JPH02191429A - 眼検査用光学測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】

本発明は被検眼の種々の光学的特性（眼屈折度やｆｆ１
膜曲率等）を自動的に測定する眼検査用光学測定装置に
関する。

【従来技術およびその課題】

上述のような眼検査用光学測定装置としては、例えばオ
ートレフラクトメータ（自動眼屈折度測定装置）やオー
トケラトメータ（自動角膜曲率測定装置）等の装置が知
られている。これらの各装置では、装置の光軸上の所定
の位置に被検眼を配置することにより、被検眼を含んだ
測定光学系を形成する。被検眼の配置は、装置の光軸が
被検眼の光軸に一致させられること、すなイっち照準が
合わせられること、及び、装置内のモニタ用カメラ光学
系自体の焦点が測定光学系の被検眼位置と一致させるこ
と、すなわち距離合わせか達成されること、の２つの条
件が満足されねばならない。オートレフラクトメータを
例に説明すれば、レフラクトメータの装置原理は、被検
眼の眼底即ち網膜上に結像された光標（測定光）を光学
系を通して観測し、眼の屈折度を測定する装置であり、
オートレフラクトメータはその測定を自動的に行うもの
であるが、実際にその測定を行うためには、測定光投光
の前の準備段階として装置側の測定用光学系と被検眼と
の位置関係を測定可能な状態（照準・距離合わせが達成
された状態）に調整される。 従来のオートレフラクトメータにおけるこのような前段
階の調整操作では、モニタ画面上に表示される照準マー
ク（レチクルパターン）と照準光源の角膜反射像の位置
が一致するように測定装置自体を被検眼に対して」１下
左右に操作することによって照準が行なわれ、また、装
置と被検眼との距離合わせをすることによってモニタ用
カメラ光学系自体の焦点が、測定光学系の被検眼位置と
一致Ｕ・しめられる。このようにモニタ画面上で照準及
び距離合わせが達成されたことを測定者が認識し、その
上で測定者が測定開始スイッチを入れて実際の測定を行
っていた。 ところが、上述のような照準・距離合わせの手法により
測定を開始する場合は、まず、被検者か照準・距離合わ
せの状態を一定に保持することは困難であり、また測定
者が測定開始スイッチを入れるタイミングにも熟柿を要
し、実際に照準及び距離合わせが完了したタイミングに
合わせて」二足スイッチを入れるのは極めて困％［であ
った。

【発明の目的］ 本発明の目的は、測定タイミングを逃さない照準・距離
合わ仕機構を備えた眼検査用光学測定装置を提供するこ
とにある。 【課題を解決するための手段】 本発明に係る眼検杏用光学測定装置は、上述のごとき従
来技術の課題を解決し、その目的を達成するために以下
のような構成を備えている。 すなわら、この光学測定装置は、測定光を被検眼に向け
て投射する測定光投光系と、被検眼反射光を受光する受
光センサを含む測定光受光系と、被検眼に対する眼検査
用光学測定装置の照準合わせと距離合わせとを行うため
の照準・距離合わせ光学系を含む照準・距離合わせ手段
と、測定光を被検眼に投射するとともに測定光受光系に
得られた被検眼反射光に基づいて被検眼を測定する測定
手段とを有する。 上記受光センサは、測定光受光系の受光系光軸が受光セ
ンサ上のＸ軸とＹ軸の交点と一致するように配置される
。 上記照準・距離合わせ光学系は、被検眼に向って、夫々
、互いに十分接近しかつ上記Ｘ軸方向に並んだ１対の光
束を照射するｌ対の照鋸光源手段を有し、１対の照準光
椋手段は、受光系光軸に対して上記Ｘ軸方向に対称に配
置される。 上記照準・距離合わせ手段は、 を足受光センサのＸ軸上に、角膜反射光の象かが結像さ
れたかどうかを判別する第１判別手段と、第１判別手段
により判別された受光センサのＸ軸上の角膜反射像が互
いに重なることなく離れているかどうかを判別４″る第
２判別手段と、上記受光センサのＸ軸上に受光された４
つの角膜反射像のうち両側の像と上記受光センサのＹ軸
間の距離を夫々算出する算出手段と、 上記算出手段により算出された２つの距離を比較すると
ともにその差が許容範囲内にあるとき、測定装置に測定
光投射開始信号を出ツノする比較手段とを有する。

【作用・効果】

」二足構成においては、第１判別手段により受光センサ
のＹ軸方向の照準合わせがおこなわれ、第２判別手段に
より、距離合わせがおこなわれる。 すなわち、角膜反射像が受光センサのＸ軸上に結像され
たかどうかを第１判別手段で判別することによりＹ軸方
向の照準合わせか行なわれる。又、第２判別手段では、
４点の角膜反射像が互いに重なることなく離れているこ
とを検出することにより、測定装置の光学系の焦点が被
検眼に一致しているかどうかを判別する。そしてさらに
、算出手段と比較手段により、受光センサのＸ軸上に受
光された４つの角膜反射像、つまり左右の１対づつの角
膜反射像がＹ軸に対して対称に位置するかどうかを検出
し、つまり、Ｘ軸方向の照県合わせを行ない、この照準
合わせが達成されたときに、比較回路から測定装置に測
定光投射開始信号を出力する。 従−）で、Ｌ記構成によれば、照準合わせおよび距離合
わせが適正な状態になれば、自動的に直しに測定が開始
されるので、常に最適な測定タイミングが得られる。

【実施例】

以下に本発明の好適な一実施例について、第１図ないし
第９図を参照して説明する。 第１図は本発明の眼検査用光学測定装置に係る一実施例
としてオートレフラクトメータの全体の光学系を模式的
に示す図である。第２図は第１図における測定光の投光
光学系、第３図は第１図における測定光の受光光学系、
第４図は第１図におけろ照準・距離合わせ光学系をそれ
ぞれ模式的に示す。 測定光の投光光学系ｌの投光系光軸Ａは光源２から第１
ハーフミラ−３に向けて伸びかつ第１ハーフミラ−３の
ところで直角に曲がって被検眼Ｅの方に延びている。光
源２には赤外線発光ダイオードが用いられている。光源
２から第１ハーフミラ−３まで真−〕すぐ上方へ伸びる
光軸部分ａ１に沿って各種光学決素が配置されている。 そして、第１ハーフミラ−３で直角に反射される測定光
は光軸部分ａ、に沿って本装置から出る。したがって、
この光軸ａ、上に被検眼Ｉεの光軸ａＥを位置さＵ゛ろ
ことによって、測定光を被検眼Ｅ内に投光オろことがで
きる。光源２から第１ハーフミラ−３までの間の光軸部
分ａｌｌには、光源２側から順にコリメータレンズ４．
ピラミッド形状の４角錐ブリズｔ２５．絞り６．投光リ
レーレンズ７．４穴ミラー８．接眼レンズ９か配置され
ている。４角錐プリズム５は、測定光の４点のスポット
パターンを形成するために、光源２からコリメータレン
ズ・１を経た赤外光を光軸ａ、の回りに中心角９０°毎
の位置を通る４本の光束に分離させる。絞り６は投光リ
レーレンズ７の焦点位置に配置されており、４　ｆ（１
錐プリズム５から出た４本の光束は絞り６を通過した後
に投光リレーレンズ７へ入射し、それぞれが光軸部分ａ
１に平行な光束となって４点のスポットパターンを形成
する。４穴ミラー８は、後述する測定光の受光光学系１
０における網膜反射光である測定光を直角に反射させる
ためのミラーであって、その」二側の反射面が光軸部分
ａ１に対して４５°傾斜しており、投光光学系１におい
て投光スポットパターンの光路を遮断しないように、そ
の光路に相当する部分に小さな穴が４箇所に形成されて
いる。従って、４穴ミラー８の６穴を通過した測定光は
、４点スポットパターンとなって接眼レンズ９に入射し
、第１ハーフミラ−３で直角に反射されて被検眼Ｅ内に
入る。 尚、受光系光軸Ｂの被検眼Ｅがら４穴ミラー８までの光
軸部分ｂ１．ｂｔは投光系光軸Ａの光軸部分ａ　２．　
ａ　、と一致している。 測定光の受光光学系ＩＯでは、測定光の網膜反射光は被
検眼Ｅから４穴ミラー８まで光軸部分す、ｂ、に沿って
逆行し、１１穴ミラー８で直角に反射される。この反射
光の光軸ｂ３上には、４穴ミラー８と平行な反射面を持
つマイクロミラー１１が配置されており、このマイクロ
ミラーＩｔによって測定反射光がさらに下方へ直角に反
射される。マイクロミラー１１の下方には光軸部分ｂ４
に沿って結像レンズ１２および撮像素子マトリックスと
してＣＯＤ　（ｉｉ荷結合素子）により構成された受光
センサ１３が配置されている。受光センサ１３は、その
中央に光軸部分ｂ４が通るように配置されているので、
受光センサ１３が検知できる光の通る空間の平面的広が
りを被写界とすると、その被写界中心は上記受光光学系
ｌＯにおける受光系光軸Ｂ上に位置している。換言すれ
ば、受光センサ１３のＸ軸とＹ軸との交点に光軸ｂ４つ
まり光軸Ｂが一致している。 照準・距離合わせ光学系１５は、第５図によく示すよう
に、１対の照準光源手段が、上記光軸部分ａ、に対して
水平方向で軸対称な位置に配置されている。そして、各
照準光源手段は、照へξ光源２１’と、コリメータレン
ズ２３゛と、台形プリズム２２°とから構成されている
。各照準光源２ビは赤外線発光ダイオードよりなる。こ
れら軸対称のｌｉｄ準光源２１’を通る直線の方向は、
」二連の受光センサ１３により被写界が走査される方向
に一致させられている。通常は、この画像をモニタリン
グする場合にはモニタ画面の横方向へ走査しながら順に
上から下へその走査線が移動して行くが、ここで言う走
査方向は上記横方向を意図している。 そして、本実施例では、走査方向は被検眼に向って左か
ら右方向である。照準光源２１゛から出る照準光は、照
準光源２１の前に配置されたコリメータレンズ２２によ
って平行光とされて台形プリズム２３°にその１つの入
射面２３°ａより入射され、２つの出射面２３°ｂ、２
３’ｃより２つに区分された光束Ｌｌ、Ｌ２として出射
する。この２つの光束Ｌ１．Ｌ２は、互いに十分接近し
ており、被検眼Ｅに対する測定測定装置の距離合わ仕が
適正になされている場合には、受光センサ１３」二にお
いて互いに重ならない明瞭な角膜反射光のスポット像と
して結像するように、台形プリズム２３′によって形成
される。 尤ら、台形プリズム２３°は、互いに接近した２つの光
束を形成する１つの手段にすぎない。この２つの光束は
他の手段によってら実現可能である。たとえば、コリメ
ータレンズ２２′を２つ平面的に配列することによって
も実現できる。 以下、照準光源２１’の角膜反射光（以下、照準光と称
す）の光路を構成する部分について説明する。第１ハー
フミラ−３を部分的に透過４−る照ω光は、第２ハーフ
ミラ−Ｉ４によって直角下方へ反射され、モニタリレー
レンズ１６を通過する。 モニタリレーレンズ１６の下方には第１の４５゜ミラー
１７が配置され、その反射光路上にはレチクルパターン
の占かれた透明ガラスのレチクル板１８が配置されてい
る。このレチクル板１８は、モニタリレーレンズ１６に
関して被検眼Ｅと共役な位置に配置されている。第１の
４５°　ミラー１７からレチクル板１８を通過した位置
には第２の４５°　ミラー１９が、これに入射した照準
光を直角下方へ反射さＵるように配置されている。第２
の４５°　ミラー１９の下方の光軸部分は、測定光受光
光学系ＩＯにおけるマイクロミラー１１以下の光軸部分
ｂ４と共通となっており、結像レンズ１２および受光セ
ンサ１３をも共通となっている。 従ってこの照準・距離合わせ光学系１５は、モニタ用し
ヂクル光学系がモニタ用カメラ光学系内に組み込まれた
形に構成されている。尚、１１６　！’＄・距離合わせ
光学系１５においてマイクロミラー１１は極めて小さく
、照準光はその周辺部分を通過するので、その存在は支
障を来さない。第１図において、測定光の投光光学系１
における光軸ａ、の延長上に配置されているのは、測定
時の被検眼に遠点を見さけるための視標２０である。 第６図は、本オートレフラクトメータのブロック回路図
である。測定光の被検眼反射光ら照準光も受光センサ１
３に検知され受光センサ１３の走査により順次画像信号
（電気信号）に変換される。 この画像信号は、走査の同期信号とともに、コンパレー
タ３１．同期分離回路３４、画像処理装置５２及びモニ
タ５３に入力される。 コンパレータ３１に入力された画像信号は、コンパレー
タ３１に設定されている、照準光源の輝度に対応する基
準値よりも高いレベルの画像信号と低いレベルの画像信
号とが２値化されて取り出され、アンド回路３３へ出力
される。すなわち、被検眼反射像の画像信号は基準値よ
り低いレベルであり、照準光反射像の画像信号は基準値
よりも高いレベルである。一方、同期分離回路３２に入
力された同期信号は、水平同期信号と垂直同期信号とに
分離されて水平同期信号はＸＭａＸ堕発生回路３４及び
Ｙ軸基準発生回路３５へ、垂直同期信号はＸ軸基準発生
回路３４へおのおの入力される。 Ｘ軸基準発生回路３４では、水平同期信号と垂直同期信
号の両者から、光軸中心を通るＸ軸を示すタイミング信
号が発生せしめられてアンド回路３３に入力される。一
方、Ｙ　ｌｄ＋基準発生回路３５は、クロックパルス発
生回路及びパルスカウンターを含んでおり、水平同期信
号入力時点からのパルス敢が、光軸中心を通るＹ軸に一
致したとき、そのＹ軸を示すタイミンク゛信号がアンド
回路４１及びＹ軸−右側反射像幅カウンタ−３８へ入力
されろ。 アンド回路３３は、コンパレータ３１からの出力信号が
Ｘ袖基学トにあるときのみ信号を右側反射像検出回路３
６、左側反射像検出回路３６及び左側反射［−Ｙ軸幅カ
ウンター３９に出力する。１対の照準光源２１のうちの
一方（右側）の角膜反射光の信号は、その位置を検出す
る右側反射像検出回路３６から出力され、他方（左側）
の角膜反射光の信号が左側反射像検出回路３７から出力
される。 すなわち、左側反射像検出回路３７は２値カウンターで
構成されており、アンド回路３３より２つのパルス信号
が入力されたとき、パルス信号をアンド回路４１に出力
する。また、右側反射像検出回路３６は４値カウンター
で構成されており、アンド回路３３より４つのパルス信
号が入力されたとき、パルス信号をＹ軸−右側反射像幅
カウンタ−３８に出力する。カウンター３９はＹ軸と第
１角膜反射像との間の距離を、一方カウンター３８はＹ
軸と第４角膜反射像との間の距離を、それぞれ、計測す
るしのである。カウンター３９においては、アンド回路
３３よりの信号により計測がスタートせしめられ、アン
ド回路４１よりの信号で計測が停止［二せしめられる。 アンド回路４１は、検出回路３７とＹ軸基準発生回路３
５の両者より信号が入力されたときに、カウンター３９
にストップ信号を出力する。これによりカウンター３９
の計算は停止せしめられる。このカウンター３９は左側
の第１角膜反射像からＹ軸までの距離に対応するカウン
ト値を比較回路４０に出力する。 −）へカウンター３８においては、Ｙ軸基準発生回路３
５よりの信号で計数が開始され、検出回路３６よりの信
号で計数が停止せしめられる。このカウンター３８はＹ
袖から右側の第４角膜反射像までの距離に対応するカウ
ント値を比較回路４０に出力する。比較回路４０では、
両カウント値か許容範囲内で近似しているか否かつまり
、左右のｐ４膜反射像がＹ軸に対して対称位置にあるか
が判断され、許容範囲内であればマイクロコンピュータ
５１へ測定開始を命令する信号が出力される。 マイクロコンピュータ５１からは測定光投光系ｌに測定
光の投射を命令４′る信号が出力される。 第７〜９図は、照準・距離合わせのそれぞれの状態にお
ける、モニタ５３に映し出されるモニタ表示画像（ａ）
、受光センサ１３のｘＩｌｌＩ基準（後述）上での画像
信号（ｂ）１その画像信号の２値化信号（ｃ　）のおの
おのを示す図であり、第７図は照準及び距離が双方とも
合っている状態、第８図は距離は合っているか照準は合
っていない状態、第９図は照準は合っているが距離が合
っていない状態をそれぞれ示している。 照準も距離ら合っている状態では、そのモニタ画像には
第７図（ａ　）に示すように、被検眼も照準光の像らモ
ニタ画像の中心に明確に現れ、特に各照準光の像による
点光源パターンＰ　ｌ１２．ｌ１１．４は明確に２点づ
つ現れる。つまり、点光隙パターンＰ２．３＋４の信号
（受光センサ１３よりの信号）は第７図（ｂ）に示すよ
うに、２点ずつの点光源パターンの部分でそのレベルが
明確なピーク円、ｌ＋２．３＋４を示し、コンパレータ
３１に適当な基学値ＴＬを設定して信号を２値化するこ
とにより（コンパレータ３１の信号）、第７図（ｃ　）
に示すような各点光源パターンに応じた４つのパルス信
号ＰＳ　＋　−ｔ　＋　３　＋　４がＸ軸基準上で得ら
れる（アンド回路３３よりの信号）。 また、距離は合っているが照準が合っていない状態では
、第８図（ａ）示すように、被検眼も照準光の像もモニ
タ画面上で明確には現れるが、モニ夕画像の中心からは
外れて現れる。したがってＸ軸基準上で取ったその画像
信号は第８図（ｂ）に示すように、コンパレータ３１に
おいて基準値を超えるような顕著なレベルのピークを有
する信号が得られず、２値化した信号においても第８図
（ｃ　）に示すように全くパルスが得られない。 次に照準は合っているが距離が合っていない状態では、
第９図（ａ）に示すように、被検眼の像がモニタ画面の
中心には在るがぼやけた状態で現れ、特に各照準光の像
はその点光源パターンＰ５ｆｌか明確に２点づつに現れ
ず、像かにじんだ状態でつながったように現れる。従っ
て、Ｘ軸基準上で取ったその信号は第９図（ｂ）に示す
ように、点光源パターンの部分でその各ピークレベルＰ
Ｌ１、、が明確な２つづつのピークには分かれず、基準
値を越えるレベルの信号は第９図（ｃ）に示ケように、
２つノパルス信号ＰＳ１、、しか得られない。つまり、
コンパレータ３１からは、Ｘ軸基準において、左側の走
査開始点からＹ軸までの間において１つの信号を、Ｙ軸
基準の右側走査終点までの間において１つの信号しか得
られない。従って、この場合は、Ｙ　！＋ｔ＋基準発生
回路３５からの信号がアンド回路４１に入力した時点で
は左側反射像検出回路３７よりの信号はローレベルであ
るため、アンド回路４１より信号は出力されない。つま
り、これによりこの場合は距離合わせが達成されている
と判別される。 尚、本実施例においては、照準合わせと距離合わ什が達
成された状態においては、左側反射像−Ｙ軸幅カウンタ
ー３９で点光源パターンＰ、とＹ軸間の距離が、または
右側反射像−Ｙ軸幅カウンター３８で点光源パターン１
）４とＹ軸間の距離かそれぞれ算出されることになる。 以上のように、構成され作用する照準・距離合わせ機構
をしったオートレフラクトメータでは、モニタ画像を見
ながら第８図または第９図の状態から第７図の状態とな
るように測定者が装置本体を前後左右に移動調整するだ
けで、照準及び距離が合ったタイミングで自動的に測定
が開始されるので、良好な測定タイミングを逃さず測定
が行え

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の１実施例に係る眼検杏用光学測定装置
のオートレフラクトメータの光学系を模式的に示す図、
第２図は第１図におけろ測定光の投光光学系を模式的に
示す図、第３図は第１図における測定光の受光光学系を
模式的に示す図、第４図は第１図におけろ照準・距離合
わせ光学系を模式的に示す図、第５図は第１図のオート
レフラクトメータにおける照準光源と被検眼との位置関
係を示す図、第６図は第１図のオートレフラクトメータ
のブロック回路図、第７図は照準及び距離が双方とも合
っている状態を示し、（ａ）はモニタ画像を示す図、（
ｂ）はＸ軸基準上の画像信号を示す図、（ｃ）はＸ軸基
準上の２値化された画像信号を示す図、第８図は距離は
合っているが照準が合っていない状態を示し、（ａ）は
モニタ画像を示す図、（ｂ）はＸ軸基準上の画像信号を
示す図、（ｃ）はＸ軸基準上の２値化された画像信号を
示ケ図、第９図は照準は合っているか距離か合っていな
い状態を示し、（ａ）はモニタ画像を示す図、（ｂ）は
Ｘ軸基準上の画像信号を示す図、（ｃ）はＸ軸基準上の
２値化された画像信号を示す図である。 Ｅ・・被検眼、ａＥ　被検眼の光軸、 ａ、・・・測定光の光軸、Ｉ３・・・受光センサ、１５
・・照準・距離合わせ光学系、

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、測定光を被検眼（Ｅ）に向けて投射する測定光投光
   系（１）と、 被検眼反射光を受光する受光センサ（１３）を含む測定
   光受光系（１０）と、 被検眼（Ｅ）に対する眼検査用光学測定装置の照準合せ
   と距離合わせとを行うための照準・距離合わせ光学系（
   １５）を含む照準・距離合わせ手段と、測定光を被検眼
   に投射するとともに測定光受光系（１０）に得られた被
   検眼反射光に基づいて被検眼を測定する測定手段とを有
   する眼検査光学測定装置において、 上記受光センサ（１３）は、測定光受光系（１０）の受
   光系光軸（Ｂ）が受光センサ（１３）上のＸ軸とＹ軸の
   交点と一致するように配置され、 上記照準・距離合わせ光学系（１５）は、被検眼（Ｅ）
   に向って、夫々、互いに十分接近しかつ上記Ｘ軸方向に
   並んだ１対の光束（Ｌ＿１、Ｌ＿２）を照射する１対の
   照準光源手段（２１’、２２’、２３’）を有し、１対
   の照準光源手段（２１’、２２’、２３’）は、受光系
   光軸（Ｂ）に対して上記Ｘ軸方向に対称に配置され、 上記照準・距離合わせ手段は、 上記受光センサ（１３）のＸ軸上に、角膜反射光の像が
   （Ｐ＿１、Ｐ＿２、Ｐ＿３、Ｐ＿４）が結像されたかど
   うかを判別する第１判別手段（３１、３２、３３、３４
   ）と、 第１判別手段（３１、３２、３３、３４）により判別さ
   れた受光センサ（１３）のＸ軸上の角膜反射像（Ｐ＿１
   、Ｐ＿２、Ｐ＿３、Ｐ＿４）が互いに重なることなく離
   れているかどうかを判別する第２判別手段（３５、３６
   、３７、４１）と、 上記受光センサ（１３）のＸ軸上に受光された４つの角
   膜反射像（Ｐ＿１、Ｐ＿２、Ｐ＿３、Ｐ＿４）のうち両
   側の像（Ｐ＿１、Ｐ＿４）と上記受光センサ（１３）の
   Ｙ軸間の距離を夫々算出する算出手段（３８、３９）と
   、上記算出手段（３８、３９）により算出された２つの
   距離を比較するとともにその差が許容範囲内にあるとき
   、測定装置に測定光投射開始信号を出力する比較手段（
   ４０）とを有することを特徴とする眼検査光学測定装置
   。 ２、測定光を被検眼（Ｅ）に向けて投射する測定光投光
   系（１）と、 被検眼反射光を受光する受光センサ（１３）を含む測定
   光受光系（１０）と、 被検眼（Ｅ）に対する眼検査用光学測定装置の照準合せ
   と距離合わせとを行うための照準・距離合わせ光学系（
   １５）を含む照準・距離合わせ手段と、測定光を被検眼
   に投射するとともに測定光受光系（１０）に得られた被
   検眼反射光に基づいて被検眼を測定する測定手段とを有
   する眼検査光学測定装置において、 上記受光センサ（１３）は、測定光受光系（１０）の受
   光系光軸（Ｂ）が受光センサ（１３）上のＸ軸とＹ軸の
   交点と一致するように配置され、 上記照準・距離合わせ光学系（１５）は、被検眼（Ｅ）
   に向って、夫々、互いに十分接近するしかつ上記Ｘ軸方
   向に揃んだ１対の光束（Ｌ＿１、Ｌ＿２）を照射する１
   対の照準光源手段（２１’、２２’、２３’）を有し、
   １対の照準光源手段（２１’、２２’、２３’）は、受
   光系光軸（Ｂ）に対して上記Ｘ軸方向に対称に配置され
   、 上記照準・距離合わせ手段は、 受光センサ（１３）よりの画像信号の信号レベルを基準
   値と比較して第１照準光源手段より発せられる第１、第
   ２の光束に対応する第１、第２の角膜反射光の像と第２
   照準光源手段より発せられる第３、第４の光束に対応す
   る第３、第４の角膜反射光を表わす画像信号をパルス信
   号として出力するコンパレータ（３１）と、 受光センサ（１３）より画像信号とともに出力される同
   期信号を水平同期信号と垂直同期信号とに分離する同期
   分離回路（３２）と、 同期分離回路（３２）よりの水平同期信号と垂直同期信
   号に基づいて、受光センサ（１３）よりの画像信号が受
   光センサ（１３）のＸ軸上であることを表わすＸ軸基準
   信号を発生するＸ軸基準発生回路（３４）と、 コンパレータ（３１）よりのパルス信号とＸ軸基準発生
   回路（３４）よりのＸ軸基準発生回路（３４）よりのＸ
   軸基準信号とが入力されたときパルス信号を出力する第
   １アンド回路（３３）と、 第１アンド回路（３３）よりのパルス信号を計数して、
   第２のパルス信号を計数したときにパルス信号を出力す
   る第１反射像検出回路（３７）と、同期分離回路（３２
   ）よりの水平同期信号に基づいて、受光センサ（１３）
   よりの画像信号が受光センサ（１３）のＹ軸上であるこ
   とを表わすＹ軸基準信号を発生するＹ軸基準発生回路（
   ３５）と、第１反射像検出回路（３７）よりのパルス信
   号とＹ軸基準発生回路（３５）よりのＹ軸基準信号とが
   入力されたときストップ信号を出力する第２アンド回路
   （４１）と、 第１アンド回路（３３）よりのパルス信号により計数を
   開始する一方第２アンド回路（４１）よりのストップ信
   号により計数を停止して、第１角膜反射像（Ｐ＿１）と
   Ｙ軸間の距離を示す第１距離信号を出力する第１反射像
   −Ｙ軸幅カウンタ（３９）と第１アンド回路（３３）よ
   りのパルス信号を計数して、第４パルス信号を計数した
   ときパルス信号を出力する第２反射像検出回路（３６）
   と、Ｙ軸基準発生回路（３５）よりのＹ軸基準信号によ
   り計数を開始する一方、第２反射像検出回路（３６）よ
   りのパルス信号により計数を停止して、第４角膜反射像
   （Ｐ＿４）とＹ軸間の距離を示す第２距離信号を出力す
   る第２反射像−Ｙ軸幅カウンタ（３８）と、 第１、第２の反射像−Ｙ軸幅カウンタ（３９、３８）か
   らの第１、第２距離信号に基づいて、第１距離と第２距
   離とを比較するとともに、その差が許容範囲内にあると
   き、測定装置に測定光投射開始信号を出力する比較回路
   （４０）とを有することを特徴とする眼検査光学測定装
   置。