JPH02192031A - 偏光分離型ホログラムヘッド - Google Patents
偏光分離型ホログラムヘッドInfo
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- JPH02192031A JPH02192031A JP1278852A JP27885289A JPH02192031A JP H02192031 A JPH02192031 A JP H02192031A JP 1278852 A JP1278852 A JP 1278852A JP 27885289 A JP27885289 A JP 27885289A JP H02192031 A JPH02192031 A JP H02192031A
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- light
- order diffracted
- diffracted light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、光ディスクの情報信号やフォーカス又はトラ
ッキング等のサーボ信号を検出する光ヘッドに関し、特
に、偏光を利用して信号を検出する光磁気ヘッドあるい
は情報信号を濃淡パターン又はピットパターンで記録す
る光ヘッドに用いる5ベー7 ことができる。
ッキング等のサーボ信号を検出する光ヘッドに関し、特
に、偏光を利用して信号を検出する光磁気ヘッドあるい
は情報信号を濃淡パターン又はピットパターンで記録す
る光ヘッドに用いる5ベー7 ことができる。
従来の技術
光ビームの偏光を利用して情報担体に記録されている情
報信号を検出する方法としては、従来よシ、偏光ビーム
スプリッタやヴオラストンプリズムを用いる方法が知ら
れている。これらの技術を用いて例えば光磁気ディスク
の信号検出を行なう方式は特開昭62−78755号公
報に示されているので、その詳細な説明は省略する。
報信号を検出する方法としては、従来よシ、偏光ビーム
スプリッタやヴオラストンプリズムを用いる方法が知ら
れている。これらの技術を用いて例えば光磁気ディスク
の信号検出を行なう方式は特開昭62−78755号公
報に示されているので、その詳細な説明は省略する。
偏光ホログラムを用いてサーボ信号を検出する技術は、
例えば特開昭62−97141号公報等でよく知られて
いる。
例えば特開昭62−97141号公報等でよく知られて
いる。
しかし、かかる偏光性ホログラムを用いても、機能の複
合化は十分達成できない。特に偏光を検出するためには
、偏光ビームスプリッタやヴオラストンプリズム等の偏
光分離素子と組合せる必要があった。
合化は十分達成できない。特に偏光を検出するためには
、偏光ビームスプリッタやヴオラストンプリズム等の偏
光分離素子と組合せる必要があった。
発明が解決しようとする課題
上記した従来例からも明らかなように、従来の偏光分離
のだめの素子は、ただ偏光分離のみを行6ページ なう素子であり、他の機能との複合化は通常困難であっ
た。−機能−素子型の光ヘッドでは部品点数も多くなり
調整も複雑であり光ヘッドの小型化や簡略化を行なう為
には、機能の複合化が必要である。
のだめの素子は、ただ偏光分離のみを行6ページ なう素子であり、他の機能との複合化は通常困難であっ
た。−機能−素子型の光ヘッドでは部品点数も多くなり
調整も複雑であり光ヘッドの小型化や簡略化を行なう為
には、機能の複合化が必要である。
本発明は、かかる点に鑑み、機能の複合化を図ることの
できる偏光型ホログラムヘッドを提供することを目的と
する。
できる偏光型ホログラムヘッドを提供することを目的と
する。
本発明の他の目的は偏光性ホログラムによる偏光分離を
利用することで、従来必要であった波長板やヴオラスト
ンプリズム、偏光ビームスプリッタ−等の機能を一素子
化して簡略化でき、コストの低減及び組立工程の簡略化
を図ることにある。
利用することで、従来必要であった波長板やヴオラスト
ンプリズム、偏光ビームスプリッタ−等の機能を一素子
化して簡略化でき、コストの低減及び組立工程の簡略化
を図ることにある。
課題を解決するための手段
本発明は、上記目的を達成するために放射光源放射光源
の間に位置するビームスプリッタと、情報相体で反射さ
れこのビームスプリッタで分岐さ、れた光ビームを透過
または反射させる偏光性ホロ7−・−ノ グラムと、この偏光性ホログラムを出射した偏光面が互
に直交する0次光と+1次回折光及び−1次回折光の光
を受光する複数の光検出器とを備えた構成としたもので
ある。
の間に位置するビームスプリッタと、情報相体で反射さ
れこのビームスプリッタで分岐さ、れた光ビームを透過
または反射させる偏光性ホロ7−・−ノ グラムと、この偏光性ホログラムを出射した偏光面が互
に直交する0次光と+1次回折光及び−1次回折光の光
を受光する複数の光検出器とを備えた構成としたもので
ある。
作 用
本発明は上記構成とすることによって、偏光性ホログラ
ムによる偏光分離を利用し、光ヘッドの構成を簡略化で
きるようにしたものである。
ムによる偏光分離を利用し、光ヘッドの構成を簡略化で
きるようにしたものである。
実施例
以下、本発明の実施例を、図面を参照して説明する。
第1図は本発明の第1の実施例の基本的な構成例である
。放射光源として半導体レーザ1を用いた例を示してい
る。半導体レーザ1を出射した光ビームは、ビームスプ
リッタ4を透過し、対物レンズ2に入射する。対物レン
ズ2で収束光とされた光ビームは情報担体である光ディ
スク3に入射される。ディスク3で反射された光ビーム
は、再び対物レンズ2を透過してビームスプリッタ4で
反射される。第1図では半導体レーザ1から出射された
光がビームスプリッタ4を最初に透過するようにしてい
るが光学系設計に応じては半導体レーザ1から出射され
た光がビームスプリッタ4で最初に反射されるようにし
ても良い。
。放射光源として半導体レーザ1を用いた例を示してい
る。半導体レーザ1を出射した光ビームは、ビームスプ
リッタ4を透過し、対物レンズ2に入射する。対物レン
ズ2で収束光とされた光ビームは情報担体である光ディ
スク3に入射される。ディスク3で反射された光ビーム
は、再び対物レンズ2を透過してビームスプリッタ4で
反射される。第1図では半導体レーザ1から出射された
光がビームスプリッタ4を最初に透過するようにしてい
るが光学系設計に応じては半導体レーザ1から出射され
た光がビームスプリッタ4で最初に反射されるようにし
ても良い。
対物レンズ2を透過してビームスプリッタ4で反射され
た光ビームは、偏光性ホログラム5に入射される。
た光ビームは、偏光性ホログラム5に入射される。
一般に、偏光性ホログラムでは、ホログラムを形成する
回折要素の格子方向に対し垂直な方向に偏光したP偏波
が0次光に、回折要素の格子方向に水平な方向に偏光し
たS偏光が+1次回折光及び−1次回折光に分岐される
。
回折要素の格子方向に対し垂直な方向に偏光したP偏波
が0次光に、回折要素の格子方向に水平な方向に偏光し
たS偏光が+1次回折光及び−1次回折光に分岐される
。
本実施例では偏光性ホログラム5として第2図あるいは
第3図に示すようなゾーンプレートの一部を用いておシ
、従って偏光性ホログラム5では、+1次回折光及び−
1次回折光にS偏波が、0次光にP偏波が分岐される。
第3図に示すようなゾーンプレートの一部を用いておシ
、従って偏光性ホログラム5では、+1次回折光及び−
1次回折光にS偏波が、0次光にP偏波が分岐される。
これらの光ビームをそれぞれ光信号デテクター7.8.
6で受ける。
6で受ける。
9ベーン
が入射するように単レンズ51.52をそれぞれ半導体
レーザー1とビームスプリッタ−4の間。
レーザー1とビームスプリッタ−4の間。
ビームスプリッタ−4と偏光性ホログラム5の間に配し
て第1図(b)に示す構成としても良い。偏光側グレー
ティングの作成方法としては例えば第2図(a)、 (
b)に平面図及び断面図を示すように比較的浅い溝形状
のグレーティングを異方性材料に形成する方法と、第3
図(a)、(b)に平面図及び断面図を示すように比較
的深い溝形状のグレーティングをエツチングもしくはプ
レスで形成する方法がよく知られている。
て第1図(b)に示す構成としても良い。偏光側グレー
ティングの作成方法としては例えば第2図(a)、 (
b)に平面図及び断面図を示すように比較的浅い溝形状
のグレーティングを異方性材料に形成する方法と、第3
図(a)、(b)に平面図及び断面図を示すように比較
的深い溝形状のグレーティングをエツチングもしくはプ
レスで形成する方法がよく知られている。
同じプロセスを用いて偏光性ホログラムを形成すること
が可能である。
が可能である。
光ディスクが、光磁気方式の信号を記録再生を行うもの
であれば、この偏光性ホログラム6によ多分岐されたP
偏波とS偏波の差信号を検出することで光磁気信号を再
生することができる。
であれば、この偏光性ホログラム6によ多分岐されたP
偏波とS偏波の差信号を検出することで光磁気信号を再
生することができる。
また、偏光性ホログラム5としてゾーンプレトの一部を
用いているので、第1図に示すように+1次及び−1次
回折光の光軸方向に対する焦点10、−ノ 位置がそれぞれ異なっておシ、これらの回折光からフォ
ーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号を得ることが
できる。
用いているので、第1図に示すように+1次及び−1次
回折光の光軸方向に対する焦点10、−ノ 位置がそれぞれ異なっておシ、これらの回折光からフォ
ーカス誤差信号及びトラッキング誤差信号を得ることが
できる。
次に第4図を用いてその様子を説明する。図面を簡略化
するため第4図では偏光性ホログラム5と光信号デテク
ター7.8.6のみを図示する。
するため第4図では偏光性ホログラム5と光信号デテク
ター7.8.6のみを図示する。
第4図(a)は、第1図のディスク3の位置が対物レン
ズ2から離れる方向にある場合であり、同図(ト))は
ディスク3が対物レンズ2の焦点位置にある場合、同図
(C)はディスク3が対物レンズ2に近づく方向の場合
である。デテクター7、8. 6は各々(、)、 (b
)、 (C)の右端に示すような形状であるとすると、
フォーカス誤差信号は、 (7−2)−(8−2) ・・・・・・・・・
・・・・・・ 式(1)%式%)) ・・・・・・・・・・・・・ 式(2)のデテクター出
力の演算を行なうことによシ得ることができる(例えば
特開昭61−258339号公報、特開昭61−333
0号公報、特開昭11 八−/ 60−59545号公報等参照)。
ズ2から離れる方向にある場合であり、同図(ト))は
ディスク3が対物レンズ2の焦点位置にある場合、同図
(C)はディスク3が対物レンズ2に近づく方向の場合
である。デテクター7、8. 6は各々(、)、 (b
)、 (C)の右端に示すような形状であるとすると、
フォーカス誤差信号は、 (7−2)−(8−2) ・・・・・・・・・
・・・・・・ 式(1)%式%)) ・・・・・・・・・・・・・ 式(2)のデテクター出
力の演算を行なうことによシ得ることができる(例えば
特開昭61−258339号公報、特開昭61−333
0号公報、特開昭11 八−/ 60−59545号公報等参照)。
また、光磁気記録されている情報信号は、((−r−1
)+(7−2)+(7−3))+((8−1)+(8−
2)+(8−3))−(e)・・・・・・・・・・・・
・・ 式(3)のデテクター出力の演算から得られる。
)+(7−2)+(7−3))+((8−1)+(8−
2)+(8−3))−(e)・・・・・・・・・・・・
・・ 式(3)のデテクター出力の演算から得られる。
通常のビット型記録されている情報信号または濃淡パタ
ーン記録されている情報信号は、 ((7−−1 )+(7−2)+ (7−3))+((
8−1)+ (8−2)+ (8−3) )+(e)・
・・・・・・・・・・・・・・ 式(4)のデテクター
出力の演算から得ることができる。
ーン記録されている情報信号は、 ((7−−1 )+(7−2)+ (7−3))+((
8−1)+ (8−2)+ (8−3) )+(e)・
・・・・・・・・・・・・・・ 式(4)のデテクター
出力の演算から得ることができる。
またデテクター了及び8の三分厚の線がディスク3に記
録されたトラックと平行な場合には、トラッキングの為
のファーフィールドトラッキング第4図に於て、ファー
フィールドトラッキング信号は例えば ((7−1)+(8−3))−((7−3)+(8−1
)1・・・・・・・・・・・・・・ 式(6)から得る
こともできるが、偏光性ホログラムを分割してファーフ
ィールドの信号を分けて取り出すことも可能である。
録されたトラックと平行な場合には、トラッキングの為
のファーフィールドトラッキング第4図に於て、ファー
フィールドトラッキング信号は例えば ((7−1)+(8−3))−((7−3)+(8−1
)1・・・・・・・・・・・・・・ 式(6)から得る
こともできるが、偏光性ホログラムを分割してファーフ
ィールドの信号を分けて取り出すことも可能である。
第5図はこのような例を示すものであシ、第5図(a)
に示すように光ビーム10は多分割された偏光性ホログ
ラム12〜16上に照射される。また、光ビーム10内
にはディスク3上に記録されたトラックの位置に対応し
たトラッキング信号11が部分的に明部又は暗部を形成
している(明部か暗部かはトラックが凹状か凸状かによ
って異なる)。
に示すように光ビーム10は多分割された偏光性ホログ
ラム12〜16上に照射される。また、光ビーム10内
にはディスク3上に記録されたトラックの位置に対応し
たトラッキング信号11が部分的に明部又は暗部を形成
している(明部か暗部かはトラックが凹状か凸状かによ
って異なる)。
この偏光性ホログラムにより光磁気信号等の偏光性信号
と、フォーカス誤差とファーフィールドトラッキングの
誤差信号を同時に得ることができる。即ち、偏光性ホロ
グラム12,14.16は第5図(b)に示すように同
じ偏光性ホログラムであシ、この偏光性ホログラムによ
る+1次及び−1次回折光はそれぞれデテクター7.8
に入射されて光ビーム21.22を形成する。ただし、
光ビーム21.22のうち斜線部は後述するように偏光
性ホログラム13.15による回折をうけるた131、 め、別のデテクターに入射される。
と、フォーカス誤差とファーフィールドトラッキングの
誤差信号を同時に得ることができる。即ち、偏光性ホロ
グラム12,14.16は第5図(b)に示すように同
じ偏光性ホログラムであシ、この偏光性ホログラムによ
る+1次及び−1次回折光はそれぞれデテクター7.8
に入射されて光ビーム21.22を形成する。ただし、
光ビーム21.22のうち斜線部は後述するように偏光
性ホログラム13.15による回折をうけるた131、 め、別のデテクターに入射される。
偏光性ホログラム13を通る光ビームは、+1次及び−
1次回折光がそれぞれデテクター17及び18に入射さ
れる。偏光性ホログラム15を通る光ビームは、+1次
及び−1次回折光がそれぞれデテクター19、及び2o
に入射される。従って、フォーカス誤差信号は、第4図
で説明したように式(1)2式(2)に基づき三分割デ
テクター7及び8の各デテクターの出力を演算すること
により得られる。トラッキング誤差信号は、 ((17)+(1B))−((19)+(20))
・・・・・・・・・ 式(6)のデテクター出力を演算
することによシ得ることができ、丑だ、光磁気信号は式
(3)に基づき+1次回折光及び−1次回折光を受ける
デテクター出力を全て加算し0次光を受けるデテクター
6の出力との差をとることによって得ることができる。
1次回折光がそれぞれデテクター17及び18に入射さ
れる。偏光性ホログラム15を通る光ビームは、+1次
及び−1次回折光がそれぞれデテクター19、及び2o
に入射される。従って、フォーカス誤差信号は、第4図
で説明したように式(1)2式(2)に基づき三分割デ
テクター7及び8の各デテクターの出力を演算すること
により得られる。トラッキング誤差信号は、 ((17)+(1B))−((19)+(20))
・・・・・・・・・ 式(6)のデテクター出力を演算
することによシ得ることができ、丑だ、光磁気信号は式
(3)に基づき+1次回折光及び−1次回折光を受ける
デテクター出力を全て加算し0次光を受けるデテクター
6の出力との差をとることによって得ることができる。
このように、フォーカス誤差信号はデテクター7及び8
の出力を演算して得られるものであるので、光ビーム2
1.22には偏光性ホログラム13.15に対応する部
分の光がない(斜線部)14、、。
の出力を演算して得られるものであるので、光ビーム2
1.22には偏光性ホログラム13.15に対応する部
分の光がない(斜線部)14、、。
がこの部分がフォーカス誤差信号へ与える影響は殆んど
無く、むしろトラッキング誤差信号のフォーカス誤差信
号への干渉が減少するので好ましい結果を与える。
無く、むしろトラッキング誤差信号のフォーカス誤差信
号への干渉が減少するので好ましい結果を与える。
トラッキング誤差信号を得るための偏光性ホログラムに
よる+1次及び−1次回折方向と、フォーカス誤差信号
を得るだめの偏光性ホログラムによる+1次及び−1次
回折方向とのなす角度はできるだけ小さく設計する方が
望ましい。これは第5図(b)に示すように光磁気信号
を得る時のアナライジイングの角度が偏光性ホログラム
12.j4゜16と13と15で各々異るからである。
よる+1次及び−1次回折方向と、フォーカス誤差信号
を得るだめの偏光性ホログラムによる+1次及び−1次
回折方向とのなす角度はできるだけ小さく設計する方が
望ましい。これは第5図(b)に示すように光磁気信号
を得る時のアナライジイングの角度が偏光性ホログラム
12.j4゜16と13と15で各々異るからである。
この角度をできる限り小さくする方法として、偏光性ホ
ログラム13.14のキャリア周波数を変化させる方法
がある。偏光性ホログラムのキャリア周波数を変化させ
ると、偏光性ホログラムで回折される光ビームの回折角
を変化させることができる。
ログラム13.14のキャリア周波数を変化させる方法
がある。偏光性ホログラムのキャリア周波数を変化させ
ると、偏光性ホログラムで回折される光ビームの回折角
を変化させることができる。
第6図(b)では角度的には誇張して示しであるが、偏
光性ホログラムのキャリア周波数はどの偏光性ホログラ
ム12〜16もほぼ同じである。
光性ホログラムのキャリア周波数はどの偏光性ホログラ
ム12〜16もほぼ同じである。
15ページ
第6図に偏光性ホログラムのキャリア周波数を変えた場
合の例を示す。偏光性ホログラム23に対応するデテク
ター25.26及び偏光性ホログラム24に対応するデ
テクター27.28がある。
合の例を示す。偏光性ホログラム23に対応するデテク
ター25.26及び偏光性ホログラム24に対応するデ
テクター27.28がある。
第6図(b)に示すように両ホログラム23.24のキ
ャリア周波数は、フォーカス誤差信号用の偏光性ホログ
ラム12,14.16よりも大きくなっており、図のよ
うに配することでアナライジイングの角度の差を小さく
することができる。
ャリア周波数は、フォーカス誤差信号用の偏光性ホログ
ラム12,14.16よりも大きくなっており、図のよ
うに配することでアナライジイングの角度の差を小さく
することができる。
さらに、一方の偏光性ホログラムのキャリア周波数を大
きくするとアナライジイング角度を完全に一致させるこ
とも可能である。第7図にそのような偏光性ホログラム
に対応するデテクター29及び30を示す。このように
すれば多分割した偏光性ホログラムによるアナライジイ
ング角度を変えることなく光磁気信号の検出を行なうこ
とができる。
きくするとアナライジイング角度を完全に一致させるこ
とも可能である。第7図にそのような偏光性ホログラム
に対応するデテクター29及び30を示す。このように
すれば多分割した偏光性ホログラムによるアナライジイ
ング角度を変えることなく光磁気信号の検出を行なうこ
とができる。
第1図から第7図までは同じフォーカシング誤差検出方
式の例を示したが、第8図(a)、 (b)に示すよう
な偏光性ホログラム5′、5“を用いて非点収差を発生
させる方式のデテクター31を用いることもできる。
式の例を示したが、第8図(a)、 (b)に示すよう
な偏光性ホログラム5′、5“を用いて非点収差を発生
させる方式のデテクター31を用いることもできる。
偏光性ホログラムには、非点収差を発生させるようなシ
リンドリカルレンズの作用をもたせている。この時±1
次回折光には、非点収差が発生し^ て、その最小錯乱円(minifum confusi
oJIPcircle )近傍にデテクターを挿入する
ことで非欝収差方式のフォーカシング動作を行なうこと
ができる。
リンドリカルレンズの作用をもたせている。この時±1
次回折光には、非点収差が発生し^ て、その最小錯乱円(minifum confusi
oJIPcircle )近傍にデテクターを挿入する
ことで非欝収差方式のフォーカシング動作を行なうこと
ができる。
また、第6図(C)に示すような偏光性ホログラム5′
′′を用いてダブルナイフェツジ方式のデテクター32
を用いることも可能である(特開昭61−120352
号公報参照)。
′′を用いてダブルナイフェツジ方式のデテクター32
を用いることも可能である(特開昭61−120352
号公報参照)。
例えば特開昭61−120352号公報に開示されてい
るように、デテクター上に焦点状態の異る半円ビームを
位置させることができる。この場合の偏光性ホログラム
は光軸上の上半分と下半分とで異る焦点を与える偏光性
ホログラムでかつ+1次光にブレーズした設計とする必
要がある。この時0次光と+1次光との回折効率が若干
変化するが、これは各々のデテクターに接続されるバラ
1フベー。
るように、デテクター上に焦点状態の異る半円ビームを
位置させることができる。この場合の偏光性ホログラム
は光軸上の上半分と下半分とで異る焦点を与える偏光性
ホログラムでかつ+1次光にブレーズした設計とする必
要がある。この時0次光と+1次光との回折効率が若干
変化するが、これは各々のデテクターに接続されるバラ
1フベー。
ファーのアンプのゲインを調整する事でバランスさせる
ことができる。
ことができる。
第9図は、本発明を実現する際に用いる回路構成を示す
。左端のカッコ内の番号は第2図及び第3図で示した図
面内のデテクターの番号でここでは各々のデテクターか
ら出力が入力されることを示している。34〜38はバ
ッファーアンプであり主として入力信号のインピーダン
スの変換を行なっている。バッファーアンプ34.35
の出力は、差動アンプ39で減算されフォーカス誤差信
号43が得られる。バッファーアンプ36. 37の出
力は差動アンプ40で減算されファーフィルドトラッキ
ング誤差信号が得られる。バッファーアンプ34〜37
の出力は、加算アンプ41で加算され、バッファーアン
プ38の出力との減算を差動アンプ42で行い光磁気信
号45が得られる。情報担体が通常の位相パターンもし
くは濃淡パターンである場合には、アンプ41の出力と
アンプ38の出力は加算されて従来と同じく情報信号を
得ることもできる。
。左端のカッコ内の番号は第2図及び第3図で示した図
面内のデテクターの番号でここでは各々のデテクターか
ら出力が入力されることを示している。34〜38はバ
ッファーアンプであり主として入力信号のインピーダン
スの変換を行なっている。バッファーアンプ34.35
の出力は、差動アンプ39で減算されフォーカス誤差信
号43が得られる。バッファーアンプ36. 37の出
力は差動アンプ40で減算されファーフィルドトラッキ
ング誤差信号が得られる。バッファーアンプ34〜37
の出力は、加算アンプ41で加算され、バッファーアン
プ38の出力との減算を差動アンプ42で行い光磁気信
号45が得られる。情報担体が通常の位相パターンもし
くは濃淡パターンである場合には、アンプ41の出力と
アンプ38の出力は加算されて従来と同じく情報信号を
得ることもできる。
18/<−ア
発明の効果
以上のように、本発明の偏光性ホログラムによれば、光
磁気信号の検出を簡単にかつ従来の方法では困難であっ
た機能の複合化を図ることができる。
磁気信号の検出を簡単にかつ従来の方法では困難であっ
た機能の複合化を図ることができる。
また本発明では、ホログラムによる偏光分離を利用する
ことで、従来必要であった波長板やグオラストンプリズ
ム、偏光ビームスプリッタ−等の機能を一素子化して簡
略化でき、コストの低減及び組立工程の簡易化を図るこ
とができる。
ことで、従来必要であった波長板やグオラストンプリズ
ム、偏光ビームスプリッタ−等の機能を一素子化して簡
略化でき、コストの低減及び組立工程の簡易化を図るこ
とができる。
第1図は本発明の一実施例の偏光分離型ホログラムヘッ
ドの基本的な光学系の構成を示すブロック図、第2図、
第3図は偏光性ホログラムの平面a及び断面図、第4図
はそのフォーカス誤差信号と光磁気信号を得る基本的な
デテクター構成と動作を示す模式図、第5図はその多分
割偏光性ホログラムからフォーカス誤差信号とトラッキ
ング誤差信号及び光磁気信号を得る偏光性ホログラム及
びデテクター構成例を示す模式図、第6図はその光19
7、7 磁気信号を得るアナライジイング角度の差を少くする偏
光性ホログラム及びデテクター構成例を示す模式図、第
7図はその改良したデテクター構成例を示す模式図、第
8図はそのフォーカス誤差信号を得る偏光性ホログラム
及びデテクター構成の実施例を示す模式図、゛第9図は
その回路構成例を示す回路図である。 1・・・・・・半導体レーザ、2・・・・・対物レース
、3・・・・・・ディスク、4・・・・・・ビームスプ
リッタ、5,12゜13.14,15,16,23.2
4・・・・・ホログラム、6,7,8,17,18,1
9,20,25゜26 27 28 29 3
0 31 32・・・・・・デテクター、34〜38
・・・・・・アンプ、39,40゜42・・・・・・差
動アンプ、41.47・・・・・・加算器。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか1名す も 図 喝 噴 図 第8図 第 図
ドの基本的な光学系の構成を示すブロック図、第2図、
第3図は偏光性ホログラムの平面a及び断面図、第4図
はそのフォーカス誤差信号と光磁気信号を得る基本的な
デテクター構成と動作を示す模式図、第5図はその多分
割偏光性ホログラムからフォーカス誤差信号とトラッキ
ング誤差信号及び光磁気信号を得る偏光性ホログラム及
びデテクター構成例を示す模式図、第6図はその光19
7、7 磁気信号を得るアナライジイング角度の差を少くする偏
光性ホログラム及びデテクター構成例を示す模式図、第
7図はその改良したデテクター構成例を示す模式図、第
8図はそのフォーカス誤差信号を得る偏光性ホログラム
及びデテクター構成の実施例を示す模式図、゛第9図は
その回路構成例を示す回路図である。 1・・・・・・半導体レーザ、2・・・・・対物レース
、3・・・・・・ディスク、4・・・・・・ビームスプ
リッタ、5,12゜13.14,15,16,23.2
4・・・・・ホログラム、6,7,8,17,18,1
9,20,25゜26 27 28 29 3
0 31 32・・・・・・デテクター、34〜38
・・・・・・アンプ、39,40゜42・・・・・・差
動アンプ、41.47・・・・・・加算器。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか1名す も 図 喝 噴 図 第8図 第 図
Claims (7)
- (1)放射光源と、前記放射光源より出射する光ビーム
を受け情報記録担体上に光ビームを収束させる光学手段
と、前記光学手段と前記放射光源の間に位置するビーム
スプリッタと、前記情報担体で反射され前記ビームスプ
リッタで分岐された光ビームを透過または反射するとと
もに透過または反射した0次光と+1次回折光が直交し
かつ0次光と−1次回折光が直交するように偏光する偏
光ホログラムと、偏光された0次光と+1次回折光と−
1次回折光の光を受光する複数の光検出器とを備えた偏
光分離型ホログラムヘッド。 - (2)偏光ホログラムは、情報担体と光ビームを収束さ
せる光学手段との間の距離が不適切な場合に光検出器上
に+1次回折光と−1次回折光とを異る大きさの光ビー
ムとして入射させ、前記情報担体と前記光ビームを収束
させる前記光学手段との間の距離が適切な場合は前記光
検出器上に、+1次回折光と−1次回折光とをほぼ同じ
大きさの光ビームとして入射させるように構成されてい
る請求項1記載の偏光分離型ホログラムヘッド。 - (3)偏光ホログラムは、情報担体と光ビームを収束さ
せる光学手段との間の距離が不適切な場合に光検出器上
に+1次回折光と−1次回折光とを異る形状の光ビーム
として入射させ、前記情報担体と前記光ビームを収束さ
せる前記光学手段との間の距離が適切な場合は前記光検
出器上に、+1次回折光と−1次回折光とをほぼ同じ形
状の光ビームとして入射させるように構成されている請
求項1記載の偏光分離型ホログラムヘッド。 - (4)少なくとも3つの異なるパターンを有する部分か
ら成る偏光ホログラムと、それぞれ対応する+1次回折
光と−1次回折光及び0次回折光を入射させる光検出器
とを有し、前記偏光ホログラムの異るパターンのうち2
つの部分は情報担体上のトラックによる回折信号を主と
して含む光ビームを受け、残る前記偏光ホログラムの部
分で前記情報担体と前記光ビームを収束させる光学手段
との間の距離が不適切な場合に前記光検出器上に+1次
回折光と−1次回折光とを異る大きさの光ビームとして
入射させ、前記情報担体と前記光ビームを収束させる光
学手段との間の距離が適切な場合に前記光検出器上に+
1次回折光と−1次回折光とをほぼ同じ大きさの光ビー
ムとして入射させるように構成した請求項1記載の偏光
分離型ホログラムヘッド。 - (5)少なくとも3つの異なるパターンを有する部分か
ら成る偏光ホログラムと、それぞれ対応する+1次回折
光と−1次回折光及び0次回折光を入射させる光検出器
とを有し、前記偏光ホログラムの異るパターンのうち2
つの部分は情報担体上のトラックによる回折信号を主と
して含む光ビームを受け、残る前記偏光ホログラムの部
分で前記情報担体と前記光ビームを収束させる光学手段
との間の距離が不適切な場合に前記光検出器上に+1次
回折光と−1次回折光とを異る形状の光ビームとして入
射させ、前記情報担体と前記光ビームを収束させる光学
手段との間の距離が適切な場合に前記光検出器上に+1
次回折光と−1次回折光とをほぼ同じ形状の光ビームと
して入射させるように構成した請求項1記載の偏光分離
型ホログラムヘッド。 - (6)0次回折光が入射される光検出器の出力と、+1
次回折光が入射される光検出器の出力の和との差動信号
を作成する回路を有する請求項1〜5のいずれかに記載
の偏光分離型ホログラムヘッド。 - (7)少くとも2つの異るキャリア周波数を有する少く
とも3つの異るパターンから成る偏光性ホログラム及び
光検出器からなる請求項4又は5記載の偏光分離型ホロ
グラムヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1278852A JPH0740369B2 (ja) | 1988-10-28 | 1989-10-25 | 偏光分離型ホログラムヘッド |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63-273545 | 1988-10-28 | ||
| JP27354588 | 1988-10-28 | ||
| JP1278852A JPH0740369B2 (ja) | 1988-10-28 | 1989-10-25 | 偏光分離型ホログラムヘッド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02192031A true JPH02192031A (ja) | 1990-07-27 |
| JPH0740369B2 JPH0740369B2 (ja) | 1995-05-01 |
Family
ID=26550703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1278852A Expired - Fee Related JPH0740369B2 (ja) | 1988-10-28 | 1989-10-25 | 偏光分離型ホログラムヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0740369B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2718556A1 (fr) * | 1994-04-07 | 1995-10-13 | Asahi Optical Co Ltd | Appareil formant tête opto-magnétique. |
| US5850380A (en) * | 1995-08-04 | 1998-12-15 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Photomagnetic head apparatus |
| US5946137A (en) * | 1995-02-14 | 1999-08-31 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical information processing unit |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63201924A (ja) * | 1987-02-18 | 1988-08-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光情報ピツクアツプ装置 |
-
1989
- 1989-10-25 JP JP1278852A patent/JPH0740369B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63201924A (ja) * | 1987-02-18 | 1988-08-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光情報ピツクアツプ装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2718556A1 (fr) * | 1994-04-07 | 1995-10-13 | Asahi Optical Co Ltd | Appareil formant tête opto-magnétique. |
| NL9500635A (nl) * | 1994-04-07 | 1995-11-01 | Asahi Optical Co Ltd | Apparaat voor een opto-magnetische kop. |
| US5684762A (en) * | 1994-04-07 | 1997-11-04 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Opto-magnetic head apparatus |
| US5946137A (en) * | 1995-02-14 | 1999-08-31 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical information processing unit |
| US5850380A (en) * | 1995-08-04 | 1998-12-15 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Photomagnetic head apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0740369B2 (ja) | 1995-05-01 |
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