JPH02181665A - 雑音電力計の測定周波数誤差を測定及び補償する方法 - Google Patents
雑音電力計の測定周波数誤差を測定及び補償する方法Info
- Publication number
- JPH02181665A JPH02181665A JP1290127A JP29012789A JPH02181665A JP H02181665 A JPH02181665 A JP H02181665A JP 1290127 A JP1290127 A JP 1290127A JP 29012789 A JP29012789 A JP 29012789A JP H02181665 A JPH02181665 A JP H02181665A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- measured
- measurement
- noise power
- noise
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 75
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 10
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 description 1
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/26—Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は狭い周波数範囲内の雑音電力の測定、特に、雑
音電力計により用いられる測定周波数の不正確度を測定
し、補償する方法に関するものである。
音電力計により用いられる測定周波数の不正確度を測定
し、補償する方法に関するものである。
(従来の技術)
テスト中の装置の雑音パラメータを正確に計算するため
には散乱パラメータが測定される周波数で雑音電力を測
定する必要がある。従来、雑音電力計によって“スポッ
ト雑音電力”即ち比較的狭い周波数範囲内に含まれる雑
音電力を測定する。
には散乱パラメータが測定される周波数で雑音電力を測
定する必要がある。従来、雑音電力計によって“スポッ
ト雑音電力”即ち比較的狭い周波数範囲内に含まれる雑
音電力を測定する。
この周波数範囲の中心を“測定周波数”と称する。
代表的には雑音電力計によって固定の狭い通過帯域フィ
ルタの後段の可変周波数変換段を用いて狭い周波数範囲
内の信号を分離し得るようにする。
ルタの後段の可変周波数変換段を用いて狭い周波数範囲
内の信号を分離し得るようにする。
この可変周波数変換段によって測定信号の周波数を選択
された量だけ推移してこれが帯域通過フィルタの狭い通
過帯域内にくるようにする。この雑音電力計によって帯
域通過フィルタの出力側の信号電力を測定する。
された量だけ推移してこれが帯域通過フィルタの狭い通
過帯域内にくるようにする。この雑音電力計によって帯
域通過フィルタの出力側の信号電力を測定する。
(発明が解決しようとする課題)
可変周波数変換段又は帯域通過フィルタが不正確である
場合には測定周波数に対応する誤差が発生する。雑音電
力計の可変周波政変′換段に正確な周波数シンセサイザ
を用いる場合にはこれらの誤差を除去することができる
。その理由はその局部発振器及び帯域通過フィルタが所
望の測定周波数に好適に位置決めされているからである
。しかし、通常の雑音電力計は周波数シンセサイザの代
わりに不完全な帯域通過フィルタ及び廉価な発振器を用
いており、従って対応する周波数も不正確となる。
場合には測定周波数に対応する誤差が発生する。雑音電
力計の可変周波政変′換段に正確な周波数シンセサイザ
を用いる場合にはこれらの誤差を除去することができる
。その理由はその局部発振器及び帯域通過フィルタが所
望の測定周波数に好適に位置決めされているからである
。しかし、通常の雑音電力計は周波数シンセサイザの代
わりに不完全な帯域通過フィルタ及び廉価な発振器を用
いており、従って対応する周波数も不正確となる。
テスト中の装置(以下DUTと称する)の利得又は雑音
電力がその接続ソースアドミッタンスにより著しく変化
する場合には測定周波数の不正確度が著しくなる。DU
Tに存在するソースアドミッタンスが測定周波数と共に
急激に変化する場合には(rEEE )ランザクショ
ンズ オン マイクロウェーブ セオリ アンド テク
ニクス第MTT−30巻、第8号、1982年8月にラ
ロック及びメイズが発表した論文“オートマチイックノ
イズ ナンパラチュア メジュアメント スルー フリ
ケンシイ バリエーション<周波数変動による自動雑音
温度測定)”参照)、測定周波数誤差によってソース
アドミッタンスを変化し、従ってDUTの利得を変化す
るようになる。DUTのこれら利得変化によって測定雑
音電力を所望の測定周波数におけるDOTの雑音電力か
ら著しく相違させるようになる。
電力がその接続ソースアドミッタンスにより著しく変化
する場合には測定周波数の不正確度が著しくなる。DU
Tに存在するソースアドミッタンスが測定周波数と共に
急激に変化する場合には(rEEE )ランザクショ
ンズ オン マイクロウェーブ セオリ アンド テク
ニクス第MTT−30巻、第8号、1982年8月にラ
ロック及びメイズが発表した論文“オートマチイックノ
イズ ナンパラチュア メジュアメント スルー フリ
ケンシイ バリエーション<周波数変動による自動雑音
温度測定)”参照)、測定周波数誤差によってソース
アドミッタンスを変化し、従ってDUTの利得を変化す
るようになる。DUTのこれら利得変化によって測定雑
音電力を所望の測定周波数におけるDOTの雑音電力か
ら著しく相違させるようになる。
本発明は散乱パラメータを測定する場合と同一の周波数
でテスト中の装置の雑音電力測定を行なうことを目的と
する。
でテスト中の装置の雑音電力測定を行なうことを目的と
する。
又、本発明は上述した欠点を除去し、散乱パラメータが
測定された周波数でDUTの雑音電力を測定することに
より雑音電力計の測定周波数の不正確度を測定し、補償
する方法を提供することを目的とする。
測定された周波数でDUTの雑音電力を測定することに
より雑音電力計の測定周波数の不正確度を測定し、補償
する方法を提供することを目的とする。
(課題を解決するための手段)
本発明はテスト中の装置の雑音電力測定時に生ずる雑音
電力計の測定周波数誤差を測定し、補償するに当り、雑
音電力計を設定して測定周波数で電力を測定するように
した雑音電力計の測定周波数誤差を測定及び補償する方
法において、ほぼ同一の電力を有し且つ周波数が異なる
信号を前記雑音電力計に順次に送出し、この雑音電力計
により種々の異なる周波数の各々に対し個別に測定され
た電力を測定し、これら信号の周波数範囲の中心に相当
する中心周波数を測定し、この信号の周波数範囲内の信
号によって選定されたスレシホルドよりも大きな個別に
測定された電力を得、所望の測定周波数及び前記中心周
波数間の周波数差を測定し、テスト中の装置からの出力
信号を前記測定された周波数差だけ周波数推移して推移
信号を得、この周波数推移された信号を雑音電力計に送
出するようにしたことを特徴とする。
電力計の測定周波数誤差を測定し、補償するに当り、雑
音電力計を設定して測定周波数で電力を測定するように
した雑音電力計の測定周波数誤差を測定及び補償する方
法において、ほぼ同一の電力を有し且つ周波数が異なる
信号を前記雑音電力計に順次に送出し、この雑音電力計
により種々の異なる周波数の各々に対し個別に測定され
た電力を測定し、これら信号の周波数範囲の中心に相当
する中心周波数を測定し、この信号の周波数範囲内の信
号によって選定されたスレシホルドよりも大きな個別に
測定された電力を得、所望の測定周波数及び前記中心周
波数間の周波数差を測定し、テスト中の装置からの出力
信号を前記測定された周波数差だけ周波数推移して推移
信号を得、この周波数推移された信号を雑音電力計に送
出するようにしたことを特徴とする。
本発明によれば極めて正確な周波数シンセサイザを用い
て雑音電力計の利得を人力体骨周波数の関数として検出
し、これにより測定周波数誤差を測定し得るようにする
。次いで周波数変換段を用いて入力信号の周波数を測定
周波数誤差を補償するに必要な量だけ推移し得るように
する。
て雑音電力計の利得を人力体骨周波数の関数として検出
し、これにより測定周波数誤差を測定し得るようにする
。次いで周波数変換段を用いて入力信号の周波数を測定
周波数誤差を補償するに必要な量だけ推移し得るように
する。
(実施例)
図面につき本発明の詳細な説明する。
第1図は代表的な雑音測定システム10のブロック図を
示す。テスト中の装置(・CUT)12の入力端子をソ
ースアドミッタンス14に接続する。DUT12の出力
端子を雑音電力計16に接続する。(ここに云う“雑音
電力計”とは可同調ダウンコンバータ及び狭い通過帯域
のフィルタを含む雑音電力計及び雑音指数計を包含する
ことを意味する。)この雑音電力計16によって測定周
波数に位置決めされた狭い周波数帯域内の電力を測定す
る。この場合、外部周波数変換段18によって雑音電力
計16の測定周波数限界以上に測定周波数範囲を拡張す
る必要がある。
示す。テスト中の装置(・CUT)12の入力端子をソ
ースアドミッタンス14に接続する。DUT12の出力
端子を雑音電力計16に接続する。(ここに云う“雑音
電力計”とは可同調ダウンコンバータ及び狭い通過帯域
のフィルタを含む雑音電力計及び雑音指数計を包含する
ことを意味する。)この雑音電力計16によって測定周
波数に位置決めされた狭い周波数帯域内の電力を測定す
る。この場合、外部周波数変換段18によって雑音電力
計16の測定周波数限界以上に測定周波数範囲を拡張す
る必要がある。
雑音電力計16のブロック図を第2図に示す。この雑音
電力計16は数個の周波数変換段22.24及び26と
、数個のフィルタ28.30及び32と、増幅器33と
を具える。これら周波数変換段、フィルタ及び増幅器に
よって入力信号を電力計36に送出する前にその選択さ
れた狭い周波数範囲を分離し、増幅する。第1周波数変
換段22を可変型とし、第2フイルタ30の固定通過帯
域内に所望入力信号周波数を推移し得るようにする。第
2及び第3周波数変換段24及び26は固定型とし、第
3帯域通過フィルタ32は上述した所と同様とする。
電力計16は数個の周波数変換段22.24及び26と
、数個のフィルタ28.30及び32と、増幅器33と
を具える。これら周波数変換段、フィルタ及び増幅器に
よって入力信号を電力計36に送出する前にその選択さ
れた狭い周波数範囲を分離し、増幅する。第1周波数変
換段22を可変型とし、第2フイルタ30の固定通過帯
域内に所望入力信号周波数を推移し得るようにする。第
2及び第3周波数変換段24及び26は固定型とし、第
3帯域通過フィルタ32は上述した所と同様とする。
広帯域の信号が入力端子34に存在するものとする。こ
の場合第1周波数変換段22によって第2フイルタ30
の固定通過帯域に通過する入力信号の周波数を測定する
。周波数推移誤差によって測定周波数に対応する誤差を
生せしめるようになる。
の場合第1周波数変換段22によって第2フイルタ30
の固定通過帯域に通過する入力信号の周波数を測定する
。周波数推移誤差によって測定周波数に対応する誤差を
生せしめるようになる。
第1図に示す多数のDUT12の利得又は雑音指数はこ
れに接続されたソースアドミッタンスの変化に従って著
しく変化する。かかる装置に対し一定の利得円(実線)
及び一定の雑音指数円(破線)を示すスミスチャートを
第3図に示す。不整合ソースアドミッタンスに対し、D
UT12に存在する反射係数のフェーズは代表的には測
定周波数と共に変化するが反射係数の大きさは殆ど一定
のままである。例えば測定周波数が増大するとソース反
射係数はライン40に沿って点Aから点已に移動し得る
ようになる。このライン40は中心がスミスチャートの
中心である円の弧である。この測定周波数が充分に大き
く変化すると、大きなソースの不整合に対し円42で示
すようにソースの反射係数は完全な円から移動するよう
になる。測定周波数を故意に推移させて用い、例えば、
種々の異なるソースアドミッタンス測定点く上述したラ
ロック及びメイズの文献参照)を得る場合でも自然の周
波数推移によってソースアドミッタンスを著しく変化さ
せ、従って測定雑音電力に誤差を生ずるようになる。
れに接続されたソースアドミッタンスの変化に従って著
しく変化する。かかる装置に対し一定の利得円(実線)
及び一定の雑音指数円(破線)を示すスミスチャートを
第3図に示す。不整合ソースアドミッタンスに対し、D
UT12に存在する反射係数のフェーズは代表的には測
定周波数と共に変化するが反射係数の大きさは殆ど一定
のままである。例えば測定周波数が増大するとソース反
射係数はライン40に沿って点Aから点已に移動し得る
ようになる。このライン40は中心がスミスチャートの
中心である円の弧である。この測定周波数が充分に大き
く変化すると、大きなソースの不整合に対し円42で示
すようにソースの反射係数は完全な円から移動するよう
になる。測定周波数を故意に推移させて用い、例えば、
種々の異なるソースアドミッタンス測定点く上述したラ
ロック及びメイズの文献参照)を得る場合でも自然の周
波数推移によってソースアドミッタンスを著しく変化さ
せ、従って測定雑音電力に誤差を生ずるようになる。
測定した雑音電力のグラフを測定周波数の関数として第
4図に示す。図中実線50はソース反射係数が円42に
沿って移動する際の測定雑音電力を示す(第3図)。又
ピーク点52.53及び54はソース反射係数が高利得
領域44(第3図)を経て移動する際の測定雑音電力を
示す。測定周波数を充分に変化させると反射係数のフェ
ーズが360度変化するため、第4図のグラフの曲線は
周期的に発生するようになる。ライン50の点56の輝
度は測定周波数を高精度とする必要のあることを示し、
従って測定周波数に僅かな誤差があっても測定雑音電力
の誤差が大きくなる。
4図に示す。図中実線50はソース反射係数が円42に
沿って移動する際の測定雑音電力を示す(第3図)。又
ピーク点52.53及び54はソース反射係数が高利得
領域44(第3図)を経て移動する際の測定雑音電力を
示す。測定周波数を充分に変化させると反射係数のフェ
ーズが360度変化するため、第4図のグラフの曲線は
周期的に発生するようになる。ライン50の点56の輝
度は測定周波数を高精度とする必要のあることを示し、
従って測定周波数に僅かな誤差があっても測定雑音電力
の誤差が大きくなる。
第5図に示すように、測定周波数の誤差を測定するため
に高精度の周波数シンセサイザ60を雑音電力計16の
入力端子34に接続し、これを所望の測定周波数に設定
する。この雑音電力計16によって所望の測定周波数を
含む選択測定周波数の範囲の各々における電力を測定す
る。例えば所望の測定周波数を700M)lzとする。
に高精度の周波数シンセサイザ60を雑音電力計16の
入力端子34に接続し、これを所望の測定周波数に設定
する。この雑音電力計16によって所望の測定周波数を
含む選択測定周波数の範囲の各々における電力を測定す
る。例えば所望の測定周波数を700M)lzとする。
又、雑音電力計16によって5MHzの測定周波数範囲
内で電力を測定すると共にI MHzの解像度に位置さ
せることができる。
内で電力を測定すると共にI MHzの解像度に位置さ
せることができる。
周波数シンセサイザ60は700MHzに設定する。従
って雑音電力計によって690MHz〜710MHzの
測定周波数でI MHzのステップで電力を測定する。
って雑音電力計によって690MHz〜710MHzの
測定周波数でI MHzのステップで電力を測定する。
第6図から明らかなように測定電力の特性を、水平軸に
所望の測定周波数からのオフセットをプロットし、垂直
軸に測定電力をプロットして示す。
所望の測定周波数からのオフセットをプロットし、垂直
軸に測定電力をプロットして示す。
図中の点70は種々の測定周波数における測定電力を示
し、垂直ライン72は所望の測定周波数を示す。
し、垂直ライン72は所望の測定周波数を示す。
この特性図から明らかなように、測定電力に最大の影響
を及ぼす入力信号の周波数範囲を測定することができる
。これがため、実際の測定周波数74及び関連する測定
周波数誤差76を測定することができる。
を及ぼす入力信号の周波数範囲を測定することができる
。これがため、実際の測定周波数74及び関連する測定
周波数誤差76を測定することができる。
測定周波数誤差は他の方法を用い、雑音電力計16の測
定周波数を所望の測定周波数に設定することにより測定
することができる。次いで周波数シンセサイザ60を所
望の測定周波数を含む周波数の範囲に亘り掃引する。従
って雑音指数計によって複数の掃引周波数に対し電力を
測定する。周波数シンセサイザ600周波数解像度は雑
音電力計の解像度よりも著しく高いため、雑音電力計の
測定周波数を掃引して得られる場合よりも一層多くの測
定を固定周波数範囲内で行なうことができる。例えば、
所望測定周波数を700M)lzとし、雑音電力計16
によって4 M)lzの測定周波数範囲で電力を測定す
るものとする。雑音電力計は700MHzで電力を測定
し得るように設定する。周波数シンセサイザ60は、1
又は2Hz以下とし得るステップで690Mtlzから
710MHzまでの複数の周波数に亘って掃引し得るよ
うに設定する。
定周波数を所望の測定周波数に設定することにより測定
することができる。次いで周波数シンセサイザ60を所
望の測定周波数を含む周波数の範囲に亘り掃引する。従
って雑音指数計によって複数の掃引周波数に対し電力を
測定する。周波数シンセサイザ600周波数解像度は雑
音電力計の解像度よりも著しく高いため、雑音電力計の
測定周波数を掃引して得られる場合よりも一層多くの測
定を固定周波数範囲内で行なうことができる。例えば、
所望測定周波数を700M)lzとし、雑音電力計16
によって4 M)lzの測定周波数範囲で電力を測定す
るものとする。雑音電力計は700MHzで電力を測定
し得るように設定する。周波数シンセサイザ60は、1
又は2Hz以下とし得るステップで690Mtlzから
710MHzまでの複数の周波数に亘って掃引し得るよ
うに設定する。
第7図は測定電力を縦軸に周波数シンセサイザの周波数
をプロットし、横軸に測定電力をプロットして示す。図
中点80は種々の周波数にふける測定電力を示し、垂直
ライン82は所望測定周波数を示す。この特性図から明
らかなように測定電力に大きな影響を及ぼす人力信号の
周波数範囲を測定することができる。実際の測定周波数
84を示すこの周波数と、雑音電力計26で設定された
測定周波数86との差が測定周波数誤差となる。
をプロットし、横軸に測定電力をプロットして示す。図
中点80は種々の周波数にふける測定電力を示し、垂直
ライン82は所望測定周波数を示す。この特性図から明
らかなように測定電力に大きな影響を及ぼす人力信号の
周波数範囲を測定することができる。実際の測定周波数
84を示すこの周波数と、雑音電力計26で設定された
測定周波数86との差が測定周波数誤差となる。
実際の測定周波数84を測定するには種々の方法がある
。第1の方法は、測定電力が最大測定電力から10dB
となる2つのシンセサイザ周波数を測定する場合である
。雑音電力計の周波数変換段を後続させる帯域通過フィ
ルタの応答が対称であるものとすると、実際の測定周波
数84はこれら2つの“エツジ”周波数の平均周波数と
なる。測定電力が最大測定電力から10dBも正確に低
下しない場合にはこのエツジ周波数を補間により測定す
ることができる。第2の方法は、測定電力をシンセサイ
ザ周波数の関数として積分し且つ実際の測定周波数84
を各側で等しい区域を有する中間周波数に設定する。又
、他の方法によっても実際の測定周波数84を最大電力
が測定されるシンセサイザ周波数に設定することができ
る。
。第1の方法は、測定電力が最大測定電力から10dB
となる2つのシンセサイザ周波数を測定する場合である
。雑音電力計の周波数変換段を後続させる帯域通過フィ
ルタの応答が対称であるものとすると、実際の測定周波
数84はこれら2つの“エツジ”周波数の平均周波数と
なる。測定電力が最大測定電力から10dBも正確に低
下しない場合にはこのエツジ周波数を補間により測定す
ることができる。第2の方法は、測定電力をシンセサイ
ザ周波数の関数として積分し且つ実際の測定周波数84
を各側で等しい区域を有する中間周波数に設定する。又
、他の方法によっても実際の測定周波数84を最大電力
が測定されるシンセサイザ周波数に設定することができ
る。
測定周波数の誤差が測定されると、これをDUTの測定
時に補償することができる。第8図に示すようにDUT
12は周波数変換段18を経て雑音電力計16に接続す
る。説明の便宜上、DUTの出力端子12aの信号の周
波数を“RF”とする。同様に周波数変換段の出力端子
18a及び第1変換段の出力端子22aに存在する信号
の周波数を夫々“IF1″及び“IF2”とする。IF
Iは所望のRF掃引に対し好適となるように選定する。
時に補償することができる。第8図に示すようにDUT
12は周波数変換段18を経て雑音電力計16に接続す
る。説明の便宜上、DUTの出力端子12aの信号の周
波数を“RF”とする。同様に周波数変換段の出力端子
18a及び第1変換段の出力端子22aに存在する信号
の周波数を夫々“IF1″及び“IF2”とする。IF
Iは所望のRF掃引に対し好適となるように選定する。
雑音指数計の測定周波数をIFIに設定してその既知の
誤差を無視し得るようにする。この誤差はIFIの各々
の異なる値に対して相違する。雑音電力計によって上側
波帯又は下側波帯の何れかを測定してブリセレクタ90
を好適に設定し得るようにする。
誤差を無視し得るようにする。この誤差はIFIの各々
の異なる値に対して相違する。雑音電力計によって上側
波帯又は下側波帯の何れかを測定してブリセレクタ90
を好適に設定し得るようにする。
次いで外部局部発振器92の周波数LOIを次式で示す
ように設定することができる。
ように設定することができる。
LOI = (I F l±ERROR)ここにERR
ORは測定周波数誤差とする。このERRORは何れの
側波帯が測定されているかに応じて加算或いは減算する
。
ORは測定周波数誤差とする。このERRORは何れの
側波帯が測定されているかに応じて加算或いは減算する
。
雑音電力計の外部又は内部に設けうる周波数変換段を用
いて測定周波数の誤差を補償し得ることは明らかである
。これがため、発振器22a(第2図)を調整してそれ
自体の誤差を補償することができる。しかし、測定誤差
に対する発振器22aの調整精細度が低いため、精細度
の高い周波数シンセサイザを用いるのが好適である。
いて測定周波数の誤差を補償し得ることは明らかである
。これがため、発振器22a(第2図)を調整してそれ
自体の誤差を補償することができる。しかし、測定誤差
に対する発振器22aの調整精細度が低いため、精細度
の高い周波数シンセサイザを用いるのが好適である。
本発明は上述した例にのみ限定されるもではなく要旨を
変更しない範囲内で幾多の変更又は変化が可能である。
変更しない範囲内で幾多の変更又は変化が可能である。
第1図は代表的な雑音測定システムを示すブロック図、
第2図は代表的な雑音電力計の内部回路の構成を示すブ
ロック図、 第3図はテスト中の装置の定利得内及び定雑音指数円を
示すスミスチャート図、 第4図は非整合ソースアドミッタンスで終端する際の第
3図に示すテスト中の装置に対する測定周波数の関数と
して雑音電力を示す特性図、第5図は本発明による測定
周波数の不正確度を測定するシステムを示すブロック図
、 第6図は固定入力周波数で雑音電力計の測定周波数の関
数として測定電力を示す特性図、第7図は固定雑音電力
計の測定周波数で入力周波数の関数として測定電力を示
す特性図、第8図は本発明の他の例の構成を示すブロッ
ク図である。 10・・・雑音測定システム 12・・・DUT14・
・・ソースアドミッタンス 16・・・雑音電力計 18・・・周波数変換段
22、24.26・・・周波数変換段 28、30.32・・・フィルタ 33・・・増幅器3
6・・・電力計 60・・・周波数シンセサイザ 92・・・局部発振器 特許出願人 カスケード マイクロテックインコーポ
レーテッド
ロック図、 第3図はテスト中の装置の定利得内及び定雑音指数円を
示すスミスチャート図、 第4図は非整合ソースアドミッタンスで終端する際の第
3図に示すテスト中の装置に対する測定周波数の関数と
して雑音電力を示す特性図、第5図は本発明による測定
周波数の不正確度を測定するシステムを示すブロック図
、 第6図は固定入力周波数で雑音電力計の測定周波数の関
数として測定電力を示す特性図、第7図は固定雑音電力
計の測定周波数で入力周波数の関数として測定電力を示
す特性図、第8図は本発明の他の例の構成を示すブロッ
ク図である。 10・・・雑音測定システム 12・・・DUT14・
・・ソースアドミッタンス 16・・・雑音電力計 18・・・周波数変換段
22、24.26・・・周波数変換段 28、30.32・・・フィルタ 33・・・増幅器3
6・・・電力計 60・・・周波数シンセサイザ 92・・・局部発振器 特許出願人 カスケード マイクロテックインコーポ
レーテッド
Claims (1)
- 1、テスト中の装置の雑音電力測定時に生ずる雑音電力
計の測定周波数誤差を測定し、補償するに当り、雑音電
力計を設定して測定周波数で電力を測定するようにした
雑音電力計の測定周波数誤差を測定及び補償する方法に
おいて、ほぼ同一の電力を有し且つ周波数が異なる信号
を前記雑音電力計に順次に送出し、この雑音電力計によ
り種々の異なる周波数の各々に対し個別に測定された電
力を測定し、これら信号の周波数範囲の中心に相当する
中心周波数を測定し、この信号の周波数範囲内の信号に
よって選定されたスレシホルドよりも大きな個別に測定
された電力を得、所望の測定周波数及び前記中心周波数
間の周波数差を測定し、テスト中の装置からの出力信号
を前記測定された周波数差だけ周波数推移して推移信号
を得、この周波数推移された信号を雑音電力計に送出す
るようにしたことを特徴とする雑音電力計の測定周波数
誤差を測定及び補償する方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US269,970 | 1988-11-09 | ||
| US07/269,970 US4864218A (en) | 1988-11-09 | 1988-11-09 | Method of compensating for frequency errors in noise power meters |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02181665A true JPH02181665A (ja) | 1990-07-16 |
Family
ID=23029355
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1290127A Pending JPH02181665A (ja) | 1988-11-09 | 1989-11-09 | 雑音電力計の測定周波数誤差を測定及び補償する方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4864218A (ja) |
| EP (1) | EP0368581A1 (ja) |
| JP (1) | JPH02181665A (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3013408B2 (ja) * | 1990-08-17 | 2000-02-28 | ソニー株式会社 | 受信装置 |
| US5087808A (en) * | 1991-02-26 | 1992-02-11 | Reed Edwin A | Combined optical power and noise meter |
| US5337014A (en) * | 1991-06-21 | 1994-08-09 | Harris Corporation | Phase noise measurements utilizing a frequency down conversion/multiplier, direct spectrum measurement technique |
| US5179344A (en) * | 1991-06-21 | 1993-01-12 | Harris Corporation | Phase noise measurements utilizing a frequency down conversion/multiplier, direct spectrum measurement technique |
| US5434385A (en) * | 1992-11-02 | 1995-07-18 | International Business Machines Corporation | Dual channel D.C. low noise measurement system and test methodology |
| RU2126976C1 (ru) * | 1995-12-14 | 1999-02-27 | Муромский филиал Владимирского государственного технического университета | Способ измерения неосновных излучений радиопередатчиков |
| US7010443B2 (en) * | 2003-10-31 | 2006-03-07 | Agilent Technologies, Inc. | Noise measurement system and method |
| CN102508051B (zh) * | 2011-11-03 | 2014-06-18 | 国网电力科学研究院 | 输电线路可听噪声确定方法 |
| CN103063909B (zh) * | 2012-12-18 | 2015-10-28 | 天津理工大学 | 一种基于功率谱的线性调频信号参数估值方法 |
| CN105445569B (zh) * | 2015-11-11 | 2018-04-03 | 北京航空航天大学 | 一种适用于高速集成电路的片上纳秒级电源噪声瞬态波形测量系统及其测量方法 |
| US11119140B1 (en) * | 2017-08-31 | 2021-09-14 | Christos Tsironis | Impedance pattern generation for noise parameter measurement system |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3936753A (en) * | 1974-07-12 | 1976-02-03 | Martin Marietta Corporation | Digital automatic frequency control circuit |
| US4232398A (en) * | 1978-02-09 | 1980-11-04 | Motorola, Inc. | Radio receiver alignment indicator |
| EP0064198B1 (en) * | 1981-04-25 | 1985-12-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus for measuring noise factor and available gain |
| DE3308690A1 (de) * | 1983-03-11 | 1984-09-13 | Deutsche Thomson-Brandt Gmbh, 7730 Villingen-Schwenningen | Verfahren zum abstimmen der schwingkreise eines nachrichtenempfangsgeraetes |
| GB2179458B (en) * | 1985-08-23 | 1988-11-09 | Ferranti Plc | Microwave noise measuring apparatus |
| SU1327023A1 (ru) * | 1985-12-04 | 1987-07-30 | Горьковский политехнический институт им.А.А.Жданова | Способ измерени спектральной плотности интенсивности шума и коэффициента шума четырехполюсника |
-
1988
- 1988-11-09 US US07/269,970 patent/US4864218A/en not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-11-06 EP EP89311448A patent/EP0368581A1/en not_active Withdrawn
- 1989-11-09 JP JP1290127A patent/JPH02181665A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4864218A (en) | 1989-09-05 |
| EP0368581A1 (en) | 1990-05-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US2929989A (en) | Intermodulation distortion meter | |
| US5416422A (en) | Apparatus and method for determining single sideband noise figure from double sideband measurements | |
| CN110907902B (zh) | 天气雷达定标方法 | |
| US4812738A (en) | Apparatus for analyzing transmission/reflection characteristics | |
| US4864218A (en) | Method of compensating for frequency errors in noise power meters | |
| US6018702A (en) | Tuned filter calibration system | |
| US4149122A (en) | Wideband tracking generator for harmonic mixing receivers | |
| US4905308A (en) | Noise parameter determination method | |
| CN108459203B (zh) | 一种超宽带扫频脉冲功率检波装置及方法 | |
| US4138645A (en) | Wideband signal calibration system | |
| CN109150332B (zh) | 一种利用矢量谐波预测量无源互调的装置和方法 | |
| JP2887394B2 (ja) | ネットワークアナライザ | |
| US4634962A (en) | Phase noise analyzer | |
| US20240306018A1 (en) | Measurement system for measuring an intercept point value of a device-under-test | |
| RU2276377C1 (ru) | Устройство для измерения амплитудно-частотных и фазочастотных характеристик четырехполюсников с преобразователем частоты | |
| JP7316397B1 (ja) | 信号解析装置および信号解析方法 | |
| US4138646A (en) | Wideband absolute calibration system | |
| US7868624B2 (en) | Method and system for correcting the feedback from electrical measurement converters to a device under test | |
| US3397359A (en) | Apparatus for measuring the input characteristics of four-terminal networks including a programming means | |
| SU1555679A1 (ru) | Способ определени частотной неравномерности группового времени запаздывани | |
| US20250052846A1 (en) | Test and/or measurement system and method for calibrating a test and/or measurement system | |
| US5132630A (en) | Heterodyne analyzer for measuring frequency characteristics of quadripoles | |
| SU898360A1 (ru) | Способ поверки и калибровки измерителей неравномерности группового времени запаздывани | |
| JPH0148986B2 (ja) | ||
| SU1582157A1 (ru) | Способ калибровки селективных измерительных приборов |