JPH02190711A - 下振り - Google Patents
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- JPH02190711A JPH02190711A JP1116389A JP1116389A JPH02190711A JP H02190711 A JPH02190711 A JP H02190711A JP 1116389 A JP1116389 A JP 1116389A JP 1116389 A JP1116389 A JP 1116389A JP H02190711 A JPH02190711 A JP H02190711A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、例えば柱などの被測定体の垂直位置を振り子
の揺動中に測定することが可能な下振に関するものであ
る (従来の技術) 建築用の垂直測定器としては、従来、下振りが良く知ら
れている。ところが、単に糸の下端に振り予相の重錘を
取付けたにすぎない構造のものは、風によって重錘か振
れて静止しに〈<、また振動の減衰に時間がかかりすぎ
る。
の揺動中に測定することが可能な下振に関するものであ
る (従来の技術) 建築用の垂直測定器としては、従来、下振りが良く知ら
れている。ところが、単に糸の下端に振り予相の重錘を
取付けたにすぎない構造のものは、風によって重錘か振
れて静止しに〈<、また振動の減衰に時間がかかりすぎ
る。
このため、静止までの振動減衰の時間の短縮を図る技術
として、実公昭52−21074号公報及び実公昭53
−38455号公報に、重錘の吊糸を中空部内に垂丁さ
せるようにしたものか、また、実公昭52−21075
号公報に、重錘を制動液中に浸して速やかな減衰を行う
発明が開示されている。
として、実公昭52−21074号公報及び実公昭53
−38455号公報に、重錘の吊糸を中空部内に垂丁さ
せるようにしたものか、また、実公昭52−21075
号公報に、重錘を制動液中に浸して速やかな減衰を行う
発明が開示されている。
史に、実公昭54−8764号公報には、振り子に2個
の磁石を取付け、この磁石のIIfi極にそれぞれホー
ル素子を対向配設し、ホール素子の対応する2つの出力
差による指針の触れに対応して被測定体の傾斜角度を基
準角度に修正させるようにした発明も提案されている。
の磁石を取付け、この磁石のIIfi極にそれぞれホー
ル素子を対向配設し、ホール素子の対応する2つの出力
差による指針の触れに対応して被測定体の傾斜角度を基
準角度に修正させるようにした発明も提案されている。
(発明か解決しようとする問題点)
ところか、こうした従来技術のうち、振動減衰を〒める
ものの場合、いずれにしろ最終的には振りrの静1トを
待って垂直位:6を確認しなければならず、また、被検
出体の傾斜角度自体を測定することはてきない。
ものの場合、いずれにしろ最終的には振りrの静1トを
待って垂直位:6を確認しなければならず、また、被検
出体の傾斜角度自体を測定することはてきない。
方、磁石とホール素子を設けた従来技術においても、被
測定体の傾斜角度を正確に知ることはできないばかりで
なく、磁石とホールJfなどの構成部材を所定の位置関
係をもって精度良く組み付けなければならない。
測定体の傾斜角度を正確に知ることはできないばかりで
なく、磁石とホールJfなどの構成部材を所定の位置関
係をもって精度良く組み付けなければならない。
本発明はこのような従来技術の問題点に鑑み、振りf−
を用いながらも、振り子の揺動中に被測定体の垂直位置
とこれに対するずれ角を正確に検出し、社等をt没する
際の施玉作業の能率向上に貢献することかでき、また、
外構成部材の組み付は精度に若干の誤差を生しても正確
な測定を行い得る千振を提供することを[1的とするも
のである。
を用いながらも、振り子の揺動中に被測定体の垂直位置
とこれに対するずれ角を正確に検出し、社等をt没する
際の施玉作業の能率向上に貢献することかでき、また、
外構成部材の組み付は精度に若干の誤差を生しても正確
な測定を行い得る千振を提供することを[1的とするも
のである。
(問題点を解決するための手段1
本発明は一1二記した目的を達成するために、1r)直
な第1の基準外形面及び氷・Kなi2の基準外形面の少
なくとも−・方の外形面を備えた本体ケーシングと、 この本体ケーソング内に揺動自在に支持された振子と、 上記振子の電動減衰係数等の同有抛動情報を入力記憶さ
せた記憶部と、 本体ケーシングの傾きによって振子が振動されたときに
、本体ケーシング内における振子の位置を、光学的、暖
気的あるいは電気的に検出する検出部材と、 この検出部材からの出力信号と上記記憶部からの出力イ
エ号とを比較し、本体ケーシングの鉛直位置からのずれ
角を94算する比較演算回路と、この比較演算回路から
の信号によって本体ケーシングの傾斜方向及び傾斜角度
並びに鉛直位置とを表示する表示器とを備えている点に
特徴を有する。
な第1の基準外形面及び氷・Kなi2の基準外形面の少
なくとも−・方の外形面を備えた本体ケーシングと、 この本体ケーソング内に揺動自在に支持された振子と、 上記振子の電動減衰係数等の同有抛動情報を入力記憶さ
せた記憶部と、 本体ケーシングの傾きによって振子が振動されたときに
、本体ケーシング内における振子の位置を、光学的、暖
気的あるいは電気的に検出する検出部材と、 この検出部材からの出力信号と上記記憶部からの出力イ
エ号とを比較し、本体ケーシングの鉛直位置からのずれ
角を94算する比較演算回路と、この比較演算回路から
の信号によって本体ケーシングの傾斜方向及び傾斜角度
並びに鉛直位置とを表示する表示器とを備えている点に
特徴を有する。
(作用)
この下振は、本体ケーシングごと適宜の被測定体にその
基準面を当接させて固定すれば、振子の揺動114にお
ける本体ケーシング内での位置情報か光学的、電気的あ
るいは磁気的に読み取られ、これか比較演算回路におい
て振子の基準情報と比較されて、211直位置及び被測
定体の傾斜方向か表示される。従って、振子が揺動して
いる状態においても速やかに鉛直位置等が検出され、ま
た、基準MitMは各構成部材の組み付は後にRAMの
設定デーゾルに入力されるので、組み付は結反誤差に影
響されることなく正確な測定を行い得るものである。
基準面を当接させて固定すれば、振子の揺動114にお
ける本体ケーシング内での位置情報か光学的、電気的あ
るいは磁気的に読み取られ、これか比較演算回路におい
て振子の基準情報と比較されて、211直位置及び被測
定体の傾斜方向か表示される。従って、振子が揺動して
いる状態においても速やかに鉛直位置等が検出され、ま
た、基準MitMは各構成部材の組み付は後にRAMの
設定デーゾルに入力されるので、組み付は結反誤差に影
響されることなく正確な測定を行い得るものである。
(実施例)
以下1本発明を図示した実施例に基づいて詳細に説明す
る。
る。
第1図は本発明の一実施例に係る下振の要部の内部補遺
を示す説明図、第2図はその縦斯面図である。
を示す説明図、第2図はその縦斯面図である。
両図において1図中符号lは本体ケーシングで、このケ
ーシングは、その外面にこのド娠を被測定体に位置決め
固定する際の基準となる垂直な第1の基準面1aと水平
な第2の基準面1bとを備える。
ーシングは、その外面にこのド娠を被測定体に位置決め
固定する際の基準となる垂直な第1の基準面1aと水平
な第2の基準面1bとを備える。
2は本体ケーシング1の上部に水平に架設した支持軸、
3はこの支持軸2に枢支された振子で、振子3は、略半
扇状の振子板31.32を上部にスペーサ4を介して萌
後に2枚重合することにより形成さね、その下部対向面
間に所要幅の間v、5を4Tする。前面振子板31は、
その鉛直線トの板面下部に第1の赤外線発光素子6aが
後面振子板32の板面に向けて取付けらね、また後面振
子板31の対応1−る位置には上記発光素子6aからの
光を受光する第1の受光素子6bが取付けられている。
3はこの支持軸2に枢支された振子で、振子3は、略半
扇状の振子板31.32を上部にスペーサ4を介して萌
後に2枚重合することにより形成さね、その下部対向面
間に所要幅の間v、5を4Tする。前面振子板31は、
その鉛直線トの板面下部に第1の赤外線発光素子6aが
後面振子板32の板面に向けて取付けらね、また後面振
子板31の対応1−る位置には上記発光素子6aからの
光を受光する第1の受光素子6bが取付けられている。
7は中心点が上記振子3の鉛直線上に位置し、駆動子−
夕8からの駆動力を受けて高速回転(例えば6,000
〜8,000rpm )する回転板で、板面の一部が、
ト記振子[31,32間の間隙5内に侵入して振子3の
揺動軌跡と交差し、第1の発光素子6aの光路な遮蔽す
る。
夕8からの駆動力を受けて高速回転(例えば6,000
〜8,000rpm )する回転板で、板面の一部が、
ト記振子[31,32間の間隙5内に侵入して振子3の
揺動軌跡と交差し、第1の発光素子6aの光路な遮蔽す
る。
9は高速回転板7の回転領域で前記振子3と対向−Vる
位置に同定さ九た基準点検出部材で、その本体部は所定
の間隔を置いて平行に対峙する前面壁9aと後面壁9b
とを備え、両壁が形成する溝部10内を高速回転板7の
板面の一部か通過する。前面壁9aの鉛直線上に位置1
−る適所には第2の発光素子11aが後面壁9bに向け
て取付けられ、i&面壁9bの対応する位置にはト記第
2の発光素′f−11aからの光を感知する第2の受光
に7’llbが取付けられている。
位置に同定さ九た基準点検出部材で、その本体部は所定
の間隔を置いて平行に対峙する前面壁9aと後面壁9b
とを備え、両壁が形成する溝部10内を高速回転板7の
板面の一部か通過する。前面壁9aの鉛直線上に位置1
−る適所には第2の発光素子11aが後面壁9bに向け
て取付けられ、i&面壁9bの対応する位置にはト記第
2の発光素′f−11aからの光を感知する第2の受光
に7’llbが取付けられている。
12は高速回転板7の板面に形成した透孔スリットで、
このスリ、)、 ト12は、振子3及び基準点検出部材
9の自発光素子6a、llaの光路と交差する位置にw
cL−cに形成され、振子3の揺動にff−なう′;P
Jlの発光素子と第4の受光素子の」二下変位にち対応
して光を通過させる。
このスリ、)、 ト12は、振子3及び基準点検出部材
9の自発光素子6a、llaの光路と交差する位置にw
cL−cに形成され、振子3の揺動にff−なう′;P
Jlの発光素子と第4の受光素子の」二下変位にち対応
して光を通過させる。
第3図は本下振の本体ゲージング1内に組込まれる制御
回路のブロックIAを示す。
回路のブロックIAを示す。
図中21は記憶情報回路で、RAMの設定テーブルには
、振子の振動減衰係数、振動パターン、その他、本体グ
ーシンク1内において振=r3が理想状jf3にあると
きの振動情報、即ち、基準点検出部材9に取付けられた
第2の発光素子11a及び第2の受光素子11bがr(
の鉛直線上にあり、この鉛直線を境として撫子3が左右
に振動しているときの振子3の位置情報が、高速回転板
7のスリット12を通過して受光された第1及び第2の
受光J/−6b、llbからの断続的な信号を介して記
録される。
、振子の振動減衰係数、振動パターン、その他、本体グ
ーシンク1内において振=r3が理想状jf3にあると
きの振動情報、即ち、基準点検出部材9に取付けられた
第2の発光素子11a及び第2の受光素子11bがr(
の鉛直線上にあり、この鉛直線を境として撫子3が左右
に振動しているときの振子3の位置情報が、高速回転板
7のスリット12を通過して受光された第1及び第2の
受光J/−6b、llbからの断続的な信号を介して記
録される。
22は中央処理装置で、この中央処理装置22には、本
下振の現実の使用時における振子3の振動情報か高速回
転板7のスリット12を介して受光した第1及び第2の
受光ふ子sb、ttbからの断続的な信号として入力さ
れると同時に、前記した記憶情報回路21からの基準廠
動情報が信号入力される。そして、比較演算部において
上記両イλ号が比較され、振子3の示す鉛直位置と、被
測定体かこの鉛直位置から左右にどの程度ずれているか
を算出する。
下振の現実の使用時における振子3の振動情報か高速回
転板7のスリット12を介して受光した第1及び第2の
受光ふ子sb、ttbからの断続的な信号として入力さ
れると同時に、前記した記憶情報回路21からの基準廠
動情報が信号入力される。そして、比較演算部において
上記両イλ号が比較され、振子3の示す鉛直位置と、被
測定体かこの鉛直位置から左右にどの程度ずれているか
を算出する。
23は上記した比較演算部の結果を表示するための表示
部で、例えばデインタル表示器より成り、il(原位置
を0とし、左右のずれ角を+−の数字て入力(する。こ
の表示部は、この他、LED表示器によって構成し、あ
るいは被4111定休の傾斜角度を鉛直位置に近づける
につれて断続音の間隔か早くなり鉛直位置において連続
音を発するような発?′テ体によって構成するようにし
ても良い。
部で、例えばデインタル表示器より成り、il(原位置
を0とし、左右のずれ角を+−の数字て入力(する。こ
の表示部は、この他、LED表示器によって構成し、あ
るいは被4111定休の傾斜角度を鉛直位置に近づける
につれて断続音の間隔か早くなり鉛直位置において連続
音を発するような発?′テ体によって構成するようにし
ても良い。
第4UAは前記した中央処理袋jη22における処理の
フローチャートを示しており、第5図にボす使用例を参
照しつつ上記処理を其体的に説明すると、先ず、第1図
に見られるように下振の本体ケーシング1か0直で、振
子−3か静止しているときには、支持軸2と、高速回転
板7の中心と、自発光素子6a、11aELび受光素子
6b、flbは鉛直!七に位置している。このため、高
速回転板7が回転し、スリット12を介して第1の受光
素i’−6bからの信号が入力された後、第2の受光素
子tibからの43号が入力されるまでの時間T1と、
第2の受光素子11bからの信号か入力された後、第1
の受光素子6bからの信号が入力されるまての時間T2
は等しい。第1図の状態において振子3か振動している
場合には、第1の受光素子6bは振子板3a、3bと共
に移動する一方、第2の受光素子11bは基準位置にお
いて固定されているために、上記したTIとT2に差を
生じる。この時間差に基づく情報が中央処理装置22に
おいて基準振動情報と比較され、演算されてその鉛直位
置が算出される。
フローチャートを示しており、第5図にボす使用例を参
照しつつ上記処理を其体的に説明すると、先ず、第1図
に見られるように下振の本体ケーシング1か0直で、振
子−3か静止しているときには、支持軸2と、高速回転
板7の中心と、自発光素子6a、11aELび受光素子
6b、flbは鉛直!七に位置している。このため、高
速回転板7が回転し、スリット12を介して第1の受光
素i’−6bからの信号が入力された後、第2の受光素
子tibからの43号が入力されるまでの時間T1と、
第2の受光素子11bからの信号か入力された後、第1
の受光素子6bからの信号が入力されるまての時間T2
は等しい。第1図の状態において振子3か振動している
場合には、第1の受光素子6bは振子板3a、3bと共
に移動する一方、第2の受光素子11bは基準位置にお
いて固定されているために、上記したTIとT2に差を
生じる。この時間差に基づく情報が中央処理装置22に
おいて基準振動情報と比較され、演算されてその鉛直位
置が算出される。
従って、例えば被測定体の表面に固定された本下振が第
5図に示すようにθの角度をもって図中左側に傾斜し、
第1の発光素子6a、iび受光素子6bがBからCの間
で振動しているとき、同様にして8点より0点に至る1
振幅の間のT1とT2の情報がほぼ連続的に中央処理装
置22に入力される。そして、この情報は基準振動情報
と比較されて鉛直位置A点が割り出され、こソ)A点と
第2の受光素子11bまでの角度が同様に算出されて下
振及び被測定体の傾斜角度θが表示器に表示される。こ
のため、木下撫では振子3が1振幅する間にその鉛直位
置の割り出しを行うことができるものである。
5図に示すようにθの角度をもって図中左側に傾斜し、
第1の発光素子6a、iび受光素子6bがBからCの間
で振動しているとき、同様にして8点より0点に至る1
振幅の間のT1とT2の情報がほぼ連続的に中央処理装
置22に入力される。そして、この情報は基準振動情報
と比較されて鉛直位置A点が割り出され、こソ)A点と
第2の受光素子11bまでの角度が同様に算出されて下
振及び被測定体の傾斜角度θが表示器に表示される。こ
のため、木下撫では振子3が1振幅する間にその鉛直位
置の割り出しを行うことができるものである。
また図示しないが、周縁適所に重錘が固定され、かつ盤
面に所定角度毎にスリットが形成された回転盤を本体ケ
ーシングに回動自在に支持し、回転盤の一面側に、8【
錘と回転盤の枢支点とを結ぶ垂線上に向は投光する発光
素子を配設する一方、回転盤の他面側に、上記スリット
を通過した発光素子からの光を受光する受光素子を配設
し、ケーシングの傾きによって生じる重錘と回転盤の振
動に伴ない、上記受光素子によって検出されるパルスの
回数をカウントし、このカウンタからの信号を予め測定
して記憶させた回転盤の基本振動情報と比較演算するこ
とにより、本体ケーシングの6直位置及び傾斜角度を表
示器によって表示するようにしても良い。
面に所定角度毎にスリットが形成された回転盤を本体ケ
ーシングに回動自在に支持し、回転盤の一面側に、8【
錘と回転盤の枢支点とを結ぶ垂線上に向は投光する発光
素子を配設する一方、回転盤の他面側に、上記スリット
を通過した発光素子からの光を受光する受光素子を配設
し、ケーシングの傾きによって生じる重錘と回転盤の振
動に伴ない、上記受光素子によって検出されるパルスの
回数をカウントし、このカウンタからの信号を予め測定
して記憶させた回転盤の基本振動情報と比較演算するこ
とにより、本体ケーシングの6直位置及び傾斜角度を表
示器によって表示するようにしても良い。
尚、上記した実施例では、振子の揺動に伴なう(1ン置
情報を光学的に読取ってこれを基準情報と比較すること
により鉛直位置を算出するようにしたが、本発明はこの
他、&その振動に伴なう位置情報を電圧あるいは′11
を流値の変化として読取り、またこれを磁束量の変化と
して読取ることにより、そわぞれに対応した記憶M7報
部の基準情報と比較して、鉛直位置を算出するようにし
ても良い。
情報を光学的に読取ってこれを基準情報と比較すること
により鉛直位置を算出するようにしたが、本発明はこの
他、&その振動に伴なう位置情報を電圧あるいは′11
を流値の変化として読取り、またこれを磁束量の変化と
して読取ることにより、そわぞれに対応した記憶M7報
部の基準情報と比較して、鉛直位置を算出するようにし
ても良い。
(発明の効果)
以上述べたように本発明によれば、本体ケーシング内に
振子を揺動自在に支持し、本体ケーシングの傾きによっ
て振子が振動されたときに本体ケーシング内での振子の
位置を検出部材によって光学的、磁気的あるいは電気的
に検出し、これを振動減衰係数等の振子の固有振動情報
を入力記憶させた記憶部の情報と比較演算することによ
って鉛直位置と傾斜角度を表示するようにしているので
、振子の振動中に速やかに測定ができ、また各物理的構
成部材の組み付は鞘型に多少の誤差があってもこれに影
習されることなく確実な測定を行うことができる。
振子を揺動自在に支持し、本体ケーシングの傾きによっ
て振子が振動されたときに本体ケーシング内での振子の
位置を検出部材によって光学的、磁気的あるいは電気的
に検出し、これを振動減衰係数等の振子の固有振動情報
を入力記憶させた記憶部の情報と比較演算することによ
って鉛直位置と傾斜角度を表示するようにしているので
、振子の振動中に速やかに測定ができ、また各物理的構
成部材の組み付は鞘型に多少の誤差があってもこれに影
習されることなく確実な測定を行うことができる。
第1図は本発明の一実施例に係る下振の構造の要部を示
す説明図、第2図はその断面図、第3図はその制御回路
部のブロック図、第4図は中央処理装置における処理の
フローチャート、第5図は使用状態を示す説明図である
。 1・・・本体ケーシング、 la・・・垂直基準面、lb・・・水平基準面3・・・
振子、6a・・・第1の発光素子、6b・・・第2の発
光素子、 7・・・高速回転板、8・・・モータ。 11a・・・第2の発光素子。 ttb・・・第2の受光素子、 21・・・記憶情報回路、 22・・・中央処理装置、23・・・表示部特許出願人
奥地殖産 株式会社
す説明図、第2図はその断面図、第3図はその制御回路
部のブロック図、第4図は中央処理装置における処理の
フローチャート、第5図は使用状態を示す説明図である
。 1・・・本体ケーシング、 la・・・垂直基準面、lb・・・水平基準面3・・・
振子、6a・・・第1の発光素子、6b・・・第2の発
光素子、 7・・・高速回転板、8・・・モータ。 11a・・・第2の発光素子。 ttb・・・第2の受光素子、 21・・・記憶情報回路、 22・・・中央処理装置、23・・・表示部特許出願人
奥地殖産 株式会社
Claims (2)
- (1)、垂直な第1の基準外形面及び水平な第2の基準
外形面の少なくとも一方の外形面を備えた本体ケーシン
グと、 この本体ケーシング内に揺動自在に支持された振子と、 上記振子の振動減衰係数等の固有振動情報を入力記憶さ
せた記憶部と、 本体ケーシングの傾きによって振子が振動されたときに
、本体ケーシング内における振子の位置を、光学的、磁
気的あるいは電気的に検出する検出部材と、 この検出部材からの出力信号と上記記憶部からの出力信
号とを比較し、本体ケーシングの鉛直位置からのずれ角
を演算する比較演算回路と、 この比較演算回路からの信号によって本体ケーシングの
傾斜方向及び傾斜角度並びに鉛直位置とを表示する表示
器とを備えていることを特徴とする下振り。 - (2)、前記検出部材は、振子の下部に設けられた1対
の第1の発光素子及び受光素子と、 上記振子の第1の発光素子の鉛直線上に位置する本体ケ
ーシング内に固定された第2の発光素子及び受光素子と
、 板面の一部が上記第1の発光素子から受光素子にかけて
の光路と上記第2の発光素子から受光素子にかけての光
路をさえぎるようにして高速回転し、板面に上記光路を
開放するスリットを備えた高速回転板とより成る ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の下振。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1116389A JPH02190711A (ja) | 1989-01-20 | 1989-01-20 | 下振り |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1116389A JPH02190711A (ja) | 1989-01-20 | 1989-01-20 | 下振り |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02190711A true JPH02190711A (ja) | 1990-07-26 |
Family
ID=11770375
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1116389A Pending JPH02190711A (ja) | 1989-01-20 | 1989-01-20 | 下振り |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02190711A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7019522B1 (en) * | 2004-01-23 | 2006-03-28 | Advanced Design Consulting Usa | Apparatus for measuring the magnetic field produced by an insertion device |
-
1989
- 1989-01-20 JP JP1116389A patent/JPH02190711A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7019522B1 (en) * | 2004-01-23 | 2006-03-28 | Advanced Design Consulting Usa | Apparatus for measuring the magnetic field produced by an insertion device |
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