JPH02179929A - 光記録媒体の信号検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、光記録媒体のサーボ制御信号や該光〔発明の
概要〕 本発明は、光記録媒体のサーボ制御信号や該光記録媒体
の信号を検出する方法において、光記録媒体にレーザ光
を照射し、該光記録媒体から反射されるレーザ光をビー
ムスプリッタを用いて２分割し、該分割された一方のレ
ーザ光を第１のシリンドリカルレンズを介して、第１の
光検出器で検出し、分割された他方のレーザ光を、第１
のシリンドリカルレンズの母線の方向と直交する母線の
方向を有する第２のシリンドリカルレンズを介して、第
２の光検出器で検出し、それらを用いて演算を行うこと
により、光記録媒体、特に光ディスクの偏心、スキュー
、複屈折に起因するオフセット及び溝横断ノイズが除去
できるため、カップリング効率が高く、かつ光記録媒体
の偏心等の影響を受けないサーボ信号や光磁気信号の検
出ができるようにしたものである。

〔従来の技術〕

光記録媒体、例えば光ディスクのトラッキングエラー信
号検出方法としては、所謂ブシュプル法と差動ブシュプ
ル法が広く採用されている。しかし、ブシュプル法は、
光ディスクに偏心やスキュー（傾き）があると光検出器
上でレーザ光のスポットがシフトするためにトラッキン
グエラー信号にオフセットが生じる。また、差動ブシュ
プル法は、回折格子によりレーザ光の３スポツト（１つ
のメインスポットと２つのサイドスポット）を作り、光
デイスク上で両サイドスポットをメインスポットに対し
、半径方向にトラックピッチの２分の１それぞれずらし
て配置し、メインとサイドのそれぞれのスポットに対し
、ブシュプル信号を検出しその差動を取ることにより、
上記オフセットを除去することができる。しかし、該差
動ブシュプル法は上記ブシュプル法に比べてレーザ光の
利用効率（カップリング効率）が悪くなる。

次に、光ディスクのフォーカスエラー信号を検出する方
法としては、所謂非点収差法が広く採用されている。し
かし、非点収差法では、光デイスク上に予め設けられた
グループ（案内溝）を横切るときに、所謂溝横断ノイズ
がフォーカスエラー信号に混入しシーク時に問題がある
。また、光磁気ディスクの信号（光磁気信号）を１つの
光学系で同時に検出すると、複屈折によって、フォーカ
スエラー信号にオフセットが発生する。上記溝横断ノイ
ズを取り除く方法としては、光路中に溝横断ノイズをカ
ットする空間フィルタ（所定の形状のスリット）を挿入
する方法が用いられている。

しかし、光磁気信号を１つの光学系で同時に検出すると
光検出器に入射される光量が減少し、Ｓ／Ｎ比が悪くな
る。

また、光ディスクのフォーカスエラー信号検出に非点収
差法を用い、トランキングエラー信号検出に差動ブシュ
プル法を用いる方法が広く採用されている。この方法は
、複屈折によるフォーカスエラー信号のオフセットもな
く、偏心やスキューに起因するトランキングエラー信号
のオフセットもない効果的な方法である。しかし、上記
のように３スポツトを用いるので、カップリング効率が
悪くなる。

ところで、現状のフォーカスサーボ制御によるフォーカ
スの引込み範囲は±５〜±１０ｕｍが一般的に用いられ
ている。したがって、光ディスクが大きな加速度で振ら
れ、光ディスクと対物レンズの距離が上記範囲の±５〜
±１０ａｍ以上になるとフォーカスが外れ、システムダ
ウンとなってしまう、一方、上記フォーカスの引込み範
囲を広くすると、フォーカス検出感度が低下する。

〔発明が解決しようとする！！￥題〕

そこで、本発明は、上記の如き従来の実情に鑑み、カッ
プリング効率が高く、かつ光記録媒体、特に光ディスク
の偏心、スキュー、複屈折の影響を受けないサーボ信号
や光磁気信号の検出方法の提供及び振動に強いフォーカ
スエラー信号検出方法の提供を目的とする。

〔課題を解決するための手段） 本発明に係る光記録媒体の信号検出方法は、上述の課題
を解決するために、光記録媒体ニレーザ光を照射し、該
光記録媒体から反射されるレーザ光をビームスプリッタ
を用いて２分割し、該分割された一方のレーザ光を第１
のシリンドリカルレンズを介して、第１の光検出器で検
出し、上記分割された他方のレーザ光を、上記第１のシ
リンドリカルレンズの母線の方向と直交する母線の方向
を有する第２のシリンドリカルレンズを介して、第２の
光検出器で検出することにより、所謂トラッキングエラ
ー信号等のサーボ制御信号や該光記録媒体に記録されて
いる信号を検出することを特徴としている。

〔作　用〕

本発明に係る光記録媒体の信号検出方法では、母線の方
向が互いに直交した第１、第２のシリンドリカルレンズ
を介して、第１、第２の光検出器で光記録媒体の信号を
検出し、それらを用いて演算を行うことにより、光記録
媒体、特に光ディスりの偏心、スキュー、複屈折に起因
するオフセット及び溝横断ノイズが除去できるため、カ
ップリング効率が高く、かつ上記光ディスクの偏心等の
影響を受けないサーボ信号や光磁気信号の検出ができる
。

また、上記信号の検出のための光学系が２系統あり、各
光学系の焦点距離を異ならせることができるため、所謂
フォーカスの引込み範囲を２種類とすることができる。

（実施例〕 本発明に係る光記録媒体、例えば光磁気ディスクのサー
ボ信号や光磁気信号の検出方法の一実施例について図面
を参照しながら説明する。

第１図は光磁気ディスクのサーボ信号や光磁気信号を検
出する方法に用いられる所謂光学ピックアップの構成図
である。この図において、レーザ光源１１からのレーザ
光は、コリメータレンズ１２を介して平行光線とされた
後、ビームスプリッタ１３及び光軸方向と光磁気ディス
クの半径方向に移動可能な対物レンズ１４を介して、光
磁気ディスク３０に照射される。

次に、該光磁気ディスク３０で反射されたレーザ光は再
び上記対物レンズ１４を介してビームスプリンタ１３に
入射され、光軸の方向が９０度変えられる。この光軸の
方向が変えられたレーザ光は１／２波長板１５で偏光面
が４５度回転され、収束レンズ１６を介して偏光ビーム
スプリッタ１７に入射される。該偏光ビームスプリッタ
１７において、互いに直交する偏光面を有する偏光成分
に分離される。この偏光ビームスプリッタ１７を透過し
た一つの偏光面を持つ偏光成分は、後述するようにシリ
ンドリカルレンズの母線の方向が光磁気ディスクのトラ
ック方向に対して４５度傾けて設定されたシリンドリカ
ルレンズ１８を介して、４分割された、例えばＰＩＮフ
ォトダイオード（ディテクタ）で構成される光検出器１
９に入射される。一方、この偏光ビームスプリッタＩ７
で反射される他の偏光面を持つ偏光成分はミラー２０を
介して光軸方向が９０度変えられた後、シリンドリカル
レンズの母線の方向が上記シリンドリカルレンズ１８の
母線の方向と直交するように設定されたシリンドリカル
レンズ２１を介して、４分割された、例えばＰＩＮフォ
トダイオード（ディテクタ）で構成される光検出器２２
に入射される。上記各ディテクタの出力信号より、上述
のサーボ信号や光磁気信号が求められる。

次に、第２図において、光磁気ディスク３０で反射され
るレーザ光のスポットの強度分布、上記シリンドリカル
レンズ１日、２１の母線の方向及び上記光検出器１９．
２２の各ディテクタ上でのレーザ光のスポットの強度分
布の関係を説明する。

第２図中ａは上記光磁気ディスク３０で反射されたレー
ザ光のスポット３３の強度分布を示し、図中の斜線部及
び網目部は該光磁気ディスク３０上に予め設けられたグ
ループ３２によって干渉が起こり、反射光量が少なくな
っていることを表す。

シリンドリカルレンズ１８の母線Ｌ１及びシリンドリカ
ルレンズ２１の母線Ｌ２の方向は、図で示すようにトラ
ンクの方向に対しそれぞれ反対の方向に４５度傾いてい
る。

第２図中す及びＣは、光検出器１９及び２２のディテク
タ上のレーザ光のスポット３４．３５の強度分布を示し
、第２図中ａの斜線部及び網目部が、第２図中す及びＣ
の斜線部及び網目部にそれぞれ対応しており、上記干渉
によって、暗くなっていることを表す、また、第２図中
ａ、ｂ及びＣのアルファベラ）Ｏ，Ｐ、Ｑ及びＲはそれ
ぞれに対応している。すなわち、第２図中すのレーザ光
のスポットの強度分布パターンは、シリンドリカルレン
ズ１８の母線り、を軸として、第２図中ａのレーザ光の
強度分布パターンを半回転させたものである。また、第
２図中Ｃのレーザ光のスポットの強度分布パターンは、
シリンドリカルレンズ２１の母線Ｌｘを軸として、第２
図中ａのレーザ光の強度分布パターンを半回転させたも
のである。

また、第２図中すのＡｌｓ　Ｂｌｓ　ｃ＋及びり、は光
検出器１９の４分割されたディテクタ１９Ａ、１９Ｂ、
１９Ｃ１１９Ｄでそれぞれ検出されるパワーを表し、第
２図中ＣのＡ２、Ｂ１、Ｃ０及びＤｔは光検出器２２の
４分割されたディテクタ２２Ａ、２２Ｂ、２２Ｃ１２２
Ｄでそれぞれ検出されるパワーを表す。

これらのディテクタで検出されるパワーの関係は、Ａ１
・Ｃ＊、Ｂ＋・Ｉｈ、Ｃ＋・Ａｘ、Ｄ＋−Ｂｚ　となる
。

上記の場合、トラッキングエラー信号は、光検出器１９
及び２２の出力信号を用いて、それぞれのブシュプル信
号を求めその差動を取ることにより、 ［（Ａ＋＋Ｄ＋）−（ａ＋＋ｃ＋）］　−［（Ａｔ＋Ｄ
ｚ）−（Ｂｚ＋Ｃｚ）］で求められる。ここで、レーザ
光のスポットが光磁気ディスクの内周方向に移動した場
合、斜線部が網目部より一層暗くなる。すなわち、（＾
１÷Ｄ＋）＜（Ｂ＋　＋Ｃ＋）、（＾、＋Ｄ、）＞（Ｂ
ｔｕ＋、）となり、上記トラッキングエラー信号の値は
負となる。逆にレーザ光のスポットが光磁気ディスクの
外周方向に移動した場合、上記とは逆に網目部が斜線部
より一層暗くなる。すなわち、（Ａ＋＋Ｄ＋）＞（Ｂ＋
＋Ｃ＋）、（Ａｔ＋Ｄｔ）＜（Ｂｔ＋Ｃｚ）となり、上
記トラッキングエラー信号の値は正となる。すなわち、
該トラッキングエラー信号の値が常に零となるように、
第１図の対物レンズ１４を光磁気ディスク３０の半径方
向に移動（トランキングサーボ制′４：ｔｌｌ）Ｌ、正
確なトラッキングを行わせることが可能となる。

次に、フォーカスエラー信号は、光検出器１９及び２２
の出力信号を用い、非点収差法によってそれぞれのフォ
ーカスエラー信号を求めその差動を取ることにより、 ［（ＡＩ＋ＣＩ）−（ＢＩ＋ＤＩ）Ｉ−［（Ａ２＋Ｃ２
）−（Ｂｚ＋Ｄｚ）］で求められる。

ここで、第３図乃至第７図を用いてフォーカスエラー信
号を説明する。これら第３図乃至第７回中各ａは光検出
器１９のディテクタ上のレーザ光のスポット３４の強度
分布を示し、第３図乃至第７図中各すは光検出器２２の
ディテクタ上のレーザ光のスポット３５の強度分布を示
し、図中の斜線部及び網目部は光量が少なくなっている
ことを表す。

第３図はフォーカスが合っている状態を示し、レーザ光
のスポット３４．３５の形状は円形となり、各ディテク
タのパワーの関係は、 Ａｔ−Ｄ＋、Ｂ＋＝Ｃ＋、Ａ２・Ｄｔ、　Ｂ！・Ｃ８と
なる。したがって、光検出器１９の出力信号から得られ
るフォーカスエラー信号［（ＡＩ＋ＣＩ）−（Ｂｌ＋Ｄ
Ｉ）］及び光検出器２２の出力信号から得られるフォー
カスエラー信号（（ｌｈ＋ｃ宜）　−（Ｂｇ＋［１ｚｌ
ｌ　Ｏ値はそれぞれ零となり、上記フォーカスエラー信
号の値も零となる。

第４図は対物レンズが光磁気ディスクに近い状態を示し
、レーザ光のスポット３４の形状は左上がりの楕円形、
レーザ光のスポット３５の形状は右上がりの楕円形とな
り、各ディテクタのパワーの関係は、 ＾＋＞Ｄ＋＋８１＜Ｃ１＋Ａｚ＜０１＋８１＞Ｃ！とな
る。したがって、光検出器１９の出力信号から得られる
フォーカスエラー信号［（Ａ＋＋Ｃ＋）−（Ｂ１＋Ｄ＋
）１の値は正となり、光検出器２２の出力信号から得ら
れるフォーカスエラー信号［（Ａｚ＋Ｃｚ）−（Ｂｚ＋
Ｄｇ）　］の値は負となり、上記フォーカスエラー信号
は正の値となる。

第５図は対物レンズが光磁気ディスクに遠い状態を示し
、レーザ光のスポット３４の形状は右上がりの楕円形、
レーザ光のスポット３５の形状は左上がりの楕円形とな
り、各ディテクタのパワーの関係は、 ＡＨ＜０１．Ｂ＋＞Ｃ１，Ａ２＞Ｄｚ＋８２＜Ｃ２とな
る。したがって、光検出器１９の出力信号から得られる
フォーカスエラー信号［（Ａ＋＋ｃ＋）−（Ｂｒ＋ｏ＋
）］の値は負となり、光検出器２２の出力信号から得ら
れるフォーカスエラー信号［（ａｚ＋ｃｔ）−（Ｂｚ＋
ｏｚ）］の値は正となり、上記フォーカスエラー信号は
負の値となる。

第６図は上述した光磁気ディスクの偏心、スキューによ
って、レーザ光のスポット３４．３５がシフトした場合
であって、フォーカスが合っている状態を示し、レーザ
光のスポット３４．３５の形状は円形であり、上方にシ
フトした形となる。

各ディテクタのパワーの関係は、 Ａ＋＝Ｄ＋、Ｂ＋＝Ｃ＋、Ｉｈ＝Ｄｚ、Ｂｘ＝Ｃｚとな
る。したがって、光検出器１９の出力信号から得られる
フォーカスエラー信号［（Ａ＋＋Ｃ＋）−（Ｂ＋＋Ｄ＋
）］及び光検出器２２の出力信号から得られるフォーカ
スエラー信号［（ａｚ＋ｃｚ）−（Ｂｚ＋ｏｔ）］　の
値はそれぞれ零となり、上記フォーカスエラー信号の値
も零となる。

第７図は複屈折がある場合に複屈折による影響を取り出
して示す図である。この複屈折による影響は、光検出器
１９と光検出器２２に対して同相成分である。したがっ
て、上述のように光検出器１９及び２２の出力信号でそ
れぞれのフォーカスエラー信号を求めその差動を取るこ
とにより除去できる。

すなわち、上記フォーカスエラー信号の値が常に零とな
るように、第１図の対物レンズ１４を光軸方向に移動（
フォーカスサーボ制御ｌ）シ、正確なフォーカスレンズ
を行わせることが可能となる。

また、光磁気ディスクの偏心、スキューまたは複屈折が
あっても、これらの要因に起因する上記フォーカスエラ
ー信号のオフセットは光検出器１９及び２２に対し同相
となるため、光検出器１９及び２２の出力信号でそれぞ
れのフォーカスエラー信号を求めその差動を取ることに
より、上記オフセットを除去できる。

また、第２図において、光磁気信号は、（Ａ、＋Ｂ、÷
ＣＩ＋ＤＩ）−（Ａ富＋ＢＨ＋Ｃ＊＋Ｄｔ）で求められ
る。

所謂プルイン（Ｆｕｌｌ　ｉｎ）信号は、（Ａ１＋８１
＋Ｃ１＋Ｄ＋）÷（Ａ１＋８１＋Ｃ１＋Ｄ＋）で求めら
れる。

上記実施例では、第１図のシリンドリカルレンズ１８及
び２１の焦点距離がほぼ等しい場合であったが、シリン
ドリカルレンズ１８．２１の焦点距離をそれぞれＦ＋、
Ｆｉ（例えばＦ＋　＜Ｆｉ　）とし、光検出器１９で検
出可能なフォーカスの範囲を例えば±４０μｍとし、光
検出器２２で検出可能なフォーカスの範囲を例えば±５
μｍとする。

この場合の光検出器１９及び２２のディテクタ上のレー
ザ光のスポットの形状を第８図及び第９図に示す。

第８図及び第９図において、第８図及び第９図中ａは光
検出器１９のディテクタ上のレーザ光のスポット３４の
形状を示し、第８図及び第９図中すは光検出器２２のデ
ィテクタ上のレーザ光のスポット３５の形状を示す。

第８図は光磁気ディスクと対物レンズとの距離が近い状
態を示す。この場合、光検出器１９で検出可能なフォー
カスの範囲が±４０μｍと広いため、レーザ光のスポッ
ト３４は円形から余り変形していない形状となり、光検
出器１９の出力信号から得られるフォーカスエラー信号
（（ＡＩ＋ＣＩ）−（Ｂｌ＋ＤＩ））は小さな値となる
。しかし、上記の距離は光検出器２２で検出可能な範囲
内にあり、レーザ光のスポット３５は右上がりの楕円形
の形状となる。したがって、光検出器２２の出力信号か
ら得られるフォーカスエラー信号（（Ａ２＋Ｃｚ）−（
Ｂｔ＋Ｄｚ）　）の値はフォーカスサーボ制御を行うの
に十分な大きな値となる。

また、第９図は光磁気ディスクと対物レンズとの距離が
遠く、上記光検出器２２のフォーカスの検出可能な範囲
±５μｍを越えた状態を示す、この場合、レーザ光のス
ポット３５は、光検出器２２のディテクタの面積より大
きく広がった楕円形の形状となり、該光検出器２２の出
力信号から得られるフォーカスエラー信号は使用できな
い、しかし、上記の距離は光検出器１９で検出可能なフ
ォーカスの範囲内にあり、レーザ光のスポット３４は、
左上がりの楕円形の形状となる。したがって、光検出器
１９の出力信号から得られるフォーカスエラー信号〔（
＾＋＋Ｃ＋Ｌ　（＋３−＋＋［＋＋）　］の値はフォー
カスサーボ制御を行うのに十分な大きな値となる。

上記の場合の光検出器１９．２２の出力信号からそれぞ
れ得られるフォーカスエラー信号及びそれらの合成され
たフォーカスエラー信号（合成フォーカスエラー信号）
を第１０図に示す、この図において、第１０図中ａは光
検出器２２の出力信号から得られるフォーカスエラー信
号を示し、第１０図中すは光検出器１９の出力信号から
得られるフォーカスエラー信号を示し、第１０図中Ｃは
上記２つのフォーカスエラー信号を合成して得られる合
成フォーカスエラー信号を示す。ここで、該合成フォー
カスエラー信号が常に零となるように対物レンズのフォ
ーカスサーボ制御を行うものとする。または、光検出器
１９．２２の出力信号から得られる上記２つのフォーカ
スエラー信号を切替えて用い、フォーカスサーボ制御を
行うものとする。すなわち、フォーカスが大きく外れた
場合（±５〜±４０μｍ）には光検出器１９の出力信号
から得られるフォーカスエラー信号を用いてフォーカス
サーボ制御（ラフ・フォーカスサーボ制１ｌｌ）を行い
、フォーカスが余りずれていない場合（±５ａｍ以下）
には光検出器２２の出力信号から得られるフォーカスエ
ラー信号を用いてフォーカスサーボ制御Ｉ（ジャスト・
フォーカスサーボ制御）を行い、フォーカスサーボ制御
が可能な範囲を広げると共に、フォーカス検出感度も高
く維持することが可能となる。この結果、上述のフォー
カスの外れに起因するシステムダウンを回避することが
できる。なお、この第１０図において、破線は、所定の
フォーカス検出可能な範囲を外れ、レーザ光のスポット
が広がりすぎて、光検出器１９．２２に入射れる光量が
減少し、フォーカスエラー信号が減少する様子を示す。

つぎに、上述のフォーカスエラー信号の切替えの説明を
第１１図を用いて説明する。第１１図中ａは光検出器２
２の出力信号から得られるプルイン信号を示し、第１１
図中すは光検出器１９の出力信号から得られるプルイン
信号を示し、第１１図中Ｃは上記２つのプルイン信号を
合成してえられる信号（合成プルイン信号）を示す。こ
の合成プルイン信号に２つの閾値レベルＴＨ，及びＴＨ
ｌを設定し、上述のラフ・フォーカスサーボ制御を行う
範囲をＴＨ，〜ＴＨ２とし、ジャスト・フォーカスサー
ボ制御を行う範囲をＴＨ，以上とし、上記合成プルイン
信号の値がどの範囲に存在するかを検出することで、フ
ォーカスエラー信号の切替えを行うのである。なお、上
記２つの閾値レベルＴ　ＨＩ及びＴＨ，は合成プルイン
信号に設定する代わりに、上記の光検出器１９．２２の
出力信号から得られるそれぞれのプルイン信号に設定し
てもよい。

また、この閾値レベルＴＨ，及びＴ　Ｈｚを各種の表示
、例えば光デイスク装置の状態表示に利用することも可
能である。すなわち、合成プルイン信号の値がＴＨ，以
上の時はジャスト・フォーカスサーボ制御状態であるこ
とを、ＴＨ，〜Ｔ　Ｈｚの範囲にある時は、ラフ・フォ
ーカスサーボ制御状態であることを、ＴＨ，以下に一度
なった時はフォーカス外れが起こったことを表示するこ
とに、これらの閾値レベルを利用できる。また、フォー
カスが外れた場合にその外れた具合によって、アラーム
をエマージェンシアラーム等と表示することも可能であ
る。

なお、上記の第１図においては、収束レンズ１６を１／
２波長板１５と偏光ビームスプリンタ１７との間に配置
したが、この代わりに収束レンズを偏光ビームスプリッ
タ１７とシリンドリカルレンズ１８との間及びミラー２
ｏとシリンドリカルレンズ２１との間にそれぞれ配置し
ても同様な効果を得ること力咄来る。この場合、上記収
束レンズとシリンドリカルレンズを一体構成のレンズと
して、光軸上で前後に調整すればよい。

〔発明の効果〕

上述の説明からも明らかのように、本発明よれば、カッ
プリング効率が高く、溝横断ノイズが無く、複屈折に起
因するオフセットがないフォーカスエラー信号検出がで
きる。また、２つの非点収差法の光学系を別々の系とし
、これらに用いられるシリンドリカルレンズの焦点距離
を変えることによって、フォーカスの引込み範囲を２つ
設けることが出来る。この結果例えば、１つのフォーカ
ス引込み範囲を±５０〜±１００μｍと大きくすること
によって、他のフォーカスの引込み範囲例えば±５μｍ
を越えた突発的なデフォーカスに対してもフォーカス外
れがなく、振動に強いシステムが提供できる。また従来
のような差動ブシュプル法に於けるゲイン調整用の回路
が不要になり、光学系も簡単な構成とすることができる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例に係る光学ピンクアップの構
成図、第２図乃至第７図はレーザ光の強度分布を示す図
、第８図及び第９図はレーザ光のスポット形状を示す図
、第１０図はフォーカスエラー信号の特性を示す図、第
１１図はプルイン信号の特性を示す図である。 レーザ光源 偏光ビームスブリック シリンドリカルレンズ 光検出器 シリンドリカルレンズ 光検出器 し−ザ尤の強曳竹作図 第２図 し−＋７′尤の労り（分布図 第３図 レーザ光の強度分布図 第４Ｉｌ！Ｉ し−ザ尤Ｉ７１態分浄図 第５図 し−−ｎ″Ｌζ強晩分布図 第６図 レーザ光め強度分布図 第７図 第１０図 レーザ光のスゴ・ントｖＸ図 業８図 レーザ尤ゲスゴツト化ポ図 第９　図 第１１図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 　光記録媒体にレーザ光を照射し、 該光記録媒体から反射されるレーザ光をビームスプリッ
   タを用いて２分割し、 該分割された一方のレーザ光を第１のシリンドリカルレ
   ンズを介して、第１の光検出器で検出し、上記分割され
   た他方のレーザ光を、上記第１のシリンドリカルレンズ
   の母線の方向と直交する母線の方向を有する第２のシリ
   ンドリカルレンズを介して、第２の光検出器で検出する
   ことを特徴とする光記録媒体の信号検出方法。