JPH02183177A - 電気的試験用取付具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、概しては、電気的組立体または配線板の選択
された構成部分および／または入出力関係を試験するた
めの試験器具、得には、同一でも相異る種々でもよい電
気的組立体の選択された構成部分および／または入出力
関係を、迅速かつ効果的に試験するために難なく適合す
るような汎用の電気的試験用取付具に関する。

［従来の技術］ 電気的組立体の選択された構成部分および／または入出
力関係を迅速かつ効果的に試験することを容易にするた
めに種々の方法が従来用いられて来た。そのような方法
は、普通では、品質管理、トラブルシューティング、そ
してまた解析の目的で用いられており、費用を最低限に
するために迅速に実施されねばならないのが普通である
。

電気的組立体は普通には抵抗体、蓄電器およびその他の
電気的部品を含んでおり、それら部品のすべて、または
選択された幾つかのものが、個々にモして／または所定
の組合せにおいて試験されねばならない、それは、相異
る組立体の部品の配列は屡々相異っており、組立体の入
出力関係の試験にはいろいろあることによる。

電気的組立体の試験のために様々な試験器具が何年も前
から開発されて来た。それら試験器具は、概して言えば
、１つの組立体または配線板を繰返し試験するか、また
は相異る組立体を各々の個有の電気回路設計に応じて試
験するべく設計されて来た。

従来技術による試験器具は多くの場合、相互間に間隔を
おいた少なくとも２枚のプラテン、すなわち、一方のプ
ラテンは電気的組立体を取付けるものであり、他方のプ
ラテンは複数の貫通孔を有してそれら孔のうちの試験さ
れるべき組立体または配線板の端子に対応してそれらに
揃うような選択された孔に導電性のプローブ部材が挿入
されるものである、という２枚のプラテンを有すること
を特徴としている。プローブ部材は、孔と相対的に往復
方向に動き得ることを特徴としており、プラテンの少な
くとも一方のものは、プローブ部材の端子に向いた方の
端が端子と電気的接触を達成することを可能にするため
に、他方のプラテンに近接も離反もするように往復方向
に（普通は真空が用いられて）動き得る。プローブ部材
の反対側端は、個々に電線によって、試験デバイスに直
接に接続されるか、または試験デバイスに接続された電
気用プラグに接続されることを特徴としている。このよ
うな方式はデバイスの汎用性を著しく低減させている。

何故ならば、相異る電気的組立体を試験すべくプローブ
部材の配列を変える場合のほか、屡々あることであるが
、同一の組立体における相異る端子を試験する場合でさ
えも、そのためには電線を外さねばならず、それに費用
と作業時間を要するからである。

プローブ部材と試験デバイスの間に上記のような電気配
線をすることを特徴とする試験器具の例は、米国特許の
第３．５８４．３００号、４，１１５，７３５号、４、
３４４．００３号、４．４９６．９０３号、４．５３６
．０５１号、４、５４４．８８６号、および４．６２５
．１６４号の各々で開示されており、それらの開示はこ
こにおいて参考として組入れられている。

プローブ部材が直接に試験デバイスに配線されるのでは
ない汎用の試験器具の例が米国特許の第４、４４３．７
５６号で開示されており、その開示はここにおいて参考
として組入れられている。この試験器具は、上側、中間
、および下側のプラテンを有することを特徴とし、下側
プラテンには、試験されるはずの電気的組立体または配
線板の端子に応じて種々のパターンで試験デバイスに接
続され得るような導電性パッドのマトリックスが設けら
れている。試験されるべき組立体または配線板が上側プ
ラテンの上に取付けられ、中間プラテンにある貫通孔の
うちの、下側プラテン上の特定のパッドと上側プラテン
上に取付けられた試験されるはずの端子の両者に揃うよ
うな予め選択された貫通孔にプローブ部材がそれら孔を
通して往復方向に動き得るように取付けられる。しかし
、作動の際には、中間プラテンが真空または他の手段に
よって下側プラテンに接合され、上側プラテンだけが中
間プラテンに近接も離反もするように往復方向に動き得
るので、下側プラテンの上側プラテンに対しての運動の
自由度をなくしており、したがって、機械器具の汎用性
を減殺している。

前述したような試験器具に用いられるための別のタイプ
のプローブ部材が何年も前から開発されて来ている。そ
の中の幾つかの例は、米国特許第４、３９７．５１９号
、４．６３３．１７６号、および４．６５９．９８７号
で開示されたものがあり、それらの開示はここにおいて
参考として組入れられている。

さらに別の汎用の配線板試験器具の例が米国特許第４．
３５７．　（１６２号で開示されていて、その開示はこ
こにおいて参考として組入れられている。この試験器具
においては、プローブ部材が試験デバイスに配線される
ことはないが、プローブ部材と、接触されるべき端子と
の間において中間剛性ビンが用いられており、そのため
に、組立ての複雑さ、そしてそれに伴う作業時間と出費
が大きく増大している。

［発明が解決しようとする課題］ 本発明は、上記の方式とは対照的に、同一でも相異る種
々でもよい電気組立体の、選択された部分を試験するた
めにも入出力関係を解析するためにも容易に適合され得
るように、それぞれの場合の試験要件に応じて選択的に
用いられるような配列されたプローブ部材を簡単で経済
的な方式で含んでいる汎用の試験器具を提供する。

したがって、本発明の１つの目的は、１つの電気的組立
体の選択された部分および／または入出力関係を試験す
るための汎用の試験器具を提供することである。

本発明の他の目的は、相異る電気的組立体の選択された
部分および／または入出力関係を迅速かつ経済的方式で
試験し得るような汎用の試験器具を提供することである
。

本発明のさらに別の目的は、同一でも相異る種々でもよ
い試験用の電気組立体の選択された部分および／または
入出力関係を迅速かつ経済的な方式で試験することに難
なく適合させられ得るような汎用の試験器具を提供する
ことである。

［課題を解決するための手段］ 以降の実施例で説明する。

［実施例］ 第１図において、通常は電気絶縁性材料で作られていて
商取引では普通にブレッドボード（ｂｒｅａｄｂｏａｒ
ｄ）と呼ばれるベース板１２上に取付けられた電気的部
品８に関する所望の情報を試験デバイス２８が受信のう
えで出力することを可能にするように、本発明による試
験器具が用いられている。部品８は、それぞれの場合に
所望の試験が行われるために、試験デバイス２８に電気
的に接続されるべき端子ｌＯを有している。第１図では
電気的部品を１つしか示していないが、本発明による試
験器具は、試験されるべき電気的組立体または配線体の
選択された複数の部分および／または入出力関係を試験
することが可能なように働く。

本発明による試験器具は、相互間に間隔をおいた位置関
係にある上側プラテン２と、中間プラテン４と、下側プ
ラテン６とを含んでいる。プラテン６は２つまたはより
多くの別個の部分６．６゜で成っていてよく、それにつ
いては以降で述べる。

試験されるべき電気的組立体または配線板は、端子ｌＯ
が中間プラテン４の方に向って伸びるような形で上側プ
ラテン２に固定される。

プラテン２．４および６は、垂直方向のビンつまりシャ
フトのような適当な手段によって相互に揃うように保持
され、 ａ）下側プラテン６が上側プラテン２と中間プラテン４
に対して動きを制約されて上側プラテン２と中間プラテ
ン４が同時におよび／または個別に下側プラテン６に近
接も離反もするように動かされるか、 ｂ）上側プラテン２と中間プラテン４が下側プラテン６
に対して同時に動きを制約されてプラテン６が上側プラ
テン２と中間プラテン４に近接も離反もするように動か
されるか、 Ｃ）中間プラテン４が上側プラテン２と下側プラテン６
に対して動きを制約されて上側プラテン２と下側プラテ
ン６が同時におよび／または個別に中間プラテンに近接
も離反もするように動かされるか、 のうちの選択された動きが可能なようになっている。

中間プラテン４には、それを貫通する複数の配列された
孔１４が、それら孔のうちの幾つかを予め選択するなら
ばこの試験器具によって、１つまたは予め選択された相
異る種々の電気的組立体の選択された構成部分を試験す
ることを可能にするように設けられている。

本発明による試験器具は、少なくともそれぞれの場合の
組立体構成部分または構成部分の組合せを試験するため
に予め選定された孔１４の中に入れられる導電性プロー
ブ部材（全体として参照番号３０で示す）を含んでいる
。

それにならって下側プラテン６は、そこから中間プラテ
ン４の方へと、接触されるべき組立体の端子の各々ため
に伸びている予め選択された電気的接触片２４を含んで
いる。接触片２４は、プラテン６にある配列された貫通
孔１３の中に選択的に取付けられるのが望ましい、各接
触片２４は、それに電気的に接続されるべきそれぞれの
場合の電気的組立体の端子と実質的に揃っており、その
場合それらの間に位置している孔１４は、端子とも接触
片とも実質的に揃う、下側プラテン６は、電気絶縁性材
料で作られているのが望ましいが、接触片２４が接触す
る場所においてそれら接触片の回りに電気絶縁体が設け
られる場合には金属で作られていてよい、各接触片２４
は、配線２６のような適当な電気導通手段によって試験
デバイス２８に直接に、または参照番号２７で示してい
るような適当な電気用プラグや類似のものが用いられて
接続されている。

第１図において、プローブ部材３０の各々は、上側プラ
テン２の方に向いた導電性の第１の端部１８と、接触片
２４の方に向いていてそれに揃い、それと電気的接続を
達成するに適している導電性の反対側端部２２を有して
いる。

プローブ部材３０は、第１図に示しであるように一体構
造の導電性ボディ部分２０を有していてもよいが、第２
図によって以降に説明するように、別個になった複数の
ボディ部分を含んでいてもよい。

プローブ部材３０は導電性であるので、試験器具は、プ
ラテン４が導電性材料で作られているときには、少なく
とも予め選択された孔１４に固定された電気絶縁性で中
空間端形の第１のスリーブ１６を含んでいる。プラテン
４が電気絶縁性材料で作られている場合にはスリーブ１
６はなくてよい、プローブ部材のボディ部分２０は、オ
プショナルとしては、導電性材料で作られたプラテン４
に電気的に接触することを防ぎ、しかしながら端子ｌＯ
と接触片２４の間の電気的接触が達成されることは可能
にするために必要な限度まで電気絶縁性材料で被覆され
ていてもよい。

プローブ部材３０は、孔１４および（用いられているな
らば）スリーブ１６に対して、軸方向での両方向に動き
得る。

第１図において、プラテン２．４．および６は、プラテ
ン６の動きを制約してプラテン２と４を同時におよび／
または個別にプラテン６に近接も離反もするように動か
すか、プラテン２と４の動きを同時に制約してプラテン
６をプラテン２と４に近接も離反もするように動かすか
、プラテン４のプラテン２と６に対する動きを制約して
プラテン２と６を同時におよび／または個別にプラテン
４に離反も近接もするように動かすか、によって選択的
に動かし得る。いずれの動き方であっても、接触片２４
が、プローブ部材３０を孔１４を通して端子１０の方へ
と、端子１０と接触片２４の間で電気的接触が達成され
るまで動かす、ということが容易に知られる。

前述したように、プラテン６は図で参照番号６と６°で
示された個別になった複数の部分で成っていてよく、そ
れら部分６．６°は、独立的、選択的にプラテン２と４
に近接も離反もするように動き得るので、試験されてい
る電気的組立体の別々のセクションについて、接触片２
４と端子ｌＯの間で電気的接触を選択的にプログラミン
グすることができる。

また、第１図においては、１つのプローブ部材３０が他
の図中のプローブ部材３０のボディ部分２０よりも軸方
向長さが長いボディ部分２０゛を有していることが示さ
れている。それはつまり、用いられるプローブ部材の長
さは必ずしもすべて同じでなくともよいこと、そして、
プローブ部材のうちの選択されたものが、他のものより
も前に、接触片２４と電気的組立体または配線板の端子
１０の間の電気的接触を達成するようにして逐次的試験
を行いたい場合に、このようにすることが用いられ得る
、ということを示している。このようにすることは、プ
ローブ部材が、第２図に示す試験器具について以降にお
いて説明するように弾力性あるバイアス手段を含むとき
に効果的に用いられ得る６ついでに述べておくが、本発
明による試験器具の逐次的試験の能力をさらに高めるた
めに、プローブ部材３０と接触片２４の両方において、
選択されたものが相異る長さを有するようにできる。

第２図の試験器具におけるプラテンは、第１図の場合と
本質的には同様であるが、異ることとして、端子ｌＯの
近くの、それがベース板１２を通して伸びる領域におい
て、導電性金属面（被覆）３２を有する孔が含まれてい
る。

プラテン２，４．および６はさきに説明したように働く
、また、簡単のため、導電性材料と電気絶縁性材料の使
い分けは説明されていない、何故ならば、そのようなこ
とは、プラテン４が導電性材料で作られているときにプ
ローブ部材３０とプラテン４の間の電気的な接触を防止
する技術について知識ある当業者にはよく知られている
からである。

第２図において、プローブ部材３０は、プラテン４を貫
通している配列された孔１４のうちの少なくとも予め選
択されたものを通して伸びている。しかし、この第２図
の場合には、プローブ部材３０は、一部品である導電性
の上側ボディ部分１９と、それとは別個であって、互い
に別個の導電性のセクション２２と３４に分れている下
側ボディ部分を有している。ボディ部分１９の端１８は
、試験デバイス２８で試験されるはずの部品８の谷ｌＯ
の方を向いていてそれに係合するように働く、ボディ部
分２１の接触片２４に向いた端２２は、その接触片と電
気的接触をするように働く。

第２図においては、プラテン４の孔１４を通して伸びて
いる第１のスリーブ１６の中に、中空開端形の第２のス
リーブ３６が摺動可能に収容されている。スリーブ３６
は、局部絞り（ｃｒｉｍｐｉｎｇ）または他の適当な手
段によってボディ部分１９の下端部に係合させられてい
て、その下端部はそこを第２のボディ部分２２の方に向
けて貫通した端部３１を有しており、第２のボディ部分
は、互に別個の導電性の上側セクション３４と導電性の
下側セクション２１で成っていて、この下側セクション
２１がさきに述べた反対側端部２２を含んでいる。

セクション３４はスリーブ３６の中に、ボディ部分１９
とセクション２１の間で動き得るように収容されており
、スリーブ３６は、セクション２１に局部絞りまたは他
の適当な手段によって固定されている。

セクション３４は例えばボールベアリングの金属球であ
ってよい。

金属製コイルばね４０のような導電性の第１のバイアス
手段が、スリーブ３６の中のセクション３４とセクショ
ン２１の間に収容されていて、弾力をもってセクション
３４をボディ部分１９の端部３１に押し付け、端部１８
とセクション２１の間の電気的接触を達成させる働きを
する。

スリーブ３６の回りには、コイルばね４２のような弾力
性ある第２のバイアス手段が取付けられている。ばね４
２は、それの上端９はスリーブ１６に係合し１反対側の
端１１はセクション２１の近くでスリーブ３６に係合し
てるのが望ましいが、プローブ部材３０を孔１４の中に
支持すると共に、弾力をもってボディ部分２１の端部２
２を接触片２４に押し付ける働きをする。

また、第２図においては、接触片２４よりも軸方向長さ
が短い接触片２４°が示されている。接触片２４°は、
電線２６によって中間の電気用プラグ２７を経て電気的
試験デバイス２８に電気的に接続され得るものであるが
、このものは、接触片２４がプローブ部材３０を経て端
子ｌＯとの電気的接触を達成した後で、プローブ部材３
０を経て端子１０”との電気的接触を達成するように働
く。プラテン６上に取付けられた選択された電気的接触
片の軸方向長さを一様でなくすることと、プラテン６を
第１図についてさきに説明したように別個の複数部分に
分割することとを組合わせるならば、電気的組立体の種
々の端子が試験器具と電気的接触を達成するに至る順序
を選択的にプログラミングすることにおいての大きな多
芸性が得られる。このようにすることは、電気的組立体
の種々の端子の間での、電気的接触のプログラミングに
おいて大きな利点となる。

ついでに述べておくが、端子１０’と接触片２４′とに
揃っている選択されたプローブ部材３０は、第２図で示
されたような、短かくされたボディ部分１９゛を有する
といったことにより軸方向長さが短かくなっていてよい
、このようにすれば、さきに述べたようなプラテン２．
４．および６の間のいずれの動き方の場合でも、電気的
組立体の端子と試験器具との間の電気的接触が達成され
る順序を選択的に決めることを可能にするが、下側プラ
テン６上に取付けられる電気的接触片２４，２４°の軸
方向長さを選択的に違えることと、下側プラテンをさき
に述べたように個別にプラテン２と４に近接も離反もす
るような２つまたはより多くの部分６．６°に分割する
こと、の一方または両方と組合せるならば、本発明によ
る試験器具の汎用性がさらに拡大されろことになる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明による試験器具の１つの実施例の部分的
断面図、 第２図は本発明による試験器具の他の実施例の部分的断
面図である。 ２・・・・上側プラテン、　４・・・・中側プラテン、
６・・・・下側プラテン、 ８・・・・電気的組立体（部品）、 ｌＯ・・・・端子、　　　　　　１４・・・・孔、１Ｂ
・・・・第１の端部（３０の）、 ２２・・・・反射側端部（３０の）、 ２４・・・・電気的接触片、　２８・・・・試験デバイ
ス、３０・・・・プローブ部材、 ４０４２・・・・バイアス手段（コイルばね）。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、電気的組立体に含まれる選択された端子（１０、１
   ０′）に接触させるための取付具であって、相互間に間
   隔をおいた下側（６）、中間（４）および上側（２）の
   ３枚のプラテンと、 それぞれに、少なくとも中間プラテンの選択された孔（
   １４）を貫通して延びそこを通して往復運動可能の導電
   性プローブ部材（３０）を含んで成り、 前記３枚のプラテンは、ａ）下側プラテン （６）が上側および中間のプラテン（２、４）に対して
   動かないように固定され、上側および中間のプラテン（
   ２、４）は同時にかつ個別に、または同時にまたは個別
   に下側プラテン（６）に近接しおよび離反するように動
   かされるか、ｂ）中間および上側のプラテン（４、２）
   が下側プラテンに対して動かないように固定され、下側
   プラテン（６）が中間および上側のプラテン（４、２）
   に近接しおよび離反するように動かされるか、ｃ）中間
   プラテン（４）が上側および下側のプラテン（２、６）
   に対して動かないように上側および下側のプラテン（２
   、６）が同時にかつ個別に、または同時にまたは個別に
   中間プラテン（４）と相対的に動かされるか、のうちの
   いずれかで、選択された動きが可能なようにされていて
   、 前記の上側プラテン（２）は、中間プラテン（４）の方
   へと伸びていてそれぞれ接触されるべき選択された端子
   （１０、１０′）を少なくとも備えている電気的組立体
   を固定するように構成され、前記の下側プラテン（６）
   は、それぞれに電気的組立体（８）の接触されるべき端
   子（１０、１０′）に対応してそれらに揃うように、下
   側プラテン（６）から中間プラテン（４）の方へ伸びて
   いて、電気的組立体の選択された構成部分に関する所望
   の情報を提供する働きをする試験デバイス（２８）に電
   気的に接続される、所定の配列になつた電気的接触片（
   ２４、２４′）を有し、 前記の中間プラテン（４）は、それを厚さ方向に貫通す
   る配列された複数の孔（１４）を有していて、それら孔
   のうちの選択されたものが、接触されるべき端子（１０
   、１０′）の各々およびそれらと揃うそれぞれの電気的
   接触片（２４、２４′）に対応し、実質的にそれらに揃
   い、 前記導電性プローブ部材（３０）は、複数の部材であっ
   て、それぞれが、揃う相手の端子（１０、１０′）と電
   気的に接触するに適した第１の端部（１８）と、揃う相
   手の電気的接触片（２４、２４′）と電気的に係合する
   に適した反対側端部（２２）とを有し、 前記取付具は、前記ａ）、ｂ）、ｃ）のいずれかの動き
   によって、電気的接触片（２４、２４′）が、揃う相手
   のそれぞれの電導性プローブ部材（３０）の反対側端部
   （２２）に係合し、それによりプローブ部材（３０）を
   上側プラテンの方へと、第１の端部（１８）がそれと揃
   う端子（１０、１０′）と電気的接触を達成するに十分
   な距離だけ押し進めるように働く電気的試験用取付具。 ２、中間プラテンに取付けられていて、それぞれに、選
   択された孔（１４）の中でプローブ部材（３０）を支持
   すると共に、それの反対側端部（２２）が弾力性をもっ
   て電気的接触片（２４、２４′）に係合することを可能
   にする働きをする弾力性あるバイアス手段（４０）を含
   んでいる、請求項１に記載の取付具。 ３、前記接触片（２４、２４′）の少なくとも１つが残
   りの接触片とは異った軸方向長さを有している、請求項
   １に記載の取付具。 ４、前記プローブ部材（３０）の少なくとも１本が残り
   のプローブ部材とは異った軸方向長さを有している、請
   求項１または３に記載の取付具。 ５、下側プラテン（６）が、それぞれに中間および上側
   のプラテン（４、２）に近接も離反もするように別個に
   動き得るような、少なくとも２つの部分（６、６′）か
   ら成っている、請求項１に記載の取付具。