JPH02172032A - 光検出装置 - Google Patents

光検出装置

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JPH02172032A
JPH02172032A JP63325905A JP32590588A JPH02172032A JP H02172032 A JPH02172032 A JP H02172032A JP 63325905 A JP63325905 A JP 63325905A JP 32590588 A JP32590588 A JP 32590588A JP H02172032 A JPH02172032 A JP H02172032A
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JP
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light
photodetector
axis
detection
focus
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JP63325905A
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English (en)
Inventor
Hideo Ando
秀夫 安東
Yuichi Nakamura
裕一 中村
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Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、例えば光学的に情報記録媒体に記録された情
報を再生する装置に適用することができる光検出装置に
関する。
(従来の技術) 最近、情報記録媒体の一種として光ディスクが脚光を浴
びつつある。その技術的背景には、レーザ発振技術の高
度化が挙げられ、それにより光ディスクが高密度、高速
性に優れたものとなっている。この光ディスクは、穴等
のピット形状で情報が記録され、記録された情報を再生
するには光ディスクに照射された光の反射率の変化を利
用する。但し光ディスクに対して情報の記録または再生
を行なう際には、光ディスクに照射される光を正確に光
デイスク上に焦点を合せるように制御するフォーカス・
サーボが要求されている。このフォーカス・サーボを行
なうために、従来様々なフォーカスを検出する方法が考
案されている。
例えば特開昭59−90237号公報で開示されている
ように、その光路上に設けられている光軸に対して非対
称に抜出すマスク(ナイフウエツジ等の遮光板)を介し
て、光ディスクからの光を光検出器で検出することによ
り、フォーカスの誤差検出を行なうものがある。この検
出方法においては、光ディスクからの光の結像点に光検
出器を配置している。また、この光検出器に照射される
光が、光検出上で移動することを利用して、フォーカス
状態を検出し、その検出結果により、フォーカス・サー
ボを行なうものである。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、この検出方法を用いて焦点を検出する場
合には、光ディスクからの光の結像点に光検出器が配置
されているために、光検出器上での光のビームスポット
のサイズが小さくなる。
このため、温度変化等による光学素子の変形による光軸
ずれ等の影響を受は易く、正確なフォーカシング$in
御を行なうことができないという欠点があった。
そこでこの発明は、光軸ずれ等の影響により、フォーカ
ス検出に与える誤差を軽減させるために2つの領域を通
った光が焦点ぼけ状態発生時に、光検出器上で互いに逆
方向に移動させることにより、フォーカス検出特性の安
定した光検出装置を提供することを口約とする。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明は上記課題を解決するために、情報記録媒体に光
を集光させる第1の集光手段と、情報記録媒体を経た光
のビーム断面を2分割する第1及び第2の領域を有し、
情報記録媒体を経た後、第1及び第2の領域に照射され
る光に対して、第1及び第2の領域において不均一な光
量を抜出す光学手段と、この光学手段で抜出された光を
非等方的もしくは非対称的に集光させる第2の集光手段
と、この第2の集光手段で集光される光を検出すること
により、第1の集光手段の情報記録媒体に対する位置の
変化を検出する検出手段とを具備する光検出装置を提供
する。
(作 用) 本発明における光検出装置においては、情報記録媒体を
経た光のビーム断面を2分割する第1及び第2の領域を
有し、しかも情報記録媒体を経た後、第1及び第2の領
域に照射される光に対して第1及び第2の領域において
不均一な光量を抜出す光学手段と、この光学手段により
抜出された光を非等方的もしくは非対称的に集光させる
集光手段とを具備することにより情報記録媒体からの光
を光学手段並びに集光手段を介して検出して、焦点ぼけ
検出を行なうものである。
この検出方法では、第1及び第2の領域の境界線に対し
非等方的もしくは非対称的に集光手段の非等方の方向を
傾けることにより、焦点ぼけ発生時に第1及び第2の領
域を通った光を光検出器上で互いに逆方向に移動させる
ために、光軸ずれ等によるフォーカス検出に与える影響
を軽減し、検出誤差をなくし安定した検出特性が得られ
る。
(実施例) 以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら説明する
第1図は、本発明の光検出装置を示す概略構成図である
。この装置は、半導体レーザで構成される光源10.光
[10からの光を平行光に変換するコリメートレンズ1
2.ビームスプリッタ14光を情報記録媒体18上に集
光させる対物レンズ16、情報記録媒体18から反射さ
れた光が照射される平行ガラス平板20.検出レンズ2
2並びに円筒レンズ24.及び情報記録媒体18から反
射された光を検出する光検出器26とから構成されてい
る。
合焦時におけるこの光検出装置において、光源10から
発光された光は、コリメートレンズ12により平行光に
変換される。平行光に変換された光は、ビームスプリッ
タ14を通過して対物レンズ16に向かい、この対物レ
ンズ16でより集光されて情報記録媒体18に照射され
る。この情報記録媒体18は、所謂、光ディスク18で
あり例えば、第2図に示すように基板30及び情報の記
録がなされる記録832により構成されている。
基板30は、プラスチック、ガラス又はアルミ等で構成
されている。記録膜32は金属膜、半金属膜、無機膜ま
たは6機膜等で構成されているものである。この基板3
0及び記録膜32には予め凹凸状の記録トラック34が
円心円状あるいはスパイラル状に形成されている。この
記録トラック34に沿って、情報ビット36が形成され
ている。
この光ディスク18への情報の記録の方法としては、記
録膜32に光を照射することにより、記録膜32を蒸発
させてビットを形成する方法、記録膜32を脹らませて
バブルを形成する方法、又は記録膜32の物理変化を生
じさせることなく化学変化を生じさせる方法等がある。
この光デイスク18上に照射された光は、光ディスク1
8で反射し、再び対物レンズ16に向かい、この対物レ
ンズ16を透過した後にビームスプリッタ14に照射す
る。ビームスプリッタ14に照射した光は、平行ガラス
平板20の方向に導かれ、平行ガラス平板20を透過し
、検出レンズ22及び円筒レンズ24を介して光検出器
26に照射される。平行ガラス平板20に照射する光は
光ディスク18のピットとその周辺部とで反射する光が
干渉の影響を受は不均一な光量分布となりている。すな
わち、平行ガラス平板20に照射する光の光軸37に直
交する平面での光量分布は、記録膜32に照射される光
が、記録トラック34上に乗っている場合には、第3図
に示すように、光軸37を中心とした対称形の境界線3
8の内側の領域38aで光量が減少し暗くなるが、外側
の領域38bは内側の領域38aに比較して明るくなる
ものである。この境界線38に沿って形成される内側の
領域38aの形状は、光ディスク18の記録トラック3
4に沿う方向に対称に形成されている。また、光ディス
ク30の記録トラック34に沿う方向に直交する方向に
対しても、照射される光が記録トラック34上に乗って
いる場合には、この境界線38に対して内側の領域38
aの形状は対称となり、記録トラック34からずれた場
合には、非対称となる。
そのため、記録トラック34に沿う方向を仮にa軸と設
定し、記録トラック34に沿う方向に直交する方向を仮
にb軸と設定して、平行ガラス平板20.検出レンズ2
2及び円筒レンズ24の光学系の配置関係を説明する。
平行ガラス平板20は、光ディスク18の記録トラック
34に沿った方向のa軸に平行な方向を境界線として分
割されている第1及び第2の領域19a及び19bを有
している。この第1及び第2の領域19a及び19bは
、各々遮光部20c及び20dと光透過部20b及び2
0aを有している。また、遮光部20e及び20dはa
軸及びb軸のそれぞれに非対称であり、a軸に沿う第1
及び第2の領域19a及び19bそれぞれに一部分づつ
形成されている。これにより、第1及び第2の領域にお
いてそれぞれ不均一な光量を抜出す構造となっている。
すなわち、第1及び第2の領域19a、19bの境界線
であるa軸が記録トラック34に沿った方向と略平行に
なっているため、記録トラック34に直交した方向で第
1及び第2の領域に分離され、各節1及び第2の領域内
で、記録トラック34に沿った方向で不均一な光量を抜
出すことになる。遮光部20c及び20dには遮光膜2
1が付加されているこの遮光膜21としては、例えば、
アルミ膜、クロム膜、炭素膜またはインジウムの酸化物
や窒化物などの無機物で形成される多層膜等の使用が考
えられる。このうち炭素膜または多層M(透過防止膜)
を用いると遮光膜21での反射が少なく、光学系に迷光
を与えにくい点で効果がある。第1図及び第4図に示す
遮光部20c及び20dを含む平行ガラス平板20にビ
ームスプリッタ14から導かれる光が照射されると、光
透過部20a及び20bに照射した光が平行ガラス平板
20を透過し、検出レンズ22に向かって導かれる。こ
のように、光透過部20a、20bは、平行ガラス平板
上に形成されているため、光透過部20a、20bで抜
出された2つの光は、路間−の方向に進行する。検出レ
ンズ22は、照射した光を均一に集光させる作用を有す
る。この検出レンズ22を通過した光は、非等方的もし
くは非対称的に集光させる手段である円筒レンズ24に
照射される。円筒レンズ24は、その母線方向23と母
線方向23に直交する方向とで、それぞれ集光する焦線
を生じ、光に非点収差を導入するものである。この円筒
レンズ24は、a軸に対して、母線方向23が略平行に
なるように配置されている。この円筒レンズ24を通過
した光は母線方向23では円筒レンズ24の作用を受け
ずに、円筒レンズ24の照射前と同じ方向に光は集光し
、集光位置Hで集光するが、母線方向23に直交する方
向では円筒レンズ24の作用を受け、母線方向23より
も近い集光位置Gで集光する。そこで、このような集光
特性を有する円筒レンズ24を通過した光は、集光色i
tHに配置されている光検出器26に照射される。光検
出器26は、4個の光検出セル26a 、26b 、2
6c及び26dより構成されており、各々は同程度の光
検出特性を有するものである。光検出セル26a、26
b、26c及び26dは、a軸に平行に設定されるa軸
及びb軸に平行に設定されるd軸にそれぞれが接するよ
うに配置されており、光検出器26は正方形状に組合さ
れている。この光検出器26上での像は、C軸方向に関
しては、光デイスク18上の像に対する結像点もしくは
その近傍に配置されているため、光の回折の影響を受け
にくい。
次に、このような構成を具備した光検出装置におけるフ
ォーカス誤差検出、トラック誤差検出並びに光ディスク
18からの情報再生の検出方法について説明する。
まず、フォーカス誤差検出の方法に関して第5図及び第
6図を参照して説明する。上記に説明した構造を有する
光検出装置においては、先ディスク18上において、対
物レンズ16から照射された光が合焦状態にある場合、
光検出器26でのビームスポット28の形状は、第5図
(a)に示すようになる。すなわち、合焦状態にある場
合に光ディスク18から平行ガラス平板20の光透過部
20aを透過した光は、光検出器26の光検出セル26
a及び26bの境界線上へ向けて照射される。これら光
検出セル26a及び26bに照射される光量はほぼ等し
く、かつd軸方向にある程度幅をもった形状となる。ま
た同様に光透過部20bを透過した光は、光検出器26
の光検出セル26c及び26dの境界線上へ向けて照射
される。
これら光検出セル26c及び26dに照射される光量は
ほぼ等しく、かつd軸方向にある程度幅をもった形状と
なる。これに対し、対物レンズ16に対して光ディスク
18が、合焦時に比べ近付いている場合には、第5図(
b)に示すようになる。
すなわち、平行ガラス平板20の光透過部20aを透過
した光は、母線方向23に直交する方向での集光位置が
合焦時の集光位置Gに比べ光検出器26に近付く。従っ
て、光検出セル26上でのビームスポット28の幅がd
軸方向で狭くなる。また母線方向23ではビームスポッ
ト28の幅が広くなった状態で、光検出器26の光検出
セル26aに照射される。また同様に、光透過部20b
を透過した光も、母線方向23に直交する方向での集光
位置が合焦時の集光位置Gに比べ光検出器26に近付き
ビームスポット28の幅がd軸方向で狭くなる。また母
線方向23ではビームスポット28の幅が広くなった状
態で、光検出器26の光検出セル26cに照射される。
更に、対物レンズ】6に対して光ディスク18が合焦時
に比べ遠ざかっている場合には第5図(C)に示すよう
になる。平行ガラス平板20の光透過部20aを透過し
た光は、母線方向23に直交する方向での集光位置が合
焦時の集光位置Gに比べ光検出器26から遠ざかる。従
って光検出器26上でのビームスポット28の幅がd軸
方向で広くなる。また、母線方向23では、集光したの
ち光検出器26に照射するため、光ディスク18が近付
いた場合とはd軸に対して反対側にビームスポットが移
動し光検出器26の光検出器セル26bに照射する。ま
た同様に、光透過部20bを透過した光も母線方向23
に直交する方向での集光位置が合焦時の集光位置Gに比
べ光検出器26から遠ざかる。従って、光検出器26上
でのビームスポット28の幅がd軸方向で広くなる。ま
た、母線方向23では集光したのち光検出器26に照射
するため、光ディスク18が近付いた場合とはd軸に対
して反対側にビームスポット28が移動し光検出器26
の光検出セル26dに照射する。
つまり、光検出器26上でのビームスポット28の形状
は、光ディスク18が対物レンズ16に対して合焦位置
にある場合を基準にすると近付いている場合と遠ざかっ
ている場合とでは光検出器26上のd軸に対して反対側
にビームスポットが移動する。
上述したように、光ディスク18と対物レンズ16との
位置関係に応じて、光検出器26上に照射されるビーム
スポット28の形状が変化する。
この形状を検出することによりフォーカス誤差信号を生
成する。このフォーカス誤差信号に生成する信号処理回
路の構成を第6図に示す。
光検出器26に照射された光は、光検出セル26aと2
6cの各出力信号を加算器40で加算し光検出セル26
bと26dの各出力信号を加算器42で加算する。これ
ら加算器40.42で得られた信号を減算器50により
減算することによりフォーカス誤差信号を得ることがで
きる。このフォーカス誤差信号を対物レンズ駆動回路5
6に供給し、対物レンズ駆動部58を制御することによ
り、対物レンズ16を光軸方向に移動させて、フォーカ
ス・サーボを行なう。このように、光検出セル26a及
び26cの和信号と光検出セル26b及び26dと和信
号とを比較することにより、フォーカス信号の検出を行
なうため、光軸ずれ等でビームスポット28がC軸又は
d軸方向に移動した場合においても誤差なく検出するこ
とができる。
また、この光検出装置においては、光ディスク18の記
録トラック34に沿う方向、円筒レンズ24の母線方向
23並びに光検出器26のC軸方向とが一致して配置さ
れている。そのため、この光検出装置においては、トラ
ック誤差の検出を行うこともできる。すなわち、このト
ラック誤差を検出する際には、光ディスク18に照射す
る照射光と、記録トラック34に沿う方向との相対関係
により、光ディスク18で反射する光の回折分布が変化
することを利用する。照射光の光束中心が記録トラック
34の中心線上にあるときに、光検出器26に照射する
光は、光検出器26のC軸に対し対称となる。すなわち
、光検出セル26a及び26b、26c及び26dには
それぞれ同等の光量が照射される。これに対し、照射光
の光束が記録トラック34の中心線上からずれたときに
、光検出器26に照射する光は、光検出器26のC軸に
対し非対称となる。すなわち、光検出セル26aと26
bの光量和と、26cと26dの光量和にはそれぞれ異
なる光量が照射される。照射された光は、それぞれ光検
出セル26a及び26bの各出力信号が加算器46で加
算され、光検出セル26c及び26dの各出力信号が加
算器48で加算される。この加算器46.48で加算さ
れた加算器46.48の出力信号は、光検出セル26a
及び26b、26c及び26dに照射された光量に応じ
た出力信号となり、減算器54で差を取ることにより、
従って、光検出セル26a及び26b、26c及び26
dに照射される光量差に応じたトラック誤差信号が得ら
れる。
このトラック誤差信号を対物レンズ駆動回路60に供給
して駆動部62を制御することにより対物レンズ16を
駆動させトラッキング・サーボを行なうものである。こ
のように光検出セル26aと26bに対し光検出セル2
6cと26dというように隣接関係で検出することによ
り、例えば、光デイスク18上の記録トラック34から
対物レンズ16を通過した光がずれた場合においても誤
差なく検出することができる。
さらに、例えば光デイスク18上の記録信号を検出する
時は、光検出セル26a、26b、26C及び26dの
各出力信号の和を加算器46,48及び52で加算する
。この加算信号を記録信号として取出せば光ディスク1
8に記録された情報の再生を行なうことができる。また
、フォーカス検出を行なう際、第5図(b)及び(c)
に示すように、光ディスク18と対物レンズ16との位
置関係が合焦状態にない場合に、ビームスポット28が
光検出セル26aと260.光検出セル26bと26d
というように対角に分割されてそれぞれが光検出器26
に照射し、合焦時のC軸方向のスポットサイズが小さい
ために、検出感度が大きくなり誤検出のない安定したフ
ォーカス検出が得られる。
次に、本発明の他の実施例を説明する。
まず、第1図の平行ガラス平板20の他の構成について
、第7図及び第8図を参照して説明するまた、光検出器
26を第1図での合焦時における、母線方向23に直交
する方向での集光位置Gと母線方向23での集光位置H
との間の位置に配置させている。第7図に示すように、
平行ガラス平板20゛は、第1及び第2の領域19a及
び19bのどちらも遮光膜21が付与されている場所以
外は光透過部25となっている。また、第1の領域19
a゛の光の照射方向から向かって、b′軸のマイナス側
でありかつb軸から遠い半分の領域に遮光膜21が付与
されている。遮光膜21は、また、第2の領域19bの
光の照射方向から向かって、b′軸の上側でありかつb
軸から遠い半分の領域に付与されている。また、光検出
器26上のビームスポット28′の形状は、第8図に示
すように、曲線の囲まれた部分になっている。対物レン
ズ16を通過した光が光デイスク18上で合焦状態にあ
る場合、光検出器26上でのビームスポット28゛の形
状は第7図の平行ガラス平板20′のb軸に非対称で第
1及び第2の領域の各領域から長方形に抜出された光で
形成される。光透過部25を透過した光は、母線方向2
3に直交する方向で集光したのち母線方向23で集光す
る前に光検出器26に照射し、第8図(a)に示すよう
に光検出器26の4つの領域にまたがる。この形状を第
7図に示す平行ガラス平板20゛を用いた場合の合焦時
の形状と設定する。このとき光検出器26へのビームス
ポット28゛による照射光量を光検出セル26a 、2
6b 、26c及び26dにそれぞれ等しくなるように
光検出器26を光軸を中心として回転させている。この
合焦時に比較し、対物レンズ16に対して光ディスク1
8が近付いている場合には、第8図(b)に示すように
第8図(a)の合焦時の形状に比較し、ビームスポット
28゛の形状はd軸方向で幅が狭くなり、C軸方向で反
対に長く幅をもった形状となる。また、合焦時に比較し
対物レンズ16に対して光ディスク18が遠ざかってい
る場合には、第8図(C)に示すように第8図(a)の
合焦時の形状に比較し、ビームスポット28−の形状は
d°軸方向では幅が広くなるがC軸方向では、反対に狭
くなっている。
さらに、第1図の平行ガラスの平板20の他の構成につ
いて、第9図及び第10図を参照して説明する。またこ
の時、光検出器26を第1図での合焦時における、母線
方向23での集光位置Hよりも光の進光方向に距離を長
くした位置に配置してみる。第9図に示すように、平行
ガラス平板20”は、第1及び第2の領域19a及び1
9bでa軸及びb軸に対し非対称に遮光膜21が付与さ
れている。光透過部27の形状は、略楕円形でありかつ
この略楕円形の長袖がa軸またはb軸に対して約45°
傾いており、また略楕円形の長袖と短軸の交点はa軸と
b軸の交点とほぼ一致している。光検出器26上のビー
ムスポット28“の形状は、第10図の曲線で描かれた
形状になっている。対物レンズ16を通過した光が光デ
イスク18上で合焦状態にある場合、光検出器26“上
でのビームスポット28”の形状は、第9図の平行ガラ
ス平板20”のa軸とb軸との交点に対称な略楕円状の
光透過部27を透過した光は、母線方向23に直交する
方向で集光したのち、母線方向23で集光しその後光検
出器26に照射し、第10図(a)に示すように集光状
態になく光検出器26の光検出セル26a 、26b 
、26e及び26dにまたがる略楕円形の形状になる。
この形状を第9図に示す平行ガラス平板20″を用いた
場合の合焦時の形状と設定する。この時光検出器26へ
のビームスポット28°による照射光量を光検出セル2
6a 、26b 、26c及び26dにそれぞれに等し
くなるように光検出器26を光軸を中心として回転させ
ている。
この合焦時に比較し、対物レンズ16に対して光ディス
ク18が近付いている場合には、第10図(b)に示す
ように第10図(a)の合焦時の形状に比較し、ビーム
スポット28“の形状は長い軸及び短い軸の長さがそれ
ぞれ小さくなっている。また、合焦時に比較し対物レン
ズ16に対して光ディスク18が遠ざかっている場合に
は、第10図(c)に示すように、第10図(a)の合
焦時の形状に比較し、略楕円状のビームスポット28″
の長軸が傾き、また、長い軸及び短い軸共に長さが大き
くなっている。
上述したように、光検出器26を第1図での合焦時にお
ける母線方向23での集光位置Hの前後に配置した場合
においても、光検出器26を集光位置Hに配置した場合
と同様の検出効果が得られる。つまり、対物レンズ16
と光ディスク18とが合焦位置にある場合を基準にそれ
らが近付いている時と遠ざかっている時とでは光検出器
26上でのビームスポット28の形状は、光1出セル2
6a及び26cと光検出セル26b及び26dとで、検
出する場合に検出感度を高めるような形状で移動する。
すなわち、第6図における信号処理は、光検出器26を
集光位置Hの前後に配置した場合にも適用することがで
きる。
平行ガラス平板20に付与させる遮光膜21の記録トラ
ック34に沿った方向のa軸に平行な方向が境界線とな
るように分割された第1及び第2の領域19a及び19
bにおいて不均一な光量を抜出し、かつそれぞれ第1及
び第2の領域19a及び19bが記録トラック34に沿
って非対称な光量を抜出すように付与させる。この光学
手段において、合焦時に光検出器26に照射するビーム
スポット28の形状を基準とし、対物レンズ16と光デ
ィスク18との相対距離が合焦時に比較し近い場合と遠
い場合とで、ビームスポット28の光検出器26上での
形状は、光検出器26に照射する光量が光検出セル26
a及び26cから光検出セル26b及び26dあるいは
光検出セル26b及び26dから光検出セル26a及び
26eと片寄って増加する。これにより、光検出セル2
6a及び26eと光検出セル26c及び26dとでの光
量検出の差が大きくなり、誤検出のない安定した検出を
行なうことができる。また、光軸が記録トラック34方
向、あるいは、記録トラック34方向に直交する方向に
ずれた場合でも、このように検出することにより正確に
フォーカスを検出することができる。
本発明の実施例においては、検出レンズ22を具備する
構成としたがこの検出レンズ22は光検出器26で小さ
なビームスポット28を得るために使用されるものであ
り、光検出器26が充分に広い検出領域を有するもので
あればこの検出レンズ22は不用である。また、光検出
器26を配置する位置であるが、本実施例においては、
集光位置H及びその前後に配置したが集光位置G及びそ
の前後であっても同様の効果を得ることができるまた、
光ディスク18からの光を反射光として取扱ったがこれ
は透過光に関しても同様のことが言える。また、記録ト
ラック34に沿う方向に平行な軸をa軸とし、a軸に直
交する軸をb軸としたがこれは略直交関係にあればよい
。また、a軸に平行な軸をa軸及びb軸に平行な軸をa
軸としたがこれも略平行関係にあれば良い。さらに、平
行ガラス平板20に遮光膜21を付与するとしだが遮光
する必要はなく明暗に不均一な光量を抜出す部材であれ
ば良い。
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、光軸ずれ等の検出
に与える誤差を軽減し、フォーカシング制御を行なう上
で検出特性の安定した光検出装置が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す構成図であり、第2図
は記録トラック形成例であり、第3図は光ディスクから
の反射光量分布図であり、第4図、第7図及び第9図は
本実施例の遮光部を含む平行ガラス平板の図であり、第
5図、第8図及び第10図は実施において光検出器での
ビームスポットの形状であり、第6図は光検出器の出力
信号の信号処理を示す図である。 16・・・対物レンズ、20・・・平行ガラス平板、2
4・・・円筒レンズ、18・・・光ディスク、26・・
・光検出器 第 図 (a) C(ζ) d 第 図 第 図 第 図 IYI2 第 図 第 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 情報記録媒体に光を集光させる第1の集光手段と、 前記情報記録媒体を経た光のビーム断面を2分割する第
    1及び第2の領域を有し、前記情報記録媒体を経た後、
    前記第1及び第2の領域に照射される光に対して、前記
    第1及び第2の領域において不均一な光量を抜出す光学
    手段と、 この光学手段で抜出された光を非等方的もしくは非対称
    的に集光させる第2の集光手段と、この第2の集光手段
    で集光される光を検出することにより、前記第1の集光
    手段の前記情報記録媒体に対する位置の変化を検出する
    検出手段と、を具備することを特徴とする光検出装置。
JP63325905A 1988-12-26 1988-12-26 光検出装置 Pending JPH02172032A (ja)

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