されているため、ＬＣＣ・ＩＣＬはこの
接続装置１０に対して挿入口１２により位置合わせされ
ることになる。

挿入口■２によって接続装置■０に対して位置合わせさ
れたＬＣＣ−ＩＣＩがさらに下降されると、パッケージ
２がその側面をコンタクト部材■３の各側面接触部１７
に接してこれら側面接触部１７群内に挿入される状態に
なる。このとき、コンタクト部材１３群はパッケージ２
の四方に対向されているため〜パッケージ２はコンタク
ト部材１３の側面接触部１７群内に挿入されたことによ
り位置決めされたことになる。

続いて、側面接触部１７群内に挿入されたＬＣＣ・ＩＣ
Ｌがさらに下降されると、パッケージ２の底面がコンタ
クト部材１３の各底面接触部１６に接触される。

その接触後、ＬＣＣ−ＩＣＩが僅かに下降されると、第
２図に示されているように、パッケージ２によってコン
タクト部材■３の各底面接触部■６が押し上げられるこ
とにより、各コンタクト部材■３の側面接触部■７が内
側下向き方向に回動される。このとき、ＬＣＣ・ＩＣＩ
が挿入口１２により位置合わせされることにより、各側
面接触部１７がパンケージ２の縦溝６にそれぞれ略対向
されているため、各側面接触部１７は縦溝６にそれぞれ
挿入される。そして、底面接触部１６は側面接触部１７
と共にコンタクト部材１３に一体になっているため、こ
の挿入に伴って、底面接触部１６と共に微動され、縦溝
６に対向してパッケージ２の底面に配設されたメタライ
ズ部４に正確に接触されることになる。

この状態において、コンタクト部材１３はアウタリード
３に、底面接触部１６とメタライズ部４、および側面接
触部１７とビア部５の２箇所により電気的に接続される
。このとき、コンタクト部材１３における底面接触部１
６と側面接触部１７との間には切欠部１８が切設されて
いるため、底面接触部１６と側面接触部１７とはコンタ
クト部材■０ １３自体の弾性力によりアウタリート３に適切に押接さ
れた状態になっている。

ＬＣＣ−１ｃＩの各アウタリード３が各コンタクト部材
１３にそれぞれ電気的に接続されると、コンタクト部材
１３が端子部１５に接続されたリード線を通してテスタ
にそれぞれ接続されているため、ＬＣＣ−１，ＣＬとテ
スタとの間でテスト信号が交わされ、所望の電気的特性
試験が実行される。このとき、コンタクト部材１３はア
ウタリード３に底面接触部１６と側面接触部］７との２
箇所で接触されているため、接触抵抗少なく電気的に接
続された状態になっている。

所望の試験が終了すると、ＬＣＣ・ＩＣＩはコレット１
９により上昇されて接続装置１０の挿入口１２から抜き
出され、次工程へ移送される。以降、前記作動が繰り返
されることにより、ＬＣＣ・ＩＣＩにつき接続装置を介
して電気的特性試験が実行される。

前記実施例によれば次の効果が得られる。

（１）　　コンタクト部材１３に底面接触部１６と一体
的にＬＣＣ・Ｉｃの側面に接触する側面接触部１７を突
設することにより、接続時にコンタクト部材１３の側面
接触部１７を被接続物の側面に接触させることによって
、ＬＣＣ・ＩＣとコンタクト部材■３とを正確に整合さ
せることができるため、コンタクト部材１３をアウタリ
ートに確実に接続させることができ、その結果、電気的
特性試験等のような接続装置を介して実行される処理の
精度および信頼性を高めることができる。

（２）　　コンタクト部材１３の側面接触部１７によっ
てＬＣＣ・ＩＣを位置決めすることにより、コンタクト
部材１３をＬＣＣ・ＩＣに直接的に位置決めさせること
ができるため、従来のように、Ｌ　ＣＣ・ＩＣの位置決
めをＬＣＣ・ＩＣのパッケージと接続装置の挿入口Ｌ２
との嵌合により実行する場合に比べて、位置合わせ精度
を高めることができるとともに、挿入口１２の摩耗等に
よる位置合わせ精度の低下を回避することができる。

（３）　　コンタクト部材１３の底面接触部１６と共に
側面接触部１７をＬＣＣ−ＩＣの側面に形成されたアウ
タリードに接触させることにより、コンタクト部材１３
をアウタリードに底面接触部１６と側面接触部１７とで
電気的に接続させることができるため、接触不良発生の
可能性を抑制させることができるとともに、接触面積の
増加により、接触抵抗を小さく抑制させることができる
。

（４）　　コンタクト部材■３の側面接触部１７をＬＣ
ＣＩＣの側面に没設されたビア部の縦溝に挿入し得るよ
うに構成することにより、各コンタクト部材１３の底面
接触部１６をＬＣＣ−ＩＣの各アウタリードに確実にそ
れぞれ接触させることができるため、前記（１）および
（２）の効果を一層高めることができる。

〔実施例２〕 第４図は本発明の他の実施例である接続装置、を示す一
部省略斜視図、第５図はその作用を説明するための拡大
部分斜視図である。

本実施例２が前記実施例１と異なる点は、接続装置１０
ＡがＳＯＪ・ＩＣＩＡの電気的接続に使用されている点
にある。すなわち、ＳＯＪ・ＩＣＩＡは略長方形の平盤
形状に形成されたパンケージ２Ａを備えており、このパ
ッケージ２Ａにおける長辺例の２側面に複数本のアウタ
リード３Ａがそれぞれ一列宛配設されている。各アウタ
リード３Ａはパッケージの側面から底面にかけてＪヘン
ド形番こ屈曲形成されている。

このＳＯＪ・ＩＣＩＡ用の接続装置ＬＯＡは長方形の平
盤中空形状に形成されている外枠１１Ａを備えており、
外枠１１Ａの上面壁には挿入口１２Ａが５ＯＪ−ＩＣＩ
Ａのパッケージ２Ａと略等しい大きさの長方形形状に形
成されて開設されている。外枠１１Ａの中空部内には適
度な弾性力を有する導電性材料から成るコンタクト部材
１３Ａが複数本、長方形の両長辺においてＳＯＪ・ＩＣ
ＬＡのアウタリード３Ａにそれぞれ対向するように配さ
れて植設されている。コンタクト部材１３Ａには端子部
１５Ａ〜底面接触部１６Ａ、側面接触部１７Ａおよび切
欠部１８Ａが設けられており、端子部１５Ａが外枠１１
Ａに植え込まれることにより、コンタクト部材１３Ａは
外枠１１Ａに固定されている。そして、底面接触部１６
Ａおよび側面接触部１７Ａは５ＯＪ−ＩＣＩＡのＪヘン
ト形アウタリード３Ａにその底面側および側面側からそ
れぞれ接触するように構成されている。かつまた、側面
接触部１７Ａの先端面の形状はアウタリード３Ａに接触
するときにこれを受は入れるような若干弯曲した円弧形
状に形成されている。

本実施例２によれば、前記実施例１と同様、５ＯＪ−Ｉ
ＣＩＡが挿入口Ｌ２Ａに挿入されると、コンタクト部材
１３Ａの側面接触部１１ＡがＳＯＪ・ＩｃＩＡのアウタ
リード３Ａに側面から接触することにより、位置決め機
能を発揮するため、ＳＯＪ・ＩＣＩＡを接続装置ＬＯＡ
に正確に位置合わせさせることができ、コンタクト部材
１３ＡをＳＯＪ・ＩＣＩＡのアウタリード３Ａに正確に
整合させて、確実に電気的に接続させることができる。

そして、第５図に示されているように〜コンタクト部材
１３Ａの側面接触部１７Ａはアウタリド３Ａに接触する
際、円弧面において接触するため、アウタリード３Ａは
側面接触部Ｌ７Ａの中心線上に導かれることになり、側
面接触部１７Ａ群によるコンタクト部ｉＪ’　１３　Ａ
での位置合わせ作用が−Ｎ確実に実行されることになる
。

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。

例えば、側面接触部は前記実施例■および２に開示され
た形態に形成するに限らず、被接続物のアウタリードの
外形に対応して適宜設定することができる。

側面接触部は底面接触部と必すしも電気的に接続させる
必要はなく、コンタクト部材に絶縁物から成る側面接触
部を固定的にイ」設してもよい。また、側面接触部は位
置決め機能を発揮することにより充分な効果が得られる
ため、被接続物の側面であればアウタリート以外の場所
に接触するように構成してもよい。

接続装置の外枠、挿入口およびコンタクト部材の形状、
構造等は前記実施例１および２に限らない。例えば、被
接続物をコレットにより挿入口に挿入するように構成す
るに限らず、外枠に蓋体を開閉自在に取り付け、挿入口
に挿入された被接続物を蓋体を閉して押さえ、もって、
被接続物のアウタリードをコンタクト部材に押接させる
ように構成してもよい。

被接続物はＬＣＣ−ＩＣや５ＯＪ−１］：限らず、ＰＬ
ＣＣ（プラスチック・リーリット・チップ・キャリア）
・ＩＣ等であってもよく、特に、底面にアウタリードが
形成されている表面実装形のパッケージを備えている電
子部品や電子機器に適用して優れた効果が得られる。

以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるＪｃハンドラにおけ
る測子装置に適用した場合について説明したが、それに
限定されるものではなく、バーンイン試験やエージング
試験等において、アウタリードに機械的に接触すること
により、電子部品や電子機器について電気的接続をとる
接続装置全般に適用することができる。特に、本発明は
被接続物の交換が頻繁に行われ、しかも、電気的接続が
確実に必要な場合に適用して優れた効果を発揮する。

〔発明の効果〕

本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。

コンタクト部材に底面接触部と一体的に被接続物の側面
に接触する側面接触部を突設することにより、接続時に
コンタクト部材の側面接触部を被接続物の側面に接触さ
せることによって、被接続物とコンタクト部材とを正確
に整合さセることかできるため、コンタクト部材をアウ
タリードに確実に接続させることができ、その結果、電
気的特性試験等のような接続装置を介して実行される処
理の精度および信頼性を高めることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例である接続装置を示■７ ］　８ す縦断面図、 第２図はその作用を説明するための拡大部分縦断面図、 第３図はその一部省略斜視図である。 第４図は本発明の他の実施例である接続装置を示す一部
省略斜視図、 第５図はその作用を説明するための拡大部分斜視図であ
る。 第６図は従来例を示す縦断面図である。 １・・・ＬＣＣ−ＩＣ（被接続物）、ＩＡ・・・ＳＯＪ
・ＩＣ（被接続物）、２．２Ａ・・・パッケージ、３．
３Ａ・・・アウタリード、４・・・メタライズ部、５・
・・ビア部、６・・・縦溝、１１〜ＬＩＡ・・・外枠、
１２．１２Ａ・・・挿入口、１３．１３Ａ・・・コンタ
クト部材、１４、Ｌ４Ａ・・・本体部、１５．１５Ａ・
・・端子部、１６．１６Ａ・・・底面接触部、】７．１
７Ａ・・・側面接触部、１８．１８Ａ・・・切欠部。 代理人　弁理士　梶　　原　　辰　　也１つ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、被接続物のアウタリードに接触して電気的に接続さ
   れるコンタクト部材を備えており、このコンタクト部材
   に被接続物の底面においてアウタリードに接触する底面
   接触部と、被接続物の側面に接触する側面接触部とが形
   成されていることを特徴とする接続装置。 ２、前記コンタクト部材の底面接触部と側面接触部とが
   互いに機械的かつ電気的に接続されていることを特徴と
   する特許請求の範囲第１項記載の接続装置。 ３、前記コンタクト部材の側面接触部が、前記被接続物
   の側面に没設された縦溝に挿入し得るように形成されて
   いることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の接続
   装置。 ４、前記コンタクト部材の側面接触部が、被接続物の側
   面において前記アウタリードの一部に係合し得るように
   形成されていることを特徴とする特許請求の範囲第１項
   記載の接続装置。