JPH02168436A - 光記録再生装置 - Google Patents
光記録再生装置Info
- Publication number
- JPH02168436A JPH02168436A JP32212888A JP32212888A JPH02168436A JP H02168436 A JPH02168436 A JP H02168436A JP 32212888 A JP32212888 A JP 32212888A JP 32212888 A JP32212888 A JP 32212888A JP H02168436 A JPH02168436 A JP H02168436A
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- JP
- Japan
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- recording
- signal
- reproduction
- tracking
- beams
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の111用分野]
この発明は、光記録再生装置に関し、さらに詳しくいう
と、情報記録媒体上に複数のスポットを形成し、これら
を用いて情報の記録、再生を行う光記録再生装置に関す
るものである。
と、情報記録媒体上に複数のスポットを形成し、これら
を用いて情報の記録、再生を行う光記録再生装置に関す
るものである。
[従来の技術]
従来より、光学的手段、例えばレーザビームを用いて、
回転するディスク形状の情報記録媒体に同心円状または
螺旋状に情報を記録、再生する光記録再生装置はよく知
られている。この種の装置は、磁気ディスク装置に比べ
て高密度記録が可能であり、記録容量が大きいという利
点がある。しかし、一方では、磁気ディスクに比べて情
報記録媒体の欠陥が多いので、特に、記録された情報の
信頼性を確保するための機能を必要としている。
回転するディスク形状の情報記録媒体に同心円状または
螺旋状に情報を記録、再生する光記録再生装置はよく知
られている。この種の装置は、磁気ディスク装置に比べ
て高密度記録が可能であり、記録容量が大きいという利
点がある。しかし、一方では、磁気ディスクに比べて情
報記録媒体の欠陥が多いので、特に、記録された情報の
信頼性を確保するための機能を必要としている。
このため、情報が記録された情報記録媒体を1回転させ
て再生信号を検出し、t/を報記録欠陥の有無を判定す
る方法が考えられるが、欠陥検出のために1回転分の時
間を要する欠点がある。これを防ぐために、近年、実時
間で再生信号を検出できる光記録再生装置が考^られて
いる。
て再生信号を検出し、t/を報記録欠陥の有無を判定す
る方法が考えられるが、欠陥検出のために1回転分の時
間を要する欠点がある。これを防ぐために、近年、実時
間で再生信号を検出できる光記録再生装置が考^られて
いる。
第4図は、例えば[光メモリシンポジウム85」論文集
の第107〜112ページに記載された従来の光記録再
生装置であり、図において、2つの発行源を有する2ビ
一ム半導体レーザ11)は、第5図に示すように、互い
に平行な記録用ビーム(2)と再生用ビーム(3)を出
射する。この出射側にはコリメータレンズ(4)が配置
され、偏光ビームスブノック(5)がコリメータレンズ
(4)を通過したビームを受光するように配置されてい
る0反射ミラー(6)は偏光ビームスプリッタ(5)を
透過したビームを図で上方に向け、その光路に1/4波
長叛(7)、対物レンズ(8)が配置されている。対物
レンズ(8)に近接して配置されている情報記録媒体(
9) には、その情報記録方向に沿って案内溝(lO)
か形成されており、この案内溝(l旧に沿って照射され
る敷各ビーム(2)および(3)によって記録用スポッ
トfil)および再生用スポット(12)がそれぞれ形
成される。
の第107〜112ページに記載された従来の光記録再
生装置であり、図において、2つの発行源を有する2ビ
一ム半導体レーザ11)は、第5図に示すように、互い
に平行な記録用ビーム(2)と再生用ビーム(3)を出
射する。この出射側にはコリメータレンズ(4)が配置
され、偏光ビームスブノック(5)がコリメータレンズ
(4)を通過したビームを受光するように配置されてい
る0反射ミラー(6)は偏光ビームスプリッタ(5)を
透過したビームを図で上方に向け、その光路に1/4波
長叛(7)、対物レンズ(8)が配置されている。対物
レンズ(8)に近接して配置されている情報記録媒体(
9) には、その情報記録方向に沿って案内溝(lO)
か形成されており、この案内溝(l旧に沿って照射され
る敷各ビーム(2)および(3)によって記録用スポッ
トfil)および再生用スポット(12)がそれぞれ形
成される。
偏光ビームスプリッタ(5)の側方には、偏光ビームス
プリッタ(5)で反射されたビームを反射光と透過光に
分割するハーフプリズム(13)が配置されており、さ
らに2つの受光面(14alおよびf14bl を有し
ハーフプリズム(13)を透過したビームを受光する2
分割光検知器(14)が配置されている。
プリッタ(5)で反射されたビームを反射光と透過光に
分割するハーフプリズム(13)が配置されており、さ
らに2つの受光面(14alおよびf14bl を有し
ハーフプリズム(13)を透過したビームを受光する2
分割光検知器(14)が配置されている。
凸レンズ(15)はハーフプリズム(13)で反射され
レンズ(15)からのビームのうち再生用ビーム(3)
τ\ のみを通過させるビンボール(17)を有している。
レンズ(15)からのビームのうち再生用ビーム(3)
τ\ のみを通過させるビンボール(17)を有している。
て(
このピン杢−ル(17)を通過した再生用ビーム(3)
はハーフプリズム(18)で分割される。ハーフプリズ
ム(18)を透過した再生用ビーム(3)の光路上には
ライフエツジ(I9)が配置されており、2つの受光面
f20al 、 (20blを有する2分割光検知器(
20)は、ナイフェツジ(19)を介して再生用ビーム
(3)を受光する。
はハーフプリズム(18)で分割される。ハーフプリズ
ム(18)を透過した再生用ビーム(3)の光路上には
ライフエツジ(I9)が配置されており、2つの受光面
f20al 、 (20blを有する2分割光検知器(
20)は、ナイフェツジ(19)を介して再生用ビーム
(3)を受光する。
↑・
光検知器(21)は、ピンペールミラー(16)で反射
された記録用ビーム(2)を受光した記録用ビームのモ
ニタ信号Eを発生する。光検知器(22)は、ハーフプ
リズム(18)で反射された再生用ビーム(3)を受光
した再生出力Cを発生する。再生信号検出回路(23)
は、光検知器(22)からの再生出力Cから再生信号り
を得るための回路である。
された記録用ビーム(2)を受光した記録用ビームのモ
ニタ信号Eを発生する。光検知器(22)は、ハーフプ
リズム(18)で反射された再生用ビーム(3)を受光
した再生出力Cを発生する。再生信号検出回路(23)
は、光検知器(22)からの再生出力Cから再生信号り
を得るための回路である。
記録信号発生回路(24)は記録信号Aをパルス列とし
て出力し、ドライバ回路(25)は記録信号Aに基づい
て2ビ一ム半導体レーザ(1)を駆動する。
て出力し、ドライバ回路(25)は記録信号Aに基づい
て2ビ一ム半導体レーザ(1)を駆動する。
2分割光検知器(141の出力信号TSを検出する差動
増幅器(26)には、各受光面[14alおよびt14
blからの出力信号が入力される。2分割光検知器(2
月の出力信号FSを検出する差動増幅器(27)には、
各受光面(20a)および(20blからの出力信号が
入力される。
増幅器(26)には、各受光面[14alおよびt14
blからの出力信号が入力される。2分割光検知器(2
月の出力信号FSを検出する差動増幅器(27)には、
各受光面(20a)および(20blからの出力信号が
入力される。
なお、2分割光検知器(14)および差動増幅器(26
)は、プッシュプル法と呼ばれる周知のトラッキングエ
ラー検出光学系を形成し、ナイフェツジ119)、2分
割光検知器(20)および差動増幅器(27)は、ナイ
フェツジ法と呼ばれる周知のフォーカシングエラー検出
光学系を形成している。
)は、プッシュプル法と呼ばれる周知のトラッキングエ
ラー検出光学系を形成し、ナイフェツジ119)、2分
割光検知器(20)および差動増幅器(27)は、ナイ
フェツジ法と呼ばれる周知のフォーカシングエラー検出
光学系を形成している。
第6図は情報記録媒体(9)上の記録用スポット(Il
lおよび再生用スポット(12)を詳細に示す斜視図で
ある。なお、ここでは、各スポットfill。
lおよび再生用スポット(12)を詳細に示す斜視図で
ある。なお、ここでは、各スポットfill。
(12)を案内溝(lO)相互間に照射して記録再生す
る場合を示したが、案内溝(10)上に記録再生しても
よい0図において、eは記録用スポット(11)とこれ
に後行する再生用スポット(12)との間隔、矢印Rは
情報記録媒体(9)の回転移動方向である。ビット(2
8)は記録用スポット+11)によって゛情報記録媒体
(9)上に書込まれる。
る場合を示したが、案内溝(10)上に記録再生しても
よい0図において、eは記録用スポット(11)とこれ
に後行する再生用スポット(12)との間隔、矢印Rは
情報記録媒体(9)の回転移動方向である。ビット(2
8)は記録用スポット+11)によって゛情報記録媒体
(9)上に書込まれる。
次に、第4図〜第6図に示した従来の光記録再生装置の
動作について、第7図を併せて説明する。
動作について、第7図を併せて説明する。
まず、第4図に示すような記録信号Aが発生すると、こ
の記録信号Aに基づいて2ビ一ム半導体レーザ(11が
駆動される。2ビ一ム半導体レーザ(11から出射した
記録用ビーム(2) および再生用ビーム(3)は、コ
リメータレンズ14)により平行ビームとなり、偏光ビ
ームスプリッタ(5)1反射ミラー+6璽1/4波長板
(7)および対物レンズ(8)を経て情報記録媒体(9
)に照射され、第6図に示すような記録用スポット(1
1)および再生用スポット(12)となる。
の記録信号Aに基づいて2ビ一ム半導体レーザ(11が
駆動される。2ビ一ム半導体レーザ(11から出射した
記録用ビーム(2) および再生用ビーム(3)は、コ
リメータレンズ14)により平行ビームとなり、偏光ビ
ームスプリッタ(5)1反射ミラー+6璽1/4波長板
(7)および対物レンズ(8)を経て情報記録媒体(9
)に照射され、第6図に示すような記録用スポット(1
1)および再生用スポット(12)となる。
記録用スポット1ll)は、第7図に示すように、記録
信号Aの記録情報(例えばパルス幅)を含んでおり、こ
れに応じた形状Bのビット(28)を情報記録媒体(9
)上に順次形成する。一方、記録用スポット(11)か
ら距離βだけ後行する再生用スボウト+121は、一定
の光強度で駆動されており、書込まれたビット(28)
を、距離βに対応した時間t!(数μ秒)後に再生して
いく。
信号Aの記録情報(例えばパルス幅)を含んでおり、こ
れに応じた形状Bのビット(28)を情報記録媒体(9
)上に順次形成する。一方、記録用スポット(11)か
ら距離βだけ後行する再生用スボウト+121は、一定
の光強度で駆動されており、書込まれたビット(28)
を、距離βに対応した時間t!(数μ秒)後に再生して
いく。
すなわち、記録用スポット(Illはビット(28)を
形成すると同時に反射され、再生用スポット(121は
書込み後のビット(28)で反射される。このように、
情報記録媒体(9)で反射された記録用ビーム(2)お
よび再生用ビーム(3)は、再び対物レンズ(8) お
よび174波長板(7)を透過するが、I74波長板(
7)を往復することによって偏光方向が90゜回転する
ため、偏光ビームスプリッタ(5)で反射される。
形成すると同時に反射され、再生用スポット(121は
書込み後のビット(28)で反射される。このように、
情報記録媒体(9)で反射された記録用ビーム(2)お
よび再生用ビーム(3)は、再び対物レンズ(8) お
よび174波長板(7)を透過するが、I74波長板(
7)を往復することによって偏光方向が90゜回転する
ため、偏光ビームスプリッタ(5)で反射される。
続いて、各ビーム(2)および(3)はハーフプリズム
(13)で反射されるが、その一部はハーフプリズム(
13)を透過して後述のトラッキングエラー検出光学系
に入力され、情報記録媒体(9)に照射されるビームの
トラッキングエラー補正に用いられる。
(13)で反射されるが、その一部はハーフプリズム(
13)を透過して後述のトラッキングエラー検出光学系
に入力され、情報記録媒体(9)に照射されるビームの
トラッキングエラー補正に用いられる。
ハーフプリズム(13)で反射された各ビーム(2)。
(3)は、凸レンズ(15)で収束された後、記録用ビ
!・ 一方(2)はピンボールミラー(16)で反射され、再
生用ビーム(3)はビン祭−ル(17)を通過してハー
フプリズム(18)で反射される。なお、このとき、再
生用ビーム(3)の一部はハーフプリズム(18)を透
過して後述するフォーカシングエラー検出光学系に人力
され、情報記録媒体(9)に照射されるビームのフォー
カシングエラー補正に用いられる。
!・ 一方(2)はピンボールミラー(16)で反射され、再
生用ビーム(3)はビン祭−ル(17)を通過してハー
フプリズム(18)で反射される。なお、このとき、再
生用ビーム(3)の一部はハーフプリズム(18)を透
過して後述するフォーカシングエラー検出光学系に人力
され、情報記録媒体(9)に照射されるビームのフォー
カシングエラー補正に用いられる。
;T′−
ピンボールミラー(16)で反射された記録用ビーム(
2)は、光検出器(21)で受光されて記録信号Aに対
応したパルス波形Eとして検出され、情報記録媒体(9
)および光路などの障害の有無のI’11定に用いられ
る。
2)は、光検出器(21)で受光されて記録信号Aに対
応したパルス波形Eとして検出され、情報記録媒体(9
)および光路などの障害の有無のI’11定に用いられ
る。
一方、ハーフプリズム(18)で反射された再生用ビー
ム(3)は、光検知器(22)で受光された第7図に示
すようなビット形状Bに対応した再生出力Cとして検出
され、さらに、再生信号検出回路(23)で波形処理さ
れてバルノ、列上の再生信号りとして検出される。こう
して得られた再生信号りは、記録信号Aと比較され、情
報記録の欠陥の有無の判定に用いられるに こでは、ビット(28)が形成されることにより情報記
録媒体(9)の反射率が低下する場合を示したが、ビッ
ト(28)により反射率が増大する情報2定することが
できる。
ム(3)は、光検知器(22)で受光された第7図に示
すようなビット形状Bに対応した再生出力Cとして検出
され、さらに、再生信号検出回路(23)で波形処理さ
れてバルノ、列上の再生信号りとして検出される。こう
して得られた再生信号りは、記録信号Aと比較され、情
報記録の欠陥の有無の判定に用いられるに こでは、ビット(28)が形成されることにより情報記
録媒体(9)の反射率が低下する場合を示したが、ビッ
ト(28)により反射率が増大する情報2定することが
できる。
なお、再生信号りは、記録信号Aに対し時間tgだけ遅
れているが、時間t!が数μ秒のオーダであるから、は
ぼ実時間で記録欠陥の有無の判定ができると考えられる
。
れているが、時間t!が数μ秒のオーダであるから、は
ぼ実時間で記録欠陥の有無の判定ができると考えられる
。
情報記録媒体(!])に記録された情報を再生するとき
には、2ビ一方半導体レーザfi+から再生用ビーム(
3)のみを出射し、再生信号検出回路(23)で検出す
ればよい。
には、2ビ一方半導体レーザfi+から再生用ビーム(
3)のみを出射し、再生信号検出回路(23)で検出す
ればよい。
[発明が解決しようとする課題J
以上のような従来の光記録再生装置は、一方のビーム、
あるいは複数のビームを一括して受光することによりセ
ンサ信号を検出していた。これは一方のビームで)オー
カシング・トラッキング制御を行えば、他方のビームも
必ずジャストフォーカス、オン トラック状態にあるこ
とを前提としている。しかしながら、波長変動、組立時
の調整不良、温度変化、経年変化による光ヘッド内部品
の位置ずれ、情報記録媒体と光ヘッドの相対位置のずれ
等の様々な要因で、ディスク面あるいはト各 ラックに対する2つのスポット相対的位置は変化する。
あるいは複数のビームを一括して受光することによりセ
ンサ信号を検出していた。これは一方のビームで)オー
カシング・トラッキング制御を行えば、他方のビームも
必ずジャストフォーカス、オン トラック状態にあるこ
とを前提としている。しかしながら、波長変動、組立時
の調整不良、温度変化、経年変化による光ヘッド内部品
の位置ずれ、情報記録媒体と光ヘッドの相対位置のずれ
等の様々な要因で、ディスク面あるいはト各 ラックに対する2つのスポット相対的位置は変化する。
従って問題点として、再生ビームよりセンサ信号を検出
するような構成においては、記録ビームのデフォーカス
による記録ビ・ント形成不艮(規定のビット長にならな
い)および記録ビームのオフトラックによるビット列と
トラックのずれ、あるいは蛇行が発生し、再生時におい
てC/Nの劣化や隣接トラックからのクロストークによ
って良好な信号品質を得ることができない。
するような構成においては、記録ビームのデフォーカス
による記録ビ・ント形成不艮(規定のビット長にならな
い)および記録ビームのオフトラックによるビット列と
トラックのずれ、あるいは蛇行が発生し、再生時におい
てC/Nの劣化や隣接トラックからのクロストークによ
って良好な信号品質を得ることができない。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、2つのビームのフォーカス。
たもので、2つのビームのフォーカス。
トラックずれを個別に検出し、記録・再生時のそれぞれ
において最適なフォーカス、トラッキング制御を実現で
きる光記録再生装置を得ることを目的とする。
において最適なフォーカス、トラッキング制御を実現で
きる光記録再生装置を得ることを目的とする。
[課題を解決するための手段J
この発明に係る光記録再生装置爾、2つの記録用・再生
用ビームのそれぞれからフォーカスずれ、トラックずれ
を検出する検出手段と、2つのフォーカシングエラー信
号および2つのトラッキングエラー信号のうちのそれぞ
れ一方を選択する切換手段と1選択された検出信号によ
りフォーカシング制御、トラッキング制御を実行する制
御手段とを備えている。
用ビームのそれぞれからフォーカスずれ、トラックずれ
を検出する検出手段と、2つのフォーカシングエラー信
号および2つのトラッキングエラー信号のうちのそれぞ
れ一方を選択する切換手段と1選択された検出信号によ
りフォーカシング制御、トラッキング制御を実行する制
御手段とを備えている。
[作用]
この発明においては、2つのスポットのそれぞれから検
出されたフォーカシングエラー信号、トラッキングエラ
ー信号を切換手段によってどちらか一方を選択できるの
で、記録時あるいは再生時に応じて最適な側のセンサ信
号がフォーカシング・トラッキング制御用として用いら
れる。
出されたフォーカシングエラー信号、トラッキングエラ
ー信号を切換手段によってどちらか一方を選択できるの
で、記録時あるいは再生時に応じて最適な側のセンサ信
号がフォーカシング・トラッキング制御用として用いら
れる。
[実施例]
以下、この発明の一実施例を第1図〜第3図について説
明する7図において、符番(11〜+51.(71プリ
ツタ(5)で反射された情報記録媒体(9)からの反射
ビームを収束ビームとするためのものである。ハーフプ
リズム(321は前記の収束ビームを透過光と反射光に
分離するもので、このハーフプリズム(32)の透過光
の光路には第2のハーフプリズム133)が配置されて
おり、この第2のハーフプリズム(33)の透過光方向
にはナイフェツジ(19)と2分割光検知器(20)が
配置されている。この2分割光検知器(20)の出力信
号を差動増幅器(27)により差動検出し、再生用ビー
ムに対するフォーカシングエラー信号を生成する。
明する7図において、符番(11〜+51.(71プリ
ツタ(5)で反射された情報記録媒体(9)からの反射
ビームを収束ビームとするためのものである。ハーフプ
リズム(321は前記の収束ビームを透過光と反射光に
分離するもので、このハーフプリズム(32)の透過光
の光路には第2のハーフプリズム133)が配置されて
おり、この第2のハーフプリズム(33)の透過光方向
にはナイフェツジ(19)と2分割光検知器(20)が
配置されている。この2分割光検知器(20)の出力信
号を差動増幅器(27)により差動検出し、再生用ビー
ムに対するフォーカシングエラー信号を生成する。
また、第2のハーフプリズム(33)の反射光方向にお
いても、ナイフェツジ(34)、2分割光検知器135
)JBよび差動増幅器136)により、記録用ビームに
対するナイフェツジ法フォーカシングエラー検出光字系
が形成されている。
いても、ナイフェツジ(34)、2分割光検知器135
)JBよび差動増幅器136)により、記録用ビームに
対するナイフェツジ法フォーカシングエラー検出光字系
が形成されている。
なお、切換スイッチ(37)は差動増幅器(2月および
(36)からの信号を切換えるもので、これにより所望
のビームからのフォーカシングエラー信号が得られる。
(36)からの信号を切換えるもので、これにより所望
のビームからのフォーカシングエラー信号が得られる。
さらに、フォーカシングサーボ回路(38)はフォーカ
シングアクチュエータ(47)を駆動する。
シングアクチュエータ(47)を駆動する。
屋根形状のウェッジプリズム(39)は、ハーフプリズ
ム(32)の反射光の光路中に配置され、2つの屈折面
f39al 、 +39blおよび稜線t39cl を
有し、かつ、稜線(39clが光学的にみて記録用ビー
ムと再生用ビームの強度中心を結ぶ線と一致するように
配置されている。なお、この実施例ではウェッジプリズ
ム(39)とハーフプリズム(32)は接触しているが
、必ずしも接触している必要はない。
ム(32)の反射光の光路中に配置され、2つの屈折面
f39al 、 +39blおよび稜線t39cl を
有し、かつ、稜線(39clが光学的にみて記録用ビー
ムと再生用ビームの強度中心を結ぶ線と一致するように
配置されている。なお、この実施例ではウェッジプリズ
ム(39)とハーフプリズム(32)は接触しているが
、必ずしも接触している必要はない。
ビームf4Ual 、 +40bl はウェッジプリズ
ム(39)を出射した記録用ビーム(2)であり、それ
ぞれ屈折面(39alおよび(39blで屈折を受けた
ビームである。同様にビームt41al 、 +41b
l はウェッジプリズム(39)を出射した再生用ビー
ムであり、それぞれ屈折面f39a! Eよび+39b
l で屈折を受けたビームである。
ム(39)を出射した記録用ビーム(2)であり、それ
ぞれ屈折面(39alおよび(39blで屈折を受けた
ビームである。同様にビームt41al 、 +41b
l はウェッジプリズム(39)を出射した再生用ビー
ムであり、それぞれ屈折面f39a! Eよび+39b
l で屈折を受けたビームである。
ウェッジプリズム(39)を出IJ=t した4つのビ
ーム(40at 、 +40bl 、 (41al 、
(41bl を受光するために、4つの受光面[42
al 、 +42bl 、 f42cl 、 f42d
lを有する4分割光検出11421が配置されており、
受光面(42alでビーム(40al を、受光面f4
2bl でビーム(40bl を、受光面(42cl
でビーム(41al を、受光面(42d)でビーム+
41b+ を、それぞれ受光するようになっており、か
つ、各ビームの集光位置に配置されている。差動増幅器
(43)は2つの受光面(42al 、 (42blか
らの出力を差動検出し、差動増幅23f44)は2つの
受光面f42c) 、 t42dlからの出力を差動検
出する。また、加算器(45)は2つの受光面[42c
l 、 f42dl からの出力を加算して再生出力C
を発生する。再生信号検出回路(23)は加算器(45
)からの再生出力Cより再生信号りを得る。また、切換
スイッチ146)は2つの差動増幅器+431. +4
41からの信号を切換えるもので、この切換スイッチ(
46)を介して所望のビームからのトラ・ンキングエラ
ー信号TSが得られる。こちらも、フォーカシングエラ
ー検出系と同様に、切換スイッチ(46)から得られた
トラッキングエラー信号は、トラッキングサーボ回路(
48)に人力され、トラッキングサーボ回路(48)は
トラッキングアクチュエータ(49)を駆動するように
なっている。
ーム(40at 、 +40bl 、 (41al 、
(41bl を受光するために、4つの受光面[42
al 、 +42bl 、 f42cl 、 f42d
lを有する4分割光検出11421が配置されており、
受光面(42alでビーム(40al を、受光面f4
2bl でビーム(40bl を、受光面(42cl
でビーム(41al を、受光面(42d)でビーム+
41b+ を、それぞれ受光するようになっており、か
つ、各ビームの集光位置に配置されている。差動増幅器
(43)は2つの受光面(42al 、 (42blか
らの出力を差動検出し、差動増幅23f44)は2つの
受光面f42c) 、 t42dlからの出力を差動検
出する。また、加算器(45)は2つの受光面[42c
l 、 f42dl からの出力を加算して再生出力C
を発生する。再生信号検出回路(23)は加算器(45
)からの再生出力Cより再生信号りを得る。また、切換
スイッチ146)は2つの差動増幅器+431. +4
41からの信号を切換えるもので、この切換スイッチ(
46)を介して所望のビームからのトラ・ンキングエラ
ー信号TSが得られる。こちらも、フォーカシングエラ
ー検出系と同様に、切換スイッチ(46)から得られた
トラッキングエラー信号は、トラッキングサーボ回路(
48)に人力され、トラッキングサーボ回路(48)は
トラッキングアクチュエータ(49)を駆動するように
なっている。
以上の構成により、2ビ一ム半導体レーザ(1)からの
記録用ビーム(2)および再生用ビーム(3)により、
情報記録媒体(9)上に情報の記録および再生を行う動
作については従来技術と同じであるので、ここではこの
発明の要部である記録用ビーム(2)と再生用ビーム(
3)との分離、トラ・ンキングエラー信号およびフォー
カシングエラー信号の検出動作について説明を行う。
記録用ビーム(2)および再生用ビーム(3)により、
情報記録媒体(9)上に情報の記録および再生を行う動
作については従来技術と同じであるので、ここではこの
発明の要部である記録用ビーム(2)と再生用ビーム(
3)との分離、トラ・ンキングエラー信号およびフォー
カシングエラー信号の検出動作について説明を行う。
第1図において、4分割光検出器(42)は、記録用ビ
ームf40aJ 、 140blおよび再生用ビーム(
41al。
ームf40aJ 、 140blおよび再生用ビーム(
41al。
+41b)の集光点に配置されているため、4つのビー
ムの集光点は空間的に分離された4点となり、4分割光
検出器(42)の受光面(42al 、 (42b)
、 142c) 。
ムの集光点は空間的に分離された4点となり、4分割光
検出器(42)の受光面(42al 、 (42b)
、 142c) 。
142dlにこれらの4つのビームが各独立に入射する
ことになる。従って、記録用ビームと再生用ビームの分
離は、複雑な光学系を用いることなく実現できる。
ことになる。従って、記録用ビームと再生用ビームの分
離は、複雑な光学系を用いることなく実現できる。
次に、トラッキングエラー検出について、原理の説明を
行う、ウェッジプリズム(39)の2つの屈折面139
a) 、 (39b)に挟まれた稜線(39c)が、光
学的にみて情報記録媒体(9)の案内溝110)に対し
てほぼ平行となるよう配置されているので、案内溝tV (lO)の両縁で回折された1次回折光成分の一方がビ
ーム(40alおよび141a)に含まれ、他方の1次
着 凹版光成分がビーム(40blおよび+41bl に含
まれティる。従って、これらのビーム(40al 、
(40blおよび+41dl 、 141bl をそれ
ぞれ受光面(42al 、 (42blおよび(42c
l 、 (42dl で別個に受光し、さらに各出力を
差動増幅器(43)、(44)で演算を行うことによっ
て、従来技術で述べたブツシュ・プル法の検出原理によ
るトラッキングエラー検出信号が得られる。ただし、こ
の実施例においては、記録用ビームf40al 、 +
40b)および再生用ビーム(41al 、 (41b
lより独立にトラッキングエラー検出信号が得られ、こ
れらを切換スイッチ(46)により選択して所望のトラ
ッキングエラー検出信号が得られる。従って、情報の記
録を行う際には、記録用ビーム(40al 、 (40
bl を用いてトラッキングエラー信号TSを得、これ
によりトラッキング動作を行う、再生のみを行う場合に
は、再生用ビーム(41al 、 +41b)を用いて
トラッキングエラー信号TSを得、これによりトラッキ
ング動作を行う、これは、初期配置誤差や経年変化によ
って、記録用ビーム(2)による光スポット(IIIお
よび再生用ビーム(3) による光スポット(12)を
結ぶ直線と案内溝(l旧の方向が一致しないような場合
に特に有効であり、記U・再生特性の性能が劣化せず、
信頼性の向上につながる。
行う、ウェッジプリズム(39)の2つの屈折面139
a) 、 (39b)に挟まれた稜線(39c)が、光
学的にみて情報記録媒体(9)の案内溝110)に対し
てほぼ平行となるよう配置されているので、案内溝tV (lO)の両縁で回折された1次回折光成分の一方がビ
ーム(40alおよび141a)に含まれ、他方の1次
着 凹版光成分がビーム(40blおよび+41bl に含
まれティる。従って、これらのビーム(40al 、
(40blおよび+41dl 、 141bl をそれ
ぞれ受光面(42al 、 (42blおよび(42c
l 、 (42dl で別個に受光し、さらに各出力を
差動増幅器(43)、(44)で演算を行うことによっ
て、従来技術で述べたブツシュ・プル法の検出原理によ
るトラッキングエラー検出信号が得られる。ただし、こ
の実施例においては、記録用ビームf40al 、 +
40b)および再生用ビーム(41al 、 (41b
lより独立にトラッキングエラー検出信号が得られ、こ
れらを切換スイッチ(46)により選択して所望のトラ
ッキングエラー検出信号が得られる。従って、情報の記
録を行う際には、記録用ビーム(40al 、 (40
bl を用いてトラッキングエラー信号TSを得、これ
によりトラッキング動作を行う、再生のみを行う場合に
は、再生用ビーム(41al 、 +41b)を用いて
トラッキングエラー信号TSを得、これによりトラッキ
ング動作を行う、これは、初期配置誤差や経年変化によ
って、記録用ビーム(2)による光スポット(IIIお
よび再生用ビーム(3) による光スポット(12)を
結ぶ直線と案内溝(l旧の方向が一致しないような場合
に特に有効であり、記U・再生特性の性能が劣化せず、
信頼性の向上につながる。
また、受光面f42cl 、 +42dlの各出力を加
算器(45)で加算することによって、第7図に示した
ようなビット形状Bに対応した再生出力Cとして検出さ
れ、さらに再生信号検出回路(23)で波形処理されて
パルス列状の再生信号りとして検出される。従って、従
来技術で述べたように、こうして得られた再生信号りは
、記録信号発生回路(24)で発生した記録信号Aと比
較され、情報記銀の欠陥の有無の判定に用いられる。
算器(45)で加算することによって、第7図に示した
ようなビット形状Bに対応した再生出力Cとして検出さ
れ、さらに再生信号検出回路(23)で波形処理されて
パルス列状の再生信号りとして検出される。従って、従
来技術で述べたように、こうして得られた再生信号りは
、記録信号発生回路(24)で発生した記録信号Aと比
較され、情報記銀の欠陥の有無の判定に用いられる。
フォーカシングエラー検出の説明は第2図を用いて行う
、なお、第2図には説明に必要な部分のみを抜き出して
示しである。同図(a)は情報記録媒体(9)が対物レ
ンズ(8)の合焦点にある場合。
、なお、第2図には説明に必要な部分のみを抜き出して
示しである。同図(a)は情報記録媒体(9)が対物レ
ンズ(8)の合焦点にある場合。
ム(2)を完全に遮光し、かつ、再生用ビーム(3)の
断面の丁度半分を遮光するように配置されている。従っ
て、再生用ビーム(3)とナイフェツジ(19)、2分
割光検知器(20)および差動増幅器(27)に着目す
るならば、従来技術の第8図で示したナイフェツジ法と
同一のものであることが明らかであり、記録用ビーム(
2)の影響を受けること゛。
断面の丁度半分を遮光するように配置されている。従っ
て、再生用ビーム(3)とナイフェツジ(19)、2分
割光検知器(20)および差動増幅器(27)に着目す
るならば、従来技術の第8図で示したナイフェツジ法と
同一のものであることが明らかであり、記録用ビーム(
2)の影響を受けること゛。
なく、再生用ビーム(3)のみを用いてフォーカシング
エラー検出を行うことができる。
エラー検出を行うことができる。
以上の動作説明に右いては、記録用ビーム(2)を完全
に遮光するようにナイフェツジ(19)を配置したが、
第2のハーフプリズム(33)の反射光方向では逆に再
生用ビーム(3)を完全に遮光し、かつ、記録用ビーム
(2)の断面の丁度半分を遮光するように配置されてい
る。従って、こちらについても、再生用ビーム(3)の
影響を受けることなく、記録用ビーム+21のみを用い
てフォーカシングエラー検出を行うことができる。さら
に、差動増幅器(27)および(36)の出力を切換ス
イッチ(37)によって選択することにより、所望のフ
ォーカシングエラー検出信号FSを得ることができる。
に遮光するようにナイフェツジ(19)を配置したが、
第2のハーフプリズム(33)の反射光方向では逆に再
生用ビーム(3)を完全に遮光し、かつ、記録用ビーム
(2)の断面の丁度半分を遮光するように配置されてい
る。従って、こちらについても、再生用ビーム(3)の
影響を受けることなく、記録用ビーム+21のみを用い
てフォーカシングエラー検出を行うことができる。さら
に、差動増幅器(27)および(36)の出力を切換ス
イッチ(37)によって選択することにより、所望のフ
ォーカシングエラー検出信号FSを得ることができる。
以上のように、フォーカシングエラー検出信号FSに対
しても、記録用ビーム(2)、再生用ビーム(3)の切
貸えを行うことができるので、トラッキングエラー検出
信号生成と同様に、光学系の色収差が大きい場合などに
特に有効である。
しても、記録用ビーム(2)、再生用ビーム(3)の切
貸えを行うことができるので、トラッキングエラー検出
信号生成と同様に、光学系の色収差が大きい場合などに
特に有効である。
以上のようにして切換スイッチ(37)および(46)
によって得られる所望のフォーカシングエラー信号、ト
ラッキングエラー信号に基づいてフォー力シングアクヂ
ュエーク駆動回路(38)およびトラッキングアクチュ
エータ駆動回路(48)により、フォーカシングアクチ
ュエータ147)、 トラッキングアクチュエータ(
49)をそれぞれ駆動する。
によって得られる所望のフォーカシングエラー信号、ト
ラッキングエラー信号に基づいてフォー力シングアクヂ
ュエーク駆動回路(38)およびトラッキングアクチュ
エータ駆動回路(48)により、フォーカシングアクチ
ュエータ147)、 トラッキングアクチュエータ(
49)をそれぞれ駆動する。
なお、上記実施例では、フォーカシングエラー検出のた
めに、ナイフェツジ(19)で記録用ビーム(2)を完
全に遮光し、かつ、再生用ビーム(3)の断面の丁度半
分を遮光する再生用ビーム(3)に対するナイフェツジ
法と、ナイフェツジ(34)で再生用ビーム(31を完
全に遮光し、かつ、記録用ビーム12)の断面の丁度半
分を遮光する記録用ビーム(2)に対するナイフェツジ
法を用いたが、再生用ビーム(31i3よび記録用ビー
ム(2)に対して独立にフォーカシングエラー検出を行
うことができれば、と゛のようなフォーカシングエラー
検出法象もよく、他の実施例として第3図に示すような
フォーカシングエラー検出光学系でもよい。
めに、ナイフェツジ(19)で記録用ビーム(2)を完
全に遮光し、かつ、再生用ビーム(3)の断面の丁度半
分を遮光する再生用ビーム(3)に対するナイフェツジ
法と、ナイフェツジ(34)で再生用ビーム(31を完
全に遮光し、かつ、記録用ビーム12)の断面の丁度半
分を遮光する記録用ビーム(2)に対するナイフェツジ
法を用いたが、再生用ビーム(31i3よび記録用ビー
ム(2)に対して独立にフォーカシングエラー検出を行
うことができれば、と゛のようなフォーカシングエラー
検出法象もよく、他の実施例として第3図に示すような
フォーカシングエラー検出光学系でもよい。
第3図において、第1図と同−符空は同一または相当部
分を示す、ハーフプリズム(32)の透過光光路に非点
収差を発生する円筒レンズ(501、次いでフォーカシ
ングエラー検出用4分割光検知器+511. +521
が配設されている。4分割光検知器(5I)は再生用ビ
ーム(31を、4分割光検知器(52)は記録用ビーム
(2)を、それぞれ受光する。フォーカシングエラー信
号の検出原理は特に示さないが、この検出原理はCD
(Compact Diskl用光ピックアップ等に広
く採用されている非点収差用として知られている。この
第3図に示した)オー力シングエラー検出系においても
、再生用ビーム(3)および記録用ビーム(2)に対し
て独立にフォーカシングエラー信号を検出することがで
きる。
分を示す、ハーフプリズム(32)の透過光光路に非点
収差を発生する円筒レンズ(501、次いでフォーカシ
ングエラー検出用4分割光検知器+511. +521
が配設されている。4分割光検知器(5I)は再生用ビ
ーム(31を、4分割光検知器(52)は記録用ビーム
(2)を、それぞれ受光する。フォーカシングエラー信
号の検出原理は特に示さないが、この検出原理はCD
(Compact Diskl用光ピックアップ等に広
く採用されている非点収差用として知られている。この
第3図に示した)オー力シングエラー検出系においても
、再生用ビーム(3)および記録用ビーム(2)に対し
て独立にフォーカシングエラー信号を検出することがで
きる。
また、同様に、トラッキングエラー検出には、上記実施
例において、ウェッジプリズム(39)を用いたブツシ
ュ・プル法によったが、再生用ビーム(3) と記録用
ビーム(2)とを分離して検出できれば、どのようなト
ラッキングエラー検出法でもよく、上記実施例と同様の
効果を奏する。
例において、ウェッジプリズム(39)を用いたブツシ
ュ・プル法によったが、再生用ビーム(3) と記録用
ビーム(2)とを分離して検出できれば、どのようなト
ラッキングエラー検出法でもよく、上記実施例と同様の
効果を奏する。
さらに、上記実施例においては、2つのビームを発生す
る光源としてアレイ型2ビーム半導体レーザ(11を用
いたが、情報記録媒体(9)上に複数の光スポットが形
成できれば、どのような手段を用いてもよく1例えば1
つのパッケージより1つのビームが1!ノられる半導体
レーザを複数個配置し、これにより、出射されるビーム
を合成して情報記録媒体に複数スポットを形成してもよ
い6また。上記実施例においては、情報記録媒体−Fに
形成されるスポ・ントを記録用スポットおよび再生用ス
ポットであるとしたが、これらに限定されることなく両
方記録用スポット、両方再生用スポット、若しくは、消
去用スポットと記録用スポット等であっても差しつかえ
な(、上記実施例と同様の効果を奏する。
る光源としてアレイ型2ビーム半導体レーザ(11を用
いたが、情報記録媒体(9)上に複数の光スポットが形
成できれば、どのような手段を用いてもよく1例えば1
つのパッケージより1つのビームが1!ノられる半導体
レーザを複数個配置し、これにより、出射されるビーム
を合成して情報記録媒体に複数スポットを形成してもよ
い6また。上記実施例においては、情報記録媒体−Fに
形成されるスポ・ントを記録用スポットおよび再生用ス
ポットであるとしたが、これらに限定されることなく両
方記録用スポット、両方再生用スポット、若しくは、消
去用スポットと記録用スポット等であっても差しつかえ
な(、上記実施例と同様の効果を奏する。
[発明の効果]
以上のように、この発明によれば、情報記録媒体で反射
した記録用ビームと再生用ビームに対して、品々独立に
フォーカシングエラー信号を検出できる光学系と、任意
のビームにより選択的にフォーカシングエラー信号を検
出し、フ才一力シングアクチュエータによりフォーカシ
ング制御が行える手段と、さらに任意のビームにより1
選択的にトラッキングエラー信号を検出し、トラッキン
グアクチュエータによりトラッキング制御が行える手段
を備えたので、光学系で発生する色収差による影響や初
期配置誤差、経年変化による配置ずれ等の影響を除去す
ることができ、常に安定した記録状態、再生状態が保持
され、装置の信頼性が向上する。さらに、部品の配置制
度も緩和され。
した記録用ビームと再生用ビームに対して、品々独立に
フォーカシングエラー信号を検出できる光学系と、任意
のビームにより選択的にフォーカシングエラー信号を検
出し、フ才一力シングアクチュエータによりフォーカシ
ング制御が行える手段と、さらに任意のビームにより1
選択的にトラッキングエラー信号を検出し、トラッキン
グアクチュエータによりトラッキング制御が行える手段
を備えたので、光学系で発生する色収差による影響や初
期配置誤差、経年変化による配置ずれ等の影響を除去す
ることができ、常に安定した記録状態、再生状態が保持
され、装置の信頼性が向上する。さらに、部品の配置制
度も緩和され。
l)・・・2ビ一ム半導体レーザ、
2)・・・記録用ビーム(第1のビーム)、3)・・・
再生用ビーム(第2のビーム)、9)・・・情報記録媒
体、!101・・・・案内溝。
再生用ビーム(第2のビーム)、9)・・・情報記録媒
体、!101・・・・案内溝。
’191 T34+・・・・ナイフェツジ、第1図はこ
の発明の一実施例の光路図、第2図は第1図のもののフ
ォーカシングエラー検出光学系の動作を説明するための
一部光路図、第3図は他の実施例の一部光路図、第4図
は従来の光学記録再生装置の光路図、第5図は第4図に
おける半導体レーザの斜視図、第6図は第4図のものの
各スボ・ントの照射位置を説明するための斜視図、第7
図は第4図のものの動作を説明するためのタイミングチ
ャート図である。
の発明の一実施例の光路図、第2図は第1図のもののフ
ォーカシングエラー検出光学系の動作を説明するための
一部光路図、第3図は他の実施例の一部光路図、第4図
は従来の光学記録再生装置の光路図、第5図は第4図に
おける半導体レーザの斜視図、第6図は第4図のものの
各スボ・ントの照射位置を説明するための斜視図、第7
図は第4図のものの動作を説明するためのタイミングチ
ャート図である。
1371 (461・・・・切換スイッチ(切換手段)
、なお、各図中。
、なお、各図中。
示す。
代 理
同−符命は同−又は相当部分を
人
曽 我 道 照
罠30
47−同罰しンズ
帛5図
帛゛6図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 情報記録媒体に設けられた案内溝に沿って第1のビーム
およびこの第1のビームの後方に第2のビームを照射し
、前記第1、第2のビームでそれぞれ情報の記録および
再生を行う光記録再生装置において、 前記情報記録媒体からの前記第1、第2のビームに対応
した各独立のフォーカシングエラー検出信号およびトラ
ッキングエラー検出信号を生成する検出手段と、前記第
1、第2のビームのいずれかに対応した前記フォーカシ
ングエラー検出信号および前記トラッキングエラー検出
信号を切換え選択する切換手段と、選択された検出信号
によりフォーカシング制御、トラッキング制御を行う制
御手段とを備えてなることを特徴とする光記録再生装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63322128A JP2523841B2 (ja) | 1988-12-22 | 1988-12-22 | 光記録再生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63322128A JP2523841B2 (ja) | 1988-12-22 | 1988-12-22 | 光記録再生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02168436A true JPH02168436A (ja) | 1990-06-28 |
| JP2523841B2 JP2523841B2 (ja) | 1996-08-14 |
Family
ID=18140240
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63322128A Expired - Fee Related JP2523841B2 (ja) | 1988-12-22 | 1988-12-22 | 光記録再生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2523841B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60171639A (ja) * | 1984-02-16 | 1985-09-05 | Fujitsu Ltd | 光学ヘツドのトラツキング装置 |
-
1988
- 1988-12-22 JP JP63322128A patent/JP2523841B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60171639A (ja) * | 1984-02-16 | 1985-09-05 | Fujitsu Ltd | 光学ヘツドのトラツキング装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2523841B2 (ja) | 1996-08-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |