JPH0216994B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0216994B2 JPH0216994B2 JP57167093A JP16709382A JPH0216994B2 JP H0216994 B2 JPH0216994 B2 JP H0216994B2 JP 57167093 A JP57167093 A JP 57167093A JP 16709382 A JP16709382 A JP 16709382A JP H0216994 B2 JPH0216994 B2 JP H0216994B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- analysis
- measurement system
- analytical
- transport
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/20—Metals
- G01N33/202—Constituents thereof
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は鋼の分光分析装置に関するもので、
分析試料の受入れから分析結果の判定、報告及び
記録までの全工程を無人で処理し、且つ測定装置
に故障が起きたときでも迅速に対応し、連続操業
に対応することが出来るシステムで、生産工程と
直結したダイナミツクな自動化を実現したもので
ある。
分析試料の受入れから分析結果の判定、報告及び
記録までの全工程を無人で処理し、且つ測定装置
に故障が起きたときでも迅速に対応し、連続操業
に対応することが出来るシステムで、生産工程と
直結したダイナミツクな自動化を実現したもので
ある。
通常、分光分析装置は他の分析機器に比べてそ
の迅速性と正確さに大きな特長を有するもので、
コンピユータとの組合せによつて現在では鉄鋼製
造に欠くことが出来ない必須の分析機器に位置さ
るまで発展した。
の迅速性と正確さに大きな特長を有するもので、
コンピユータとの組合せによつて現在では鉄鋼製
造に欠くことが出来ない必須の分析機器に位置さ
るまで発展した。
他方、鉄鋼製造工程の大型化、迅速化および連
鋳機による連続化に対応するため、更に分析所要
時間の短縮が課題となつていた。
鋳機による連続化に対応するため、更に分析所要
時間の短縮が課題となつていた。
この発明はこのような実情に対応するために試
料を搬送したり、試料を切断研磨して分析可能な
状態にするのを自動的かつ迅速に行わせ、しかも
機械的要素に故障が起きたときでも、連続操業に
障害が起きないようにすることを目的とするもの
である。
料を搬送したり、試料を切断研磨して分析可能な
状態にするのを自動的かつ迅速に行わせ、しかも
機械的要素に故障が起きたときでも、連続操業に
障害が起きないようにすることを目的とするもの
である。
図面に基いてこの発明の一実施例を説明する。
連鋳工場2a、脱ガス工場3a、転炉工場4a
等の試料採取場所1と試料分析センター6との間
に分析試料(図示せず)を運ぶところのケースレ
ス圧送式試料搬送用気送管装置5を設けている。
該気送管装置5は600m〜800mのかなり離れた場
所間を気送管で分析試料を赤熱状態のままで迅速
に運ぶことができるようになつている。
等の試料採取場所1と試料分析センター6との間
に分析試料(図示せず)を運ぶところのケースレ
ス圧送式試料搬送用気送管装置5を設けている。
該気送管装置5は600m〜800mのかなり離れた場
所間を気送管で分析試料を赤熱状態のままで迅速
に運ぶことができるようになつている。
試料分析センター6では受取器7で分析試料を
受け取り、切換器8において本測定系統20か予
備測定系統30のいずれかの方に分析試料が送ら
れる。つまり、通常は自動化シーケンスが作動し
ている本測定系統20の方に分析試料が自動的に
送られるが分析工程でトラブルが生じて自動化シ
ーケンスが進行しなくなつた場合切換器8を手動
操作して分析試料は予備測定系統30の方に送ら
れる。
受け取り、切換器8において本測定系統20か予
備測定系統30のいずれかの方に分析試料が送ら
れる。つまり、通常は自動化シーケンスが作動し
ている本測定系統20の方に分析試料が自動的に
送られるが分析工程でトラブルが生じて自動化シ
ーケンスが進行しなくなつた場合切換器8を手動
操作して分析試料は予備測定系統30の方に送ら
れる。
自動切断研磨機21,31では受信した赤熱状
態の分析試料を冷却・切断し分析可能な状態にな
るように検体表面の研磨仕上を自動的に行う。
態の分析試料を冷却・切断し分析可能な状態にな
るように検体表面の研磨仕上を自動的に行う。
搬送ロボツト22,32は自動切断研磨機2
1,31で仕上げられた検体を把持して中間受皿
23,33の箇所まで搬送する。分析ロボツト2
4,34は検体を中間受皿23,33から把持し
て分光分析計26,36にセツトし、また標準試
料研磨機25,35から標準試料(図示せず)を
把持して分光分析計26,36にセツトし分析時
の経時的変化を初期状態に修正するための標準化
作業にも使われる。更に、分析ロボツト24,3
4は分析終了後標準試料を再度把持して標準試料
研磨機25,35に戻すことが出来る。
1,31で仕上げられた検体を把持して中間受皿
23,33の箇所まで搬送する。分析ロボツト2
4,34は検体を中間受皿23,33から把持し
て分光分析計26,36にセツトし、また標準試
料研磨機25,35から標準試料(図示せず)を
把持して分光分析計26,36にセツトし分析時
の経時的変化を初期状態に修正するための標準化
作業にも使われる。更に、分析ロボツト24,3
4は分析終了後標準試料を再度把持して標準試料
研磨機25,35に戻すことが出来る。
分光分析計26,36によつて得られた測光値
はマイクロ電算機27,37にて含有量に変換さ
れて分析コンピユータ10aに伝送される。分析
コンピユータ10aでは分析試料の有する製造番
号、製造工場名等の情報を予め連鋳工場2a、脱
ガス工場3a等におけるそれぞれの設定盤2b,
3b等から受信して記憶しているのでそれらの情
報と前記分光分析計26,36による分析値とを
つき合わせて上位コンピユータ11に分析結果を
自動的に報告することができる。即ち、分析コン
ピユータ10aが上位コンピユータ11に報告を
完了しないと次の試料発進は出来ないようになつ
ている。
はマイクロ電算機27,37にて含有量に変換さ
れて分析コンピユータ10aに伝送される。分析
コンピユータ10aでは分析試料の有する製造番
号、製造工場名等の情報を予め連鋳工場2a、脱
ガス工場3a等におけるそれぞれの設定盤2b,
3b等から受信して記憶しているのでそれらの情
報と前記分光分析計26,36による分析値とを
つき合わせて上位コンピユータ11に分析結果を
自動的に報告することができる。即ち、分析コン
ピユータ10aが上位コンピユータ11に報告を
完了しないと次の試料発進は出来ないようになつ
ている。
なお、気送管装置5による分析試料の発進前に
各分析試料の情報を前記の如く各設定盤2b,3
b,4bから分析コンピユータ10aに伝送して
おかなければ気送管装置5は作動しないようにな
つている。
各分析試料の情報を前記の如く各設定盤2b,3
b,4bから分析コンピユータ10aに伝送して
おかなければ気送管装置5は作動しないようにな
つている。
しかして、本測定系統20における分析工程に
トラブルが生じた場合には、ケースレス圧送式試
料搬送用気送管装置5が一旦閉鎖されるが切換器
8を操作して手動にすれば再び分析試料が送られ
る状態になり、経路9を経て分析試料は予備測定
系統30側に送られ、そこでの分析工程は本測定
系統20の場合と同様に行われる。
トラブルが生じた場合には、ケースレス圧送式試
料搬送用気送管装置5が一旦閉鎖されるが切換器
8を操作して手動にすれば再び分析試料が送られ
る状態になり、経路9を経て分析試料は予備測定
系統30側に送られ、そこでの分析工程は本測定
系統20の場合と同様に行われる。
上述した如くこの発明は、連鋳工場2a、脱ガ
ス工場3a等の試料採取場所1から試料分析セン
ター6へ分析試料を運ぶところのケースレス圧送
式試料搬送用気管装置5を設け、試料分析センタ
ー6に送られてきた分析試料を切換器8を介して
通常は本測定系統20に送ると共に手動により切
換器8を切換えたときには予備測定系統30に送
る如く構成し、本測定系統20及び予備測定系統
30はいずれも分析可能な状態に加工するところ
の自動切断研磨機21,31と該自動切断研磨機
21,31により加工された分析試料を中間受皿
23,33まで運ぶところの搬送ロボツト22,
32と分析試料を中間受皿23,33から分光分
析計26,36まで運ぶところの分析ロボツト2
4,34と分光分析計26,36で得られた測光
値を含有量に変換するマイクロ電算機27,37
とからなり、これらと、本測定系統20又は予備
測定系統30のマイクロ電算機から伝送されたデ
ータを測定、伝送、記録するところの各種コンピ
ユータ10a,11とを直列的に配設し試料の分
析が全て自動的に処理され得るように構成し本測
定系統20に故障が生じたときには前記ケースレ
ス圧送式試料搬送用気管装置5が一旦閉鎖される
如く構成したものである。
ス工場3a等の試料採取場所1から試料分析セン
ター6へ分析試料を運ぶところのケースレス圧送
式試料搬送用気管装置5を設け、試料分析センタ
ー6に送られてきた分析試料を切換器8を介して
通常は本測定系統20に送ると共に手動により切
換器8を切換えたときには予備測定系統30に送
る如く構成し、本測定系統20及び予備測定系統
30はいずれも分析可能な状態に加工するところ
の自動切断研磨機21,31と該自動切断研磨機
21,31により加工された分析試料を中間受皿
23,33まで運ぶところの搬送ロボツト22,
32と分析試料を中間受皿23,33から分光分
析計26,36まで運ぶところの分析ロボツト2
4,34と分光分析計26,36で得られた測光
値を含有量に変換するマイクロ電算機27,37
とからなり、これらと、本測定系統20又は予備
測定系統30のマイクロ電算機から伝送されたデ
ータを測定、伝送、記録するところの各種コンピ
ユータ10a,11とを直列的に配設し試料の分
析が全て自動的に処理され得るように構成し本測
定系統20に故障が生じたときには前記ケースレ
ス圧送式試料搬送用気管装置5が一旦閉鎖される
如く構成したものである。
この発明によれば、分析試料の分析作業が全て
無人で行われると共に分析時間短縮が行われ省力
化が実現出来る。
無人で行われると共に分析時間短縮が行われ省力
化が実現出来る。
そして、特に摩耗し易い自動切断研磨機を含む
系統は、本測定系統20と予備測定系統30の2
系統になつており、且つ手動により切換えられる
もので、連続操業に障害を与えることなく、故障
個所を修理することが出来る。
系統は、本測定系統20と予備測定系統30の2
系統になつており、且つ手動により切換えられる
もので、連続操業に障害を与えることなく、故障
個所を修理することが出来る。
また、分析作業の無人化を実現するために分光
分析計26を使う発光電極に自動クリーニング機
構を取付け、交換頻度を減少出来る。
分析計26を使う発光電極に自動クリーニング機
構を取付け、交換頻度を減少出来る。
また、分光分析計の経時的変化による分析精度
の悪化を防止するため、標準試料による修正作業
を自動標準試料研磨機25と分析ロボツト24と
の組合せによつて無人化出来る。
の悪化を防止するため、標準試料による修正作業
を自動標準試料研磨機25と分析ロボツト24と
の組合せによつて無人化出来る。
また、分析試料発送から分析結果報告に至る全
工程について必要なサンプルトラツキングシステ
ムが容易に構成出来るなどの特長がある。
工程について必要なサンプルトラツキングシステ
ムが容易に構成出来るなどの特長がある。
図面はこの発明に係る鋼の分光分析装置の一実
施例を示すブロツク線図である。 1……試料採取場所、2a……連鋳工場、2b
……設定盤、3a……脱ガス工場、3b……設定
盤、4a……転炉工場、4b……設定盤、5……
気送管装置、6……試料分析センター、7……受
取器、8……切換器、9……経路、10a……分
析コンピユータ、10b……設定盤、11……上
位コンピユータ、20……本測定系統、21,3
1……自動切断研磨機、22,32……搬送ロボ
ツト、23,33……中間受皿、24,34……
分析ロボツト、25,35……標準試料研磨機、
26,36……分光分析計、27,37……マイ
クロ電算機、30……予備測定系統。
施例を示すブロツク線図である。 1……試料採取場所、2a……連鋳工場、2b
……設定盤、3a……脱ガス工場、3b……設定
盤、4a……転炉工場、4b……設定盤、5……
気送管装置、6……試料分析センター、7……受
取器、8……切換器、9……経路、10a……分
析コンピユータ、10b……設定盤、11……上
位コンピユータ、20……本測定系統、21,3
1……自動切断研磨機、22,32……搬送ロボ
ツト、23,33……中間受皿、24,34……
分析ロボツト、25,35……標準試料研磨機、
26,36……分光分析計、27,37……マイ
クロ電算機、30……予備測定系統。
Claims (1)
- 1 連鋳工場、脱ガス工場等の試料採取場所から
遠隔地にある試料分析センターへ分析試料を運ぶ
ところのケースレス圧送式試料搬送用気送管装置
を設け、該試料分析センターに送られてきた分析
試料を切換器を介して通常は本測定系統に送ると
共に手動により切換器を予備測定系統に切換えた
ときには予備測定系統に送る如く構成し、前記本
測定系統及び予備測定系統はいずれも分析可能な
状態に加工するところの自動切断研磨機と該自動
自動切断研磨機により加工された分析試料を中間
受皿まで運ぶところの搬送ロボツトと分析試料受
皿から分光分析計まで運ぶところの分析ロボツト
と分光分析計で得られた測光値を含有量に交換す
るマイクロ電算機とからなり、これらと、本測定
系統又は予備測定系統のマイクロ電算機から伝送
されたデータを測定、伝送、記録するところの各
種コンピユータとを直列的に配設し試料の分析が
全て自動的に処理され得る如く構成し、本測定系
統に故障が生じたときには前記ケースレス圧送式
試料搬送用気送管装置が一旦閉鎖される如く構成
したことを特徴とする鋼の分光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57167093A JPS5956165A (ja) | 1982-09-25 | 1982-09-25 | 鋼の分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57167093A JPS5956165A (ja) | 1982-09-25 | 1982-09-25 | 鋼の分光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5956165A JPS5956165A (ja) | 1984-03-31 |
| JPH0216994B2 true JPH0216994B2 (ja) | 1990-04-19 |
Family
ID=15843286
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57167093A Granted JPS5956165A (ja) | 1982-09-25 | 1982-09-25 | 鋼の分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5956165A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0490899U (ja) * | 1990-12-25 | 1992-08-07 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54124796A (en) * | 1978-03-21 | 1979-09-27 | Sumitomo Metal Ind | Method of automatically analyzing molten steel sample |
-
1982
- 1982-09-25 JP JP57167093A patent/JPS5956165A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0490899U (ja) * | 1990-12-25 | 1992-08-07 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5956165A (ja) | 1984-03-31 |
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